专利名称：小口径电声器件振膜的谐振频率与力顺测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及了一种测量电声器件振膜的谐振频率、力顺等力学等效参数的方法和测量装置，特别适用于φ60mm以下小口径振膜的测量。
本实用新型的目的是要提供一种准确测量电声器件用振膜尤其是φ60mm以下小口径振膜等效力学参数的方法和测量装置，以弥补国内外该测量方法和装置的空白。
技术方案本实用新型的目的是通过如下技术方案来实现的本实用新型包括待测振膜、参考扬声器、专用夹具及数据测量处理仪等，其特征在于待测振膜与参考扬声器置于专用夹具内，数据测量处理仪输出扫描频率给参考扬声器，并接受参考扬声器的反馈信号进行数据处理，输出测量结果。
本实用新型的待测振膜由活动压圈夹于专用夹具的一侧，参考扬声器在专用夹具中固定于待测量振膜的另一侧，待测振膜与参考扬声器在专用夹具中形成一密封小空腔。待测振膜与参考扬声器之间的间距为待测振膜直径的1/10～1/5。
本实用新型的数据测量处理仪由PC计算机、ADSP21061及功放电路组成，计算机输出测量频率给ADSP21061，并经过功放电路连接参考扬声器。参考扬声器的输出数据由ADSP21061进行采集，并送回计算机进行计算，得出待测振膜的谐振频率和力顺等力学参数。
本实用新型的PC计算机决定扫描的起始频率、终止频率及频率间隔。
本实用新型具有现有技术无法实现的对φ60mm以下小口径振膜谐振频率和力顺等力学参数进行测量的优势和方便准确的优点。
图2是本实用新型的数据测量处理仪的框图。
图3是本实用新型的测量装置的力学等效线路图。
2、设置采样频率，在这里取可允许的最大值48KHZ。
3、产生一定频率的正弦波信号，经过串口输出到功放，然后驱动扬声器。
4、从串口采样扬声器的反馈信号，并进行分析计算，取出它的阻值。
本实用新型测量参考用扬声器3的等效力学参数。加上待测振膜1后，待测振膜1与空腔2对参考用扬声器将产生影响，改变了其等效力学参数。利用参考扬声器低频小信号参数的变化，即可以算出待测振膜的等效参数，尤其适用于φ60mm以下小口径振膜的测量。
具体测量的过程1、不加待测振膜1，使参考扬声器3处于自由状态，通过数据测量处理仪4测出其等效力学参数。
2、加上待测振膜1，使空腔2密闭，测出此时参考用扬声器3的等效力学参数。
3、经数据测量处理仪4的比较计算后直接显示出待测量发声器件振膜的等效力学参数。
权利要求1.一种小口径电声器件振膜的谐振频率与力顺测量装置，包括待测振膜、参考扬声器、专用夹具及数据测量处理仪等，其特征在于待测振膜与参考扬声器置于专用夹具内，数据测量处理仪输出扫描频率给参考扬声器，并接受参考扬声器的反馈信号及进行数据处理。
2.根据权利要求1所述的小口径电声器件振膜的谐振频率与力顺测量装置，其特征在于待测振膜由活动压圈夹于专用夹具的一侧，参考扬声器固定于专用夹具的另一侧，待测振膜与参考扬声器在专用夹具中形成一密封小空腔。
3.根据权利要求2所述的小口径电声器件振膜的谐振频率与力顺测量装置，其特征在于待测振膜与参考扬声器在专用夹具中形成一密封小空腔，待测振膜与参考扬声器之间的间距为待测振膜直径的1/10～1/5。
4.根据权利要求1所述的小口径电声器件振膜的谐振频率与力顺测量装置，其特征在于数据测量处理仪由PC计算机、ADSP21061及功放电路组成，计算机控制ADSP21061，并经过功放电路连接参考扬声器。
5.根据权利要求4所述的小口径电声器件振膜的谐振频率与力顺测量装置，其特征在于参考扬声器的数据由ADSP21061进行采集，并送回计算机进行分析计算，得出待测振膜的谐振频率和力顺等力学参数。
6.根据权利要求4所述的小口径电声器件振膜的谐振频率与力顺测量装置，其特征在于计算机决定扫描的起始频率、终止频率及频率间隔。
专利摘要本实用新型涉及了一种测量电声器件振膜等效力学参数的方法和测量装置，特别适用于φ60mm以下小口径振膜的测量装置。本实用新型包括待测振膜、参考扬声器、专用夹具及数据测量处理仪等，其特征在于待测振膜与参考扬声器置于专用夹具内，数据测量处理仪输出扫描频率给参考扬声器，并接受参考扬声器的反馈信号及进行数据处理。本实用新型具有现有技术无法实现的对φ60mm以下小口径振膜等效力学参数测量的优势和方便、准确的优点。
文档编号H04R29/00GK2572706SQ02248109
公开日2003年9月10日 申请日期2002年9月14日 优先权日2002年9月14日
发明者盛盘大, 徐柏龄, 黄兴志 申请人:深圳市美欧电子股份有限公司