一种直流参数测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及片上系统集成数模转换器可测试性设计领域，尤其涉及一种基于片上系统集成数模转换器的直流参数测试装置。
【背景技术】
[0002]目前，越来越多的片上系统芯片通过集成数模转换器以满足多媒体应用等功能的需求。片上系统芯片上的数模转换器在出厂之前需要在自动化测试机台上进行直流参数测试，以筛选出合格的产品。
[0003]对于片上系统芯片集成的数模转换器在自动化测试机台上的直流参数测试，目前传统的测试方法是在进行自动化机台上的直流参数测试时利用芯片内部的多路选择开关将数模转换器的数据输入、时钟等信号从数模转换器的上一级输入模块断开并且连接到芯片的管脚上，然后自动化测试机台为这些管脚分配测试通道，通过这些测试通道将直流参数测试的激励输入到对应的管脚上，再通过测量数模转换器的输出来进行直流参数测试。
[0004]然而，这种传统的测试方法需要为数模转换器每一个数据输入位都分配一个测试通道，比如对于一个8位的数模转换器，对应的数据输入占用8个自动换测试机台的测试通道。在自动化测试机台总通道数固定的情况下，占用较多地测试通道会明显降低自动化测试机台在同一时间内测试可以测试芯片的数目，使得自动化测试机台的利用率降低，导致芯片的测试成本较高。尤其是现在随着高清晰度多媒体应用的需求和数模转换器设计水平的提高，片上集成的数模转换器的位宽已经从8位上升到12位、14位甚至更高，这种通道分配引发的测试成本问题就变得越来越突出。
【实用新型内容】
[0005]有鉴于此，本实用新型实施例为解决现有技术中存在的问题而提供一种直流参数测试装置。
[0006]为达到上述目的，本实用新型实施例的技术方案是这样实现的:
[0007]本实用新型实施例提供一种直流参数测试装置，所述装置包括:
[0008]待执行直流参数测试的数模转换器；
[0009]为数据转换器提供直流参数测试激励数据的直流参数测试单元。
[0010]上述方案中，所述直流参数测试单元包括:
[0011]产生并输出直流参数测试激励计数值的测试激励产生计数器；
[0012]将直流参数测试激励和由测试激励产生计数器产生的直流参数测试激励计数值发送至数据输入锁存器的数据输入源选择开关；以及
[0013]为数据转换器转发所述直流参数测试激励和直流参数测试激励计数值的数据输入锁存器。
[0014]上述方案中，所述直流参数测试单元还包括:
[0015]为数据转换器提供时钟输入信号的时钟输入源选择开关。
[0016]上述方案中，所述测试激励产生计数器为一个位宽等于数模转换器对应位宽的多位宽计数器。
[0017]上述方案中，所述测试激励产生计数器的输入信号包括复位输入信号和计数时钟输入信号；
[0018]当复位输入信号有效时，测试激励产生计数器产生的直流参数测试激励计数值清零；当复位输入信号释放后，计数时钟输入信号每产生一次有效输入，测试激励产生计数器产生的直流参数测试激励计数值增加相应的增量值。
[0019]上述方案中，所述数据输入源选择开关为一个位宽等于数模转换器对应位宽的多位二选一选择开关，所述多位二选一选择开关包括一个输入控制信号；
[0020]当所述输入控制信号设置为从测试装置取数据时，所述数据输入源选择开关和测试激励产生计数器的输出连通，将测试激励产生计数器的输出接到数据输入锁存器的输入端；当所述输入控制信号设置为从数模转换器的上一级功能模块输入时，所述数据输入源选择开关和数模转换器的上一级功能模块的输出信号连通，将上一级功能模块的输出接到数据输入锁存器的输入端。
[0021]上述方案中，所述时钟输入源选择开关为一个1位宽的二选一选择开关，所述1位宽的二选一选择开关包括一个时钟控制信号；
[0022]当所述时钟控制信号设置为从测试装置取时钟时，所述时钟输入源选择开关与测试机台提供的时钟源接通；当所述时钟控制信号设置为从数模转换器的上一级功能模块输入时，所述时钟输入源选择开关和数模转换器的上一级功能模块的时钟输出信号连通。
[0023]本实用新型实施例所提供的直流参数测试装置，设置有待执行直流参数测试的数模转换器，及为数据转换器提供直流参数测试激励数据的直流参数测试单元。这样，当需要对片上系统集成数模转换器执行直流参数测试时，通过在片上系统芯片中增加的直流参数测试单元来向数据转换器提供直流参数测试激励数据的方式，有效实现在自动化测试机台上进行数模转换器直流参数测试时压缩占用测试机台的测试通道数量，且所需测试通道的数量不随着数模转换器位宽的增加而增加，降低片上系统芯片的测试成本，简化对应测试母板的设计复杂度。
【附图说明】
[0024]图1为本实用新型实施例直流参数测试装置的组成结构示意图；
[0025]图2为本实用新型实施例所述直流参数测试单元的组成结构示意图；
[0026]图3为本实用新型实施例直流参数测试装置的具体组成结构示意图。
【具体实施方式】
[0027]在本实用新型实施例中，当需要对片上系统集成数模转换器执行直流参数测试时，通过在片上系统芯片中增加的直流参数测试单元向数据转换器提供直流参数测试激励数据的方法代替由自动化测试机台直接向数据转换器提供直流参数测试激励数据，减少在自动化测试机台上进行片上系统集成数模转换器直流参数测试时占用的测试通道的数量。
[0028]下面结合附图及具体实施例对本实用新型再作进一步详细的说明。
[0029]实施例一
[0030]图1为本实用新型实施例直流参数测试装置的组成结构示意图，如图1所示，所述装置包括待执行直流参数测试的数模转换器10和直流参数测试单元20 ;其中，
[0031]所述直流参数测试单元20，用于为数据转换器10提供直流参数测试激励数据。
[0032]具体地，当需要对片上系统集成的数模转换器10执行直流参数测试时，通过在片上系统芯片中增加的直流参数测试单元20向数据转换器10提供直流参数测试激励数据。这样，通过本实用新型实施例所述直流参数测试装置，能够代替由自动化测试机台直接向数据转换器提供直流参数测试激励数据，减少在自动化测试机台上进行片上系统集成数模转换器直流参数测试时占用的测试通道的数量。
[0033]在一实施例中，如图2所示，所述直流参数测试单元20包括测试激励产生计数器201、数据输入源选择开关202和数据输入锁存器203 ;其中，
[0034]所述测试激励产生计数器201，用于产生并输出直流参数测试激励计数值；
[0035]这里，所述测试激励产生计数器201为一个位宽等于数模转换器对应位宽的多位宽计数器。
[0036]所述测试激励产生计数器201的输入信号包括复位输入信号和计数时钟输入信号；当复位输入信号有效时，测试激励产生计数器201产生的直流参数测试激励计数值清零；当复位输入信号释放后，计数时钟输入信号每产生一次有效输入，测试激励