本发明涉及射频识别领域，具体涉及一种测量rfid标签耦合性能参数的方法及装置。
背景技术：
随着物联网的发展，rfid标签在实际使用过程中得以大规模的使用。在uhfrfid标签大规模使用的时既展现出优势，同时也暴露了很多弊端，制约其发展。在图书和货物运输等方面，由于相互间间隔十分小，极易导致标签间的电磁耦合，使得标签的性能参数下降，导致阅读器无法将每个标签从密集的标签存放环境下读取。因此测量标签在密集耦合环境下的性能参数对于实际操作过程中设置标签的摆放位置和角度有很大的参考意义。
技术实现要素：
本发明所要解决的技术问题是提供一种操作简单，成本低廉的测量rfid标签耦合性能参数的方法及装置。
本发明解决上述技术问题的技术方案如下：
一种测量rfid标签耦合性能参数的方法，通过改变目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度或rfid读写装置的发射角度这三个参数，测量目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度以及rfid读写装置的发射角度对目标标签的最小读取功率值的影响。
进一步的，测量目标标签和干扰标签之间的角度对目标标签的最小读取功率值的影响的方法具体包括以下步骤：
步骤s1.1、放置目标标签、干扰标签和rfid读写装置，确定目标标签和干扰标签之间的距离、角度以及rfid读写装置的发射角度；
步骤s1.2、测量目标标签的第一角度最小读取功率值；
步骤s1.3、移动干扰标签，保持目标标签和干扰标签之间的距离不变，改变目标标签和干扰标签的角度，重复步骤s1.2，得到第二角度最小读取功率值；
步骤s1.4、重复步骤s1.3，得到第一组不同目标标签和干扰标签的角度对应的最小读取功率值；
步骤s1.5、改变目标标签和干扰标签之间的距离和rfid读写装置的发射角度后，重复步骤s1.2-步骤s1.4，得到第二组不同目标标签和干扰标签的角度对应最小读取功率值；
步骤s1.6、重复步骤s1.5，得到多组不同目标标签和干扰标签的角度对应最小读取功率值。
进一步的，测量目标标签和干扰标签之间的距离对目标标签的最小读取功率值的影响的方法具体包括以下步骤：
步骤s2.1、放置目标标签、干扰标签和rfid读写装置，确定目标标签和干扰标签之间的距离、角度以及rfid读写装置的发射角度；
步骤s2.2、测量目标标签的第一距离最小读取功率值；
步骤s2.3、移动干扰标签，保持目标标签和干扰标签之间的角度不变，改变目标标签和干扰标签的距离，重复步骤s2.2，得到第二距离最小读取功率值；
步骤s2.4、重复步骤s2.3，得到第一组不同目标标签和干扰标签的距离对应的最小读取功率值；
步骤s2.5、改变目标标签和干扰标签之间的角度和rfid读写装置的发射角度后，重复步骤s2.2-步骤s2.4，得到第二组不同目标标签和干扰标签的距离对应最小读取功率值；
步骤s2.6、重复步骤s2.5，得到多组不同目标标签和干扰标签的距离对应最小读取功率值。
进一步的，测量rfid读写装置的发射角度对目标标签的最小读取功率值的影响的方法具体包括以下步骤：
步骤s3.1、放置目标标签、干扰标签和rfid读写装置，确定目标标签和干扰标签之间的距离、角度以及rfid读写装置的发射角度；
步骤s3.2、测量目标标签的第一位置最小读取功率值；
步骤s3.3、保持目标标签和干扰标签之间的距离和角度不变，移动rfid读写装置，改变rfid读写装置的发射角度，重复步骤s3.2，得到第二位置最小读取功率值；
步骤s3.4、重复步骤s3.3，得到第一组不同rfid读写装置的发射角度对应的最小读取功率值；
步骤s3.5、改变目标标签和干扰标签之间的距离和角度后，重复步骤s3.2-步骤s3.4，得到第二组不同rfid读写装置的发射角度对应的最小读取功率值；
步骤s3.6、重复步骤s3.5，得到多组不同rfid读写装置的发射角度对应的最小读取功率值.
进一步的，还包括测量目标标签和多个干扰标签堆叠下的耦合性能参数的方法，具体步骤为：
步骤s4.1、将目标标签和多个干扰标签分别放置于实验台上，再将放置了标签的实验台堆成一摞且将放置了目标标签的实验台置于最上端，并在实验台的侧面安装rfid读写装置；
步骤s4.2、测量目标标签的堆叠下的第一最小读取功率值，以及利用rfid读写装置实际测得的标签数目和实际存在的标签数目之比测量堆叠下的第一读取率；
步骤s4.3、改变rfid读写装置的发射角度且rfid读写装置位于实验台的侧面，重复步骤s4.2，得到堆叠下的第二最小读取功率值和堆叠下的第二读取率；
步骤s4.4、重复步骤s4.3，得到一组不同位置的堆叠下的最小读取功率值以及堆叠下的读取率。
一种用于测量rfid标签耦合性能参数的装置，包括箱体和rfid读写装置，所述箱体包括上端开口的矩形箱1和盖板2，盖板2设置在矩形箱1上端开口处，所述盖板2与矩形箱1铰接，所述矩形箱1的底板13上放置有第一实验台6和第二实验台8，所述第一实验台6用于放置目标标签，所述第二实验台8用于放置干扰标签，所述箱体上设置有多个安装孔，所述安装孔用于安装rfid读写装置。
进一步的，所述底板13上设置有坐标纸7，第一实验台6和第二实验台8放置在坐标纸7上，所述坐标纸7用于显示第一实验台6和第二实验台8的坐标位置。
进一步的，所有安装孔均设置有配套的封闭塞，所述封闭塞用于封闭安装孔，所有封闭塞外表面均包裹有一层吸波材料。
进一步的，所述第一实验台6和第二实验台8外表面包裹有一层吸波材料，所述箱体内侧和外侧均贴有吸波材料。
进一步的，所述rfid读写装置包括rfid读写器和天线，天线设置在箱体内侧，rfid读写器设置在箱体外侧，且rfid读写装置与箱体之间为可拆卸连接。
本发明的有益效果为：本发明的方法中目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度以及读写器的位置这三个参数均可调，可以最大化的对标签摆放和布局进行最优化的模拟和实验，分别测量目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度以及读写器的位置对目标标签的最小读取功率值的影响，便于操作，准确度高。本发明的装置体积远远小于传统微波暗室的体积，价格低廉，可操作性强。箱体内侧和外侧均贴有吸波材料，可以减少外部电磁干扰以及内部电磁折射，进而避免影响rfid标签性能的测量结果，得到的测量结果具有更高的准确性和可比较性，箱体的各个安装孔均配有配套的封闭塞，可以在不安装rfid读写装置时利用封闭塞封闭安装孔，确保箱体的密封性和检测结果的准确性。
附图说明
图1为本发明的装置立体结构示意图；
图2为本发明的装置俯视结构示意图。
附图中，各标号所代表的部件列表如下：
1、矩形箱；2、盖板；3、安装孔；4、底板；5、rfid读写装置；6、第一实验台；7、坐标纸；8、第二实验台；
具体实施方式
以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本发明，并非用于限定本发明的范围。
如图1和图2所示，一种用于测量rfid标签耦合性能参数的装置，包括箱体和rfid读写装置5，所述箱体包括上端开口的矩形箱1和盖板2，盖板2设置在矩形箱1上端开口处，所述盖板2与矩形箱1铰接，所述矩形箱1的底板4上放置有第一实验台6和第二实验台8，所述第一实验台6用于放置目标标签，所述第二实验台8用于放置干扰标签，所述箱体上设置有多个安装孔3，所述安装孔3用于安装rfid读写装置5。
所述底板4上设置有坐标纸7，第一实验台6和第二实验台8放置在坐标纸7上，所述坐标纸7用于显示第一实验台6和第二实验台8的坐标位置。
所有安装孔3均设置有配套的封闭塞，所述封闭塞用于封闭安装孔3，所有封闭塞外表面均包裹有一层吸波材料。
所述第一实验台6和第二实验台8外表面包裹有一层吸波材料，所述箱体内侧和外侧均贴有吸波材料。
所述rfid读写装置5包括rfid读写器和天线，天线设置在箱体内侧，rfid读写器设置在箱体外侧，且rfid读写装置5与箱体之间为可拆卸连接。
一种测量rfid标签耦合性能参数的方法，通过改变目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度或rfid读写装置的发射角度这三个参数，测量目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度以及rfid读写装置的发射角度对目标标签的最小读取功率值的影响。
测量目标标签和干扰标签之间的角度对目标标签的最小读取功率值的影响的方法具体包括以下步骤：
步骤s1.1、将目标标签放置在第一实验台内，将干扰标签放置在第二实验台内，选择矩形箱上的一个安装孔安装rfid读写装置，确定目标标签和干扰标签之间的距离、角度以及rfid读写装置的发射角度；
步骤s1.2、测量目标标签的最小读取功率值，通过上位机和rfid读写装置首先测试出目标标签和干扰标签对应的epc编码，选定第一实验台上的标签为目标标签，第二实验台上的标签为干扰标签，通过上位机将rfid读写装置的功率设置为由最小开始递增，直至能读取到目标标签的epc编码为止，此时rfid读写装置的发送功率，即为第一角度最小读取功率值；
步骤s1.3、移动第二实验台，保持目标标签和干扰标签之间的距离不变，改变目标标签和干扰标签的角度，重复步骤s1.2，得到第二角度最小读取功率值；
步骤s1.4、重复步骤s1.3，得到第一组不同目标标签和干扰标签的角度对应的最小读取功率值；
步骤s1.5、改变目标标签和干扰标签之间的距离和rfid读写装置的发射角度后，重复步骤s1.2-步骤s1.4，得到第二组不同目标标签和干扰标签的角度对应最小读取功率值；
步骤s1.6、重复步骤s1.5，得到多组不同目标标签和干扰标签的角度对应最小读取功率值。
上述的干扰标签可以为多组，采用多组干扰标签时，将不同的干扰标签放置在不同的实验台中，再将实验台放置在底板上，并记录每一个干扰标签与目标标签的距离和角度，按照上述方法，分别测量每一个干扰标签与目标标签的角度对目标标签的最小读取功率值的影响。
测量目标标签和干扰标签之间的距离对目标标签的最小读取功率值的影响的方法具体包括以下步骤：
步骤s2.1、将目标标签放置在第一实验台内，将干扰标签放置在第二实验台内，选择矩形箱上的一个安装孔安装rfid读写装置，确定目标标签和干扰标签之间的距离、角度以及rfid读写装置的发射角度；
步骤s2.2、测量目标标签的最小读取功率值，通过上位机和rfid读写装置首先测试出目标标签和干扰标签对应的epc编码，选定第一实验台上的标签为目标标签，第二实验台上的标签为干扰标签，通过上位机将rfid标签rfid读写装置的功率设置为由最小开始递增，直至能读取到目标标签的epc编码为止，此时rfid读写装置的发送功率，即为第一距离最小读取功率值；
步骤s2.3、移动第二实验台，保持目标标签和干扰标签之间的角度不变，通过坐标纸上的网格可以很方便的改变目标标签和干扰标签的距离，重复步骤s2.2，得到第二距离最小读取功率值；
步骤s2.4、重复步骤s2.3，得到第一组不同目标标签和干扰标签的距离对应的最小读取功率值；
步骤s2.5、移动第二实验台，改变目标标签和干扰标签之间的角度，将rfid读写装置从箱体拆卸下来，在箱体上再选择另一个安装孔安装rfid读写装置，重复步骤s2.2-步骤s2.4，得到第二组不同目标标签和干扰标签的距离对应最小读取功率值。
步骤s2.6、重复步骤s2.5，得到多组不同目标标签和干扰标签的距离对应最小读取功率值。
上述的干扰标签可以为多组，采用多组干扰标签时，将不同的干扰标签放置在不同的实验台中，再将实验台放置在底板上，并记录每一个干扰标签与目标标签的距离和角度，按照上述方法，分别测量每一个干扰标签与目标标签的距离对目标标签的最小读取功率值的影响。
测量rfid读写装置的发射角度对目标标签的最小读取功率值的影响的方法具体包括以下步骤：
步骤s3.1、将目标标签放置在第一实验台内，将干扰标签放置在第二实验台内，选择矩形箱上的一个安装孔安装rfid读写装置，确定目标标签和干扰标签之间的距离、角度以及rfid读写装置的发射角度；
步骤s3.2、测量目标标签的最小读取功率值；通过上位机和rfid读写装置首先测试出目标标签和干扰标签对应的epc编码，选定第一实验台上的标签为目标标签，第二实验台上的标签为干扰标签，通过上位机将rfid标签rfid读写装置的功率设置为由最小开始递增，直至能读取到目标标签的epc编码为止，此时rfid读写装置的发送功率，即为第一位置最小读取功率值；
步骤s3.3、保持目标标签和干扰标签之间的距离和角度不变，将rfid读写装置从箱体拆卸下来，在箱体上选择另一个安装孔安装rfid读写装置，即改变rfid读写装置的发射角度，重复步骤s3.2，得到第二位置最小读取功率值；
步骤s3.4、重复步骤s3.3，得到第一组不同rfid读写装置的发射角度对应的最小读取功率值；
步骤s3.5、改变目标标签和干扰标签之间的距离和角度后，重复步骤s3.2-步骤s3.4，得到第二组不同rfid读写装置的发射角度对应的最小读取功率值；
步骤s3.6、重复步骤s3.5，得到多组不同rfid读写装置的发射角度对应的最小读取功率值。
上述的干扰标签可以为多组，采用多组干扰标签时，将不同的干扰标签放置在不同的实验台中，再将实验台放置在底板上，并记录每一个干扰标签与目标标签的距离和角度，按照上述方法进行测量。
本发明还包括测量目标标签和多个干扰标签堆叠下的耦合性能参数的方法，具体步骤为：
步骤s4.1、将目标标签和多个干扰标签分别放置于实验台上，再将放置了标签的实验台堆成一摞且将放置了目标标签的实验台置于最上端，再将一摞实验台放置到箱体底面的正中心，并在矩形箱的侧面上选择一个安装孔安装rfid读写装置；
步骤s4.2、测量目标标签的堆叠下的第一最小读取功率值，以及利用rfid读写装置实际测得的标签数目和实际存在的标签数目之比测量堆叠下的第一读取率；
步骤s4.3、将rfid读写装置从箱体拆卸下来，在矩形箱的侧面上再选择另一个安装孔安装rfid读写装置，改变rfid读写装置的发射角度，重复步骤s4.2，得到堆叠下的第二最小读取功率值和堆叠下的第二读取率；步骤s4.4、重复步骤s4.3，得到一组不同位置的堆叠下的最小读取功率值以及堆叠下的读取率。
使用本发明的装置时，除了安装rfid读写装置的安装孔之外，其余安装孔均需用封闭塞封闭，以确保测量的准确性。
本发明中的rfid读写装置的发射角度指的是rfid读写装置与目标标签之间的角度。
本发明的方法中目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度以及读写器的位置这三个参数均可调，可以最大化的对标签摆放和布局进行最优化的模拟和实验，分别测量目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度以及读写器的位置对目标标签的最小读取功率值的影响，便于操作，准确度高。本发明的装置体积远远小于传统微波暗室的体积，价格低廉，可操作性强。箱体内侧和外侧均贴有吸波材料，可以减少外部电磁干扰以及内部电磁折射，进而避免影响rfid标签性能的测量结果，得到的测量结果具有更高的准确性和可比较性，箱体的各个安装孔均配有配套的封闭塞，可以在不安装rfid读写装置时利用封闭塞封闭安装孔，确保箱体的密封性和检测结果的准确性。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。