半导体集成电路的制作方法与工艺

文档序号:12556863阅读:来源:国知局
技术总结
本发明涉及半导体集成电路。在中心扩展的SSCG中,在上扩展和下扩展侧精确诊断操作状态,同时使诊断电路产生的噪声对SSCG所输出的时钟频率的影响最小化。产生以通过输入参考时钟频率乘以预定数字而获得的频率为中心的中心扩展调制时钟的SSCG被配置为包括相位比较器、VCO以及由分频器和分频比调制电路形成的调制电路。分频比调制电路向分频器提供在预定乘数以上和以下调制的分频比,并且输出被包括为扩展方向标识信号的量级关系。诊断电路包括对经调制时钟进行计数的计数器,并且基于扩展方向标识信号在上扩展或下扩展周期中执行计数操作。基于针对预定周期而计数的值,例如针对存在或不存在故障而对SSCG的操作状态进行诊断。

技术研发人员:多木良孝
受保护的技术使用者:瑞萨电子株式会社
文档号码:201310114476
技术研发日:2013.03.25
技术公布日:2017.06.09

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