本发明涉及基片加热装置和基片处理装置。
背景技术:
1、在专利文献1中公开了一种外延晶片的制造装置,其包括:具有多个凹状的收纳部的装载板,这些多个收纳部收纳可载置晶片的晶片支承台,并在周向上排列地配置;与装载板的上表面相对地配置的密封件;以及感应线圈,其与装载板的下表面和密封件的上表面相对地配置,通过感应加热对装载板和密封件进行加热。
2、现有技术文献
3、专利文献
4、专利文献1:日本特开2014-127612号公报
技术实现思路
1、发明要解决的技术问题
2、在一个方面,本发明提供抑制加热所需的消耗功率,提高温度控制性的基片加热装置和基片处理装置。
3、用于解决技术问题的技术方案
4、为了解决上述技术问题,依照一个方式,提供一种基片加热装置,其包括:感应加热线圈;保持托盘,其具有载置并保持基片的基片保持部,能够被上述感应加热线圈感应加热;和旋转台,其支承上述保持托盘,被设置成能够旋转。
5、发明效果
6、依照一个方面,能够提供抑制加热所需的消耗功率,提高温度控制性的基片加热装置和基片处理装置。
1.一种基片加热装置,其特征在于,包括:
2.如权利要求1所述的基片加热装置,其特征在于:
3.如权利要求2所述的基片加热装置,其特征在于:
4.如权利要求2所述的基片加热装置,其特征在于:
5.如权利要求1所述的基片加热装置,其特征在于:
6.如权利要求5所述的基片加热装置,其特征在于:
7.如权利要求1所述的基片加热装置,其特征在于:
8.如权利要求1所述的基片加热装置,其特征在于:
9.如权利要求8所述的基片加热装置,其特征在于:
10.一种基片处理装置,其特征在于: