技术特征：
技术总结
本发明公开了一种开关电容放大器失调消除结构，包括运算放大器AMP、采样电容C1、保持电容C2、失调存储电容Cos和8个CMOS开关；所述采样电容C1、保持电容C2和失调存储电容Cos均为PIP电容；所述运算放大器AMP使用的是经典共源共栅结构放大器。本发明的失调消除和以往结构的不同之处在于，本发明的失调存储过程不需要和采样过程一致，只需要在保持过程到来之前完成失调存储即可。配合相应时序控制，本发明中使用的运算放大器AMP可以在采样过程的大部分时间内处于掉电伺服状态，节约功耗。对于大规模开关电容放大器阵列，本发明提出的方法能在消除失调的同时，极大地节约功耗。
技术研发人员：赵毅强;赵公元;叶茂;胡凯;辛睿山
受保护的技术使用者：天津大学
技术研发日：2017.10.25
技术公布日：2018.03.06