一种变频T/R组件通道间相位一致性测试系统及方法与流程

文档序号:11436095阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明公开了一种变频T/R组件通道间相位一致性测试系统及方法,属于测试技术领域。本发明中的参考通道和校准通道工作在无源状态,自身不耗电和发热,不会产生温度漂移,测试准确度较高;引入双平衡混频器和低通滤波器搭建的参考通道和校准通道使得全双二端口校准成为可能,有利于提高测试准确度;无需为参考通道配备供电、状态控制和发射信号调理等设备,简化了系统组成,降低了系统建设成本;双平衡混频器工作频段较宽,且可以通过开关切换搭建不变频、一次变频参考通道和校准通道,具备了一定通用性;参考通道和校准通道的输入和输出端都引入了低通滤波器,滤除了不需要的频谱分量,提高了测试结果的准确度。

技术研发人员:詹建;丁志钊;周辉;乔宏志;徐宝令;展利
受保护的技术使用者:中国电子科技集团公司第四十一研究所
技术研发日:2017.05.23
技术公布日:2017.08.29
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