用于测试sfp的检测装置制造方法
【专利摘要】用于测试SFP的检测装置通过误码检测模块及码型发生模块配合时钟控制模块及主控制模块来检测SFP的误码率；通过光电转换模块及模数转换模块配合主控制模块检测光功率。通过主控制模块读取SFP内的地址数据获取数字诊断数据。从而实现SFP的误码检测、数字诊断数据获取及光功率的检测。且误码检测模块、码型发生模块、时钟控制模块、主控制模块、光电转换模块及模数转换模块集成为一体，因此，用于测试SFP的检测装置不仅能够检测实现SFP的多个功能测试，且方便用户携带。
【专利说明】用于测试SFP的检测装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及SFP检测装置，特别是涉及一种易携带、多功能的用于测试SFP的检测
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【背景技术】
[0002]SFP光模块(small form pluggable,小型可热插拔光模块)在生产测试和现场应用中需要测试误码率、DDM(数字监控诊断)信息以及其他一些重要的光电参数，如工作电流、光功率等。而现有的测试架构需要数台不同功能的设备来搭建，包括直流电源、测试板、误码仪、光功率计、万用表、PC等，这些设备不但成本昂贵且占用空间大，操作使用也不方便。特别是不易携带到工程现场使用。
【发明内容】
[0003]基于此，有必要一种易携带、多功能的用于测试SFP的检测装置。
[0004]一种用于测试SFP的检测装置，包括误码检测模块、码型发生模块、时钟控制模块、主控制模块、光电转换模块及模数转换模块；
[0005]所述光电转换模块连接所述模数转换模块，所述主控制模块同时连接所述时钟控制模块、所述模数转换模块及所述误码检测模块，所述误码检测模块还与所述时钟检测模块及所述码型发生模块连接；
[0006]所述码型发生模块用于根据所述时钟控制模块发出的时钟信号生成伪随机二进制序列，并发送给SFP ;所述伪随机二进制序列经由SFP的光路衰减后发送给所述误码检测模块；所述误码检测模块用于根据经由所述SFP衰减后的伪随机二进制序列判断所述SFP的误码率是否合格；
[0007]所述光电转换模块用于将其接收到的光信号转换成电流信号，输出给所述模数转换模块，所述模数转换模块将接收的模拟信号转换为数字信号后输出给所述主控制模块，所述主控制模块用于根据接收的数字信号计算光功率的大小；
[0008]所述主控制模块还用于通过I2C总线连接所述SFP，所述主控制模块用于读取所述SFP内的地址数据并还原为数字诊断数据；
[0009]所述误码检测模块、所述码型发生模块、所述时钟控制模块、所述主控制模块、所述光电转换模块及所述模数转换模块集成封装为一体。
[0010]在其中一个实施例中，还包括分别连接所述光电转换模块和所述模数转换模块的第一放大器，所述第一放大器用于放大所述光电转换模块输出的电流信号，并将放大后的电流信号输出给所述模数转换模块。
[0011]在其中一个实施例中，还包括分别连接所述SFP及所述主控制模块的第二放大器；所述第二放大器用于将所述SFP上产生的压降进行放大，并将放大后的压降输出给所述主控制模块，所述主控制模块用于根据接收的压降信号计算出所述SFP上的电流。
[0012]在其中一个实施例中,所述光电转换模块包括光电二极管。
[0013]在其中一个实施例中，所述误码检测模块和所述码型发生模块为芯片VSC8228 ；所述芯片VSC8228用于码型发生和误码检测。
[0014]在其中一个实施例中，所述时钟控制模块包括时钟芯片SYS58029U。
[0015]在其中一个实施例中，所述主控制模块包括芯片C8051F380。
[0016]在其中一个实施例中，所述模数转换模块包括芯片D7091R。
[0017]在其中一个实施例中，还包括电源转换模块；所述电源转换模块用于将直流电压为所述SFP、所述误码检测模块、所述码型发生模块、所述时钟控制模块、所述主控制模块、所述光电转换模块及所述模数转换模块所需要的工作电压。
[0018]上述用于测试SFP的检测装置通过误码检测模块及码型发生模块配合时钟控制模块及主控制模块来检测SFP的误码率；通过光电转换模块及模数转换模块配合主控制模块检测光功率。通过主控制模块读取SFP内的地址数据获取数字诊断数据。从而实现SFP的误码检测、数字诊断数据获取及光功率的检测。且误码检测模块、码型发生模块、时钟控制模块、主控制模块、光电转换模块及模数转换模块集成为一体，因此，用于测试SFP的检测装置不仅能够检测实现SFP的多个功能测试，且方便用户携带。
【专利附图】
【附图说明】
[0019]图1为用于测试SFP的检测装置的模块图；
[0020]图2为用于测试SFP的检测装置的原理图。
【具体实施方式】
[0021]如图1所示，为用于测试SFP的检测装置的模块图。
[0022]一种用于测试SFP的检测装置，包括误码检测模块106、码型发生模块105、时钟控制模块104、主控制模块101、光电转换模块102及模数转换模块103。
[0023]所述光电转换模块102连接所述模数转换模块103，所述主控制模块101同时连接所述时钟控制模块104、所述模数转换模块103及所述误码检测模块106，所述误码检测模块106还与所述时钟检测模块104及所述码型发生模块105连接。
[0024]所述码型发生模块105用于根据所述时钟控制模块104发出的时钟信号生成伪随机二进制序列，并发送给SFP ;所述伪随机二进制序列经由SFP的光路衰减后发送给所述误码检测模块106 ;所述误码检测模块106用于根据经由所述SFP衰减后的伪随机二进制序列判断所述SFP的误码率是否合格。
[0025]所述光电转换模块102用于将其接收到的光信号转换成电流信号，输出给所述模数转换模块103，所述模数转换模块103将接收的模拟信号转换为数字信号后输出给所述主控制模块101，所述主控制模块101用于根据接收的数字信号计算光功率的大小。
[0026]所述主控制模块101还用于通过I2C总线连接所述SFP，所述主控制模块101用于读取所述SFP内的地址数据并还原为数字诊断数据。
[0027]所述误码检测模块106、所述码型发生模块105、所述时钟控制模块104、所述主控制模块101、所述光电转换模块102及所述模数转换模块103集成封装为一体。
[0028]用于测试SFP的检测装置还包括分别连接所述光电转换模块102和所述模数转换模块103的第一放大器，所述第一放大器用于放大所述光电转换模块102输出的电流信号，并将放大后的电流信号输出给所述模数转换模块103。
[0029]用于测试SFP的检测装置还包括分别连接所述SFP及所述主控制模块101的第二放大器；所述第二放大器用于将所述SFP上产生的压降进行放大，并将放大后的压降输出给所述主控制模块101，所述主控制模块101用于根据接收的压降信号计算出所述SFP上的电流。
[0030]光电转换模块102用于将接收到的光信号转换电流信号；一般采用光电二极管ro作为光传感器完成光电转换模块102的功能。光电转换模块102转换的电流信号相当来说比较小，直接传输到模数转换模块103会导致无法读取，因此，一般会采用放大器对电流信号进行放大。
[0031]具体的，采用同时连接光电转换模块102和模数转换模块103的第一放大器进行放大。第一放大器为增益三阶的可控放大器。
[0032]经由第一放大器放大的电流信号进入模数转换模块103转换为数字信号后，最终由主控制模块101进行功率计算，从而得出SFP的光功率相对损耗。
[0033]用户选择需要测试的速率后，主控制模块101控制时钟控制模块104输出相应的时钟信号给误码发生模块105，误码发生模块105产生目标速率的伪随机二进制序列，输出到SFP的TX接口，转换为光信号后输出到SFP的光路，经SFP的光路衰减后回到SFP的RX接口，重新还原为伪随机二进制序列，并输出到误码检测模块106 ;误码检测模块106根据接收的伪随机二进制序列判断SFP的误码率是否合格。具体地，误码率=误码数量/总码量。
[0034]I2C(Inter — Integrated Circuit)总线用于连接微控制器及其外围设备。
[0035]主控制模块101通过I2C总线直接连接SFP后，能够读取SFP内的地址数据，并将地址数据还原为数字诊断数据，从而实现SFP的DDM(数字监控诊断)信息查看功能。
[0036]第二放大器用于采样SFP与供电电流之间的电阻上的压降，并将采样到的压降放大后输出给主控制模块101，主控制模块101接收放大后的压降并转换成对应的电流信号，从而能够计算出SFP的工作电流，即检测SFP的工作电流。
[0037]请结合图2。
[0038]光电转换模块102包括光电二极管。
[0039]误码检测模块106和所述码型发生模块105为芯片VSC8228 ;所述芯片VSC8228用于码型发生和误码检测。
[0040]时钟控制模块104包括时钟芯片SYS58029U。
[0041]主控制模块101包括芯片C8051F380。
[0042]模数转换模块103包括芯片D7091R。
[0043]将芯片VSC8228、芯片 VSC8228、时钟芯片 SYS58029U、芯片 C8051F380、芯片 D7091R集成并配合各芯片的周边电子元件，从而能够完成SFP的误码检测、光功率检测、电流检测及DDM信息查看功能。由于采用上述芯片进行集成，因而极大程度上使得用于测试SFP的检测装置的体积相对分散实现各功能检测的设备要小的多，因此，用于测试SFP的检测装置方便用户携带，适用于现场检测SFP。
[0044]用于测试SFP的检测装置还包括电源转换模块；所述电源转换模块用于将直流电压为所述SFP、所述误码检测模块106、所述码型发生模块105、所述时钟控制模块104、所述主控制模块101、所述光电转换模块102及所述模数转换模块103所需要的工作电压。
[0045]基于上述所有实施例，用于测试SFP的检测装置的工作流程如下:
[0046]在用户需要进行误码率检测时，由用户选择需要测试的速率，芯片C8051F380控制时钟芯片SYS58029U输出相应的时钟信号(Q1，Q2。Q3)给芯片VSC8228，芯片VSC8228的误码发生单元生成目标速率的伪随机二进制序列，并发送到SFP的TX接口转换为光信号输出到SFP的光路；经SFP的光路衰减后回到SFP的RX接口，重新还原为伪随机二进制序列，并发送到芯片VSC8228的误码检测单元进行误码检测。根据公式误码率=误码数量/总码量判断SFP的误码率是否合格。从而实现SFP的误码率检测。
[0047]在需要进行光功率检测时，则通过光电二极管ro将接收的光信号转换为电信号后由放大器Al进行放大后，输出给芯片D7091R转换为数字信号，再由芯片C8051F380计算出SFP的光功率的大小，从而完成SFP的光功率检测。
[0048]在需要查看SFP的数字诊断信息时，由于芯片C8051F380通过I2C总线与SFP直接连接，因此，芯片C8051F380能够直接读取SFP的地址数据，然后将地址数据还原成数字诊断数据，从而实现SFP的DDM (数字监控诊断)信息查看。
[0049]在需要检测SFP的工作电流时，则由放大器A2采样电源转换模块与SFP之间的电阻上的压降，放大器A2将采样的压降放大后，输出给芯片C8051F380，芯片C8051F380将压降转换为对应的电流信号数值，从而能够获取SFP的工作电流大小。
[0050]电源转换模块用于将5V的直流电压转换为3.3V、1.8V的直流电压。
[0051]上述用于测试SFP的检测装置通过误码检测模块106及码型发生模块105配合时钟控制模块104及主控制模块101来检测SFP的误码率；通过光电转换模块102及模数转换模块103配合主控制模块101检测光功率。通过主控制模块101读取SFP内的地址数据获取数字诊断数据。从而实现SFP的误码检测、数字诊断数据获取及光功率的检测。且误码检测模块106、码型发生模块105、时钟控制模块104、主控制模块101、光电转换模块102及模数转换模块103集成为一体，因此，用于测试SFP的检测装置不仅能够检测实现SFP的多个功能测试，且方便用户携带。
[0052]以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【权利要求】
1.一种用于测试SFP的检测装置，其特征在于，包括误码检测模块、码型发生模块、时钟控制模块、主控制模块、光电转换模块及模数转换模块； 所述光电转换模块连接所述模数转换模块，所述主控制模块同时连接所述时钟控制模块、所述模数转换模块及所述误码检测模块，所述误码检测模块还与所述时钟检测模块及所述码型发生模块连接； 所述码型发生模块用于根据所述时钟控制模块发出的时钟信号生成伪随机二进制序列，并发送给SFP ;所述伪随机二进制序列经由SFP的光路衰减后发送给所述误码检测模块；所述误码检测模块用于根据经由所述SFP衰减后的伪随机二进制序列判断所述SFP的误码率是否合格； 所述光电转换模块用于将其接收到的光信号转换成电流信号，输出给所述模数转换模块，所述模数转换模块将接收的模拟信号转换为数字信号后输出给所述主控制模块，所述主控制模块用于根据接收的数字信号计算光功率的大小； 所述主控制模块还用于通过I2C总线连接所述SFP，所述主控制模块用于读取所述SFP内的地址数据并还原为数字诊断数据； 所述误码检测模块、所述码型发生模块、所述时钟控制模块、所述主控制模块、所述光电转换模块及所述模数转换模块集成封装为一体。
2.根据权利要求1所述的用于测试SFP的检测装置，其特征在于，还包括分别连接所述光电转换模块和所述模数转换模块的第一放大器，所述第一放大器用于放大所述光电转换模块输出的电流信号，并将放大后的电流信号输出给所述模数转换模块。
3.根据权利要求1所述的用于测试SFP的检测装置，其特征在于，还包括分别连接所述SFP及所述主控制模块的第二放大器；所述第二放大器用于将所述SFP上产生的压降进行放大，并将放大后的压降输出给所述主控制模块，所述主控制模块用于根据接收的压降信号计算出所述SFP上的电流。
4.根据权利要求1所述的用于测试SFP的检测装置，其特征在于，所述光电转换模块包括光电二极管。
5.根据权利要求1所述的用于测试SFP的检测装置，其特征在于，所述误码检测模块和所述码型发生模块为芯片VSC8228 ;所述芯片VSC8228用于码型发生和误码检测。
6.根据权利要求1所述的用于测试SFP的检测装置，其特征在于，所述时钟控制模块包括时钟芯片SYS58029U。
7.根据权利要求1所述的用于测试SFP的检测装置，其特征在于，所述主控制模块包括芯片 C8051F380。
8.根据权利要求1所述的用于测试SFP的检测装置，其特征在于，所述模数转换模块包括芯片D7091R。
9.根据权利要求1所述的用于测试SFP的检测装置，其特征在于，还包括电源转换模块；所述电源转换模块用于将直流电压为所述SFP、所述误码检测模块、所述码型发生模块、所述时钟控制模块、所述主控制模块、所述光电转换模块及所述模数转换模块所需要的工作电压。
【文档编号】H04B10/07GK104301035SQ201410554644
【公开日】2015年1月21日 申请日期:2014年10月17日 优先权日:2014年10月17日
【发明者】秦伟东, 李振东 申请人:深圳市易飞扬通信技术有限公司