一种宽波束天线测试设备的制作方法

本发明涉及宽波束天线测试，尤其涉及一种宽波束天线测试设备。

背景技术：

1、对于通信、导航、遥测等领域各类型宽波束天线来说，测试是各类型宽波束天线必须的流程之一。对于宽波束天线的测试来说，通过天线测试设备能够方便的对天线在有限的测试环境下进行测试。另一方面，现有的天线测试设备成本高、占用空间大，搬运使用很不方便，同时传统的微波暗室只能进行方位向一维平动扫描，对于不同测试需求的宽波束天线来说便捷性受限。

技术实现思路

1、针对上述技术问题，本申请提供一种宽波束天线测试设备，用以解决现有技术中微波暗室只能进行方位向一种一维平动扫描进行天线法向电性能测试，无法对宽波束天线进行不同低仰角状态下方向图、增益、轴比等电性能扫描的技术问题。

2、鉴于上述问题，本发明提供了一种宽波束天线测试设备，所述设备包括：转接件；升降台；测试设备底座，所述转接件将所述测试设备底座与所述升降台连接，所述测试设备底座设置一限位块；天线载体，所述天线载体可转动安装在所述测试设备底座上，利用所述限位块进行转动限位固定；待测天线安装在所述天线载体上，通过所述升降台调整设备高度，使得所述待测天线位置与信号源处于同一水平线，转动所述天线载体，利用所述限位块进行角度限位固定，根据待测天线不同低仰角性能需求进行测试。

3、优选的，所述转接件、所述测试设备底座、所述天线载体可拆卸连接。

4、优选的，所述测试设备底座包括：底板；支架、导轨，设置在所述底板上，所述天线载体安装在所述支架上，所述限位块在所述导轨上移动。

5、优选的，所述测试设备底座还包括：指针，设置在所述支架上。

6、优选的，所述天线载体具有一刻度盘，所述刻度盘与所述指针位置相对应，用于控制所述天线载体的转动角度。

7、优选的，所述天线载体表面为铝板。

8、优选的，所述天线载体为木质框架结构。

9、本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

10、本发明通过所述转接件将所述测试设备底座与升降台连接，所述测试设备底座设置一限位块；所述天线载体可转动安装在所述测试设备底座上，将待测天线安装在所述天线载体上，通过所述升降台调整设备高度，使得所述待测天线位置与信号源处于同一水平线，转动所述天线载体，利用所述限位块进行角度限位固定，根据待测天线不同低仰角性能需求进行调整，有效完成对宽波束天线进行不同低仰角状态下方向图、增益、轴比等电性能扫描，实现根据不同的低仰角要求进行测试，打破了一个方位进行扫描的局限，使得测试更为便捷，达到根据不同低仰角要求进行覆盖仰角范围-180～+180°的扫描测试，提高测试便捷性，并利用限位块保证不同角度测量稳定性的技术效果，从而解决现有技术中微波暗室只能进行方位向一维平动扫描进行天线法向电性能测试，无法对宽波束天线进行不同低仰角状态下方向图、增益、轴比等电性能扫描的技术问题。

11、上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。

技术特征：

1.一种宽波束天线测试设备，其特征在于，所述设备包括：

2.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述转接件、所述测试设备底座、所述天线载体可拆卸连接。

3.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述测试设备底座包括：

4.如权利要求3所述的设备，其特征在于，所述测试设备底座还包括：

5.如权利要求4所述的设备，其特征在于，所述天线载体具有一刻度盘，所述刻度盘与所述指针位置相对应，用于控制所述天线载体的转动角度。

6.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述天线载体表面为铝板。

7.如权利要求7所述的设备，其特征在于，所述天线载体为木质框架结构。

技术总结
本发明公开了一种宽波束天线测试设备，涉及宽波束天线测试技术领域，包括：转接件将测试设备底座与升降台连接，测试设备底座设置一限位块；天线载体可转动安装在测试设备底座上，待测天线安装在天线载体上，通过升降台调整设备高度，使得待测天线位置与信号源处于同一水平线，转动天线载体，利用限位块进行角度限位固定，根据待测天线不同低仰角性能需求进行测试，解决现有技术中微波暗室只能进行方位向一维平动扫描进行天线法向电性能测试，无法对宽波束天线进行不同低仰角状态下方向图、增益、轴比等电性能扫描的技术问题，达到根据不同低仰角要求进行扫描测试，提高测试便捷性，利用限位块保证不同角度测量稳定性的技术效果。

技术研发人员：吕明刚,麻浩,贾智旗,董妮妮,王超
受保护的技术使用者：西安航天天绘数据技术有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/24