具备镭雕用过孔的天线支架的制作方法

文档序号:16710434发布日期:2019-01-22 22:42阅读:475来源:国知局
具备镭雕用过孔的天线支架的制作方法

本实用新型涉及天线行业,尤其涉及具备镭雕用过孔的天线支架。



背景技术:

如图1所示,目前,具备镭雕用过孔的天线支架上的走线方式多为双锥孔走线方式,锥孔的角度一般为60°,两个锥孔的底面直径相同。

该天线支架成型过程简述如下:首先将两个圆台形的镶件的顶面碰撞在一起(两个镶件的锥度、高度、顶面直径和底面直径分别相同,即两个镶件的整体轮廓是一模一样的),然后通过注塑工艺使天线支架成型,最后拆除镶件即可。

在实际生产中,镶件拆除的时机是在天线支架未完全凝固的时候,因此,天线支架成型后,过孔中两个镶件的碰穿面容易生出披锋,且两个镶件错位也会导致碰穿面不完整,从而影响到后续镭雕制程的质量(披锋具有不确定性,研发人员在设计镭雕制程时无法对披锋进行算计),降低了天线支架产品的良品率。



技术实现要素:

本实用新型所要解决的技术问题是:提供一种具备镭雕用过孔的天线支架,该天线支架产品良品率高。

为了解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案为:具备镭雕用过孔的天线支架,所述过孔包括位于所述天线支架上表面的第一锥孔和位于所述天线支架下表面的第二锥孔,所述第一锥孔与所述第二锥孔相连通,所述第一锥孔与所述第二锥孔的连接处具有台阶部。

进一步的,所述第一锥孔的中心轴与所述第二锥孔的中心轴共线。

进一步的,所述第一锥孔在所述连接处的直径比所述第二锥孔在所述连接处的直径小0.1-0.3mm。

进一步的,所述第一锥孔在所述连接处的直径比所述第二锥孔在所述连接处的直径小0.1-0.2mm。

进一步的,所述第一锥孔的锥度和所述第二锥孔的锥度相等。

进一步的,所述第一锥孔的圆锥角大于或等于60°。

进一步的,所述第一锥孔的圆锥角大于或等于70°。

本实用新型的有益效果在于:天线支架成型后,镭雕用过孔的第一锥孔与第二锥孔的连接处不易生出披锋,且第一锥孔与第二锥孔轻微错位也不会影响过孔形状以及后续镭雕制程,提高了天线支架产品的良品率。

附图说明

图1为现有技术中具备镭雕用过孔的天线支架的剖视图;

图2为本实用新型实施例一的具备镭雕用过孔的天线支架的剖视图;

图3为图2中细节A的放大图。

标号说明:

1、天线支架;2、第一锥孔;3、第二锥孔;4、台阶部。

具体实施方式

为详细说明本实用新型的技术内容、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图予以说明。

本实用新型最关键的构思在于:镭雕用过孔上的第一锥孔与第二锥孔的连接处具有台阶部,研发人员在设计镭雕制程的时候就可以将台阶部的数据算计进镭雕制程。

请参照图1至图3,具备镭雕用过孔的天线支架1,所述过孔包括位于所述天线支架1上表面的第一锥孔2和位于所述天线支架下表面的第二锥孔3,所述第一锥孔2与所述第二锥孔3相连通,所述第一锥孔与所述第二锥孔的连接处具有台阶部4。

本实用新型的工作原理简述如下:台阶部4的分子对将要形成披锋的分子存在分子间的吸引力,因此在拆卸两个镶件的时候,两个镶件的碰穿面处难以形成披锋;第一锥孔2与第二锥孔3的连接处直径不同,即使注塑时两个镶件中间碰面处发生微小错位导致第一锥孔2与第二锥孔3的连接处不完全对齐,只要注塑完成后第一锥孔2与第二锥孔3的连接处直径较小的圆位于直径较大的圆内(即台阶部4为环状),就不会在第一锥孔2与第二锥孔3的连接处生出影响过孔形状的披锋,保证了碰穿平面的完整性。

从上述描述可知,本实用新型的有益效果在于:天线支架成型后,镭雕用过孔的第一锥孔与第二锥孔的连接处不易生出披锋,且第一锥孔与第二锥孔轻微错位也不会影响过孔形状以及后续镭雕制程,提高了天线支架产品的良品率。

进一步的,所述第一锥孔2的中心轴与所述第二锥孔3的中心轴共线。

由上述描述可知,第一锥孔的中心轴与第二锥孔的中心轴共线,保证了碰穿平面的完整性,利于后续镭雕制程的顺利进行。

进一步的,所述第一锥孔2在所述连接处的直径比所述第二锥孔3在所述连接处的直径小0.1-0.3mm。

进一步的,所述第一锥孔2在所述连接处的直径比所述第二锥孔3在所述连接处的直径小0.1-0.2mm。

由上述描述可知,第一锥孔在所述连接处的直径与第二锥孔在所述连接处的直径的差值范围较大,降低了天线支架注塑成型工艺的难度,有利于提高天线支架产品的良品率。

进一步的,所述第一锥孔2的锥度和所述第二锥孔3的锥度相等。

由上述描述可知,第一锥孔的锥度和第二锥孔的锥度相等,方便设计后续的镭雕制程,提高了生产效率。

进一步的,所述第一锥孔2的圆锥角大于或等于60°。

进一步的,所述第一锥孔3的圆锥角大于或等于70°。

由上述描述可知,镭雕用过孔角度较大,降低了后续镭雕制程的难度,进一步提高了天线支架产品的良品率。

实施例一

请参照图1至图3,本实用新型的实施例一为:具备镭雕用过孔的天线支架1,所述过孔包括位于所述天线支架1上表面的第一锥孔2和位于所述天线支架下表面的第二锥孔3,所述第一锥孔2与所述第二锥孔3相连通,所述第一锥孔与所述第二锥孔的连接处具有台阶部4。

本实施例中,第一锥孔2与第二锥孔3的连接处直径不同,即使注塑时两个镶件中间碰面处发生微小错位导致第一锥孔2与第二锥孔3的连接处不完全对齐,只要注塑完成后第一锥孔2与第二锥孔3的连接处直径较小的圆位于直径较大的圆内(即台阶部4为环状),就不会在第一锥孔2与第二锥孔3的连接处生出影响过孔形状的披锋,保证了碰穿平面的完整性。

作为优选,所述第一锥孔2的中心轴与所述第二锥孔3的中心轴共线。

本实施例中,所述第一锥孔2在所述连接处的直径与所述第二锥孔3在所述连接处的直径之间的差值范围较大,利于降低天线支架1注塑成型工艺的难度,进而提高天线支架1产品的良品率。具体的,所述第一锥孔2在所述连接处的直径比所述第二锥孔3在所述连接处的直径小0.1-0.3mm。作为优化,所述第一锥孔2在所述连接处的直径比所述第二锥孔3在所述连接处的直径小0.1-0.2mm。

本实施例中,所述第一锥孔2的锥度和所述第二锥孔3的锥度相等。更详细的,所述第一锥孔2的圆锥角大于或等于60°。作为优化,所述第一锥孔3的圆锥角大于或等于70°。

综上所述,本实用新型提供的具备镭雕用过孔的天线支架,天线支架成型后,即使第一锥孔与第二锥孔轻微错位也不会在第一锥孔与第二锥孔的连接处生出披锋,从而保证了过孔形状的完整性以及后续镭雕制程的顺利进行,提高了天线支架产品的良品率;第一锥孔的中心轴与第二锥孔的中心轴共线,保证了碰穿平面的完整性,利于后续镭雕制程的顺利进行;第一锥孔在所述连接处的直径与第二锥孔在所述连接处的直径的差值范围较大,降低了天线支架注塑成型工艺的难度,有利于进一步提高天线支架产品的良品率;第一锥孔的锥度和第二锥孔的锥度相等,方便设计后续的镭雕制程,提高了生产效率;镭雕用过孔角度较大,降低了后续镭雕制程的难度。

以上所述仅为本实用新型的实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等同变换,或直接或间接运用在相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

当前第1页1 2 3 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1