一种电子设备的测试系统及其测试方法_2

文档序号:9237873阅读:来源:国知局
装置I通过MXI express并行总线连接所述RF切换器,并通过NI MAX驱动所述RF切换器,所述RF切换器采用NI (Nat1nal Instruments,美国国家仪器公司)推出的N1-PXIe-2543固态射频多路复用器,包括依次电性连接的输入端、多路转换开关以及四个输出端,控制装置I连接有四个待测电子设备4,所述RF切换器的输入端通过RF组线与所述测试仪器2电性连接,所述RF切换器的四个输出端分别通过RF组线与所述四个待测电子设备4电性连接。
[0041]在本发明实施例中,同一测试时间,四个待测电子设备4中只有一个能够获取测试仪器2的使用权,由线路切换控制模块123根据四个待测电子设备4的队列顺序确定获得测试仪器2使用权的待测电子设备4,然后将RF切换器中的多路转换开关的输出端指向对应的待测电子设备4,使该待测电子设备4顺利的切入RF组线。当某台待测电子设备4的测试进程在占用测试仪器2时,其他的待测电子设备4可以利用这段时间完成装板、卸板以及测试前的模式设定等工作,这样可以使得测试仪器2始终处于工作状态,从而大大提高了测试仪器2的使用效率。
[0042]测试模块124,用于调用所述测试工具控制所述测试仪器2对切入RF组线中的待测电子设备4进行测试和校准,并根据测试进程实时显示测试结果,具体的:调用所述测试工具控制所述测试仪器2测量切入RF组线中的待测电子设备4的RF线路衰减量;根据所述RF线路衰减量对所述待测电子设备4进行无线功率测试和校准,并根据测试进程实时显示测试结果。
[0043]在本发明实施例中,所述测试工具包括但不限于art2测试工具,测试模块124可调用art2测试工具开启其中的cart进程,控制cart进程连接切入RF组线中的待测电子设备4,然后通过安装在控制装置I上的驱动LitePoint Connectivity Server来控制测试仪器2对待测电子设备4进行RF衰减测试、无线功率测试和校准。
[0044]进一步的,所述的电子设备的测试系统还包括生产测试数据库6,所述自动化测试装置还包括:通讯模块125,用于将所述测试结果上传到所述生产测试数据库6。
[0045]在本发明实施例中,通讯模块125可将测试结果,例如各个待测电子设备4的RF线路衰减量、校准前后的无线功率等测试数据,上传到生产测试数据库6,以便后续数据分析。
[0046]以上可以看出,本发明实施例提供的电子设备的测试系统,由于在控制装置I上设置有自动化测试装置,并能利用自动化测试装置根据待测电子设备4的队列顺序控制RF组线路切换器3以遍历的方式逐一将待测电子设备4切入RF组线,进而再由自动化测试装置调用测试工具控制测试仪器2对切入RF组线中的待测电子设备4进行测试和校准,并根据测试进程实时显示测试结果,从而能够实现异步一拖多测试,可以在不改变art2测试流程的前提下提高测试仪器的利用率,大大提高了测试效;而且还能够减少人工操作,降低对操作人员的岗位技能要求。
[0047]图3示出了本发明实施例提供的电子设备的测试系统的测试方法的具体实现流程图,该方法的执行主体为图2所示的自动化测试装置,参见图3所示,该方法包括:
[0048]在S301中,检测待测电子设备4的物理连接状态,若连接成功,则控制所述待测电子设备4进入待测模式;
[0049]在S302中,检测测试仪器2的物理连接状态,若连接成功则对所述测试仪器2进行初始化,并检测RF切换器的物理连接状态;
[0050]在S303中,根据所述待测电子设备4的队列顺序控制RF组线路切换器3以遍历的方式逐一将所述待测电子设备4切入RF组线;
[0051]在S304中,调用测试工具控制所述测试仪器2对切入RF组线中的待测电子设备4进行测试和校准,并根据测试进程实时显示测试结果。
[0052]优选的,所述RF切换器包括依次电性连接的输入端、多路转换开关以及四个输出端,所述RF切换器的输入端通过RF组线与所述测试仪器2电性连接,所述RF切换器的四个输出端分别通过RF组线与四个待测电子设备4电性连接。
[0053]优选的,S304具体包括:
[0054]调用测试工具控制所述测试仪器2测量切入RF组线中的待测电子设备4的RF线路衰减量;
[0055]根据所述RF线路衰减量对所述待测电子设备4进行无线功率测试和校准,并根据测试进程实时显示测试结果。
[0056]优选的,所述测试工具为art2测试工具。
[0057]优选的,所述测试方法还包括:
[0058]在S305中,将所述测试结果上传到生产测试数据库6。
[0059]需要说明的是,上述方法中的各个步骤,由于与本发明系统实施例基于同一构思,其带来的技术效果与本发明系统实施例相同,具体内容可参见本发明系统实施例中的叙述,此处不再赘述。
[0060]本发明实施例提供的电子设备的测试系统的测试方法,同样由于在控制装置I上设置有自动化测试装置,并能利用自动化测试装置根据待测电子设备4的队列顺序控制RF组线路切换器3以遍历的方式逐一将待测电子设备4切入RF组线,进而再由自动化测试装置调用测试工具控制测试仪器2对切入RF组线中的待测电子设备4进行测试和校准,并根据测试进程实时显示测试结果,从而能够实现异步一拖多测试,可以在不改变art2测试流程的前提下提高测试仪器的利用率,大大提高了测试效率;而且还能够减少人工操作,降低对操作人员的岗位技能要求。
[0061]以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种电子设备的测试系统,其特征在于,所述测试系统包括控制装置、分别与所述控制装置电性连接的测试仪器、RF组线路切换器以及多个待测电子设备,所述测试仪器通过所述RF组线路切换器连接至所述待测电子设备,所述控制装置包括测试工具和自动化测试装置,所述自动化测试装置包括: 第一检测控制模块,用于检测所述待测电子设备的物理连接状态,若连接成功,则控制所述待测电子设备进入待测模式; 第二检测控制模块,用于检测所述测试仪器的物理连接状态,若连接成功则对所述测试仪器进行初始化,并检测RF切换器的物理连接状态; 线路切换控制模块,用于根据所述待测电子设备的队列顺序控制所述RF组线路切换器以遍历的方式逐一将所述待测电子设备切入RF组线; 测试模块,用于调用所述测试工具控制所述测试仪器对切入RF组线中的待测电子设备进行测试和校准,并根据测试进程实时显示测试结果。2.如权利要求1所述的电子设备的测试系统,其特征在于,所述控制装置连接有四个待测电子设备,所述RF切换器包括依次电性连接的输入端、多路转换开关以及四个输出端,所述RF切换器的输入端通过RF组线与所述测试仪器电性连接,所述RF切换器的四个输出端分别通过RF组线与所述四个待测电子设备电性连接。3.如权利要求1所述的电子设备的测试系统,其特征在于,所述测试模块具体用于: 调用所述测试工具控制所述测试仪器测量切入RF组线中的待测电子设备的RF线路衰减量; 根据所述RF线路衰减量对所述待测电子设备进行无线功率测试和校准,并根据测试进程实时显示测试结果。4.如权利要求3所述的电子设备的测试系统,其特征在于,所述测试工具为art2测试工具。5.如权利要求1所述的电子设备的测试系统,其特征在于,所述测试系统还包括生产测试数据库,所述自动化测试装置还包括: 通讯模块,用于将所述测试结果上传到所述生产测试数据库。6.一种电子设备的测试系统的测试方法,其特征在于,包括: 检测待测电子设备的物理连接状态,若连接成功,则控制所述待测电子设备进入待测模式; 检测测试仪器的物理连接状态,若连接成功则对所述测试仪器进行初始化,并检测RF切换器的物理连接状态; 根据所述待测电子设备的队列顺序控制RF组线路切换器以遍历的方式逐一将所述待测电子设备切入RF组线; 调用测试工具控制所述测试仪器对切入RF组线中的待测电子设备进行测试和校准,并根据测试进程实时显示测试结果。7.如权利要求6所述的电子设备的测试系统的测试方法,其特征在于,控制装置连接有四个待测电子设备,所述RF切换器包括依次电性连接的输入端、多路转换开关以及四个输出端,所述RF切换器的输入端通过RF组线与所述测试仪器电性连接,所述RF切换器的四个输出端分别通过RF组线与四个待测电子设备电性连接。8.如权利要求6所述的电子设备的测试系统的测试方法,其特征在于,所述调用测试工具控制所述测试仪器对切入RF组线中的待测电子设备进行测试和校准,并根据测试进程实时显示测试结果具体包括: 调用测试工具控制所述测试仪器测量切入RF组线中的待测电子设备的RF线路衰减量; 根据所述RF线路衰减量对所述待测电子设备进行无线功率测试和校准,并根据测试进程实时显示测试结果。9.如权利要求8所述的电子设备的测试系统的测试方法,其特征在于,所述测试工具为art2测试工具。10.如权利要求6所述的电子设备的测试系统的测试方法,其特征在于,还包括:将所述测试结果上传到生产测试数据库。
【专利摘要】本发明提供一种电子设备的测试系统及其测试方法。该系统包括控制装置、分别与控制装置连接的测试仪器、RF组线路切换器以及多个待测电子设备,控制装置包括测试工具和自动化测试装置,测试方法包括采用自动化测试装置执行以下步骤:检测待测电子设备的连接状态,若连接成功则使待测电子设备进入待测模式;检测测试仪器的连接状态,若连接成功则对测试仪器进行初始化,并检测RF切换器的物理连接状态;根据待测电子设备的队列顺序控制RF组线路切换器以遍历的方式逐一将待测电子设备切入RF组线;调用测试工具控制测试仪器对待测电子设备进行测试和校准,并根据测试进程实时显示测试结果。本发明提高了测试仪器的利用率,进而提高了测试效率。
【IPC分类】H04B17/00
【公开号】CN104954081
【申请号】CN201510287159
【发明人】邹雪松, 冷旭
【申请人】深圳市共进电子股份有限公司
【公开日】2015年9月30日
【申请日】2015年5月29日
当前第2页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1