一种干扰信号的检测方法、装置及系统与流程

本发明涉及通信应用的技术领域，特别是指一种干扰信号的检测方法、装置及系统。

背景技术：

现有的时分双工(Time Division Duplexing，TDD)系统外场干扰检测方案，主要是便携式频谱仪与定向天线结合，在受到干扰的地区进行扫频测试：

由于TDD系统的特性，上下行都在一个频段，便携式频谱仪在没有外部触发的情况下，不能区分上下行，其显示的是上下行信号的混合，不能直接观察到上行干扰或下行干扰；此时如果需要只观测上行干扰信号，就需要关闭一大片区域内所有TDD基站的下行信号，区域面积可达几十平方公里，严重影响现网业务。

另外，在扫频TDD上行干扰时，主要是在基站的天面处进行扫描，而在天面上一般会有一个运营商多个通信系统的天面同时存在，此时虽然频谱仪只观测受扰的TDD频段，但各个频段各个系统的下行信号都会进入频谱仪，频谱仪极易饱和，饱和后的频谱又极易与干扰混淆，从而造成干扰误判。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种干扰信号的检测方法、装置及系统，用以解决对TDD系统进行干扰检测时，频谱仪在显示的是混合的上下行信号，不能直接观察到上行干扰或下行干扰的问题。

为了实现上述目的，本发明提供了一种干扰信号的检测装置，包括：

射频模块，用于对获取的射频信号进行过滤处理，输出待测射频信号，所述待测射频信号包括处于同一频段的上行信号和下行信号；

与所述射频模块连接的同步提供模块，用于根据所述待测射频信号中上下 行的切换点，得到一用于区分所述待测射频信号中的上行信号和下行信号的标识信号，并通过所述标识信号选取出所述上行信号和所述下行信号中的一者作为目标信号，使频谱仪显示所述目标信号的干扰信息。

其中，上述装置，还包括：与所述同步提供模块连接的控制模块；

所述控制模块在所述频谱仪识别所述标识信号时，从所述同步提供模块获取所述标识信号并传输出给所述频谱仪，使所述频谱仪根据所述标识信号，选取出所述上行信号和所述下行信号中的一者作为目标信号，并显示所述目标信号的干扰信息。

其中，所述控制模块通过第一输出接口将所述标识信号传输出所述频谱仪。

其中，所述控制模块还与所述射频模块连接，所述控制模块还用于在所述频谱仪不能识别所述标识信号时，从所述同步提供模块获取所述标识信号并传输给所述射频模块，并由所述射频模块根据所述标识信号，选取所述上行信号和所述下行信号中的一者作为目标信号并传输给所述频谱仪，使所述频谱仪显示所述目标信号的干扰信息。

其中，所述射频模块还与第二输出接口连接，所述射频模块通过所述第二输出接口将所述目标信号传输给所述频谱仪。

其中，所述射频模块包括：

第一单刀多掷开关；

第二单刀多掷开关；

设置于所述第一单刀多掷开关和所述第二单刀多掷开关之间的多个滤波器，每个所述滤波器为与TDD系统的工作频段对应的滤波器；

其中，所述第一单刀多掷开关，用于获取射频信号，并传输给第一滤波器，所述第一滤波器为所述多个滤波器中，与所述待测射频信号所属的频段对应的滤波器；

所述第一滤波器对所述射频信号进行过滤处理，输出待测射频信号给所述第二单刀多掷开关，并由所述第二单刀多掷开关将所述待测射频信号输出。

其中，所述射频模块还包括：

与所述第二单刀多掷开关连接的第三单刀多掷开关；

第四单刀多掷开关；

设置于所述第三单刀多掷开关和所述第四单刀多掷开关之间的低噪声放大器；

其中，所述第三单刀多掷开关，用于获取所述待测射频信号并输出给所述低噪声放大器；

所述低噪声放大器对所述待测射频信号进行信号放大处理，得到放大后的待测射频信号并传输给所述第四单刀多掷开关，由所述第四单刀多掷开关将所述放大后的待测射频信号输出。

其中，所述射频模块还包括：

分别与所述第一单刀多掷开关和所述同步提供模块连接的耦合器，用于将所述第一单刀多掷开关获取的射频信号发送给所述同步提供模块。

其中，上述装置还包括：

分别与所述同步提供模块、射频模块以及控制模块连接的电源模块。

本发明还提供了一种干扰信号的检测系统，包括上述干扰信号的检测装置及与所述干扰信号的检测装置连接的频谱仪。

本发明还提供了一种干扰信号的检测方法，包括：

对获取的射频信号进行过滤处理，输出待测射频信号，所述待测射频信号包括处于同一频段的上行信号和下行信号；

根据所述待测射频信号中上下行的切换点，得到一用于区分所述待测射频信号中的上行信号和下行信号的标识信号，并通过所述标识信号选取出所述上行信号和所述下行信号中的一者作为目标信号，使频谱仪显示所述目标信号的干扰信息。

本发明实施例具有以下有益效果：

本发明实施例的干扰信号的检测装置，射频模块对获取的射频信号进行过滤处理，输出待测射频信号，然后根据一标识信号在所述待测射频信号中选取出所述待测射频信号中上行信号和下行信号的一者作为目标信号，并由频谱仪显示所述目标信号的干扰信息。本发明通过标识信号将待测射频信号中的上行信号和下行信号区分出来，从而能够直接观察TDD系统中的上行干扰信息或下行干扰信息。

附图说明

图1为本发明实施例的干扰信号的检测装置的第一结构示意图；

图2为本发明实施例的干扰信号的检测装置的第二结构示意图；

图3为本发明实施例的干扰信号的检测装置中射频模块的结构示意图；

图4为本发明实施例的干扰信号的检测方法的第一工作流程图；

图5为本发明实施例的干扰信号的检测方法的第二工作流程图；

图6为本发明实施例的干扰信号的检测装置与频谱仪的连接示意图。

附图标记说明：

1-第一单刀多掷开关，2-滤波器，3-第二单刀多掷开关，4-第三单刀多掷开关，5-低噪声滤波器，6-第四单刀多掷开关，7-耦合器，8-天线。

具体实施方式

为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合具体实施例及附图进行详细描述。

本发明的实施例提供了一种干扰信号的检测方法、装置及系统，解决了现有技术对TDD系统进行干扰检测时，频谱仪显示的是混合的上下行信号，不能直接观察到上行干扰或下行干扰的问题。

本发明实施例的干扰信号的检测装置，如图1所示，包括：

射频模块11，用于对获取的射频信号进行过滤处理，输出待测射频信号，所述待测射频信号包括处于同一频段的上行信号和下行信号；

与所述射频模块连接的同步提供模块12，用于根据所述待测射频信号中上下行的切换点，得到一用于区分所述待测射频信号中的上行信号和下行信号的标识信号，并通过所述标识信号选取出所述上行信号和所述下行信号中的一者作为目标信号，使频谱仪显示所述目标信号的干扰信息。

本发明实施例的干扰信号的检测装置，射频模块对获取的射频信号进行过滤处理，输出待测射频信号，然后根据一标识信号在所述待测射频信号中选取出所述待测射频信号中上行信号和下行信号的一者作为目标信号，并由频谱仪显示所述目标信号的干扰信息。本发明通过标识信号将待测射频信号中的上行信号和下行信号区分出来，从而能够直接观察TDD系统中的上行干扰信息或下 行干扰信息。

优选地，本发明实施例的干扰信号的检测装置，如图2所示，还包括：

与所述同步提供模块12连接的控制模块；

所述控制模块在频谱仪能够识别所述标识信号时，从所述同步提供模块12获取所述标识信号并传输出给所述频谱仪，使所述频谱仪根据所述标识信号，选取出所述上行信号和所述下行信号中的一者作为目标信号，并显示所述目标信号的干扰信息。所述控制模块通过第一输出接口(即图中的动作触发接口Trigger out)将所述标识信号传输出所述频谱仪；

所述控制模块还与所述射频模块11连接，所述控制模块还用于在所述频谱仪不能识别所述标识信号时，从所述同步提供模块12获取所述标识信号并传输给所述射频模块，并由所述射频模块根据所述标识信号，选取所述上行信号和所述下行信号中的一者作为目标信号并传输给所述频谱仪，使所述频谱仪显示所述目标信号的干扰信息。所述射频模块还与第二输出接口(即图中的射频RF输出接口)连接，所述射频模块通过所述第二输出接口将所述目标信号传输给所述频谱仪。

在本发明的具体实施例中，所述控制模块包括液晶屏、LED按键灯，主要提供显示、设置功能(通过LED按键实现)，还用于指示目前的工作频段、显示同步提供模块的相关信息以及手动选定所述同步提供模块的工作频段及控制射频模块的通路。

如图2所示，本发明实施例的干扰信号的检测装置，还包括：

分别与所述同步提供模块11、射频模块12以及控制模块连接的电源模块，所述电源模块可以把外部USB或者电池的供电转化成本发明检测装置上的供电；同时也可以完成外部向本发明的检测装置充电的功能。

在本发明的具体实施例中，如图3所示，射频模块可具体包括：

第一单刀多掷开关1；

第二单刀多掷开关3；

设置于所述第一单刀多掷开关1和所述第二单刀多掷开关3之间的多个滤波器2，每个所述滤波器2为与TDD系统的工作频段对应的滤波器，如中国移动的工作频段包括：A工作频段2010M～2025M；D工作频段2496M～2690M； E工作频段为:2300M～2400M；F工作频段1880M～1920M；

其中，所述第一单刀多掷开关1，用于获取射频信号，并传输给第一滤波器，所述第一滤波器为所述多个滤波器中，与所述待测射频信号所属的频段对应的滤波器；

所述第一滤波器对所述射频信号进行过滤处理，输出待测射频信号给所述第二单刀多掷开关3，并由所述第二单刀多掷开关3将所述待测射频信号输出。

本发明实施例的干扰信号的检测装置，通过射频模块过滤出待测射频信号，防止其他频段其他系统的信号进入频谱仪，使得频谱仪饱和，从而造成干扰误判的问题，同时，还提供了射频直通通路，也可以同时观察多个系统的相互影响。

优选地，所述射频模块还包括：

与所述第二单刀多掷开关3连接的第三单刀多掷开关4；

第四单刀多掷开关6；

设置于所述第三单刀多掷开关4和所述第四单刀多掷开关6之间的低噪声放大器5；

其中，所述第三单刀多掷开关4，用于获取所述待测射频信号并输出给所述低噪声放大器5；

所述低噪声放大器5对所述待测射频信号进行信号放大处理，得到放大后的待测射频信号并传输给所述第四单刀多掷开关6，由所述第四单刀多掷开关6将所述放大后的待测射频信号输出。

在本发明的具体实施例中，第一单刀多掷开关1、第二单刀多掷开关3可具体为单刀8T开关，第三单刀多掷开关4、第四单刀多掷开关6可具体为单刀4T开关，射频模块通过LNA可对信号进行放大处理，且具体由控制器控制LNA的开关。

优选地，所述射频模块还包括：

分别与所述第一单刀多掷开关1和所述同步提供模块连接的耦合器，用于将所述第一单刀多掷开关1获取的射频信号发送给所述同步提供模块，另外同步提供模块及射频模块还分别与射频输入接口连接。

本发明实施例的干扰信号的检测装置，通过同步提供模块提供一个标识信 号来区分上下行信号，使得频谱仪根据该标识信号只显示上行干扰信息或下行干扰信息；且通过射频模块过滤出待测TDD系统中的待测射频信号，防止其他信号进入频谱仪，导致频谱仪饱和，造成饱和后的频谱与干扰混淆的现象。

本发明的实施例还提供了一种干扰信号的检测系统，包括如上所述的干扰信号的检测装置及与所述干扰信号的检测装置连接的频谱仪。

如图4所示，本发明的实施例还提供了一种干扰信号的检测方法，包括：

步骤S41：对获取的射频信号进行过滤处理，输出待测射频信号，所述待测射频信号包括处于同一频段的上行信号和下行信号；

步骤S42：根据所述待测射频信号中上下行的切换点，得到一用于区分所述待测射频信号中的上行信号和下行信号的标识信号，并通过所述标识信号选取出所述上行信号和所述下行信号中的一者作为目标信号，使频谱仪显示所述目标信号的干扰信息。

如图5所示，以检测TDD系统的上行干扰为例，来具体说明上述实施例的实现过程。

步骤51：将干扰信号的检测装置与频谱仪连接；

具体的，如图6所示，所述干扰信号的检测装置的射频输入接口与天线8连接，干扰信号的检测装置的第一输出接口、第二输出接口分别与频谱仪连接，干扰信号的检测装置的USB供电接口与频谱仪的USB供电接口连接；

步骤52：选择要进行干扰检测的频段，并将射频模块的滤波器及频谱仪设置到该频段；

步骤53：干扰信号的检测装置向频谱仪提供标识信号；

步骤54：使用频谱仪只观测TDD系统上行干扰信号；

具体的，对于频谱仪支持外部触发模式和gate功能，则开启该功能即可只观察TDD系统的上行时隙的频谱；

对于频谱仪不支持触发和gate功能，检测装置中的控制模块会根据同步提供模块提供的标识信号，去控制射频模块的开关，使射频模块只工作在TDD系统的上行时刻。

进一步地，在本发明的具体实施例中，还可包括：判断所述上行信号是否存在同频干扰信号；

若存在所述同频干扰信号，则确定所述上行信号受到外部干扰；

若不存在所述同频干扰信号，则确定所述上行信号受到阻塞干扰。

在本发明的具体实施例中，可登陆到受干扰的天面上，使定向天线的方向与基站的高增益天线的方向相同，此时，若观测到较为强烈的同频干扰信号，则证明是受到外部干扰源；如果此时不能观测到同频干扰信号，则证明是受到阻塞干扰。

对于外部干扰源：使用定向天线扫描不同的方向，找到干扰最大的方向，即可定位出干扰源大致方向，然后另外取两个高点做同样的操作，即可通过三角定位到干扰源的大致位置；

对于阻塞干扰：调整滤波器频段为TDD系统工作频段上下紧邻的频段，如果观测到有极强信号，则说明该系统与TDD系统共天面，并通过调整频谱仪上定向天线位置，找到该干扰源方向。

需要说明的是，由于该方法是适用于上述装置的方法，因此上述装置实施例中所有实现方式均适用于该方法的实施例中，也能达到相同的技术效果。

本发明实施例的干扰信号的检测方法、装置及系统，通过射频模块过滤出待测TDD系统中的待测射频信号，能够有效防止频谱仪饱和，且通过标识信号将待测射频信号中的上行信号和下行信号区分出来，从而能够直接观察TDD系统中的上行干扰信息或下行干扰信息。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。