本发明属于光伏组件测试设备技术领域，更具体地说，是涉及一种双玻组件pid测试辅助装置。
背景技术：
近几年，能源问题越来越严重，全世界开始了对新能源的开发和利用。太阳能作为一种新型的绿色可再生能源，具有储量大、寿命长、无污染的优点，因而成为最具前途的一种新能源。将太阳能应用于发电更是成为人们普遍关注的焦点，光能是一种高品位能量，利用、传输和分配都比较方便，将太阳能转换为电能是大规模利用太阳能的重要技术基础，光伏组件是光伏发电系统中的核心部分，也是光伏发电系统中价值最高的部分。其作用是将太阳能转化为电能，或送往蓄电池中存储起来，或推动负载工作；随着光伏行业的不断发展，光伏组件应用的领域及区域更加广泛，由于地理位置的差异，温度的昼夜变化成为影响光伏组件应用的主要因素之一，在高纬度、高海拔或是沙漠地区温度的变化十分明显，应用环境的不同造成光伏组件发电效率的差异性。
双玻组件的外形为长方形板状结构，其包括正背面玻璃、正面封装胶膜、背面封装胶膜封及用封装胶膜装固定在前后玻璃之间的电池串组，没有金属边框，双玻组件的pid效应作为影响发电量的重要因素之一，受到了业界广泛关注。pid(potentialinduceddegradation)意为电位诱发衰减，光伏发电系统的系统电压存在对晶体硅电池组件有持续的“电位诱发衰减”效用，晶体硅电池通过封装材料(通常是eva和玻璃的上表面)对组件边框形成的回路所导致的漏电流，进而导致电池发电性能下降现象。近年来组件pid问题已经成为国外买家投诉国内组件质量的重要因素之一，严重时候它可以引起一块组件功率衰减50％以上，从而影响整个电站的功率输出；通常测试pid方法是在高温环境下对组件通一系统电压，内部带电体连接电压负极，金属边框连接电源正极，由于双玻组件没有金属边框，在pid测试过程中，测试电源连接线成为影响双玻组件pid测试的主要因素之一；因此，对双玻组件进行pid测试，进而抑制pid效应刻不容缓。
目前，对双玻组件进行pid测试的方式是用铝箔对组件进行包裹，将铝箔裁成条，并用胶带将铝箔粘贴在双玻组件的背面；由于铝箔和胶带是一次性消耗品，铝箔和胶带的消耗是极大的浪费，对于大批量的pid试验来说是一项巨大的开支；另外，铝箔包裹并不能有效的模拟双玻组件在系统的安装方式，pid测试是将测试样品直接放入真空干燥箱中且测试时间较长，由于试验环境是高温高湿，胶带一旦脱落并不能被发现，最终会导致测试失败；胶带经过长时间高温后残留在玻璃表面，若不清理将影响测试结果，清理的话费时、费力，影响工作效率，因此，需要一种既能有效模拟双玻组件的安装方式，又能重复使用不浪费的pid测试样品放置装置。
技术实现要素：
本发明的目的在于提供一种双玻组件pid测试辅助装置，以解决现有技术中存在的铝箔和胶带包裹组件进行测试时胶带容易脱落残留在玻璃表面，清理费时费力，且铝箔和胶带包裹消耗巨大，增加测试成本的技术问题。
为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：提供一种双玻组件pid测试辅助装置，包括至少一组用于分别导电夹持双玻组件的两个平行侧边的夹持组件、横向连接结构和与所述夹持双玻组件导电连接的接线端子，所述夹持组件分别夹持双玻组件的两个对边，其包括两个对称平行设置的夹具，所述横向连接结构分别与两所述夹具相连。
进一步地，所述夹具包括夹具本体和设置在所述夹具上的旋紧机构，所述夹具本体具有供导电夹持双玻组件侧边插入的插槽。
进一步地，所述夹持组件具有两组，所述横向连接结构具有两个，一个所述横向连接结构连接一个所述夹持组件中的两个所述夹具。
进一步地，还包括纵向连接结构，所述纵向连接结构设置在两个所述横向连接结构中间并与两个所述横向连接结构垂直导电连接。
进一步地，所述插槽呈u形；所述旋紧机构包括螺杆和设置于所述螺杆上部的固定螺母；所述螺杆顶端设置有把手，底端设置有压片，所述插槽上部具有供螺杆穿过的螺孔，所述螺孔内表面设置有内螺纹。
进一步地，所述纵向连接结构包括第一纵向连接结构、纵向固定螺栓设置和与所述第一纵向连接结构搭接的第二纵向连接结构，所述纵向固定螺栓设置在所述第一纵向连接结构和所述第二纵向连接结构的搭接部位。
进一步地，所述第一纵向连接结构和所述第二纵向连接结构的搭接部位均设置有用于调节所述纵向固定螺栓位置的相同大小的纵向活动槽，所述纵向活动槽长度为100-300毫米，宽度为5-30毫米。
进一步地，所述横向连接结构的两端均设置有用于调节夹持组件位置的横向活动槽，所述横向活动槽末端距离所述横向连接结构端部10-30毫米，所述横向活动槽长度为80-150毫米，宽度为5-30毫米。
进一步地，所述横向连接结构为铜质构件，厚度为2-6毫米，宽度为30-100毫米，长度不大于10500毫米；所述第一纵向连接结构和第二纵向连接结构均为铜质构件，厚度均为2-6毫米，宽度均为30-100毫米，长度均为400-1000毫米。
进一步地，所述夹具为铜质构件，所述插槽内部长度为20-100毫米，宽度为5-30毫米。
本发明提供的一种双玻组件pid测试辅助装置的有益效果在于：与现有技术相比，本发明的一种双玻组件pid测试辅助装置可以模拟双玻组件系统安装并进行pid测试，并可重复使用，降低测试成本；保证电源连接线与双玻组件充分接触，具备可靠的导电性，可根据双玻组件的规格进行调节，满足不同规格的双玻组件，实现对双玻组件pid测试的规范性，提高测试结果的可靠性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种双玻组件pid测试辅助装置的结构示意图；
图2为本发明实施例提供的一种双玻组件pid测试辅助装置夹持组件的结构示意图一；
图3为本发明实施例提供的一种双玻组件pid测试辅助装置夹持组件的结构示意图二；
其中，图中各附图标记：
1-横向连接结构；2-第一纵向连接结构；3-第二纵向连接结构；4-夹具本体；5-螺杆；6-插槽；7-固定螺母；8-把手；9-压片；10-纵向固定螺栓；11-横向活动槽；12-纵向活动槽；13-接线端子。
具体实施方式
为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。
需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”、“若干个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
请一并参阅图1至图3，现对本发明提供的一种双玻组件pid测试辅助装置进行说明。所述一种双玻组件pid测试辅助装置，包括至少一组用于分别导电夹持双玻组件的两个平行侧边的夹持组件、横向连接结构1和与所述夹持双玻组件导电连接的接线端子13，所述夹持组件分别夹持双玻组件的两个对边，其包括两个对称平行设置的夹具，所述横向连接结构1分别与两所述夹具相连。
在对双玻组件进行测试前先通过功率测试装置检测双玻组件的功率，并将功率记录为p1，之后操作人员通过夹持组件对双玻组件进行夹持，固定牢固之后，将该装置放入高低温湿热箱中，对测试样品接通反向电压，将接线端子13接电源正极，将双玻组件接电源负极，将高低温湿热箱设置温度为85℃，湿度为85％，在此高温高湿环境下保持至少96小时；将双玻组件取出并通过功率测试装置对双玻组件重新进行检测，功率记录为p2，若功率p2比p1衰减小于5％，则证明此双玻组件合格；若功率p2比p1衰减大于5％，则证明此双玻组件不合格。
本发明提供的一种双玻组件pid测试辅助装置的有益效果在于：与现有技术相比，本发明的一种双玻组件pid测试辅助装置可以模拟双玻组件系统安装并进行pid测试，并可重复使用，降低测试成本；保证电源连接线与双玻组件充分接触，具备可靠的导电性，可根据双玻组件的规格进行调节，满足不同规格的双玻组件，实现对双玻组件pid测试的规范性，提高测试结果的可靠性。
进一步地，请参阅图1至图3，作为本发明提供的一种双玻组件pid测试辅助装置的一种具体实施方式，所述夹具包括夹具本体4和设置在所述夹具上的旋紧机构，所述夹具本体4具有供导电夹持双玻组件侧边插入的插槽6；插槽6可以将双玻组件的边部进行包裹，夹持稳固牢靠，不易滑动，有效模拟组件边框的作用，保证组件外观的干净清洁。
进一步地，请参阅图1至图3，作为本发明提供的一种双玻组件pid测试辅助装置的一种具体实施方式，所述夹持组件具有两组，所述横向连接结构1具有两个，一个所述横向连接结构1连接一个所述夹持组件中的两个所述夹具；两组夹持组件加强对双玻组件的夹持作用，保证夹持的强度和稳定性，便于试验顺利进行。
进一步地，请参阅图1至图3，作为本发明提供的一种双玻组件pid测试辅助装置的一种具体实施方式，还包括纵向连接结构，所述纵向连接结构设置在两个所述横向连接结构1中间并与两个所述横向连接结构1垂直导电连接；导电连接保证整个辅助装置的导电性，便于试验顺利进行。
进一步地，请参阅图1至图3，作为本发明提供的一种双玻组件pid测试辅助装置的一种具体实施方式，所述插槽6呈u形；所述旋紧机构包括螺杆5和设置于所述螺杆5上部的固定螺母7；所述螺杆5顶端设置有把手8，底端设置有压片9，所述插槽6上部具有供螺杆5穿过的螺孔，所述螺孔内表面设置有内螺纹；插槽6设置呈u形，可以更好的将双玻组件的边部进行包裹；操作人员通过旋紧机构的把手8可以调整压片9的高度，实现对双玻组件的夹持和放开，双玻组件被夹紧后拧紧固定螺母7防止螺杆5松动。
进一步地，请参阅图1至图3，作为本发明提供的一种双玻组件pid测试辅助装置的一种具体实施方式，所述纵向连接结构包括第一纵向连接结构2、纵向固定螺栓10设置和与所述第一纵向连接结构2搭接的第二纵向连接结构3，所述纵向固定螺栓10设置在所述第一纵向连接结构2和所述第二纵向连接结构3的搭接部位；便于适用不同规格的型号组件的安装。所述第一纵向连接结构2和第二纵向连接结构3均为铜质构件，厚度均为2-6毫米，宽度均为30-100毫米，长度均为400-1000毫米；铜质构件保证电源连接线与组件充分接触，优选方案为厚度均为3毫米，宽度均为50毫米，长度均为600毫米，第二纵向连接结构32和第二纵向连接结构3的尺寸可根据双玻组件的规格进行调节。
进一步地，请参阅图1至图3，作为本发明提供的一种双玻组件pid测试辅助装置的一种具体实施方式，所述第一纵向连接结构2和所述第二纵向连接结构3的搭接部位均设置有用于调节所述纵向固定螺栓10位置的相同大小的纵向活动槽12，所述纵向活动槽12长度为100-300毫米，宽度为5-30毫米；纵向固定螺栓10可在纵向活动槽12中活动，调节第二纵向连接结构32和第二纵向连接结构3的搭接长度，调整两个横向连接结构1之间的距离，适用于不同规格的型号组件的安装；优化方案为纵向活动槽12长度为200毫米，宽度为10毫米，满足目前常见的大多数双玻组件，便于纵向固定螺栓10在纵向活动槽12中来回活动，根据不同的双玻组件规格进行调整。
进一步地，请参阅图1至图3，作为本发明提供的一种双玻组件pid测试辅助装置的一种具体实施方式，所述横向连接结构1的两端均设置有用于调节夹持组件位置的横向活动槽11，所述横向活动槽11末端距离所述横向连接结构1端部10-30毫米，所述横向活动槽11长度为80-150毫米，宽度为5-30毫米；夹持组件可在横向活动槽11中活动，调节夹持组件的位置以适用不同规格型号的双玻组件，夹持组件调节完毕后用固定螺母7固定。优选的，横向活动槽11末端距离所述横向连接结构1端部20毫米处，横向活动槽11长度为100毫米，宽度为10毫米。
进一步地，请参阅图1至图3，作为本发明提供的一种双玻组件pid测试辅助装置的一种具体实施方式，所述横向连接结构1为铜质构件，厚度为2-6毫米，宽度为30-100毫米，长度不大于10500毫米；铜质构件保证电源连接线与双玻组件充分接触，优选的，横向连接结构1厚度为3毫米，宽度为50毫米，长度不大于10200毫米，以适用目前大部分规格的双玻组件；所述第一纵向连接结构2和第二纵向连接结构3均为铜质构件，厚度均为2-6毫米，宽度均为30-100毫米，长度均为400-1000毫米；铜质构件保证电源连接线与组件充分接触，优选方案为厚度均为3毫米，宽度均为50毫米，长度均为600毫米，第一纵向连接结构2和第二纵向连接结构3的尺寸可根据双玻组件的规格进行调节。
进一步地，请参阅图1至图3，作为本发明提供的一种双玻组件pid测试辅助装置的一种具体实施方式，所述夹具为铜质构件，所述插槽6内部长度为20-100毫米，宽度为5-30毫米；优选的，夹具本体4由厚度为3毫米的铜板制作而成，夹具本体4的u形插槽6内部长度为50毫米，宽度为15毫米，其尺寸可根据双玻组件的尺寸进行调整更换，此夹具本体4能重复利用，减少铝箔的消耗，降低试验成本，有效模拟组件边框的作用，保证组件外观干净清洁。
在这里还需要说明的是，本发明的双玻组件pid测试辅助装置不仅能作为测试双玻组件pid效应的样品放置装置使用，还能作为不合格双玻组件的恢复试验和pid验证试验放置装置使用。若一双玻组件经过测试不合格，功率衰减大于5％，则需要对双玻组件进行恢复补救；或是怀疑某一组件产生pid现象导致功率衰减，可以采用pid恢复试验进行验证。将双玻组件放置在本技术方案的测试样品放置装置上，通过设置在两个横向连接结构1两端的四个夹持组件对双玻组件的四个角部进行夹持，通过纵向固定螺栓10对双玻组件进行固定，固定牢固之后，将该装置放入高低温湿热箱中，对测试样品接通正向电压，将横向连接结构1上的接线端子13接电源负极，将双玻组件接电源正极，将高低温湿热箱设置温度为85℃，湿度为85％，在此高温高湿环境下保持至少96小时；将双玻组件取出；并可再通过功率测试装置对双玻组件重新进行检测，功率可记录为p3，若功率p3大于p1，则证明此双玻组件pid现象恢复或证明某一组件功率衰减是pid现象。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。