专利名称：资料传送装置、光电转换电路以及测试装置的制作方法
技术领域：
本发明是涉及一种资料传送装置、光电转换电路以及测试装置(DATATRANSMITTAL DEVICE，OPTICAL ELECTRIC TRANSFORM CIRCUIT，AND TESTINGDEVICE)，特别是涉及一种用以进行资料传送的资料传送装置、用以进行光电转换的光电转换电路以及用以进行电子装置测试的测试装置，特别是有关于一种使用光传送的资料传送装置。
再者，本申请案是与下述的日本特许申请案相关联。参照文献时，请依据所指定国家进行参照，且在参照下述申请案所记载的内容后，即纳入本申请案中，而为本申请案的记载的一部份。
日本特许出愿第2001-312050号，申请日2001年10月9日。
背景技术：
近年来，在资料(资料即数据，以下均称为资料)通讯中，通讯的高速化、大容量化是明显的。现在，在屋内传送等的近距离传送中，进行高速大容量通讯的情形下，是以平行光传送方式为主流。使用平行光传送方式以进行资料传送的资料传送装置是具有多条由激光二极管、光纤、光学二极管所构成的通道(channel)，并使用此多条信道进行资料传送。
然而，随着资料通讯的高速化，多条通道间的斜交产生了问题。例如是，由于此斜交，因而限制了资料通迅的速度。在现有习知的资料传送装置中，为了降低其斜交性，因而在发送侧设置复杂的成帧电路及编码电路并在接收侧设置解译电路，然而如此则产生了消耗电力变大、甚至降低其灵敏度等的问题。
再者，用以测试电子装置的测试装置，也由于被测试装置的高速化、测试装置的小型化，因而迫切期望用于资料通讯的资料传送装置的高速化、小型高密度化、低消耗电力化。
由此可见，上述现有的资料传送装置、光电转换电路以及测试装置仍存在有缺陷，而亟待加以进一步改进。为解决现有的资料传送装置、光电转换电路以及测试装置的缺陷，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用设计被发展完成，此显然是相关业者急欲解决的问题。
有鉴于上述现有的资料传送装置、光电转换电路以及测试装置存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的资料传送装置、光电转换电路以及测试装置，能够改进一般现有的资料传送装置、光电转换电路以及测试装置，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。
发明内容
本发明的目的在于，克服现有的资料传送装置、光电转换电路以及测试装置存在的缺陷，而提供一种新型结构的可以解决上述问题的资料传送装置、光电转换电路以及测试装置，所要解决的技术问题是使其提供新型结构的用以进行资料传送的资料传送装置，其可进行降低信道间的传送斜交的资料通讯；用以进行光电转换的光电转换电路；以及用以进行电子装置测试的测试装置，测试装置可以进行更精确的且更有效率的电子装置的测试，从而更加适于实用。此目的是可藉由组合申请专利范围中独立权利要求所记载的特征而达成。再者，从属权利要求是对本发明的更有利的具体实施例进行规定。
本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种资料传送装置，是利用光传送进行资料通讯，该装置包括一发送部，是将所传送的一电通讯资料转换成一光通讯资料并送出；一光电转换电路，是接收该光通讯资料且将所接收的该光通讯资料转换成该电通讯资料；以及一可变设定部，将该光电转换电路设定成对应所定的该光通讯资料的水平，而产生预定的该电通讯资料。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
前述的资料传送装置，其中该光电转换电路，是具有一光检测部，以所接收的该光通讯资料为基准，产生一电流；一信号产生部，以该光检测部所产生的该电流为基准，产生该电通讯资料；以及该可变设定部，是具有一可变电流源，该可变电流源是将该光检测部所产生的电流大小所示的电流值减低至预定的电流值，以设定该光电转换电路。
前述的资料传送装置，其中该光电转换电路，是具有一光检测部，以所接收的该光通讯资料为基准，产生一电流；一比较仪，将该光检测部所产生的电流大小所示的电流值与一参考电流进行比较，产生该电通讯资料；以及该可变设定部，是具有一可变电流源，该可变电流源是利用在该参考电流的值中施加预定的电流值，以设定该光电转换电路。
前述的资料传送装置，其更包括复数个该发送部；复数个光导波路，分别传输该些发送部所送出的复数个该光通讯资料；以及复数个该光电转换电路，分别对应该些发送部，其中，该些光电转换电路的各个该可变设定部是对应所定光通讯资料的水平，产生预定的电通讯资料，以设定相互对应的该些光电转换电路。
前述的资料传送装置，其中所述的可变设定部是位于相互对应的该发送部与该光电转换电路之间，并以该光通讯资料与该电通讯资料的传输延迟时间为基准，设定该光电转换电路。
前述的资料传送装置，其中所述的可变设定部是更进一步以对应于光导波路的该光通讯资料的衰减量为基准，设定该光电转换电路。
前述的资料传送装置，其中所述的可变设定部是更进一步以对应该发送部的该电通讯资料的电光转换效率为基准，设定该光电转换电路。
前述的资料传送装置，其中所述的可变设定部是更进一步以对应于该光电转换电路中的该光通讯资料的光电转换效率基准，设定该光电转换电路。
前述的资料传送装置，其中所述的光通讯资料为数字资料时，该可变电流源将该光检测部所生成的电流值减低至在该光通讯资料为H逻辑的情形下的该光检测部所产生的电流的一半左右的电流值。
前述的资料传送装置，其中所述的光通讯资料为数字资料时，该可变电流源将该光检测部所生成的电流值的大小减低至由该光通讯资料为H逻辑的情形下的该光检测部所产生的电流与该光通讯资料为L逻辑的情形下的该光检测部所产生的电流等所大致平均的电流值。
前述的资料传送装置，其中所述的光通讯资料为数字资料时，该可变电流源将在该光通讯资料为H逻辑的情形下的该光检测部所产生的电流的一半左右的电流值施加于该参考电流的值内。
前述的资料传送装置，其中所述的光通讯资料为数字资料时，该可变电流源将由该光通讯资料为H逻辑的情形下的该光检测部所产生的电流与该光通讯资料为L逻辑的情形下的该光检测部所产生的电流等所大致平均的电流值施加于该参考电流的值内。
前述的资料传送装置，其中所述的发送部更包括一激光二极管，以该电通讯资料为基准，产生该光通讯资料；以及一电流源，提供比该激光二极管的激光振荡起始电流还大的一偏压电流给该激光二极管。
本发明的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本发明提出的一种测试装置，以测试一电子装置，其包括一图案产生部，产生用以测试该电子装置的一测试信号；一波形整形部，对该测试信号进行整形；一测试头，与该电子装置相接触；一资料传送装置，是进行该波形整形部与该测试头间资料的传送；以及一判断部，以该电子装置基于该测试信号而输出的一输出信号为基准，判断该电子装置是否良善，其中，该资料传送装置，其更包括一发送部，将该测试信号转换成一光通讯资料并送出，一光电转换电路，接收该光通讯资料，并将所接收的该光通讯资料转换成该测试信号，一可变设定部，对应所定的光通讯资料水平，产生预定的测试信号，设定该光电转换电路。
本发明的目的及解决其技术问题还采用以下的技术方案来实现。依据本发明提出的一种光电转换电路，用以接收一光并将所接收的该光转换成一电，该电路包括一光学二极管，以所接收的该光为基准，产生电流；以及一可变电流源，用以发生可对该光学二极管所产生的电流进行偏移的电流。
本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上技术方案可知，为了达到前述发明目的，本发明的主要技术内容如下本发明的第一型态是为一种利用光传送进行资料通讯的资料传送装置，此装置包括发送部、光电转换电路、可变设定部。发送部是将所传送的电通讯资料转换成光通讯资料并送出。光电转换电路是接收光通讯资料且将所接收的光通讯资料转换成电通讯资料。可变设定部是将光电转换电路设定成对应所定的光通讯资料的水平，而产生预定的电通讯资料。
光电转换电路具有光检测部、信号产生部。光检测部是以所接收的光通讯资料为基准，产生电流。信号产生部是以光检测部所产生的电流为基准，产生电通讯资料。可变设定部是具有可变电流源，此可变电流源是将光检测部所产生的电流大小所示的电流值，减低至预定的电流值，以设定光电转换电路。
光电转换电路是具有光检测部及比较仪。光检测部是以所接收的光通讯资料为基准，产生电流。比较仪是将光检测部所产生的电流大小所示的电流值与参考电流进行比较，产生电通讯资料。可变设定部是具有可变电流源，此可变电流源是利用在参考电流的值中施加预定的电流值，以设定光电转换电路。
资料传送装置更包括有多个发送部、多个光导波路、多个光电转换电路。多个光导波路分别传输发送部所送出的多个光通讯资料。多个光电转换电路分别对应发送部。光电转换电路的各个可变设定部是对应所定光通讯资料的水平，产生预定的电通讯资料，以设定相互对应的光电转换电路。
再者，可变设定部是位于相互对应的发送部与光电转换电路之间，并以光通讯资料与电通讯资料的传输延迟时间为基准，设定光电转换电路。再者，可变设定部是更进一步以对应于光导波路的光通讯资料的衰减量为基准，设定光电转换电路。再者，可变设定部是更进一步以对应发送部的电通讯资料的电光转换效率为基准，设定光电转换电路。甚至，可变设定部可更进一步以对应于光电转换电路中的光通讯资料的光电转换效率基准，设定光电转换电路。
再者，当光通讯资料为数字资料时，可变电流源将光检测部所生成的电流值减低至在光通讯资料为H逻辑的情形下的光检测部所产生的电流的一半左右的电流值。再者，当光通讯资料为数字资料时，可变电流源将光检测部所生成的电流值的大小减低至由光通讯资料为H逻辑的情形下的光检测部所产生的电流与光通讯资料为L逻辑的情形下的光检测部所产生的电流等所大致平均的电流值。
再者，当光通讯资料为数字资料时，可变电流源将在光通讯资料为H逻辑的情形下的光检测部所产生的电流的一半左右的电流值施加于参考电流的值内。再者，当光通讯资料为数字资料时，可变电流源将由光通讯资料为H逻辑的情形下的光检测部所产生的电流与光通讯资料为L逻辑的情形下的光检测部所产生的电流等所大致平均的电流值施加于参考电流的值内。
再者，发送部更包括激光二极管、电流源。激光二极管是以电通讯资料为基准，产生光通讯资料。电流源是提供比激光二极管的激光振荡起始电流还大的偏压电流给激光二极管。
本发明的第二型态是为一种用以测试电子装置的测试装置，此装置包括图案产生部、波形整形部、测试头、资料传送装置、判断部。图案产生部是产生用以测试电子装置的测试信号。波形整形部是对测试信号进行整形。测试头是与电子装置相接触。资料传送装置是进行波形整形部与测试头间资料的传送。判断部是以电子装置基于测试信号而输出的输出信号为基准，判断电子装置是否良善。资料传送装置更包括发送部、光电转换电路、可变设定部。发送部是将测试信号转换成光通讯资料并送出。光电转换电路接收光通讯资料，并将所接收的光通讯资料转换成测试信号。可变设定部是对应所定的光通讯资料水平，产生预定的测试信号，设定光电转换电路。
本发明的第三型态是为一种用以接收光并将所接收的光转换成电的光电转换电路，此电路包括光学二极管、可变电流源。光学二极管是以所接收的光为基准，产生电流。可变电流源是用以发生可对光学二极管所产生的电流进行偏移的电流。
另外，上述发明的概述仅是列举本发明的全部必要特征，含有前述特征群的次要组合也属于本发明的技术方案。
经由上述可知，本发明是关于一种资料传送装置、光电转换电路以及测试装置。该资料传送装置，是利用光传送进行资料通讯，此装置包括发送部及光电转换电路。发送部是将所传送的电通讯资料转换成光通讯资料并送出。光电转换电路是接收光通讯资料且将所接收的光通讯资料转换成电通讯资料。光电转换电路是具有光学二极管与可变电流源。光学二极管是以光通讯资料为基准产生电流。可变电流源是将光学二极管所产生的电流减低至预定的电流。再者，各个发送部的激光二极管的偏压电流是设定成比激光振荡起始电流还大的电流，以减低各激光二极管的发光延迟时间的偏差。
借由上述技术方案，本发明至少具有下列优点本发明的资料传送装置可进行降低信道间的传送斜交的资料通讯。再者，测试装置中可进行更精确的且更有效率的电子装置的测试。
综上所述，本发明特殊结构的资料传送装置、光电转换电路以及测试装置，其具有上述诸多的优点及实用价值，并在同类产品中未见有类似的结构设计公开发表或使用而确属创新，其不论在产品、装置或功能上皆有较大的改进，在技术上有较大的进步，并产生了好用及实用的效果，且较现有的资料传送装置、光电转换电路以及测试装置具有增进的多项功效，从而更加适于实用，而具有产业的广泛利用价值，诚为一新颖、进步、实用的新设计。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
图1是本发明的测试装置100的结构的一实施例的示意图。
图2A至图2B是资料传送装置60的结构的一实施例的示意图，其中图2A是资料传送装置60结构的概略示意图；图2B是发送部62及接收部68结构的一实施例的示意图。
图3A至图3B是发送部62及接收部68结构的一实施例的详细结构示意图，其中图3A是发送部62结构的一实施例的示意图；图3B是接收部68结构的一实施例的示意图。
图4A至图4C是接收部68结构的其它实施例的示意图，其中图4A是将可变电流源76电性连接于第一晶体管102的集极端子的一实施例的示意图；图4B是接收部68的其它实施例的示意图；图4C是接收部68的其它
10图案发生部 20波形整形部30电子装置40测试头50判断部 60资料(数据)传送装置62发送部 64转换部66激光二极管 68接收部70光学二极管 72转换部74光纤76可变电流源78a线路 78b线路80光检测部82a线路
82b线路 84电流源94第一阻抗96第二阻抗98电压源 100测试装置102第一晶体管 104第二晶体管106第一电流源 108第二电流源110比较仪 120光电转换电路具体实施方式
以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的资料传送装置、光电转换电路以及测试装置其具体结构、特征及其功效，详细说明如后。
虽然本发明是以发明的较佳实施例进行说明，然而下述的较佳实施例并非用以限定本发明申请专利范围，又本发明的必要解决手段并不限于此较佳实施例中所说明的特征组合的全部。
请参阅图1所示，本发明的测试装置100的结构一实施例的示意图。该测试装置100是用以进行电子装置30的测试。测试装置100是具备有图案发生部10、波形整形部20、资料传送装置60、测试头(test head)40、以及判断部50。
该图案发生部10，是生成用以对电子装置30进行测试的测试信号，并将此测试信号提供给波形整形部20。再者，图案发生部10在当电子装置30接收测验信号的情形下输出时，则会生成适当的期待值信号，并将此期待值信号提供给判断部50。
该波形整形部20，是对所接收的测试信号进行整形，再将整形后的测试信号提供给资料传送装置60。波形整形部20也可以提供例如是对应测试图案的所期望的时序(timing)给资料传送装置。
该资料传送装置60，是将所接收的测试信号提供给测试头40。资料传送装置60例如是可将电通讯资料转换光通讯资料并传送的装置。在本较佳实施例中，资料传送装置60是为将具有电通讯的一实施例的测试信号转换成光通讯资料并传送，再将所传送的光通讯资料复元回测试信号的光传送装置。藉由光传送而将测试信号传送到测试头40的方式，在图案发生部及波形整形部20与测试头40分离的情形下，也可以高速传送资料。
该测试头40，与电子装置30相接触，且进行与电子装置30的信号的接收传送。例如，测试头40将所接收的测试信号提供给电子装置30，再接收电子装置30所输出的输出信号。测试头40将所接收的输出信号提供给判断部50。再者，测试头40也可以与多个电子装置30相接触，进行信号的接收传送。
该判断部50，是以电子装置30基于测试信号所输出的输出信号为基准，判断电子装置30是否良善。判断部50也可以对图案发生部10所产生的期待值信号与电子装置30所输出的输出信号进行比较，以判断电子装置30是否良善。
请参阅图2A至图2B所示，是资料传送装置60的结构的一实施例的示意图。图2A是资料传送装置60的结构的概略示意图。该资料传送装置60是具有多个发送部62及多个接收部68。
该发送部62，是用以将待发送的电通讯资料转换成光通讯资料并送出。在本较佳实施例中，该发送部62是接收来自波形整形部20的测试信号，再将测试信号转换成光通讯信号并送出。
该接收部68，是接收发送部62所送出的光通讯资料，再将所接收的光通讯资料转换成电通讯资料。在本较佳实施例中，该接收部68是将所接收的光通讯资料转换成测试信号，并提供给测试头40。
再者，该资料传送装置60更具有位于发送部62与接收部68间且为光导波路的一实施例的光纤。发送部62是经由前述光纤而将光通讯资料传送至接收部68。再者，资料传送装置60更具有可接收作为来自波形整形部20的测试信号的序列资料(serial data)且将测试信号转换成平行资料(parallel data)的序列-并行转换部以及可将多个接收部68所输出的测试信号转换回序列信号的平行-序列转换部。
请参阅图2B所示，是发送部62及接收部68的结构的一实施例的示意图。发送部62是具有转换部64及激光二极管(laser diode)66。转换部64是用以对测试信号进行变调。激光二极管66是以电通讯资料为基准产生光通讯资料，并送出至光纤74。在本较佳实施例中，激光二极管66是将变调后的测试信号转换成光通讯资料，再输出至光纤74。再者，激光二极管66是被给予比激光二极管66的激光振荡起始电流值还大的偏压电流。在激光二极管66中，依据所给予的大于激光振荡起始电流值的偏压电流，激光二极管66中的发光延迟时间会变得最短，如此可以减少在多个发送部62的各个激光二极管66中的发光延迟时间的偏差。当此偏压电流小于激光振荡起始电流值之际，此发光延迟时间是依存于测试信号的图案，然而由于在本较佳实施例中的发送部62与测试信号的图案无关，因而激光二极管66是具有一定的发光延迟时间。再者，激光二极管66中，由于所给予的偏压电流比激光振荡起始电流值还大，因此激光二极管66产生光通讯资料波形的升降，而减少缓和振动。
该接收部68，是用以将发送部62所发送出的光通讯资料转换成测试信号。接收部68是具有光检测部及转换部72。在本较佳实施例中，此光检测部是具有光学二极管(photo diode)70。光学二极管70是以所接收的光通讯资料为基准产生电流。光学二极管70被给予偏压电压。转换部72是用以将光学二极管70所产生的电流转换成测试信号。
请参阅图3A至图3B所示，是发送部62及接收部68的结构的一实施例的详细示意图。图3A是发送部62的结构的一实施例的示意图。发送部62是具有转换部64、激光二极管66及电流源84。在本较佳实施例中，转换部64是接收来自波形整形部20的测试信号，并将所接收的测试信号强度进行变调，再提供给激光二极管66。
激光二极管66是以所接收的测试信号为基准产生光通讯资料，再送出至光纤74。在上述结构中，电流源84是提供比激光二极管66的激光振荡起始电流还大的偏压电流给激光二极管66。再者，激光二极管66的阴极经由线路82b而与电流源84电性连接。再者，激光二极管66的阳极经由线路82a而与转换部64电性连接。线路82a及线路82b的阻抗较佳是略等于激光二极管66的顺偏压阻抗。线路82a、82b例如是微波带状线(microstripline)。该线路82a及线路82b的阻抗藉由与激光二极管的等值阻抗略微相等，以减低线路82a、82b与激光二极管66的连接点的信号反射，并降低信号波形的劣化。
请参阅图3B所示，是接收部68的结构的一实施例的示意图。该接收部68是具有光电转换电路120与可变设定部。该光电转换电路120是具有光检测部80及转换部72。光检测部80是具有上述光学二极管70，以将光通讯资料转换成电流。在本较佳实施例中，光检测部80是以光通讯资料为基准产生电流，再将所产生的电流提供给转换部72。转换部72也可以为将光检测部80所生成的电流转换成电压的电流电压变换器。转换部72是以光检测部80所产生的电流为基准，而输出具有电通讯资料的测试信号。可变设定部是对应所定光通讯资料的水平，产生预定的电通讯资料，进而设定光电转换电路。在本较佳实施例中，可变设定部是为可变电流源76。
光检测部80是具有光学二极管70及线路78a、78b。光学二极管70是以光通讯资料为基准产生电流。当在光学二极管70产生电流的情形下，可减少后述的第一晶体管102的射极电流。可变电流源76是与光学二极管70的阳极电性连接。藉由设置可变电流源76，即可增加第一晶体管102的射极电流。换言之，可变电流源76可将光学二极管70所产生的电流大小依据所示的电流值，减少至所预定的电流，并对光学二极管70的输出施加偏移。光电转换电路80可以将因可变电流源76而减少的电流提供给转换部72。
转换部72是具有第一阻抗94、第二阻抗96、电压源98、第一晶体管102、第二晶体管104、第一电流源106、第二电流源108以及比较仪(comparator)110。
请参阅图3B所示，第一阻抗94是设置成与光学二极管70并列，且其一端是与光学二极管70的阴极电性连接。第一晶体管102是设置成与第一阻抗94垂直排列，其集极端子是与第一阻抗94的另一端电性连接，且其射极端子是与可变电流源76电性连接。第一电流源106是与第一晶体管102的射极端子电性连接，且设置成与可变电流源76并列。电流源98是提供所定电位给第一晶体管102的基极端子。比较仪110是比较对应光检测部80所产生的电流大小而变化的电流(亦即，流经第一阻抗94的电流)与流经第二阻抗96的参考电流，并产生电通讯资料。在本较佳实施例中，比较仪110是以流经第一阻抗94的电流为基准，判断第一晶体管102的集极电压是否大于以参考电流为基准的基准值。
第二阻抗96是设置成与第一阻抗94并列，且其一端与接地电位电性连接。第二晶体管104是设置成与第二阻抗垂直排列，且其集极端子与第二阻抗96的另一端电性连接。第一晶体管102是如同图3B所示，具有射极输入基极接地晶体管。藉由设置第一晶体管102，即可减少转换部72的输入阻抗。第二电流源108是与第二晶体管104的射极端子电性连接，且设置成与可变电流源76并列。再者，电压源98是提供所定电位给第二晶体管104的基极端子，而且比较仪110是接收第二晶体管104的集极电压以作为前述基准值。请参阅图3B所示，前述基准值是为几乎一定的值。第一阻抗94的阻抗值与第二阻抗96的阻抗值相比较时，可轻易地进行精确度较佳的制造。为此，比较仪110可对流经第一阻抗94的信号的H逻辑及L逻辑进行较精确的判断。
再者，在本较佳实施例中，比较仪110虽然是以接收作为前述基准值的第二晶体管104的集极电压为例进行说明，然而在其它实施例中，转换部72更进一步包括有用以生成所定电压的第二电压源时，比较仪110也可以接收来自第二电压源的基准值。
在本较佳实施例中，第一阻抗94的阻抗略等于第二阻抗96的阻抗。再者，第一晶体管102与第二晶体管104具有大致相同的特性。再者，第一电流源106与第二电流源108产生大致相同的电流。
在本较佳实施例中，线路78b的阻抗较佳是略等于第一晶体管102的射极输入阻抗。由于线路78b的阻抗等于第一晶体管102的射极输入阻抗，因此，可以减少线路78b与第一晶体管102间接触点的信号反射。线路78例如是微波带状线。
接着，对接收部68的动作进行说明。当光学二极管70接收H逻辑的情形时，光学二极管70会产生逆电流，而使流经第一阻抗94的电流产生变化。比较仪110以此电流的变化为基准，判断光学二极管70是接收H逻辑还是接收L逻辑。
在本较佳实施例中，由于将大于激光振荡起始电流的偏压电流给予发送部62的激光二极管66，因而时常会送出光。为此，光学二极管70时常会检测到光，而产生电流。为此，当传送作为光通讯资料的L逻辑之际，光学二极管70所产生的电流不会为零。可变电流源76可将光学二极管70所产生的电流减少至预定的电流。为此，当光学二极管70产生上述的电流之际，比较仪110可以检测出H逻辑或L逻辑。
在本较佳实施例中，可变电流源76可以取光学二极管70接受H逻辑之际所产生的电流与光学二极管70接受L逻辑之际所产生的电流中的大略平均值电流作为电流，而减低来自光学二极管70所产生的电流。再者，可变电流源76也可以仅取在光学二极管70接受H逻辑之际所产生的电流的大略一半的值作为电流，以减低光学二极管70所产生的电流。
接收部68也可以包括用以检测光学二极管70所产生的电流值的手段以及以检测而得的电流值为基准控制可变电流源76所减少的电流量的控制部。例如，各个发送部62送出预定的H逻辑及L逻辑，接收部68在发送部62送出H逻辑及L逻辑的情形下，较佳的是以光学二极管70所产生的电流值为基准，预先对可变电流源76的电流量进行校准。
再者，由于多个信道的光纤74的各自的衰减量等特性、对应多个信道的各个的激光二极管66的电光转换效率、及对应多个信道的各个的光学二极管70的光电转换效率等是为相异的，因此，当对多个信道传送同一信号之际，各自的光学二极管70会产生相异的电流。可变电流源76也可以将由光学二极管70所生成的电流减低至调整此偏差后的电流。
在上述中，本较佳实施例的资料传送装置60是利用对激光二极管施加大于激光振荡起始电流的偏压电流，可以减低发送部62中的资料延迟时间的偏差。再者，利用在接收部68设置可变电流源76，可以减低各通道间的斜交。再者，比较仪110可以精确地检测出H逻辑及L逻辑。为此，在测试装置100中，可对电子装置30的测试进行更精确且有效率的测试。
再者，如图1至图3B所说明的资料传送装置60虽然并未说明一般的并列资料传送的方式，然而使用一般的并列资料传送方式，只要可以得到与图1至图3B所说明的资料传送装置60同样的效果即可。
再者，本较佳实施例中的可变电流源76虽然是以与光学二极管70的阳极电性连接为例进行说明，然而在其它实施例中，可变电流源76也可以与其它部位相连接。以下，是以接收部68的结构的其它实施例进行说明。
请参阅图4A至图4C所示，是接收部68的结构的其它实施例的结构示意图。图4A至图4C的可变电流源76是具有与图3A至图3B中所说明的可变电流源76同一或相同的功能。请参阅图4A所示，是可变电流源76与第一晶体管102的集极端子电性连接的一实施例的示意图。该可变电流源76是为可对应光检测部80所产生的电流大小而变化的电流，而从流经第一阻抗94的电流减低至预定的电流值。换言之，该可变电流源76可从光检测部80所产生的电流的大小所示的电流值，减低至预定的电流值，而施加与光学二极管70的输出等价的偏移。本较佳实施例的资料传送装置60可以得到与图3A至图3B所说明的资料传送装置60相同的效果。
请参阅图4B所示，是接收部68的其它实施例的示意图。在本实施例中，该可变电流源76是与第二晶体管104的射极端子电性连接。可变电流源76藉由在比较仪110的参考电流值中施加预定的电流值，用以设定光电转换电路120。换言之，可变电流源76藉由在比较仪110的参考电流中施加预定的电流值，以施加与光学二极管70的输出等价的偏移。本实施例的资料传送装置60可得到与图3A至图3B所说明的资料传送装置60相同效果。
请参阅图4C所示，是接收部68的其它实施例的示意图。在本实施例中，该可变电流源76是与比较仪的反转输入端子相连接。本实施例也与图4B所示的实施例相同，可变电流源76藉由在比较仪110的参考电流中施加预定的电流值，以施加与光学二极管70的输出等价的偏移。本实施例的资料传送装置60可得到与图3A至图3B所说明的资料传送装置60相同效果。
再者，本实施例的可变设定部虽然是以可变电流源76为例进行说明，然也可以为其它实施例，只要可变设定部可以改变第一阻抗94或第二阻抗96的阻抗值即可。换言之，第一阻抗94或第二阻抗96为可变阻抗，藉由可变设定部改变第一阻抗94或第二阻抗96的阻抗值，以对光学二极管70的输出施加偏移。在此情形下，可变设定部也可以使第一阻抗94及第二阻抗96的阻抗值，对应光学二极管70受到H逻辑而产生的电流值以及光学二极管70受到L逻辑而产生的电流值等而变化。再者，在其它更进一步的实施例中，可变设定部也可以为可变电压源。例如，此可变电压源也可以垂直排列设置于第一阻抗94或第二阻抗96与接地电位之间。
从上述说明中所揭露的内容中，本发明的资料传送装置可进行降低信道间的传送斜交的资料通讯。再者，测试装置中可进行更精确的且更有效率的电子装置的测试。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的结构及技术内容作出些许的更动或修饰为等同变化的等效实施例，但是凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
权利要求
1.一种资料传送装置，是利用光传送进行资料通讯，其特征在于该装置包括一发送部，是将所传送的一电通讯资料转换成一光通讯资料并送出；一光电转换电路，是接收该光通讯资料且将所接收的该光通讯资料转换成该电通讯资料；以及一可变设定部，将该光电转换电路设定成对应所定的该光通讯资料的水平，而产生预定的该电通讯资料。
2.根据权利要求1所述的资料传送装置，其特征在于该光电转换电路，是具有一光检测部，以所接收的该光通讯资料为基准，产生一电流；一信号产生部，以该光检测部所产生的该电流为基准，产生该电通讯资料；以及该可变设定部，是具有一可变电流源，该可变电流源是将该光检测部所产生的电流大小所示的电流值减低至预定的电流值，以设定该光电转换电路。
3.根据权利要求1所述的资料传送装置，其特征在于该光电转换电路，是具有一光检测部，以所接收的该光通讯资料为基准，产生一电流；一比较仪，将该光检测部所产生的电流大小所示的电流值与一参考电流进行比较，产生该电通讯资料；以及该可变设定部，是具有一可变电流源，该可变电流源是利用在该参考电流的值中施加预定的电流值，以设定该光电转换电路。
4.根据权利要求1所述的资料传送装置，其特征在于其更包括复数个该发送部；复数个光导波路，分别传输该些发送部所送出的复数个该光通讯资料；以及复数个该光电转换电路，分别对应该些发送部，其中，该些光电转换电路的各个该可变设定部是对应所定光通讯资料的水平，产生预定的电通讯资料，以设定相互对应的该些光电转换电路。
5.根据权利要求1所述的资料传送装置，其特征在于其中所述的可变设定部是位于相互对应的该发送部与该光电转换电路之间，并以该光通讯资料与该电通讯资料的传输延迟时间为基准，设定该光电转换电路。
6.根据权利要求5所述的资料传送装置，其特征在于其中所述的可变设定部是更进一步以对应于光导波路的该光通讯资料的衰减量为基准，设定该光电转换电路。
7.根据权利要求6所述的资料传送装置，其特征在于其中所述的可变设定部是更进一步以对应该发送部的该电通讯资料的电光转换效率为基准，设定该光电转换电路。
8.根据权利要求7所述的资料传送装置，其特征在于其中所述的可变设定部是更进一步以对应于该光电转换电路中的该光通讯资料的光电转换效率基准，设定该光电转换电路。
9.根据权利要求2所述的资料传送装置，其特征在于其中所述的光通讯资料为数字资料时，该可变电流源将该光检测部所生成的电流值减低至在该光通讯资料为H逻辑的情形下的该光检测部所产生的电流的一半左右的电流值。
10.根据权利要求2所述的资料传送装置，其特征在于其中所述的光通讯资料为数字资料时，该可变电流源将该光检测部所生成的电流值的大小减低至由该光通讯资料为H逻辑的情形下的该光检测部所产生的电流与该光通讯资料为L逻辑的情形下的该光检测部所产生的电流等所大致平均的电流值。11、根据权利要求3所述的资料传送装置，其特征在于其中所述的光通讯资料为数字资料时，该可变电流源将在该光通讯资料为H逻辑的情形下的该光检测部所产生的电流的一半左右的电流值施加于该参考电流的值内。
12.根据权利要求3所述的资料传送装置，其特征在于其中所述的光通讯资料为数字资料时，该可变电流源将由该光通讯资料为H逻辑的情形下的该光检测部所产生的电流与该光通讯资料为L逻辑的情形下的该光检测部所产生的电流等所大致平均的电流值施加于该参考电流的值内。
13.根据权利要求1至10中任一权利要求所述的资料传送装置，其特征在于其中所述的发送部更包括一激光二极管，以该电通讯资料为基准，产生该光通讯资料；以及一电流源，提供比该激光二极管的激光振荡起始电流还大的一偏压电流给该激光二极管。
14.一种测试装置，以测试一电子装置，其特征在于其包括一图案产生部，产生用以测试该电子装置的一测试信号；一波形整形部，对该测试信号进行整形；一测试头，与该电子装置相接触；一资料传送装置，是进行该波形整形部与该测试头间资料的传送；以及一判断部，以该电子装置基于该测试信号而输出的一输出信号为基准，判断该电子装置是否良善，其中，该资料传送装置，其更包括一发送部，将该测试信号转换成一光通讯资料并送出，一光电转换电路，接收该光通讯资料，并将所接收的该光通讯资料转换成该测试信号，一可变设定部，对应所定的光通讯资料水平，产生预定的测试信号，设定该光电转换电路。
15.一种光电转换电路，用以接收一光并将所接收的该光转换成一电，其特征在于该电路包括一光学二极管，以所接收的该光为基准，产生电流；以及一可变电流源，用以发生可对该光学二极管所产生的电流进行偏移的电流。
全文摘要
本发明是关于一种资料传送装置、光电转换电路以及测试装置。该资料传送装置，是利用光传送进行资料通讯，此装置包括发送部及光电转换电路。发送部是将所传送的电通讯资料转换成光通讯资料并送出。光电转换电路是接收光通讯资料且将所接收的光通讯资料转换成电通讯资料。光电转换电路是具有光学二极管与可变电流源。光学二极管是以光通讯资料为基准产生电流。可变电流源是将光学二极管所产生的电流减低至预定的电流。再者，各个发送部的激光二极管的偏压电流是设定成比激光振荡起始电流还大的电流，可以减低各激光二极管的发光延迟时间的偏差。
文档编号H04B10/06GK1565094SQ0281980
公开日2005年1月12日 申请日期2002年10月2日 优先权日2001年10月9日
发明者小野淳, 冈安俊幸 申请人:株式会社爱德万测试