一种高光色均匀性的发光器件及测试方法与流程

本发明涉及led芯片，特别涉及一种高光色均匀性的发光器件及测试方法。

背景技术：

1、随着汽车行业的发展，越来越多的车灯使用led作为车灯光源。传统的车灯led光源为点光源，在多颗直射式或侧发光led模组上，导致在侧发光led模组有限的空间下亮点明显的问题。为了实现表面均匀发光的效果，减少led颗粒感和炫目感，通常需要搭配光学透镜或者光扩散板，由于光学透镜或扩散板较厚，此工艺虽提升了均匀性，但产品整体厚度会增大，与现有的轻薄化车灯发展相违背。

2、因此，针对现有技术的不足提供一种高光色均匀性的发光器件。

技术实现思路

1、为了克服现有技术的不足，本发明提供一种高光色均匀性的发光器件，该装置具有解决发光器件整体厚度较厚，面光源存在色差，光色均匀性低的问题。

2、为了达到上述目的，本发明采用以下技术方案：

3、一种高光色均匀性的发光器件，其特征在于，包括：基板，所述基板上固设有至少一个芯片，至少一所述芯片串联或并联排列设置，所述芯片上方铺设有透镜，所述芯片与所述透镜构成发光单元，所述基板上方依次覆盖有光转换层、透明胶层和扩散层，所述光转换层围绕所述发光单元设置。

4、作为本发明技术方案的进一步改进，所述芯片四周围设有光转换层，所述透明胶层铺设于所述光转换层，所述透明胶层覆盖所述透镜。

5、作为本发明技术方案的进一步改进，所述光转换层覆盖所述芯片和所述透镜。

6、作为本发明技术方案的进一步改进，所述光转换层内包括均匀分布的荧光体，若干所述芯片激发所述光转换层内的荧光体形成区域性发光的白光面光源。

7、作为本发明技术方案的进一步改进，所述荧光体为粉末状材料；

8、所述荧光体包括y、lu、sc、la、gd与sm中的至少一组和al、ga、in中的至少一组。

9、作为本发明技术方案的进一步改进，若干所述芯片呈矩阵式排列。

10、作为本发明技术方案的进一步改进，所述芯片的pitch值为所述芯片长度的1-4倍。

11、一种高光色均匀性的发光器件的测试方法，适用于上述的高光色均匀性的发光器件，包括以下步骤：

12、s1：使用成像色度计，在发光器件的面光源上选取圆形测量点，圆形测量点的尺寸等于芯片长边的尺寸，圆形测量点位按芯片位置呈矩阵式排列；

13、s2：分别测量芯片上方表面区域的亮度与芯片间隔表面区域的亮度，统计数据结果并制作面光源相对亮度图；

14、s3：取面光源相对亮度图中的亮度均值，计算整颗面光源上不同点位的相对亮度。

15、作为本发明技术方案的进一步改进，在步骤s2中，芯片上方表面亮度不出现超过整颗led平均亮度20％的峰值，芯片间距上方表面亮度不出现超过整颗led平均亮度20％的谷值。

16、作为本发明技术方案的进一步改进，在步骤s3中，圆形测量点的相对亮度的最大值与最小值相差小于20％，且任意获取两点的相对亮度差异不超过20％。

17、与现有技术相比，本发明的有益效果为：

18、本发明的高光色均匀性的发光器件中，通过在基板上串联或并联设置芯片，在芯片上方铺设透镜形成发光单元，有利于缩小发光器件的整体厚度，实现车灯轻薄化，往基板上方依次覆盖光转换层、透明胶层和扩散层，光转换层全部或部分覆盖发光单元，在透镜、光转换层、透明胶层和扩散层的共同作用下以达到高光色均匀性的发光效果，在测试光色均匀性时，在面光源上任意取两点，平均亮度差值不超过20％。本高光色均匀性的发光器件，具有发光器件整体厚度薄，面光源处没有明显的光色差异，且光色均匀的特点。

技术特征：

1.一种高光色均匀性的发光器件，其特征在于，包括：基板，所述基板上固设有至少一个芯片，至少一所述芯片串联或并联排列设置，所述芯片上方铺设有透镜，所述芯片与所述透镜构成发光单元，所述基板上方依次覆盖有光转换层、透明胶层和扩散层，所述光转换层围绕所述发光单元设置。

2.根据权利要求1所述的一种高光色均匀性的发光器件，其特征在于，所述芯片四周围设有光转换层，所述透明胶层铺设于所述光转换层，所述透明胶层覆盖所述透镜。

3.根据权利要求1所述的一种高光色均匀性的发光器件，其特征在于，所述光转换层覆盖所述芯片和所述透镜。

4.根据权利要求1所述的一种高光色均匀性的发光器件，其特征在于，所述光转换层内包括均匀分布的荧光体，若干所述芯片激发所述光转换层内的荧光体形成区域性发光的白光面光源。

5.根据权利要求4所述的一种高光色均匀性的发光器件，其特征在于，所述荧光体为粉末状材料；

6.根据权利要求1所述的一种高光色均匀性的发光器件，其特征在于，若干所述芯片呈矩阵式排列。

7.根据权利要求1所述的一种高光色均匀性的发光器件，其特征在于，所述芯片的pitch值为所述芯片长度的1-4倍。

8.一种高光色均匀性的发光器件的测试方法，适用于权利要求1-7中任一项所述的高光色均匀性的发光器件，其特征在于，包括以下步骤：

9.根据权利要求8所述的一种高光色均匀性的发光器件的测试方法，其特征在于，

10.根据权利要求8所述的一种高光色均匀性的发光器件的测试方法，其特征在于，

技术总结
本发明涉及LED芯片技术领域，特别涉及一种高光色均匀性的发光器件。该高光色均匀性的发光器件具体包括：基板，基板上固设有至少一个芯片，至少一芯片串联或并联排列设置，芯片上方铺设有透镜，芯片与透镜构成发光单元，基板上方依次覆盖有光转换层、透明胶层和扩散层，光转换层围绕发光单元设置。本发明具有发光器件整体厚度薄，面光源处没有明显的光色差异，且光色均匀的优点。

技术研发人员：罗昕穗,万垂铭,李晨骋,万珊珊,朱文敏,徐波
受保护的技术使用者：广东晶科电子股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/17