基片加热装置和基片处理装置的制作方法

文档序号:35396618发布日期:2023-09-09 16:36阅读:23来源:国知局
基片加热装置和基片处理装置的制作方法

本发明涉及基片加热装置和基片处理装置。


背景技术:

1、在专利文献1中公开了一种外延晶片的制造装置,其包括:具有多个凹状的收纳部的装载板,这些多个收纳部收纳可载置晶片的晶片支承台,并在周向上排列地配置;与装载板的上表面相对地配置的密封件;以及感应线圈,其与装载板的下表面和密封件的上表面相对地配置,通过感应加热对装载板和密封件进行加热。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1:日本特开2014-127612号公报


技术实现思路

1、发明要解决的技术问题

2、在一个方面,本发明提供抑制加热所需的消耗功率,提高温度控制性的基片加热装置和基片处理装置。

3、用于解决技术问题的技术方案

4、为了解决上述技术问题,依照一个方式,提供一种基片加热装置,其包括:感应加热线圈;保持托盘,其具有载置并保持基片的基片保持部,能够被上述感应加热线圈感应加热;和旋转台,其支承上述保持托盘,被设置成能够旋转。

5、发明效果

6、依照一个方面,能够提供抑制加热所需的消耗功率,提高温度控制性的基片加热装置和基片处理装置。



技术特征:

1.一种基片加热装置,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的基片加热装置,其特征在于:

3.如权利要求2所述的基片加热装置,其特征在于:

4.如权利要求2所述的基片加热装置,其特征在于:

5.如权利要求1所述的基片加热装置,其特征在于:

6.如权利要求5所述的基片加热装置,其特征在于:

7.如权利要求1所述的基片加热装置,其特征在于:

8.如权利要求1所述的基片加热装置,其特征在于:

9.如权利要求8所述的基片加热装置,其特征在于:

10.一种基片处理装置,其特征在于:


技术总结
本发明提供抑制加热所需的消耗功率,提高温度控制性的基片加热装置和基片处理装置。基片加热装置包括:感应加热线圈;保持托盘,其具有载置并保持基片的基片保持部,能够被上述感应加热线圈感应加热;和旋转台,其支承上述保持托盘,被设置成能够旋转。

技术研发人员:本间学
受保护的技术使用者:东京毅力科创株式会社
技术研发日:
技术公布日:2024/1/15
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