用于检测各个发光二极管中的老化过程的测量装置的制作方法

技术特征：

技术总结
本发明涉及一种用于检测各个发光二极管中的老化过程的测量装置，该测量装置确保检测并随后补偿发光二极管中的亮度损失。在这种情况下，采用了亮度强度的相对测量。本发明还涉及用于检测各个发光二极管中的老化过程的相应设置方法，以及涉及包括实现该方法的控制命令的计算机程序产品。

技术研发人员：罗兰德·奈曼
受保护的技术使用者：伊诺瓦半导体有限责任公司
技术研发日：2017.11.16
技术公布日：2019.06.04