一种微波变频器及其放大电路的制作方法

本实用新型属于微波信号测试技术领域，尤其涉及一种微波变频器及其放大电路。

背景技术：

微波变频器主要通过将外部输入信号与自身的本振信号进行相加或相减后实现频率的变化。通常外部输入信号的频率是既定的，微波变频器最终输出的信号频率取决于其自身输出的本振信号的频率，为了使得微波变频器输出的信号满足需要，在对微波变频器应用到具体电路之前需要对微波变频器的本振信号进行测试。然而，目前现有技术在对微波变频器输出的本振信号进行测试时，若同时有其他微波产品在工作，两者之间的频率会互相干扰，进而影响测试结果。

综上所述，现有技术在对微波变频器输出的本振信号进行测试时，存在因频率干扰导致的测试准确度低的问题。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种微波变频器及其放大电路，旨在解决现有技术在对微波变频器输出的本振信号进行测试时，存在因频率干扰导致的测试准确度低的问题。

本实用新型是这样实现的，一种放大电路，用于对微波变频器输出的本振信号进行放大，所述放大电路连接在所述微波变频器的本振输出端与外部测试电路之间，所述放大电路包括：

稳压供电模块与放大模块；

所述稳压供电模块的电压输入端接收直流电压，所述稳压供电模块的电压输出端与所述放大模块的电压输入端连接，所述放大模块的信号输入端与所述微波变频器的输出端连接，所述放大模块的信号输出端与所述测试电路的输入端连接；

所述稳压供电模块对所述直流电压进行稳压处理后输出稳压电压，并根据所述稳压电压向所述放大模块供电，所述放大模块的信号输入端接收所述微波变频器输出的本振信号，并对所述本振信号进行放大处理后输出至所述测试电路，以使所述测试电路对放大处理后的本振信号进行测试。

本发明的另一目的还在于提供一种微波变频器，所述微波变频器包括上述的放大电路。

在本实用新型中，通过采用包括稳压供电模块与放大模块的放大电路，使得稳压供电模块对直流电压进行稳压处理后输出稳压电压，并根据稳压电压向放大模块供电，放大模块的信号输入端接收微波变频器输出的本振信号，并对本振信号进行放大处理后输出至测试电路，以使测试电路对放大处理后的本振信号进行测试，其通过对本振信号的强度进行放大，进而防止了相同工作频段频率的干扰，使得被测信号稳定，从而解决了现有技术在对微波变频器输出的本振信号进行测试时，存在因频率干扰导致的测试准确度低的问题。

附图说明

图1是本实用新型一实施例所提供的放大电路的模块结构示意图；

图2是本实用新型另一实施例所提供的放大电路的模块结构示意图；

图3是本实用新型一实施例所提供的放大电路的电路结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

以下结合具体附图对本实用新型的实现进行详细的描述：

图1示出了本实用新型一实施例所提供的放大电路1的模块结构，为了便于说明，仅示出了与本实用新型实施例相关的部分，详述如下：

如图1所示，本实用新型实施例所示出的放大电路1用于对微波变频器2输出的本振信号进行放大，放大电路1连接在微波变频器2的本振输出端与外部测试电路3之间。

其中，放大电路1包括稳压供电模块10与放大模块12。稳压供电模块10的电压输入端接收直流电压VCC，稳压供电模块10的电压输出端与放大模块12的电压输入端连接，放大模块12的信号输入端与微波变频器2的输出端连接，放大模块12的信号输出端与测试电路3的输入端连接。

具体的，稳压供电模块10对直流电压VCC进行稳压处理后输出稳压电压，并根据稳压电压向放大模块12供电，放大模块12的信号输入端接收微波变频器输出的本振信号，并对本振信号进行放大处理后输出至测试电路3，以使测试电路3对放大处理后的本振信号进行测试。

在本实施例中，通过放大模块12对微波变频器2输出的本振信号进行放大，使得放大后的本振信号强度增强，并且不会和其他频段的信号产生干扰，从而使得测试电路3可以准确地对本振信号进行测试，并得到精确的测试结果。

进一步地，作为本实用新型一优选实施方式，如图2所示，稳压供电模块10包括稳压单元100与供电单元102。

其中，稳压单元100的电压输入端为稳压供电模块10的电压输入端，稳压单元100的电压输出端与供电单元102的电压输入端连接，供电单元102的电压输出端为稳压供电模块10的电压输出端。

具体的，稳压单元100接收直流电压VCC，并对直流电压进行稳压处理后输出稳压电压至供电单元102，供电单元102根据稳压电压向放大模块12供电。

进一步地，作为本实用新型一优选实施方式，如图3所示，稳压单元100包括稳压芯片U1、第一电容C1以及第二电容C2；

其中，第一电容C1的第一端与稳压芯片U1的电压输入端Vin共接形成稳压单元100的电压输入端，第二电容C2的第一端与稳压芯片U1的电压输出端Vout共接形成稳压单元100的电压输出端，第一电容C1的第二端、第二电容C2的第二端以及稳压芯片U1的接地端GND共接于地。

作为本实用新型一优选实施方式，稳压芯片U1由型号为78D06的稳压芯片实现。

进一步地，作为本实用新型一优选实施方式，如图3所示，供电单元包括供电芯片U2、第三电容C3、第四电容C4、第五电容C5以及第一电阻R1。

其中，供电芯片U2的输入端P20为供电单元102的电压输入端，供电芯片U2的第一输出端P14、第二输出端P15、第三输出端P16、第四输出端P17、第五输出端P18以及第六输出端P19组成供电单元102的电压输出端，供电芯片U2的第一信号端P9与第三电容C3的第一端连接，供电芯片U2的第二信号端P10与第三电容C3的第二端连接，供电芯片U2的第三信号端P11与第四电容C4的第一端连接，供电芯片U2的第四信号端P12与第五电容C5的第一端、第一电阻R1的第一端以及供电芯片U2的第五信号端P13共接，第四电容C4的第二端与第五电容C5的第二端以及第一电阻R1的第二端共接于地。

需要说明的是，在本实施例中，供电芯片U2的选择可以基于放大模块12的电压输入端的个数。优选的，当放大模块12的电压输入端的个数为6时，本实用新型实施例中的供电芯片U2采用型号为D8600的供电芯片实现。

进一步地，作为本实用新型一优选实施方式，如图2所示，放大模块12包括多个结构相同的放大单元120，优选的，图中以3个为例。

其中，多个放大单元120按照第一个放大单元120的信号输出端与第二个放大单元120的信号输入端连接，第二个放大单元120的信号输出端与第三个放大单元120的信号输入端连接的方式串联，并且每个放大单元120的第一输入端与第二输入端组成放大模块12的电压输入端，第一个放大单元120的信号输入端为放大模块12的信号输入端，最后一个放大单元120的信号输出端为放大模块12的信号输出端。

具体的，第一个放大单元120接收本振信号，多个放大单元120对本振信号进行多级放大后输出至测试电路3。

需要说明的是，放大模块12中的多个放大单元120对接收到的信号的放大倍数是相同的，其均可以将接收到的信号的强度放大13.5dB。

进一步地，作为本实用新型一优选实施方式，如图2所示，每个放大单元120均包括放大子单元120a与滤波子单元120b。

其中，放大子单元120a的第一输入端与第二输入端分别为放大单元120的第一输入端与第二输入端，放大子单元120a的信号输入端为放大单元120的信号输入端，放大子单元120a的信号输出端与滤波子单元120b的信号输入端连接，滤波子单元120b的信号输出端为放大单元120的信号输出端。

具体的，放大子单元120a对接收的信号进行放大处理后输出至滤波子单元120b，滤波子单元120b对放大处理后的信号进行滤波处理。

在本实施例中，通过采用包括放大子单元120a和滤波子单元120b的放大单元120，使得放大子单元120a先对接收的信号进行放大，而滤波子单元120b对放大后的信号中的直流传输信号频率进行隔绝，从容滤除放大后的信号中的杂波信号，以使测试电路3的测试结果更为准确。

进一步地，作为本实用新型一优选实施方式，如图3所示，放大子单元120a包括第六电容C6、第七电容C7、第二电阻R2、第三电阻R3以及开关元件Q。

其中，第六电容C6的第一端与第二电阻R2的第一端共接形成放大子单元120a的第一输入端，第二电阻R2的第二端与开关元件Q的控制端共接形成放大子单元120a的信号输入端，第七电容C7的第一端与第三电阻R3的第一端共接形成放大子单元120a的第二输入端，第三电阻R3的第二端与开关元件Q的输入端供给形成放大子单元120a的信号输出端，第六电容C6的第二端、第七电容C7的第二端以及开关元件Q的输出端均接地。

需要说明的是，在本实用新型实施例中，开关元件Q包括当不限于NMOS晶体管、PMOS晶体管、N型场效应管以及P型场效应管等。当开关元件Q为NMOS晶体管时，该NMOS晶体管的栅极、漏极以及源极分别为开关元件Q的控制端、输入端以及输出端；当开关元件Q为PMOS晶体管时，该PMOS晶体管的栅极、源极以及漏极分别为开关元件Q的控制端、输入端以及输出端；当开关元件Q为N型场效应管时，该N型场效应管的基极、集电极以及发射极分别为开关元件Q的控制端、输入端以及输出端；当开关元件Q为P型场效应管时，该P型场效应管的基极、发射极以及集电极分别为开关元件Q的控制端、输入端以及输出端。

进一步地，作为本实用新型一优选实施方式，如图2所示，滤波子单元120b包括第一滤波电容C11与第二滤波电容C12。

其中，第一滤波电容C11的第一端与第二滤波电容C12的第一端共接形成滤波子单元120b的信号输入端，第一滤波电容C11的第二端与第二滤波电容C12的第二端共接形成滤波子单元120b的信号输出端。

下面以图3所示的电路结构为例对本实用新型实施例所提供的放大电路1的工作原理作具体说明，详述如下：

如图3所示，由稳压芯片U1接收20V的直流电压VCC后将其稳定在6V，再通过供电芯片U2向每个放大单元120中的电阻R2和电阻R3供电，进而使得每个放大单元120中的开关元件Q导通，从而使得第一个放大单元120中的开关元件Q对接收到的本振信号进行一级放大，使得本振信号强度放大13.5dB，并通过第一个放大单元120中的第一滤波电容C11与第二滤波电容C12隔绝对一级放大后的本振信号中的直流传输信号，再经过第二个放大单元120中的开关元件Q对接收到的信号进行二级放大，使得本振信号强度再次放大13.5dB，并通过第二个放大单元120中的第一滤波电容C11与第二滤波电容C12隔绝对二级放大后的本振信号中的直流传输信号，最后经过第三个放大单元120中的开关元件Q对接收到的信号进行三级放大，使得本振信号强度再次放大13.5dB，并通过第三个放大单元120中的第一滤波电容C11与第二滤波电容C12隔绝对三级放大后的本振信号中的直流传输信号后输出至测试电路3。

进一步地，本实用新型实施例还提供一种微波变频器，该微波变频器包括上述的放大电路1。

在本实用新型中，通过采用包括稳压供电模块与放大模块的放大电路，使得稳压供电模块对直流电压进行稳压处理后输出稳压电压，并根据稳压电压向放大模块供电，放大模块的信号输入端接收微波变频器输出的本振信号，并对本振信号进行放大处理后输出至测试电路，以使测试电路对放大处理后的本振信号进行测试，其通过对本振信号的强度进行放大，进而防止了相同工作频段频率的干扰，使得被测信号稳定，从而解决了现有技术在对微波变频器输出的本振信号进行测试时，存在因频率干扰导致的测试准确度低的问题。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。