技术特征：
技术总结
公开了质谱仪和使用质谱仪测量关于样品的信息的方法。质谱仪包括离子源、离子阱、离子检测器和气压调节系统，其中，在运行质谱仪期间，气压调节系统经配置在离子源、离子阱和离子检测器中的至少两个中维持在100mTorr与100Torr之间的气压，并且离子检测器经配置根据由离子源生成的离子的质荷比检测离子。
技术研发人员：安德鲁·J·巴特费伊-萨博;克里斯多佛·D·布朗;迈克尔·乔宾;凯文·J·诺普;叶夫根尼·克雷洛夫;斯科特·米勒
受保护的技术使用者：九零八图案公司
技术研发日：2012.12.31
技术公布日：2018.04.20