一种芯片转接结构的制作方法

文档序号:21636925发布日期:2020-07-29 02:47阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种芯片转接结构,其特征在于,包括:

一橡胶层,所述橡胶层内嵌入高密度金线,用于引出一信号;

一基片层,与所述橡胶层连接,位于所述橡胶层下表面,用于接收所述信号;

一印刷线路板层,位于所述基片层下表面,所述基片层焊接于所述印刷线路板层上,所述印刷线路板层用于将所述基片层接收的所述信号引出,并扩展连接到一仪器或一自动化设备上。

2.根据权利要求1所述的一种芯片转接结构,其特征在于,所述橡胶层的橡胶为高密度导电橡胶。

3.根据权利要求1所述的一种芯片转接结构,其特征在于,所述高密度金线以一预设倾角镶嵌于所述橡胶层内。

4.根据权利要求1所述的一种芯片转接结构,其特征在于,所述橡胶层上表面连接一芯片,所述芯片通过一锡球或一衬垫与所述高密度金线接触将所述信号输出。

5.根据权利要求4所述的一种芯片转接结构,其特征在于,所述高密度金线凸出于所述橡胶层表面,用于与所述锡球或所述衬垫接触引出所述信号。

6.根据权利要求4所述的一种芯片转接结构,其特征在于,所述高密度金线直径小于两个所述锡球间的间距和所述锡球直径。

7.根据权利要求1所述的一种芯片转接结构,其特征在于,所述基片层由多层印刷线路板组成,所述多个印刷线路板之间的焊盘间距从上到下逐级增大一预设值,用以将0.18mm焊盘间距转化为0.4mm焊盘间距。

8.根据权利要求1所述的一种芯片转接结构,其特征在于,所述橡胶层左右两端设有一定位栓。

9.根据权利要求1所述的一种芯片转接结构,其特征在于,所述芯片转接结构适用于0.18mm间距的球状引脚栅格阵列封装芯片或晶圆片级芯片规模封装芯片。


技术总结
本实用新型涉及芯片电性测试技术领域,具体涉及一种芯片转接结构,包括:一橡胶层,所述橡胶层内嵌入高密度金线,用于引出一信号;一基片层,与所述橡胶层连接,位于所述橡胶层下表面,用于接收所述信号;一印刷线路板层,位于所述基片层下表面,所述基片层焊接于所述印刷线路板层上,用于将所述基片层接收的所述信号引出,并扩展连接到一仪器或一自动化设备上。本实用新型芯片锡球或者衬垫与橡胶层表面的金线接触,将信号引出,无需过度关注芯片与转接结构的定位问题,且能对芯片样品即时测试,无需进行复杂、冗长的反复植球工作,节约成本,保障样品安全;同时橡胶层替换方式简单,便于后期维护,维护成本低。

技术研发人员:周天飞;徐永敏;魏垂亚;李广辉;邵疆;陈参参
受保护的技术使用者:上海季丰电子股份有限公司
技术研发日:2019.12.23
技术公布日:2020.07.28
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