托盘的制作方法

本实用新型涉及工业测试领域，尤其涉及用于承载待测器件的托盘。

背景技术：

为提高电子产品的质量，通常需要对产品的器件进行测试，这样才能保证用于产品的器件的性能符合标准。用于放置待测试器件的托盘(以下称为“测试托盘”)是工业生产基础的装备。随着科技的发展，诸如手机、计算机、监控系统、智能机器人等的电子产品得到全面且飞速的发展。大部分电子产品包括高精密器件，例如高清晰摄像头。大部分高精密产品的器件(例如，相机的镜头)测试都需要治具的辅助，治具设计技术的高低，已形成衡量产品制造水平高低的一个重要标志，在很大程度上决定这产品的质量、效益和开发的能力。

另外，为了准确地测试器件性能，对测试托盘与用于测试器件的测试设备(以下称为“测试设备”)的空间相对位置精度要求极高，同时对测试托盘与待测器件之间的配合精度要求也很高。

当前使用的一体式托盘在与用于测试器件的测试设备一起使用时，由于适应性不强而大多不能实现与工业设备的自动化结合，因此需要人工将器件一一摆放在托盘中，耗时耗力。

技术实现要素：

根据本公开的一个实施方式，一种托盘包括：子盘，包括多个第一贯穿孔和多个第一接纳孔；母盘，包括多个定位槽和多个接纳槽；其特征在于，每个定位槽中设置有第一定位柱，第一定位柱从定位槽延伸并贯穿子盘中的第一贯穿孔，托盘还包括：多个第一调节件，其一端接纳到母盘的接纳槽中，另一端连接至子盘的第一接纳孔中，每个第一调节件配置为调节子盘与母盘之间的平行度。

可选地，母盘还包括多个第二贯穿孔，每个第二贯穿孔中设置有可滑动地贯穿其中的第二定位柱。

可选地，托盘还包括多个第二调节件，其一端连接到托盘的安置表面，另一端连接至母盘的第二接纳孔中，每个第二调节件配置为调节安置表面与母盘之间的平行度。

可选地，母盘包括多个第一取放凹槽，子盘包括多个第二取放凹槽，多个第一取放凹槽中的两个与多个第二取放凹槽中的两个在同一直线上对准。

可选地，子盘在接纳待测器件的表面上设置有适于接纳待测器件的多个放置部，多个放置部能够任意排列。

可选地，多个第一贯穿孔在子盘成中心对称。

可选地，多个第一接纳孔在子盘成中心对称。

可选地，多个第二贯穿孔在母盘成中心对称。

可选地，多个第二接纳孔在母盘成中心对称。

可选地，子盘包括：用于放置多个放置部的放置区；以及围绕放置区的非放置区，其中多个第一贯穿孔和多个第一接纳孔设置在非放置区中。

可选地，母盘包括承靠子盘的承靠区和围绕承靠区的非承靠区，多个定位槽和多个接纳槽设置在承靠区中，多个第二贯穿孔设置在非承靠区中。

可选地，母盘包括承靠子盘的承靠区和围绕承靠区的非承靠区，多个第二接纳孔设置在非承靠区中。

有益效果

由于工业生产设备由于成本高大多不宜进行改造，因此，在工业生产应用中，根据本实用新型的托盘为子母可分离的分体式托盘，可单独对子盘进行设计，例如，子盘可设置成各种形状、可设置有放置待测器件的、可排列成任意形状的放置部等以适应于工业生产设备，这样可根据产生设备的结构及功能来设计子盘，实现高效的工业化生产。另外，在例如应用于工业测试时，根据本实用新型的托盘可根据需要来调节子盘与母盘之间的平行度，从而提高测试精度，保证器件质量。

根据上述的至少一个方案，采用了子母分体式测试托盘设计，在托盘精度调试过程中，由于待测器件对托盘的精度要求很高，因此托盘增加了可调节装置(例如,第一调节件和第二调节件)，保证了托盘的测试精度，可以弥补由于加工误差引起的测试误差。

此外，根据上述子母分体式测试托盘设计，可例如把待测器件以直接扣翻板的方式扣在子盘上，承靠母盘上测试，节省传统模式人工一一摆放在测试托盘中的人力，而大大提高测试效率，节省人力。而且，通过分别在母盘和子盘中配置多个第一取放凹槽和多个第二取放凹槽，可便于子盘的取放，提高子盘的取放效率。

附图说明

图1示意性地示出了根据本公开的一个实施方式的托盘的俯视图；

图2示意性地示出了根据本公开一个实施方式的子盘的俯视图；

图3是根据本公开一个实施方式的母盘的俯视图；

图4是根据本公开实施方式的托盘的俯视图；以及

图5是示出了根据本公开实施方式的托盘的俯视图。

具体实施方式

为了更好地理解本申请，将参考附图对本申请的各个方面做出更详细的说明。可以理解，所述附图和详细说明只是对本申请示例性实施方式的描述，而非以任何方式限制本申请的范围。

应理解的是，虽然用语第一、第二等在本文中可以用来描述各种元件、区域或部件，但是这些元件、区域或部件不应被这些用语限制。这些用语仅用于将一个元件、部件、区域与另一个元件、部件、区域区分开。

还应理解的是，用语“包括”、“包括有”、“具有”、“包含”和/或“包含有”，当在本说明书中使用时表示存在所陈述的特征，但不排除存在或附加有一个或多个其它特征。此外，当描述本申请的实施方式时，使用“可以”表示“本申请的一个或多个实施方式”。并且，用语“示例性的”旨在指代示例或举例说明。

如在本文中使用的，用语“基本上”、“大约”以及类似的用语用作表近似的用语，而不用作表程度的用语，并且旨在说明将由本领域普通技术人员认识到的、测量值或计算值中的固有偏差。

附图中所示出各个部件和区域的尺寸仅为示例性的。

除非另外限定，否则本文中使用的所有用语(包括技术用语和科学用语)均具有与本申请所属领域普通技术人员的通常理解相同的含义。还应理解的是，用语(例如在常用词典中定义的用语)应被解释为具有与它们在相关技术的上下文中的含义一致的含义，并且将不被以理想化或过度正式意义解释，除非本文中明确如此限定。

图1示意性地示出了根据本公开的一个实施方式的托盘1的俯视图，图2示意性地示出了根据本公开一个实施方式的子盘20的俯视图，以及图3是根据本公开一个实施方式的母盘10的俯视图。

如图1和图3所示，托盘1包括母盘10和子盘20。母盘10和子盘20不限于图中所示出的形状，并且可设计成适于与测试设备一起操作的任何形状。

子盘20可包括多个第一贯穿孔21和多个第一接纳孔22。第一贯穿孔21可为贯穿子盘20的孔。第一接纳孔22可贯穿子盘20。可选地，第一接纳孔22也可不贯穿子盘20。

母盘10包括多个定位槽11和多个接纳槽12，其中，每个定位槽11中设置有第一定位柱(未示出)。第一定位柱从定位槽11延伸并贯穿子盘20中的第一贯穿孔21。在该实施方式中，定位槽11和接纳槽12可设计成不贯穿母盘10。可选地，定位槽11和接纳槽12也可贯穿母盘10。第一定位柱可设计成能够在第一贯穿孔21中在其长度方向上滑动，第一定位柱可与定位槽11固定连接。第一定位柱可设置成圆柱形、棱柱等形状，相应地，定位槽11和第一贯穿孔21不限于图中所示的形状，并且可设置成适于与第一定位柱配合的形状，并且通过这种配合可在与母盘的平面平行的方向上限制子盘20在母盘10上的位置。

另外，托盘1还包括多个第一调节件(未示出)。第一调节件的一端接纳到母盘10的接纳槽12中，另一端连接至子盘20的第一接纳孔22中。，每个第一调节件通过与接纳槽12和第一接纳孔22配合可在与母盘10垂直的方向上固定子盘20，并且通过调节第一调节件来调节子盘20与母盘10的平行度。

例如，每个第一调节件均可以可旋转地固定在接纳槽12和第一接纳孔22中，以通过旋转来调节子盘20与母盘10的平行度。例如，第一调节件可为螺钉，接纳槽12适于将螺钉的不带螺纹的一端可旋转地接纳到其中，第一接纳孔22可以为带有适于与螺钉的螺纹配合的螺纹。这样通过旋转螺钉，可调节子盘20上接纳该螺钉的位置与母盘10的垂直距离，进而调节子盘20与母盘10的平行度，从而调节子盘20与母盘10的安置平面的平行度。

当然，第一调节件可为其他器件，作为另一示例，第一调节件可为可升降构件，即长度可调的构件。因此，第一调节件可通过调节长度来调节子盘20与母盘10的平行度。

通过这种实施方式，可实现分体式托盘，子盘10通过第一定位柱和第一调节件承靠在母盘上，并且可通过第一调节件调节子盘20与母盘10的平行度。

如图1和图2所示，子盘20除包括参照图1所述的特征外，子盘20还可在接纳待测器件的表面上设置有适于接纳待测器件的多个放置部PP，所述多个放置部PP不限于图中所示的形状，多个放置部PP不限于排列成图2中所示的形状，并且可排列成任何形。由于子盘20的形状及其多个放置PP可任意进行设置，因此，根据本实用新型的托盘可仅通过改变子盘来适应工业生产设备及待测器件。

如图1所示，子盘20可包括：用于放置多个放置部PP的放置区PA；以及围绕所述放置区PA的非放置区NPA，其中，多个第一贯穿孔21和多个第一接纳孔22可设置在非放置区NPA中。多个第一贯穿孔21可在子盘20成中心对称，多个第一接纳孔22可在子盘20成中心对称。

子盘20还可包括多个第二取放凹槽23。第二取放凹槽23可设置于子盘20的非放置区NPA中，并且第二取放凹槽23的形状不限于图中所示的形状并且可为任意形状。

如图3所示，母盘10还可包括多个第二接纳孔14和多个第二贯穿孔15，第二贯穿孔15中设置有可滑动地贯穿其中的第二定位柱(未示出)。第二定位柱的另一端可连接至托盘1的安置表面上，即安置到测试设备上。多个第二接纳孔14可在母盘10成中心对称。多个第二贯穿孔15可在母盘10成中心对称。

第二定位柱可设计成能够在第二贯穿孔15中在其长度方向上滑动，第二定位柱可与托盘1的安置表面固定连接。第二定位柱可设置成圆柱形、棱柱等形状，相应地，第二贯穿孔15可设置成适于与第二定位柱配合的形状，并且通过这种配合可在与安置表面平行的方向上限制母盘10的位置。

母盘10还可包括承靠子盘20的承靠区BA和围绕承靠区BA的非承靠区NBA，图多个定位槽11和多个接纳槽12可设置在承靠区BA中，个第二接纳孔14和多个第二贯穿孔15可设置在所述非承靠区NBA中。

图4是根据本公开实施方式的托盘1的俯视图。

参照图4，托盘1还包括第二调节件(未示出)，第二调节件的一端连接至托盘1的安置表面，另一端连接至母盘10的第二接纳孔14中，每个第二调节件配置为调节安置表面与母盘10之间的平行度。

每个第二调节件的一端接纳到母盘10的第二接纳孔14中，另一端连接至托盘1的安置表面。进一步地，每个第二调节件通过与第二接纳孔14和安置表面的配合可在与安置表面垂直的方向上固定母盘10，并且通过调节第二调节件可调节母盘10与安置表面的平行度。例如，每个第二调节件均可以可旋转地固定在安置表面和第二接纳孔14中，以通过旋转来调节子盘20与母盘10的平行度，例如安置表面设置有用于接纳第二调节件的槽。例如，第二调节件可为螺钉，设置于安置表面中的槽适于将螺钉的不带螺纹的一端可旋转地接纳到其中，第二接纳孔14可以为带有适于与螺钉的螺纹配合的螺纹。这样通过旋转螺钉可调节母盘10上接纳该螺钉的位置与安置表面的垂直距离，进而调节母盘10与安置表面的平行度。

当然，第二调节件可为其他器件，作为另一示例，第二调节件可为可升降构件，即长度可调的构件。因此，第二调节件可通过调节长度来调节母盘10与安置表面的平行度。

虽然未在图4中示出第二贯穿孔15以及可滑动贯穿其中的第二定位柱，但是，根据参照图4所述的实施方式的托盘1可包括第二贯穿孔15以及第二定位柱，或者可包括可实现类似功能的结构或结构的组合。

图5是示出了根据本公开实施方式的托盘1的俯视图。

如图5所示，托盘1可包括母盘20和子盘10。子盘20包括如参照图1所述的实施方式的多个第一贯穿孔21和多个第一接纳孔22，以及可包括参照图2所述的多个放置部PP和多个第二取放凹槽23。母盘10可包括参照图3和图4所示的多个定位槽11、多个接纳槽12、多个第二接纳孔14和多个第二贯穿孔15，另外母盘10还可包括多个第一取放凹槽13。如图5所示，多个第一取放凹槽13中的两个与所述多个第二取放凹槽23中的两个可优选地在同一直线上对准，这样可便于子盘20的取放，从而提高人员取放效率。

本公开不限于以上所描述的实施方式，并且附图中所示出的实施方式仅是示例性的，并非对本公开进行限制，因此，在不背离本公开的精神和范围的情况下，本领域技术人员可对本公开的实施方式做出形式和细节上的各种改变。