光脉冲测试仪的制作方法

1.本发明涉及一种光脉冲测试仪。
2.本技术对2021年4月22日提交的日本专利申请第2021-072644号主张优先权，并且将其内容并入本文。


背景技术：

3.光脉冲测试仪是如下装置：使光脉冲入射到作为测试对象的光纤，基于从光纤得到的返回光来测试或测量光纤的特性。作为该光脉冲测试仪的一种具有otdr(optical time domain reflectometer：光时域反射仪)，该otdr基于在光纤内产生的瑞利散射光、菲涅尔反射光来测量光纤的传输损耗或到故障点的距离等。这种otdr例如用于确认作为光通信系统的通信介质的光纤的铺设时的铺设施工作业是否良好，或者用于铺设后的保养时的光纤的故障点的搜索或损耗的测量。
4.在由上述otdr进行测量的情况下，通常使用在通信中使用的多个波长(例如1.31μm、1.55μm)的光脉冲。在otdr中，在按照每个波长进行测量的情况下，测量所需的时间随着波长的数量的增加而变长。在日本专利公开公报特开2013-24814号中，公开了一种能够使多个波长的光脉冲入射到光纤而同时进行测量(多波长同时测量)的otdr。
5.但是，日本专利公开公报特开2013-24814号所公开的otdr使按每个波长以不同的随机码进行调制后的测试光入射到光纤，进行从光纤得到的返回光的受光信号与上述随机码的相关运算，由此实现多波长同时测量。但是，如果进行这种相关运算，则存在因产生寄生成分而导致测量精度下降的问题。


技术实现要素：

6.为了解决上述课题，本发明一种方式的光脉冲测试仪基于使光脉冲入射到光纤(fut)而得到的返回光来测试所述光纤的特性，所述光脉冲测试仪(1)包括：多个光源元件(21a～21c)，射出相互不同波段的光脉冲；多个受光元件(28a～28c)，与多个所述光源元件对应设置；第一空间光学系统(22a～22c、23、24、25、31)，将从多个所述光源元件射出的光脉冲在空间上进行波长合波并入射到所述光纤；以及第二空间光学系统(24、25、26a～26c、27a～27c)，将来自所述光纤的返回光在空间上进行波长分离并入射到多个所述受光元件。
7.此外，在本发明一种方式的光脉冲测试仪中，所述第二空间光学系统对来自所述光纤的返回光在空间上进行波长分离，以使来自所述光纤的返回光中包含的波长成分中的与从多个所述光源元件中的一个射出的光脉冲的波段相同波段的成分入射到与多个所述光源元件中的一个对应的受光元件。
8.此外，在本发明一种方式的光脉冲测试仪中，所述光源元件和所述受光元件各设置有n(n为2以上的整数)个，所述第一空间光学系统包括(n-1)个波长合波元件，所述第二空间光学系统包括至少(n-1)个波长分离元件。
9.此外，本发明一种方式的光脉冲测试仪包括不需要光截止滤波器(32b、32c)，所述
不需要光截止滤波器设置于多个所述受光元件的至少一个，截止与从与多个所述受光元件的至少一个对应的光源元件射出的光脉冲的波段不同的波段的不需要光。
10.此外，在本发明一种方式的光脉冲测试仪中，所述第一空间光学系统和所述第二空间光学系统共同包括：半透半反镜(24)，使由所述第一空间光学系统进行了波长合波的光脉冲透过或反射，使来自所述光纤的返回光反射或透过；以及聚光透镜(25)，设置在所述半透半反镜与所述光纤的一端之间。
11.此外，本发明一种方式的光脉冲测试仪包括多个信号处理电路(14a～14c)，多个所述信号处理电路与多个所述受光元件对应设置，对从对应的所述受光元件输出的受光信号进行处理。
12.此外，在本发明一种方式的光脉冲测试仪中，所述第一空间光学系统还包括输出驱动信号的驱动部，多个所述光源元件根据从所述驱动部输出的所述驱动信号而射出所述光脉冲，所述波长合波元件对由所述多个所述光源元件射出的所述光脉冲在空间上进行波长合波。
13.此外，在本发明一种方式的光脉冲测试仪中，多个所述信号处理电路并行地处理从多个所述受光元件输出的所述受光信号。
14.此外，本发明一种方式的光脉冲测试仪还包括显示多个所述信号处理电路的运算结果的显示部。
15.此外，在本发明一种方式的光脉冲测试仪中，所述显示部显示所述光纤的传输损耗以及到故障点的距离。
16.根据本发明，具有不会导致测量精度下降而能够在短时间内进行光纤的测试的特别的作用效果。
17.本发明的进一步的特征和方式通过以下参照附图描述的实施方式的详细说明而明确。
附图说明
18.图1是表示本发明实施方式的光脉冲测试仪的要部构成的框图。
19.图2是表示本发明实施方式中的双向模块的要部构成的图。
20.图3是表示本发明实施方式中的双向模块的变形例的图。
具体实施方式
21.参照优选实施方式，对本发明的实施方式进行说明。本领域技术人员能够使用本发明的教导来实现本实施方式的多种代替方案，本发明不限定于在此说明的优选的本实施方式。
22.本发明的一种方式提供一种不会导致测量精度下降而能够在短时间内进行光纤的测试的光脉冲测试仪。
23.下面，参照附图，对本发明的实施方式的光脉冲测试仪进行详细说明。以下，首先对本发明的实施方式的概要进行说明，接着对本发明的实施方式的详细情况进行说明。
24.[概要]
[0025]
本发明的实施方式不会导致测量精度下降而能够在短时间内进行光纤的测试。具
体地说，将从光纤得到的返回光的波长成分按从多个光源元件分别射出的光脉冲的每个波段进行分离，并且由多个受光元件单独接收分离后的波长成分，由此不降低测量精度而实现多波长同时测量。
[0026]
日本专利公开公报特开2013-24814号所公开的otdr能够进行使多个波长的光脉冲入射到光纤而同时进行测量的多波长同时测量。该otdr使按每个波长以不同的随机码进行调制后的测试光入射到光纤，进行从光纤得到的返回光的受光信号与上述随机码的相关运算，由此实现多波长同时测量。但是，可以认为如果进行这种相关运算，则有可能产生寄生成分。
[0027]
如果产生上述寄生成分，则光纤的连接点等事件的位置的测量精度下降，或者连接损耗的等级等测量精度下降。为了防止测量精度下降，考虑附加用于防止测量精度下降的相关仪器等高速的电路，但是由于这样的电路价格高，所以光脉冲测试仪的成本大幅上升。
[0028]
本发明的实施方式将从射出相互不同波段的光脉冲的多个光源元件射出的光脉冲在空间上进行波长合波并入射到光纤。并且，将来自光纤的返回光在空间上进行波长分离并入射到与多个光源元件对应设置的多个受光元件。由此，由多个受光元件单独接收按从多个光源元件分别射出的光脉冲的每个波段分离的返回光的波长成分，所以不会导致测量精度下降而能够在短时间内进行光纤的测试。
[0029]
[详细]
[0030]
《光脉冲测试仪》
[0031]
图1是表示本发明实施方式的光脉冲测试仪的要部构成的框图。如图1所示，本实施方式的光脉冲测试仪1包括：双向模块11、ld驱动部12、采样部13、信号处理部14、显示部15和连接器16。这种光脉冲测试仪1基于使光脉冲入射到光纤fut而得到的返回光，测试或测量光纤fut的特性。另外，光脉冲测试仪1也被称为otdr。
[0032]
双向模块11基于从ld驱动部12输出的驱动信号ds，输出入射到光纤fut的光脉冲(激光)，并且接收从光纤fut得到的返回光并输出受光信号rs。另外，双向模块11的详细情况在后面说明。
[0033]
ld驱动部12在信号处理部14的控制下，输出驱动双向模块11的驱动信号ds。即，ld驱动部12输出驱动信号ds，该驱动信号ds用于使双向模块11输出入射到光纤fut的光脉冲。采样部13在信号处理部14的控制下，对从双向模块11输出的受光信号rs进行采样。
[0034]
信号处理部14控制ld驱动部12和采样部13，并且使用由采样部13采样的信号，进行用于求出光纤fut的特性所需的运算。显示部15例如包括液晶显示装置等显示装置，显示信号处理部14的运算结果等。另外，信号处理部14的运算结果例如也可以作为数据文件输出到外部。连接器16是用于将光纤fut的一端与光脉冲测试仪1连接的连接器。
[0035]
《双向模块》
[0036]
图2是表示本发明实施方式中的双向模块的要部构成的图。如图2所示，本实施方式中的双向模块11包括：光源元件21a、21b(光源元件)、准直透镜22a、22b(第一空间光学系统)、波长合波元件23(第一空间光学系统)、半透半反镜24(第一、第二空间光学系统)、聚光透镜25(第一、第二空间光学系统)、波长分离元件26a、26b(第二空间光学系统)、聚光透镜27a、27b(第二空间光学系统)和受光元件28a、28b。
[0037]
光源元件21a、21b例如包括半导体激光器，如果被输入了从图1所示的ld驱动部12输出的驱动信号ds，则射出光脉冲。光源元件21a射出波长λ1的光脉冲(以下有时称为“第一光脉冲”)，光源元件21b射出波长λ2的光脉冲(以下有时称为“第二光脉冲”)。波长λ1例如是1.31μm波段，波长λ2例如是1.55μm波段。另外，波长λ2例如也可以是1.6μm波段。
[0038]
准直透镜22a将从光源元件21a射出的第一光脉冲转换为平行光，准直透镜22b将从光源元件21b射出的第二光脉冲转换为平行光。波长合波元件23对由准直透镜22a、22b转换为平行光的第一光脉冲和第二光脉冲在空间上进行合波(波长合波)。作为该波长合波元件23例如能够使用使第一光脉冲透过、使第二光脉冲反射的分色镜或半透半反镜。
[0039]
半透半反镜24以规定的分支比(例如1比1)对入射的光进行分支。例如，半透半反镜24使从波长合波元件23引导来的光脉冲的50％透过，使剩余的50％反射。此外，半透半反镜24使从光纤fut得到的返回光的50％反射，使剩余的50％透过。
[0040]
聚光透镜25使透过了半透半反镜24的光脉冲耦合到耦合用光纤fb的一端。另外，耦合用光纤fb的一端与双向模块11连接并与聚光透镜25光学耦合，另一端与连接器16连接。即，光纤fut的一端与耦合用光纤fb的另一端连接。此外，聚光透镜25将从光纤fut得到的返回光转换为平行光并向半透半反镜24引导。
[0041]
波长分离元件26a将由半透半反镜24反射的返回光在空间上分离(波长分离)。具体地说，使包含于返回光的波长成分中的与第一光脉冲的波长λ1相同波段的成分透过，使除此以外的波长成分(包含与第二光脉冲的波长λ2相同波段的成分)反射。波长分离元件26b将由波长分离元件26a反射的波长成分在空间上分离(波长分离)。具体地说，使由波长分离元件26a反射的波长成分中的与第二光脉冲的波长λ2相同波段的成分反射，使除此以外的波长成分透过。
[0042]
在此，波长分离元件26b是为了除去包含于由波长分离元件26a反射的波长成分的与第一光脉冲的波长λ1相同波段的成分而设置的。理想的是，波长分离元件26a使与第一光脉冲的波长λ1相同波段的成分全部透过，使与第二光脉冲的波长λ2相同波段的成分全部反射。但是，实际上，有时在由波长分离元件26a反射的波长成分中包含与第一光脉冲的波长λ1相同波段的成分。波长分离元件26b是为了除去这种不需要的波长成分而设置的。另外，如果能够忽略上述不需要的波长成分，则也可以使用全反射镜来代替波长分离元件26b。
[0043]
聚光透镜27a使透过了波长分离元件26a的波长成分耦合到受光元件28a的受光面。聚光透镜27b使由波长分离元件26b反射的成分耦合到受光元件28b的受光面。
[0044]
受光元件28a、28b例如包括雪崩光电二极管(avalanche photo diode：apd)，对入射到受光面的波长成分进行光电转换，输出与入射到受光面的波长成分对应的受光信号rs。受光元件28a与光源元件21a对应设置，接收透过波长分离元件26a并由聚光透镜27a聚光的成分(与第一光脉冲的波长λ1相同波段的成分)，并且输出受光信号rs1。受光元件28b与光源元件21b对应设置，接收由波长分离元件26b反射并由聚光透镜27b聚光的成分(与第二光脉冲的波长λ2相同波段的成分)，并且输出受光信号rs2。
[0045]
在此，准直透镜22a、22b、波长合波元件23、半透半反镜24和聚光透镜25构成第一空间光学系统，该第一空间光学系统将从光源元件21a、21b射出的第一、第二光脉冲在空间上进行波长合波并入射到光纤fut。此外，聚光透镜25、半透半反镜24、波长分离元件26a、26b、和聚光透镜27a、27b构成第二空间光学系统，该第二空间光学系统将来自光纤fut的返
回光在空间上进行波长分离并入射到受光元件28a、28b。
[0046]
该第二空间光学系统对返回光在空间上进行波长分离，以使与第一光脉冲的波段相同波段的成分入射到与光源元件21a对应的受光元件28a，并且使与第二光脉冲的波段相同波段的成分入射到与光源元件21b对应的受光元件28b。另外，由于半透半反镜24和聚光透镜25在第一空间光学系统和第二空间光学系统中共用，所以第一空间光学系统和第二空间光学系统能够共同地包括半透半反镜24和聚光透镜25。
[0047]
如图2所示，与受光元件28a对应地设置有采样电路13a和信号处理电路14a，与受光元件28b对应地设置有采样电路13b和信号处理电路14b。采样电路13a、13b是设置于图1所示的采样部13的电路，信号处理电路14a、14b是设置于图1所示的信号处理部14的电路。
[0048]
采样电路13a对从对应的受光元件28a输出的受光信号rs1进行采样。信号处理电路14a使用由采样电路13a采样的信号，进行用于求出光纤fut的特性所需的运算。采样电路13b对从对应的受光元件28b输出的受光信号rs2进行采样。信号处理电路14b使用由采样电路13b采样的信号，进行用于求出光纤fut的特性所需的运算。
[0049]
设置与受光元件28a对应的采样电路13a和信号处理电路14a以及与受光元件28b对应的采样电路13b和信号处理电路14b是基于以下的理由。即，这是因为通过并行地处理从受光元件28a输出的受光信号rs1以及从受光元件28b输出的受光信号rs2，缩短用于求出光纤fut的特性所需的时间。
[0050]
《光脉冲测试仪的动作》
[0051]
如果光脉冲测试仪1的动作开始，则首先通过图1所示的信号处理部14控制ld驱动部12，从ld驱动部12输出驱动信号ds。从ld驱动部12输出的驱动信号ds供给到双向模块11的光源元件21a、21b。如果被供给了驱动信号ds，则从光源元件21a射出第一光脉冲，从光源元件21b射出第二光脉冲。
[0052]
从光源元件21a射出的第一光脉冲由准直透镜22a转换为平行光，从光源元件21b射出的第二光脉冲由准直透镜22b转换为平行光。转换为平行光的第一光脉冲和第二光脉冲由波长合波元件23合波。合波后的光脉冲在依次经由半透半反镜24、聚光透镜25和耦合用光纤fb之后，入射到与连接器16连接的光纤fut。伴随光脉冲在光纤fut中传播，在光纤fut内产生瑞利散射光、菲涅尔反射光。它们作为返回光在光纤fut中向相反方向(与光脉冲的传播方向相反的方向)传播。
[0053]
从光纤fut输出的返回光在依次经由耦合用光纤fb和聚光透镜25之后由半透半反镜24反射而入射到波长分离元件26a。入射到波长分离元件26a的返回光中包含的波长成分中的与第一光脉冲的波长λ1相同波段的成分透过波长分离元件26a，与第二光脉冲的波长λ2相同波段的成分被反射。
[0054]
透过了波长分离元件26a的波长成分(与第一光脉冲的波长λ1相同波段的成分)在由聚光透镜27a聚光后由受光元件28a接收。由此，从受光元件28a输出受光信号rs1。相对于此，由波长分离元件26a反射的波长成分(与第二光脉冲的波长λ2相同波段的成分)在由波长分离元件26b反射并由聚光透镜27b聚光后由受光元件28b接收。由此，从受光元件28b输出受光信号rs2。
[0055]
从受光元件28a输出的受光信号rs1在由采样电路13a采样后，用于通过信号处理电路14a求出光纤fut的特性所需的运算。与此同时，从受光元件28b输出的受光信号rs2在
由采样电路13b采样后，用于通过信号处理电路14b求出光纤fut的特性所需的运算。
[0056]
在信号处理电路14a、14b中，例如，基于从光源元件21a、21b分别输出第一、第二光脉冲之后到由受光元件28a、28b接收到返回光为止的时间，例如进行用于求出从光脉冲测试仪1到光纤fut的故障点为止的距离的运算。以上述方式得到的信号处理电路14a、14b的运算结果(例如光纤fut的传输损耗或到故障点的距离等)显示于显示部15。
[0057]
如上所述，在本实施方式中，将从光源元件21a射出的第一光脉冲以及从光源元件21b射出的第二光脉冲在空间上进行波长合波并入射到光纤fut。并且，将来自光纤fut的返回光在空间上进行波长分离并入射到受光元件28a、28b。由此，由受光元件28a、28b分别单独地接收按从光源元件21a、21b分别射出的第一、第二光脉冲的每个波段分离的返回光的波长成分，因此不会导致测量精度下降而能够在短时间内进行光纤的测试。
[0058]
此外，在本实施方式中，将构成双向模块11的光学元件空间结合。由此，相比光学元件与光纤结合的情况，本实施方式的双向模块11能够抑制耦合损耗并能够实现提高测量精度。此外，相比光学元件与光纤结合的情况，本实施方式的双向模块11能够实现省空间和低成本。
[0059]
《变形例》
[0060]
图3是表示本发明实施方式中的双向模块的变形例的图。另外，在图3中，对与图2所示构成相同的构成标注相同的附图标记。图3所示的双向模块11相对于图2所示的双向模块11是追加了光源元件21c、准直透镜22c(第一空间光学系统)、波长合波元件31(第一空间光学系统)、波长分离元件26c(第二空间光学系统)、聚光透镜27c(第二空间光学系统)、受光元件28c和不需要光截止滤波器32b、32c的结构。
[0061]
图2所示的双向模块11实现使两个不同波长的光脉冲入射到光纤fut而同时进行测量的双波长同时测量。相对于此，本变形例的双向模块11实现使三个不同波长的光脉冲入射到光纤fut而同时进行测量的三波长同时测量。
[0062]
光源元件21c与图2所示的光源元件21a、21b同样，例如包括半导体激光器，如果被输入了从图1所示的ld驱动部12输出的驱动信号ds，则射出光脉冲。光源元件21c射出波长λ3的光脉冲(以下有时称为“第三光脉冲”)。另外，波长λ3例如是1.6μm波段。
[0063]
准直透镜22c与准直透镜22a、22b相同，波长合波元件31与波长合波元件23相同。波长分离元件26c对透过了波长分离元件26b的波长成分在空间上进行分离(波长分离)。具体地说，使透过了波长分离元件26b的波长成分中的与第三光脉冲的波长λ3相同波段的成分反射，使除此以外的波长成分透过。
[0064]
在此，波长分离元件26c是为了除去透过了波长分离元件26b的波长成分中包含的与第一光脉冲的波长λ1相同波段的成分、与第二光脉冲的波长λ2相同波段的成分而设置的。这是与图2所示的波长分离元件26b相同的理由。另外，在不需要除去上述波长成分的情况下，也可以使用全反射镜来代替波长分离元件26c。
[0065]
聚光透镜27c与聚光透镜27a、27b相同。受光元件28c与受光元件28a、28b相同。另外，受光元件28c与光源元件21c对应设置，接收由波长分离元件26c反射并由聚光透镜27c聚光的成分(与第三光脉冲的波长λ3相同波段的成分)，并且输出受光信号rs3。
[0066]
不需要光截止滤波器32b配置在聚光透镜27b与受光元件28b之间，是截止不需要的光(例如与第二光脉冲的波长λ2相同波段的光以外的光)的滤波器。不需要光截止滤波器
32c配置在聚光透镜27c与受光元件28c之间，是截止不需要的光(例如与第三光脉冲的波长λ3相同波段的光以外的光)的滤波器。
[0067]
在此，在图3所示的例子中，在聚光透镜27a与受光元件28a之间未配置不需要光截止滤波器。这是因为波长分离元件26a具有使与第一光脉冲的波长λ1相同波段的成分以外的成分不透过(或几乎不透过)的透过特性。另外，根据波长分离元件26a的透过特性，也可以在聚光透镜27a与受光元件28a之间配置不需要光截止滤波器。
[0068]
在此，准直透镜22a、22b、22c、波长合波元件23、波长合波元件31、半透半反镜24和聚光透镜25构成第一空间光学系统，该第一空间光学系统将从光源元件21a、21b、21c射出的第一、第二、第三光脉冲在空间上进行波长合波并入射到光纤fut。此外，聚光透镜25、半透半反镜24、波长分离元件26a、26b、26c、聚光透镜27a、27b、27c和不需要光截止滤波器32b、32c构成第二空间光学系统，该第二空间光学系统将来自光纤fut的返回光在空间上进行波长分离并入射到受光元件28a、28b、28c。
[0069]
该第二空间光学系统对返回光在空间上进行波长分离，以使与第一光脉冲的波段相同波段的成分入射到与光源元件21a对应的受光元件28a，使与第二光脉冲的波段相同波段的成分入射到与光源元件21b对应的受光元件28b，使与第三光脉冲的波段相同波段的成分入射到与光源元件21c对应的受光元件28c。另外，由于半透半反镜24和聚光透镜25在第一空间光学系统和第二空间光学系统中共用，所以第一空间光学系统和第二空间光学系统能够共同地包括半透半反镜24和聚光透镜25。
[0070]
如图3所示，与受光元件28c对应地设置有采样电路13c和信号处理电路14c。采样电路13c与采样电路13a、13b同样，是设置于图1所示的采样部13的电路，信号处理电路14c与信号处理电路14a、14b同样，是设置于图1所示的信号处理部14的电路。
[0071]
采样电路13c对从对应的受光元件28c输出的受光信号rs3进行采样。信号处理电路14c使用由采样电路13c采样的信号，进行用于求出光纤fut的特性所需的运算。通过设置与受光元件28c对应的采样电路13c和信号处理电路14c，能够并行地处理从受光元件28a输出的受光信号rs1、从受光元件28b输出的受光信号rs2、以及从受光元件28c输出的受光信号rs3。由此，能够缩短用于求出光纤fut的特性所需的时间。
[0072]
另外，本变形例的双向模块11与图2所示的双向模块11的不同点仅在于本变形例的双向模块11实现三波长同时测量而图2所示的双向模块11实现双波长同时测量。因此，包括本变形例的双向模块11的光脉冲测试仪的动作基本上与包括图2所示的双向模块11的光脉冲测试仪1的动作相同，因此省略动作的详细说明。
[0073]
如上所述，在本变形例中，将从光源元件21a射出的第一光脉冲、从光源元件21b射出的第二光脉冲、以及从光源元件21c射出的第三光脉冲在空间上进行波长合波并入射到光纤fut。并且，将来自光纤fut的返回光在空间上进行波长分离并入射到受光元件28a、28b、28c。由此，由受光元件28a、28b、28c分别单独地接收按从光源元件21a、21b、21c分别射出的第一、第二、第三光脉冲的每个波段分离的返回光的波长成分，因此不会导致测量精度下降而能够在短时间内进行光纤的测试。
[0074]
此外，在本变形例中，也将构成双向模块11的光学元件空间结合。由此，相比光学元件与光纤结合的情况，本变形例的双向模块11也能够抑制耦合损耗并能够实现提高测量精度，并且能够实现省空间和低成本。
[0075]
以上，说明了本发明实施方式的光脉冲测试仪，但是本发明并不意图限定于上述实施方式，能够在本发明的范围内自由地变更。例如，上述实施方式的光脉冲测试仪能够进行双波长同时测量，上述变形例的光脉冲测试仪能够进行三波长同时测量，但是也可以是能够对四波长以上的波长进行同时测量。
[0076]
如果将n(n为2以上的整数)设为波长的数量，则以n波长进行同时测量的光脉冲测试仪将光源元件和受光元件各包括n个。此外，该光脉冲测试装置在第一空间光学系统中包括(n-1)个波长合波滤波器，在第二空间光学系统中包括至少(n-1)个波长分离元件。
[0077]
此外，在上述变形例的光脉冲测试仪中，说明了对来自光纤fut的返回光以从短波长侧到长波长侧的顺序进行分离的例子。即，说明了以与第一光脉冲的波长λ1(例如1.31μm波段)相同波段的成分、与第二光脉冲的波长λ2(例如1.55μm波段)相同波段的成分、以及与第三光脉冲的波长λ3(例如1.6μm波段)相同波段的成分的顺序进行分离的例子。
[0078]
但是，也可以对来自光纤fut的返回光以从长波长侧到短波长侧的顺序进行分离。即，也可以以与第三光脉冲的波长λ3(例如1.6μm波段)相同波段的成分、与第二光脉冲的波长λ2(例如1.55μm波段)相同波段的成分、以及与第一光脉冲的波长λ1(例如1.31μm波段)相同波段的成分的顺序进行分离。
[0079]
此外，上述实施方式和变形例的光脉冲测试仪是使透过了半透半反镜24的光脉冲入射到光纤fut并且由半透半反镜24反射来自光纤fut的返回光的结构。但是，也可以是使由半透半反镜24反射的光脉冲入射到光纤fut并且使来自光纤fut的返回光透过半透半反镜24的结构。
[0080]
《使用例》
[0081]
最后，说明上述光脉冲测试仪的使用例。以下，依次说明“弯曲的确认”、“多波长实时测量”以及“被测量光纤的连接状况的确认”。
[0082]
《弯曲的确认》
[0083]
在光纤弯曲的情况下，在光纤的芯中传播的光信号有时从芯向外部(包层)漏出。这种从芯向外部漏出的光信号成为损耗，因此在光纤的芯中传播的光信号的功率降低。因此，在光纤的芯中传播的光信号中，与短波长的光信号相比，长波长的光信号容易从芯向外部(包层)漏出。
[0084]
在otdr中，能够检测在光纤的芯中传播的光信号的功率发生变化的位置。因此，同时测量对光纤的弯曲不敏感的短波长(例如1.31μm)的光信号以及对光纤的弯曲敏感的长波长(例如1.55μm或1.6μm)的光信号并对其测量结果进行比较，就能够在短时间内确认发生了光纤的弯曲的位置。
[0085]
在光纤系统的接入网服务中，具有使从基站布线的多芯线缆成为单芯或收纳被称为分路器的分配器等的接头盒。在光纤的铺设作业中，在将光纤收纳到接头盒时，如果比规定弯曲收纳或夹持收纳，则有时成为通信故障、光纤劣化或断裂的原因。如果使用上述光脉冲测试仪，则能够在上述作业中在短时间内检测弯曲，因此能够防止上述作业不良的发生。
[0086]
《多波长实时测量》
[0087]
otdr具有减少平均化处理时间/次数来进行测量的被称为实时测量的功能。该功能的主要用途是所连接的光纤的连接状况的简单确认、用于导出最佳测量条件的事先测量。如果使用上述光脉冲测试仪，则能够实现多波长同时的实时测量，因此对于在以往的结
构中对每个波长反复进行的测量条件的实时测量，能够同时进行。
[0088]
作为测量条件根据每个波长不同的例子，可以列举由于光纤的损耗率(db/km)不同，所以改变与可测量的范围(dr动态范围)相关的测量光的功率(脉冲宽度等)、平均化次数(时间)。此外，由于光纤的折射率不同，所以改变用于匹配连接点、全长的远端位置的群折射率(ior：index of refraction)等。群折射率的事先变更能够作为end点位置的自动修正功能。
[0089]
《被测量光纤的连接状况的确认》
[0090]
在测量开始前的与otdr的连接检查功能中，能够通过一次测量的波长来确认连接状况。在光连接器的连接点，有时根据波长而在连接损耗、反射中产生偏差。例如，在1.31μm时“ok”(反射小)，但是在1.55μm时“ng”(反射大)。如果使用上述光脉冲测试仪，则能够在测量开始前进行这样的确认。
[0091]
在本说明书中“前、后、上、下、右、左、垂直、水平、纵、横、行和列”等表示方向的术语是指本发明的装置中的这些方向。因此，本发明的说明书中的这些术语应在本发明的装置中相对解释。
[0092]“构成”这样的术语构成为用于执行本发明的功能，或者用于表示装置的构成、要素、部分。
[0093]
此外，在权利要求中表述为“手段加功能”的术语应当包括能够用于执行包含于本发明的功能的任何结构。
[0094]“单元”这样的术语用于表示构成要素、单元、硬件、为了执行所希望的功能而编程的软件的一部分。硬件的典型例是设备、电路，但是并不限于此。
[0095]
以上，对本发明的优选实施例进行了说明，但是本发明并不限定于这些实施例。能够在不脱离本发明的宗旨的范围内进行结构的附加、省略、置换以及其他变更。本发明不由上述说明限定而仅由所附的权利要求书限定。