时钟抖动和电源噪声分析的制作方法

时钟抖动和电源噪声分析的制作方法
【专利摘要】所公开的是实施时钟抖动和电源噪声分析的方法、系统和/或装置。在一个实施例中，方法可以包括接收可以是时钟信号的第一信号，之后基于第一信号生成第二信号。方法可以进一步包括将第二信号延迟基延迟和/或一系列精细延迟。方法还可以包括对经延迟的第二信号进行测量并且将那些测量与对如果第一信号无噪声的话原本将发生的第二信号的理论测量相比较。方法可以进一步包括基于测量和其比较确定是否存在噪声、噪声是否是高频噪声或低频噪声以及噪声是否起因于时钟抖动和/或电源偏差。
【专利说明】时钟抖动和电源噪声分析

【技术领域】
[0001] 本公开总地涉及数据处理设备，并且更具体地，涉及检测并分析噪声标志 (signature)的方法、设备和/或系统。

【背景技术】
[0002] 信号处理的应用是广泛的并且不断增加。信号处理应用的示例包括移动设备对消 息的发射和接收、语音识别和用来为CPU和GPU的内部操作定时的时钟信号。
[0003] 信号可以包括多个频率。组成信号的一部分的最低频率已知为信号的基频。信号 还可以包括不需要的分量，称为噪声。信号中的噪声的存在可降低应用中的信号性能。噪 声信号可传送错误的或不完整的信息。噪声可具有可被认为是标志的特定特性。例如，噪 声可被表征为低频或高频。低频噪声可以是以低于信号的基频的频率出现的噪声。高频噪 声则可以是除低频噪声之外的所有噪声。检测并分析噪声标志可使得噪声的来源能够被确 定、消除和/或降低。


【发明内容】

[0004] 所公开的是检测并分析噪声标志的方法、设备和/或系统。
[0005] 在一个方面，公开检测并分析噪声标志的方法。在该方面，方法包括由噪声分析器 接收第一信号。此外，方法可以涉及通过噪声分析器基于第一信号生成第二信号以及通过 基延迟将第二信号时间移位（displace) -基延迟时间。在一个方面，方法可以进一步涉及 通过比较器将经时间移位的第二信号的实际测量与第三理论信号的理论测量相比较，其中 第三理论信号是如果第一信号无高频噪声和低频噪声这二者的话原本将从第一信号生成 的第二信号的版本。
[0006] 在另一方面，公开检测并分析噪声标志的系统。在该方面，系统包括信号发生器， 其配置为接收第一信号并且基于第一信号生成第二信号。在一个方面，系统可以进一步包 括基延迟元件，其配置为将第二信号时间移位第一时间延迟；多个精细延迟元件，其配置为 将第二信号进一步时间移位至少一个精细时间延迟；以及比较器，其配置为将经时间移位 的第二信号的实际测量与第三理论信号的理论测量相比较，其中第三理论信号是如果第一 信号无高频噪声和低频噪声这二者的话原本将从第一信号生成的第二信号的版本。
[0007] 在另一方面，公开检测并分析噪声标志的噪声分析器。在一个方面，噪声分析器可 以包括信号发生器，其配置为接收第一信号并且基于第一信号生成第二信号。在一个方面， 系统可以进一步包括基延迟元件，其配置为将第二信号时间移位第一时间延迟；以及比较 器，其配置为将经时间移位的第二信号的实际测量与第三理论信号的理论测量相比较，其 中第三理论信号是如果第一信号无高频噪声和低频噪声这二者的话原本将从第一信号生 成的第二信号的版本。
[0008] 本文所公开的方法和系统可以以任何手段加以实现以达成各种方面，并且可以以 将指令集具体化的非暂时性机器可读介质的形式加以执行，该指令集当由机器执行时使机 器实施本文所公开的任何操作。其他特征将从附图和跟随的详细描述中显而易见。

【专利附图】

【附图说明】
[0009] 本发明的实施例通过示例而非限制的方式示出在附图的各图中，在附图中类似的 参考指代相似的元件，在附图中：
[0010] 图1示出根据一个或多个实施例的噪声分析器的框图。
[0011] 图2是根据一个或多个实施例的、示出无噪声模拟信号的波形，并且其示出沿着 波形的、噪声分析器可以在此处对信号进行测量的点。
[0012] 图3A是根据一个或多个实施例的、示出与无噪声模拟信号相比的高频噪声的波 形。
[0013] 图3B是根据一个或多个实施例的、示出与无噪声模拟信号相比的低频噪声的波 形。
[0014] 图3C是根据一个或多个实施例的、示出信号和高频噪声的组合的波形。
[0015] 图3D是根据一个或多个实施例的、示出信号和低频噪声的组合的波形。
[0016] 图3E是根据一个或多个实施例的、示出信号与低频噪声和高频噪声的组合的波 形，并且示出可由噪声分析器进行的测量的位置。
[0017] 图4A是根据一个或多个实施例的、示出可表示无噪声数字时钟信号的方波的波 形。
[0018] 图4B是根据一个或多个实施例的、示出从图4A的方波所生成的信号的波形。 [0019] 图4C是根据一个或多个实施例的、示出被移位基延迟的图4B的信号以及可由噪 声分析器进行的测量的位置的波形。
[0020] 图4D是根据一个或多个实施例的一系列波形；波形"s"可以表示初始信号，波形 "mts"可以表示元信号（metasignal)，其可被创建自包含在初始信号中的信息，并且波形 D1到D8可以表示mts的经延迟版本。
[0021] 图4E是根据一个或多个实施例的、来自图4D的D1波形的一段的放大细节。
[0022] 图4F是根据一个或多个实施例的、可由噪声分析器进行的测量的位置的放大细 节。
[0023] 图5A是根据一个或多个实施例的、示出可表示无噪声数字时钟信号的方波的波 形。
[0024] 图5B是根据一个或多个实施例的、示出可表示包含高频抖动的时钟信号的、包含 高频噪声的方波的波形。
[0025] 图5C是根据一个或多个实施例的、示出表示从图5B的波形所生成的信号的方波 的波形。
[0026] 图?是根据一个或多个实施例的、示出被移位基延迟的图5C的方波的波形，并且 还示出可对波形进行的测量的值。
[0027] 图5E是示出噪声分析器可如何在基延迟和一系列精细延迟之后进行测量的一系 列波形。
[0028] 图6A是根据一个或多个实施例的、示出可表示无噪声数字时钟信号的方波的波 形。
[0029] 图6B是根据一个或多个实施例的、示出表示从图6A的波形所生成的信号的方波 的波形。
[0030] 图6C是根据一个或多个实施例的、示出图6B的波形的、已经被移位可表示高频供 电噪声的延迟的部分的波形，并且还经由虚线示出如果不存在噪声的话可能已经由波形所 占据的位置。
[0031] 图6D是根据一个或多个实施例的、示出图6B的波形的、已经被移位可表示高频供 电噪声的延迟的部分的波形，并且还示出可对波形进行的测量的值。
[0032] 图7A是根据一个或多个实施例的、示出可表示无噪声数字时钟信号的方波的波 形。
[0033] 图7B是根据一个或多个实施例的、示出可表示包含低频抖动的时钟信号的、包含 低频噪声的方波的波形。
[0034] 图7C是根据一个或多个实施例的、示出表示从图7B的波形所生成的信号的方波 的波形。
[0035] 图7D是根据一个或多个实施例的、示出被移位基延迟的图7C的方波的波形，并且 还示出可对波形进行的测量的值。
[0036] 图8A是根据一个或多个实施例的、示出可表示无噪声数字时钟信号的方波的波 形。
[0037] 图8B是根据一个或多个实施例的、示出表示从图8A的波形所生成的信号的方波 的波形。
[0038] 图8C是根据一个或多个实施例的、示出图8B的波形的、已经被移位可表示低频供 电噪声的延迟的部分的波形，并且还经由虚线示出如果不存在噪声的话可能已经由波形所 占据的位置。
[0039] 图8D是根据一个或多个实施例的、示出图8B的波形的、已经被移位可表示低频供 电噪声的延迟的部分的波形，并且还示出可对波形进行的测量的值。
[0040] 图9是根据一个或多个实施例的噪声分析器的框图。
[0041] 图10是根据一个或多个实施例的、示出可由噪声分析器使用的步骤的流程图。
[0042] 图11是根据一个或多个实施例的、示出连接到钟控逻辑元件的噪声分析器的框 图。
[0043] 图12是根据一个或多个实施例的噪声分析器的过程流程图。
[0044] 本文实施例的其他特征将从附图和跟随的详细描述中显而易见。

【具体实施方式】
[0045] 如以下所描述的，可以使用示范性实施例来提供分析信号内的噪声的方法、系统 和/或设备。示范性实施例可以检测并分析包含在信号内的噪声的独特特性，该独特特性 用来确定特定类型的噪声的标志。示范性实施例可以通过对信号、和/或可使用包含在信 号中的信息生成的元信号、和/或噪声、和/或前述的多个和/或理论版本进行测量来检测 前述特性。如本文所使用的术语"测量"可以是术语"采样"的同义词。
[0046] 图1示出根据一个或多个实施例的、包括噪声分析器120的系统的框图。在该实 施例或其他实施例中，在噪声分析器120处所接收的信号102可以是没有噪声的，其中噪声 构成电信号的不需要的特性。信号102可以是模拟或数字信号。信号102可以由波形表 示，其波形包括一个或多个频率，波形的最低频率是基频。低频噪声106包括可以以低于信 号102的基频的频率出现的噪声。高频噪声104可以是以大于低频噪声106频率的频率出 现的噪声。低频噪声106和/或高频噪声104可以在位置108处与信号102相结合。位置 108可以是物理位置、时间位置或这二者的组合。前述的低频噪声106和/或高频噪声104 可以被无意地生成并与信号102相结合和/或被有意地生成并与信号102相结合。在一个 或多个实施例中，信号102可以是由噪声分析器120所接收的实际信号和/或可由噪声分 析器120生成以表示无噪声信号的理论信号。
[0047] 在一个或多个实施例中，信号102和/或信号和噪声110可以由噪声分析器120 实时接收、在一个或多个延迟之后接收、和/或由另一设备或系统记录、之后由噪声分析器 120访问。噪声分析器120可以之后对信号和噪声110实施将信号和噪声110与无噪声信 号102相比较的操作，由噪声分析器120所实施的操作可以将信号和噪声110与无噪声信 号102相比较，以确定包含在信号和噪声110内的噪声的独特特性。前述的独特特性可以 用来确定包含在信号和噪声110内的噪声的来源。
[0048] 在一个或多个实施例中，由噪声分析器120所实施的操作可以包括基于信号和噪 声110生成第一新信号、涉及信号102来时间移位该新信号、基于信号102生成第二新信 号、测量经时间转移的第一新信号、测量第二新信号以及比较前述测量，以确定包含在信号 和噪声110中的噪声的独特特性。在一个或多个实施例中，噪声分析器120还可以时间转 移第二新信号。
[0049] 在一个示例中，信号102可以是计算系统的时钟信号。计算系统可以包含存储器、 时钟和处理器（处理器可以是CPU、GPU、ASIC、FPGA、模拟系统或实施计算操作的其他装 置）。时钟信号102可以由方波表示，该方波具有用于周期性重复一定周期的高值，其可表 示为1，以及用于周期性重复一定周期的低值，其可表示为0。时钟信号102的循环可以包 括单个高周期与单个低周期相结合。时钟信号102的高值可以表示一（1)并且低值可以表 示零（0)。时钟信号102可以用来使计算系统内的操作同步。在一个示例中，时钟信号102 的周期可能遭受随机变化。在小于时钟循环的时间周期中发生的随机变化可以是高频噪声 104,并且持续得长于单个时钟循环的随机变化可以是低频噪声106。前述的影响时钟信号 102的低频噪声和/或高频噪声可以是低频抖动和/或高频抖动。
[0050] 在一个示例中，计算系统内的处理器的处理速度可受到电源的电平的影响。例如， 如果计算系统的电源供应比设计功率电平高的功率电平，则处理器可以以比其设计速度快 的速度进行操作，并且以比设计速率快的速率完成操作。相反，如果由电源所供应的功率小 于设计功率电平，则处理器可以以比其设计速度慢的速度进行操作，并且以比设计速率慢 的速率完成操作。电源电压的随机变化可以是电源噪声。持续小于时钟循环的时间周期的 电源噪声可以是高频噪声104。持续大于或等于时钟循环的时间周期的电源噪声可以是低 频噪声106。
[0051] 图2示出根据一个或多个实施例的、由正弦波所表示的信号102的无噪声模拟版 本。可以由噪声分析器120将基延迟202应用到信号102。噪声分析器120可以在基延迟 202之后以及随后在精细延迟204之后对信号102进行测量210。虽然图中示出为信号102， 但是正弦波还可以表示由噪声分析器120基于信号102和/或信号和噪声110所生成的信 号，并且可以被相移与基延迟202相对应的量和/或被相移可与精细延迟204相对应的其 他量和/或其他量。
[0052] 图3A示出根据一个或多个实施例的、与信号102相比较的高频噪声104的模拟示 例。
[0053] 图3B示出根据一个或多个实施例的、与信号102相比较的低频噪声106的模拟示 例。
[0054] 图3C示出根据一个或多个实施例的、模拟的高频噪声104与信号102相结合以创 建信号和噪声110的不例。
[0055] 图3D示出根据一个或多个实施例的、模拟的低频噪声106与信号102相结合以创 建信号和噪声110的不例。
[0056] 图3E示出根据一个或多个实施例的、模拟的高频噪声104和模拟的低频噪声106 这二者与信号102相结合以创建信号和噪声110的示例。图3E还示出可由噪声分析器120 进行的一系列测量210,其中实线和闭环端点可以表示原本将对无噪声信号102进行的测 量，并且虚线和开环端点可以表示将对信号和噪声110进行的测量。噪声分析器120可以 比较先前所提及的测量以确定噪声标志；也就是说，噪声是否是高频、低频和/或噪声的潜 在来源和/或来源。由噪声分析器120所实施的前述比较可以例如包括从将对信号和噪声 110进行的测量中减去将对无噪声信号102进行的测量，之后确定理想的无噪声信号102 与信号和噪声110之间是否存在差异；并且进一步确定在其期间测量差异可能存在的时间 中贞。例如，噪声分析器120可以确定无噪声信号102与信号和噪声110之间存在差异，其存 在于小于信号102的基频的周期，这些差异可以表示高频噪声104。可替代地，噪声分析器 120可以确定无噪声信号102与信号和噪声110之间存在差异，其存在于大于信号102的 基频的周期，这些差异可以表示低频噪声106。在另一个示例中，噪声分析器可以确定信号 102与信号和噪声110之间存在这两种类型的前述的差异，其可以指示高频噪声104和低频 噪声106这二者的存在。噪声分析器120可以对信号102以及信号和噪声110进行多组测 量，这些测量可以在一定时间被重复，测量之间的定时与信号102的频率相关。
[0057] 在一个或多个实施例中，噪声分析器120可以基于信号102和/或信号和噪声110 生成元信号。在一个或多个实施例中，元信号可以包含关于在元信号的频率、周期、振幅和/ 或可变性方面所基于的信号的信息。在一个或多个实施例中，噪声分析器120可以时间转 移前述元信号中的一个或多个、对元信号中的一个或多个进行一系列测量210并且将那些 测量210与一个或多个其他元信号和/或信号102和/或信号和噪声110的等价测量相比 较，以确定可构成噪声标志的信号和噪声110的独特特性。
[0058] 可以通过将离散值指派到以特定采样速率对如图2-3E所示的模拟波形所进行的 测量来将模拟波形转换为数字波形。在简单示例中，可以将一个值指派到在某电平之上的 波形的一部分，并且将另一值指派到波形的剩余部分。例如，在水平轴之上的模拟波形的值 可以被视为高或一（1)，并且在水平轴之下或处于水平轴的剩余值可以被视为低或零（〇); 反之亦然。高值和低值之间的分界线还可以设置在与水平轴不同的电平处。将数字波形转 换为模拟波形的逆过程也可以例如通过插值数字波形的离散值以创建对应的模拟波形来 完成。因此，本文所描述的对模拟信号进行操作的实施例可以应用到数字信号，反之亦然。
[0059] 图4A示出根据一个或多个实施例的、可以是无噪声数字信号的方波，其转而可以 表不无噪声时钟信号。
[0060] 图4B不出根据一个或多个实施例的、可由噪声分析器120从图4A的时钟信号生 成的新信号。图4B的新信号可以是在图4A的时钟循环的一个周期具有高值、之后在图4A 的时钟循环的下一个周期具有低值的方波，图4B的新信号的高值和低值随着图4A中所示 的时钟循环而交替。图4B的新波形可以是元信号，因为其可以是包含基于图4A的第一信 号的信息的新信号。
[0061] 图4C不出根据一个或多个实施例的、来自图4B的信号被时间偏移基延迟202。图 4C进一步示出一系列精细延迟元件450。一系列精细延迟元件450可以指示噪声分析器 120可以对信号102、信号和噪声110和/或由噪声分析器120基于信号102和/或信号和 噪声110所创建的新信号进行测量的时间位置。在另一个实施例中，精细延迟元件450可 以指示可应用到信号102、信号和噪声110和/或由噪声分析器120基于信号102和/或信 号噪声110所创建的新信号的延迟集。为了简洁，一系列精细延迟元件450的放大细节在 图4F中示出。
[0062] 图4A-4E中以及在包含波形的其他所包括的图中的垂直虚线表示所描绘的波形 的共同时间位置，并且其由参考号T5、T10、T15等标明。时间位置之间的时间周期由参考号 ?5、？10、？15等标明。每个时间周期（?5、？10、？15等）的中途点是所标明的册、!110、!115 等。
[0063] 在图4C中，根据一个或多个实施例，设置基延迟202和一系列精细延迟元件450， 以使得在初始时间周期期间在图4Β中所生成的信号的一部分在随后的时间周期或稍后的 时间周期中恰好传播经过该系列精细延迟元件450的中途。在一个示例中，可由噪声分析 器120在时间周期Ρ5期间所生成的图4Β的元信号的一部分可在随后的时间周期Ρ10期 间传播到中途点Η10,恰好是Τ10和Τ15之间的中途；在时间周期Ρ10期间所生成的元信号 的一部分可以在时间周期Ρ15期间传播到中途点Η15,以此类推。在一个或多个实施例中， 前述在一个时间周期中所生成的图4C的元信号在随后的时间周期中到恰好中途点的传播 可以是有选择地设置基延迟202和一系列精细延迟元件450以使得达成恰好中途传播的结 果。根据一个或多个实施例，作为结果的恰好中途传播可以是对如由图4所例示的无噪声 初始信号的指示。
[0064] 图4D示出根据一个或多个实施例的一系列波形，其中波形"s"可以表示初始信 号，波形"mts"可以表示元信号，其可由噪声分析器120从包含在初始信号s中的信息创建， 并且波形D1到D8可以表示mts的经延迟版本。在一个实施例中，波形s可以类似于图4A 中所示的波形，并且可以表示无噪声时钟信号。在一个实施例中，波形mts可以类似于图4B 中所示的波形，并且可以表示包含描述波形s的信息的元信号。在一个示例中，可以通过在 信号s的连续周期将mts的值在低值和高值之间交替来由噪声分析器120从s生成mts， 例如通过在s的一个周期将mts的值设置为高（或1)，之后在s的下一个周期将mts的值 设置为低（或〇)、在s的随后周期将mts设置为低，以此类推。波形D1可以表示被延迟基 延迟202的mts信号。波形D2可以表示被延迟基延迟202和一系列精细延迟450之一这 -者的mts。波形D3可以表不被延迟基延迟202和一系列精细延迟450中的两个的mts。 波形D4可以表示被延迟基延迟202和一系列精细延迟450中的三个的mts。波形D5可以 表示被延迟基延迟202和一系列精细延迟450中的四个的mts, D6可以表示被延迟基延迟 202加上精细延迟450中的五个的mts，D7 ;基延迟202加上六个精细延迟450 ;以及，最终， D8可以表示被延迟基延迟202加上一系列精细延迟450中的七个的mts。图4D中的垂直 虚线可以表示前述延迟的连续周期。虽然在图4中将一系列精细延迟450示出为分为相等 的时间周期，但是它们可以包括不同的时间周期。例如，一系列精细延迟450中的第二精细 延迟可以是一系列精细延迟450中的第一精细延迟的倍数。在一个实施例中，元信号mts 可以首先在时间T5处开始以高值生成，之后在时间T10处切换为低值，T5和T10之间的时 间是周期P5。在一个实施例中，元信号mts可以之后被延迟基延迟202和一系列精细延迟 450,以使得在周期P5期间所生成的mts值被传播使得在时间T15处，恰好它们的一半在时 间T15的一边，并且另一半在时间T15的另一边。在可以与可由信号s表不的时钟信号的 上升沿相对应的时间T15处，噪声分析器120可以进行测量（404、406、408、410、412、414、 416、418)。前述测量如果在图4D中的时间T15处进行，则将具有如以下表1所示的值。 [0065]

【权利要求】
1. 一种方法，包括： 由噪声分析器接收第一信号； 通过所述噪声分析器基于所述第一信号生成第二信号； 通过基延迟元件将所述第二信号时间移位一基延迟时间；以及 通过比较器将经时间移位的第二信号的实际测量与第三理论信号的理论测量相比较， 其中所述第三理论信号是如果第一信号无高频噪声和低频噪声的话原本将从所述第一信 号生成的所述第二信号的一版本。
2. 如权利要求1所述的方法，进一步包括： 通过至少一个精细延迟元件将所述第二信号时间移位一精细延迟时间。
3. 如权利要求2所述的方法，进一步包括： 通过所述比较器将对所述经时间移位的第二信号所进行的精细测量与对所述第三理 论信号所进行的理论精细测量相比较，其中所述精细测量和所述理论精细测量在时间上与 由所述至少一个精细延迟所提供的时间移位相对应。
4. 如权利要求1所述的方法，其中所述第一信号是周期性信号，所述第二信号是第二 周期性信号，并且所述第二信号的周期是所述第一信号的周期的倍数。
5. 如权利要求1所述的方法，其中所述第一信号包括数字时钟信号的周期性方波并且 所述第二信号包括由所述噪声分析器所生成的方波，所述第二信号的周期是所述第一周期 性方波信号的周期的倍数。
6. 如权利要求5所述的方法，其中所述基延迟时间等于所述第一信号的所述周期。
7. 如权利要求1所述的方法，其中所述第一信号包括低频噪声和高频噪声中的至少一 个。
8. -种噪声分析器系统，包括： 信号发生器，其配置为接收第一信号并且基于所述第一信号生成第二信号， 基延迟元件，其配置为将所述第二信号时间移位第一时间延迟， 多个精细延迟元件，其配置为将所述第二信号进一步时间移位至少一个精细时间延 迟；以及 比较器，其配置为将经时间移位的第二信号的实际测量与第三理论信号的理论测量相 比较，其中所述第三理论信号是如果所述第一信号无高频噪声和低频噪声这二者的话原本 将从所述第一信号生成的所述第二信号的一版本。
9. 如权利要求8所述的系统，其中所述比较器进一步配置为将对所述经时间移位的第 二信号所进行的精细测量与对所述第三理论信号所进行的理论精细测量相比较。
10. 如权利要求9所述的系统，其中所述精细测量和所述理论精细测量在时间上与由 所述多个精细延迟元件中的至少一个所提供的时间移位相对应。
11. 如权利要求8所述的系统，其中所述第一信号是周期性信号，所述第二信号是第二 周期性信号，并且所述第二信号的周期是所述第一信号的周期的倍数。
12. 如权利要求8所述的系统，其中所述第一信号包括数字时钟信号的周期性方波并 且所述第二信号包括由所述信号发生器所生成的方波，所述第二信号的周期是所述第一周 期性方波信号的周期的倍数。
13. 如权利要求12所述的系统，其中所述第一时间延迟等于所述第一信号的所述周 期。
14. 如权利要求8所述的系统，其中所述第一信号包括低频噪声和高频噪声中的至少 一个。
15. -种噪声分析器，包括： 信号发生器，其配置为接收第一信号并且基于所述第一信号生成第二信号， 基延迟元件，其配置为将所述第二信号时间移位第一时间延迟；以及 比较器，其配置为将经时间移位的第二信号的实际测量与第三理论信号的理论测量相 比较，其中所述第三理论信号是如果所述第一信号无高频噪声和低频噪声这二者的话原本 将从所述第一信号生成的所述第二信号的一版本。
16. 如权利要求15所述的噪声分析器，进一步包括多个精细延迟元件，所述多个精细 延迟元件配置为将所述第二信号进一步移位多个时间延迟。
17. 如权利要求15所述的噪声分析器，其中所述比较器进一步配置为将对所述经时间 移位的第二信号所进行的精细测量与对所述第三理论信号所进行的理论精细测量相比较， 其中所述精细测量和所述理论精细测量在时间上与由所述多个精细延迟元件中的至少一 个所提供的时间移位相对应。
18. 如权利要求15所述的噪声分析器，其中所述第一信号是周期性信号，所述第二信 号是第二周期性信号，并且所述第二信号的周期是所述第一信号的周期的倍数。
19. 如权利要求18所述的噪声分析器，其中所述第一信号包括数字时钟信号的周期性 方波并且所述第二信号包括由所述信号发生器所生成的方波，所述第二信号的周期是所述 第一周期性方波信号的周期的倍数。
20. 如权利要求19所述的噪声分析器，其中所述第一时间延迟等于所述第一信号的所 述周期。
【文档编号】H03K5/26GK104283531SQ201410318344
【公开日】2015年1月14日 申请日期:2014年7月4日 优先权日:2013年7月4日
【发明者】瓦吉斯·乔治, 鲁贝尔·艾哈迈迪, 杰西·M·格斯 申请人:辉达公司