检测颗粒质量的质谱装置、用途及测量方法与流程

技术特征：

技术总结
本发明提出了用于检测颗粒质量的质谱装置。该装置包括：电离源；离子阱；样品靶；激光器；紫外灯；分光镜；成像器；光电检测器以及计算单元。由此，可以在稳定的测量环境中，利用紫外灯实现多次改变单个带电颗粒的电荷数，进而确定该单个带电颗粒的质量，从而可以提高检测结果的可靠性。

技术研发人员：聂宗秀;朱凯;蒋玉蓉;张宁;熊彩侨;王继云
受保护的技术使用者：中国科学院化学研究所
技术研发日：2016.01.19
技术公布日：2017.07.25