显示装置的制作方法

本发明涉及显示装置。

背景技术：

近年来，作为汽车导航系统等车载用的显示装置，广泛使用应用液晶面板等的平板显示器型的显示装置。这种平板显示器型的显示装置一般是例如在汽车的车体上搭载照相机，作为显示车外的图像以辅助驾驶员驾驶的车载用显示器使用。

一般来说，液晶显示装置等显示面板的破损，能够通过目测或使用电气破损检测用程序来检测，但例如，当在显示装置上不能显示正常的图像时，为了判定是否为显示面板的破损导致，或为显示装置进行显示控制的处理装置的故障导致，必需进行显示面板及处理装置的双方的验证等，因此，判定故障部位需要时间。尤其作为车载用的系统，要求具有能够容易且尽快鉴定故障部位的手段。在日本国特开平5-346587号公报中公布了一种技术，即、通过在设置有形成液晶显示元件的透明基板的显示用电极的部位以外的位置上设置裂纹检测用电极，进行裂纹检测用电极的导通试验，对液晶显示元件的破损进行电学检测。

专利文献1：日本国特开平5-346587号公报

上述在先技术需要另外设置破损检测用的电极。而且，还必需另外有用于进行破损用电极的导通试验的电路及控制，装置有可能大型化。

鉴于上述情况，需要一种在不导致装置大型化的情况下，能够容易且尽快地检测显示面板的破损的显示装置。

技术实现要素：

本发明的一方面涉及的显示装置，具有：形成在基板上的显示区域；多个寄存器串联连接而构成的移位寄存器；以及向多个寄存器提供时钟脉冲，并向移位寄存器的最前段的寄存器提供启动脉冲，取入最终段的寄存器的输出的控制电路，其中，显示区域形成在由移位寄存器、控制电路、以及连接移位寄存器与控制电路的各条配线围成的区域内。

附图说明

图1是示出实施方式一的显示装置的简要构成的图。

图2是示出实施方式一的显示装置中的时钟脉冲、启动脉冲、以及构成移位寄存器的各个寄存器的输出的时序图的一例的图。

图3是示出实施方式一的显示装置的具体处理流程的一例的图。

图4是示出实施方式一的显示装置的具体构成例的一例的图。

图5是示出实施方式一的显示装置的具体构成例的变形例的图。

图6是示出实施方式二的显示装置的简要构成的图。

图7是示出实施方式二的显示装置中的时钟脉冲、启动脉冲、构成移位寄存器的各个寄存器的输出、以及逻辑和电路的输出的时序图的一例的图。

图8是示出实施方式二的显示装置的具体处理流程的一例的图。

图9是示出实施方式二的显示装置的具体构成例的一例的图。

图10是示出实施方式二的显示装置的具体构成例的变形例的图。

图11是示出实施方式三的显示装置的简要构成的图。

图12是示出实施方式三的显示装置中的时钟脉冲、启动脉冲、以及构成移位寄存器的各个寄存器的输出的时序图的一例的图。

图13是示出实施方式三的显示装置的具体处理流程的一例的图。

图14是示出实施方式三的显示装置的具体构成例的一例的图。

图15是示出实施方式三的显示装置的具体构成例的变形例的图。

图16是示出与实施方式三的显示装置的具体构成例的图15不同的变形例的图。

图17是示出实施方式四的显示装置的简要构成的图。

图18是示出实施方式四的显示装置中的时钟脉冲、启动脉冲、构成移位寄存器的各个寄存器的输出、以及逻辑和电路的输出的时序图的一例的图。

图19是示出实施方式四的显示装置的具体处理流程的一例的图。

图20是示出实施方式四的显示装置的具体构成例的一例的图。

图21是示出实施方式四的显示装置的具体构成例的变形例的图。

图22是示出实施方式的显示装置的应用例的图。

符号说明

1、1a、1b、1c、基板 2、显示区域

3、3a、3b、寄存器(FF电路) 4、4a、4b、4c、移位寄存器

5、5a、5b、5c、控制电路 6、6a、6b、6c、扫描电路

7、信号输出电路 8、8a、逻辑和电路

9、后视镜 11、11a、11b、11c、TFT基板

12、CF玻璃基板 21、像素

100、100a、100b、100c、显示装置

200、200a、200b、200c、配线。

具体实施方式

以下，参照附图，对用于实施发明的方式进行详细的说明。本发明不受以下实施方式所记载内容的限定。而且，以下所记载的构成要素包含本领域技术人员能够容易设想的、实质上相同的内容。此外，以下记载的构成要素能够适当地组合。另外，公开的只不过是一个例子，本领域技术人员在保持发明宗旨而适当变更的前提下容易假定的内容，应当包含在本发明的范围内。而且，为便于说明，相比实际的实施方式，附图对各部的宽度、厚度、形状等有时只是示意性地表示，只是一个例子，并不限制本发明的解释。此外，在本说明书和各个图中，对于已说明过的图中与上述内容相同的要素，有时采用相同的符号，并适当省略详细的说明。

(实施方式一)

图1是示出实施方式一的显示装置的简要构成的图。如图1所示，本实施方式的显示装置100的构成包括：显示区域2，形成在基板1上；移位寄存器4，由多个寄存器3串联连接而构成，沿着显示区域2的一个边设置；控制电路5，向多个寄存器3提供时钟脉冲VCLK，并向最前段的寄存器3提供启动脉冲VST，取入该最终段的寄存器3的输出Gn+1_out。

显示区域2形成在由移位寄存器4、控制电路5、以及连接移位寄存器4和控制电路5的各条配线围成的区域内。在显示区域2上，形成有一端与寄存器3之间的各连接部连接的n条(n为自然数)配线L。传输移位寄存器4的最终段的寄存器3的输出Gn+1_out的配线200以把显示区域2及基板1的外周端隔开的方式设置。

构成移位寄存器4的各个寄存器3由例如FF(flip-flop，触发器)电路构成。

控制电路5基于移位寄存器4的最终段的寄存器3的输出Gn+1_out，进行基板1的破损判定，当检测出基板1的破损时，向上级的系统控制装置输出警报。

接下来，参照图1至图3，对实施方式一的显示装置100的具体处理流程进行说明。图2是示出实施方式一的显示装置中的时钟脉冲、启动脉冲、以及构成移位寄存器的各个寄存器的输出的时序图的一例的图。图3是示出实施方式一的显示装置的具体处理流程的一例的图。

启动脉冲VST从控制电路5输出后(步骤S1)，与时钟脉冲VCLK同步，从构成移位寄存器4的各个寄存器3中，一边按寄存器3的段数(这里为n+1段)的份移位，一边依次输出各个寄存器3的输出脉冲Gm_out(m为1至n+1)。

控制电路5在与配线L的配线数(这里为n条)的份的时钟脉冲VCLK发生期间相当的等待时间T(＝VCLK1期间×配线数n)经过之后的破损判定期间t(＝VCLK1期间)，判定输出脉冲Gn+1_out是否已从移位寄存器4的最终段的寄存器3中输出(步骤S2)。如果输出脉冲Gn+1_out已输出(步骤S2；是)，则控制电路5正常判定为未检测出基板1的破损(步骤S3)，返回步骤S1的处理，重复进行步骤S1至步骤S2的处理。

当输出脉冲Gn+1_out未输出(步骤S2；否)时，控制电路5判定为检测出了基板1的破损(步骤S4)，向上级的系统控制装置输出警报(步骤S5)，结束本流程的处理。

如上所述，根据本实施方式，在显示区域2的周围设置移位寄存器4、控制电路5、以及连接移位寄存器4和控制电路5的各配线。因此，通过执行上述处理程序，能够检测移位寄存器4及控制电路5的破损，或者，能够检测包含传输移位寄存器4的最终段的寄存器3的输出Gn+1_out的配线200的、连接移位寄存器4与控制电路5的各条配线的断线，并能够检测在从显示装置100的基板1的外周至显示区域2的范围内破损的情况。

图4是示出实施方式一的显示装置的具体构成例的一例的图。在图4所示的例子中，显示装置100以液晶显示装置为例进行说明，其包括TFT基板11、以及通过液晶层与TFT基板11相对而设置的CF玻璃基板12，而构成基板1。

图4所示的显示装置100中包括图1所示的移位寄存器4而构成扫描电路6，在TFT基板11上，形成扫描电路6及信号输出电路7，同时，设置有控制电路5。

显示区域2由多个像素21并列排成阵列状而形成。以下，将像素21在行方向排列的行称为像素行，将像素21在列方向排列的列称为像素列。

控制电路5除了具有在检测出基板1的破损时输出警报的功能以外，还具有基于外部输入的图像数据，控制扫描电路6及信号输出电路7的功能。

信号输出电路7是所谓的源极驱动器，根据控制电路5输出的图像数据，生成用于驱动各像素行的像素21的视频信号，通过信号线DTL向各像素行的每一行输出视频信号。

扫描电路6是所谓的栅极驱动器，包括例如移位寄存器4及缓冲器等而构成。扫描电路6根据控制电路5输出的同步信号生成扫描信号，通过扫描线SCL向各像素列的每一列输出扫描信号。其中，同步信号相当于图1所示的时钟脉冲VCLK及启动脉冲VST，扫描线SCL相当于图1所示的配线L。

在图4所示的例子中，说明了在TFT基板11上形成连接控制电路5与扫描电路6的各条配线的例子，即、包括传输图1所示的时钟脉冲VCLK的配线、传输启动脉冲VST的配线、以及传输移位寄存器4的最终段的寄存器3的输出Gn+1_out的配线200在内的各条配线。由此，能够检测在从TFT基板11的外周至显示区域2的范围内破损的情况。

图5是示出实施方式一的显示装置的具体构成例的变形例的图。在图5所示的例子中，示出了在连接控制电路5与扫描电路6的各条配线中，传输图1所示的移位寄存器4的最终段的寄存器3的输出Gn+1_out的配线200的一部分形成在CF玻璃基板12上的显示区域2的外周部的例子。由此，能够检测在从CF玻璃基板12的外周至显示区域2的范围内破损的情况。另外，设置在CF玻璃基板侧的配线，也可以形成在该CF玻璃基板的表面和背面中的一个面上。

如上所述，根据实施方式一的显示装置100，其构成中具备：移位寄存器4，由多个寄存器3串联连接而构成；以及控制电路5，向各个寄存器3提供时钟脉冲VCLK，并向移位寄存器4的最前段的寄存器3提供启动脉冲VST，取入移位寄存器4的最终段的寄存器3的输出，在由移位寄存器4、控制电路5、以及连接移位寄存器4与控制电路5的各条配线围成的区域内形成了显示区域2。或者，显示区域2的周围设置移位寄存器4与控制电路5，并沿着显示区域2的周围设置有连接其的配线。由此，通过监视移位寄存器4的最终段的寄存器3的输出，能够检测在从基板1的外周至显示区域2的范围内破损的情况。

而且，构成了包括TFT基板11、以及通过与TFT基板11之间的液晶层与TFT基板11相对设置的CF玻璃基板12的基板1，在TFT基板11上，设置控制电路5，同时，形成了包括移位寄存器4而构成的扫描电路6，在上述构成中，通过在TFT基板11上形成连接控制电路5与扫描电路6的各配线，能够检测在从TFT基板11的外周至显示区域2的范围内破损的情况。

而且，通过在CF玻璃基板12上的显示区域2的外周部上，形成在连接控制电路5与扫描电路6的各条配线中用于传输移位寄存器4的最终段的寄存器3的输出Gn+1_out的配线200的一部分，也能够检测在从CF玻璃基板12的外周至显示区域2的范围内破损的情况。

通过本实施方式，可以提供一种在不会导致装置大型化的情况下，能够容易且尽快地检测显示面板的破损的显示装置100。

(实施方式二)

图6是示出实施方式二的显示装置的简要构成的图。另外，对于与上述实施方式中说明的内容相同的构成要素，采用相同的符号，并省略重复的说明。

图6所示的本实施方式的显示装置100a，被构成为除了上述实施方式一的构成以外，还包含逻辑和电路8。在显示装置100a中，移位寄存器4的最终段的寄存器3的输出端、以及n条各配线L的另一端通过逻辑和电路8连接，该逻辑和电路8的输出OR_out被输入至控制电路5a。就是说，在本实施方式中，形成一种除了向控制电路5a输出移位寄存器4的最终段的寄存器3的输出Gn+1_out以外，还输出通过显示区域2的各配线L输入的n个寄存器3的输出G1_out、G2_out、G3_out、…、Gn-2_out、Gn-1_out、Gn_out的逻辑和OR_out的构成。而且，在本实施方式中，显示区域2形成在由移位寄存器4、控制电路5a、逻辑和电路8、分别连接移位寄存器4与控制电路5a及逻辑和电路8的各配线L围成的区域内。传输移位寄存器4的最终段的寄存器3的输出Gn+1_out的配线200a，以把显示区域2与基板1a的外周端隔开的方式设置。

控制电路5a基于逻辑和电路8的输出OR_out，进行基板1a的破损判定，当检测出基板1a的破损时，向上一级系统控制装置输出警报。

接下来，参照图6至图8，对实施方式二的显示装置100a的具体处理流程进行说明。图7是示出实施方式二的显示装置中的时钟脉冲、启动脉冲、构成移位寄存器的各个寄存器的输出、以及逻辑和电路的输出的时序图的一例的图。图8是示出实施方式二的显示装置的具体处理流程的一例的图。

启动脉冲VST从控制电路5a输出后(步骤S1a)，与时钟脉冲VCLK同步，从构成移位寄存器4的各寄存器3中按寄存器3的段数(这里为n+1段)的份移位，同时，依次输出各寄存器3的输出脉冲Gm_out(m为1至n+1)。

控制电路5a在构成移位寄存器4的各寄存器3的每一破损判定期间t’(＝VCLK1期间)，判定在逻辑和电路8的输出OR_out是否含有各寄存器3的输出脉冲Gm_out(步骤S2-1a)。如果输出了输出脉冲Gm_out(步骤S2-1a；是)，则控制电路5a继续判定当前的期间是否是最终段的寄存器3的输出判定期间(步骤S2-2a)。如果当前期间不是最终段的寄存器3的输出判定期间(步骤S2-2a；否)，则控制电路5a返回步骤S2-1a的处理，重复进行步骤S2-1a至步骤S2-2a的处理。由此，在全破损判定期间t’*(n+1)中，能够进行构成移位寄存器4的所有寄存器3的输出脉冲Gm_out的输出判定。

如果当前期间是最终段的寄存器3的输出判定期间(步骤S2-2a；是)，则控制电路5a正常判定为未检测出基板1a的破损(步骤S3a)，返回步骤S1a的处理，重复进行步骤S1a至步骤S2-2a的处理。

在步骤S2-1a，当逻辑和电路8的输出OR_out中不包含各寄存器3的输出脉冲Gm_out时(步骤S2-1a；否)，控制电路5a判定为检测出了基板1a的破损(步骤S4a)，并向上一级系统控制装置输出警报(步骤S5a)，结束本流程的处理。

如上所述，在本实施方式中，在显示区域2的周围设置移位寄存器4、控制电路5a、逻辑和电路8、以及分别连接移位寄存器4和控制电路5a和逻辑和电路8的各配线。因此，通过执行上述处理程序，能够检测移位寄存器4、控制电路5a、或逻辑和电路8的破损，或者，能够检测包括传输移位寄存器4的最终段的寄存器3的输出Gn+1_out的配线200a在内，连接移位寄存器4与控制电路5a与逻辑和电路8的各配线的断线，并能够检测在从显示装置100a的基板1a的外周至显示区域2的范围内破损的情况。并且，由于形成除了向控制电路5a输出移位寄存器4的最终段的寄存器3的输出Gn+1_out以外，还向控制电路5a输出通过显示区域2内的各配线L输入的n个寄存器3的输出G1_out、G2_out、G3_out、……、Gn-2_out、Gn-1_out、Gn_out的逻辑和OR_out的构成，因此，能够在更早的时机且更具体的位置检测显示区域2内的破损。

图9是示出实施方式二的显示装置的具体构成例的一例的图。在图9所示的例子中，显示装置100a以液晶显示装置为例进行说明，其中，构成了包括TFT基板11a、以及在与TFT基板11a之间通过液晶层与TFT基板11a相对设置的CF玻璃基板12的基板1a。

在图9所示的显示装置100a中，逻辑和电路8与扫描电路6及信号输出电路7同样，形成在TFT基板11a上。

控制电路5a与实施方式一同样，除了具有在检测出基板1a的破损时输出警报的功能以外，还具有基于外部输入的图像数据，控制扫描电路6及信号输出电路7的功能。

在图9所示的例子中，以在TFT基板11a上形成连接控制电路5a与扫描电路6与逻辑和电路8的各条配线为例进行说明，上述各条配线即、包括传输图6所示的时钟脉冲VCLK的配线、传输启动脉冲VST的配线、传输移位寄存器4的最终段的寄存器3的输出Gn+1_out的配线200a以及传输逻辑和电路8的输出OR_out的配线在内的各条配线。由此，能够在包括TFT基板11a上的显示区域2的范围内进行破损检测，同时，能够在更早的时机且在更具体的位置检测TFT基板11a上的显示区域2内的破损。

图10是示出实施方式二的显示装置的具体构成例的变形例的图。在图10所示的例子中，示出了在连接控制电路5a与扫描电路6与逻辑和电路8的各条配线中，传输图6所示的逻辑和电路8的输出OR_out的配线的一部分形成在CF玻璃基板12上的显示区域2的外周部的例子。由此，也能够检测在CF玻璃基板12的显示区域2内的破损。

如上所述，实施方式二的显示装置100a，除了实施方式一的构成以外，还被构成为：具备逻辑和电路8，在由移位寄存器4、控制电路5a、逻辑和电路8、以及分别连接移位寄存器4和控制电路5a和逻辑和电路8的各配线围成的区域内形成显示区域2，通过逻辑和电路8连接移位寄存器4的最终段的寄存器3的输出端以及n条各配线L的另一端，该逻辑和电路8的输出OR_out被输入控制电路5a。由此，通过监视逻辑和电路8的输出OR_out的输出，能够检测在显示装置100a的基板1a的外周至显示区域2的范围内破损的情况。而且，由于被构成为除了移位寄存器4的最终段的寄存器3的输出Gn+1_out以外，还向控制电路5a输出通过显示区域2内的各配线L输入的n个寄存器3的输出G1_out、G2_out、G3_out、……、Gn-2_out、Gn-1_out、Gn_out的逻辑和OR_out，因此，能够在更早的时机且在更具体的位置检测显示区域2内的破损。

而且，构成了包括TFT基板11a、以及通过与TFT基板11a之间的液晶层与TFT基板11a相对设置的CF玻璃基板12的基板1a，在TFT基板11a上，设置控制电路5a，同时，形成了包括移位寄存器4而构成的扫描电路6和逻辑和电路8，在上述构成中，通过在TFT基板11a上形成分别连接控制电路5a与扫描电路6与逻辑和电路8的各配线，能够检测在从TFT基板11a的外周至显示区域2的范围内破损的情况。而且，由于被构成为除了移位寄存器4的最终段的寄存器3的输出Gn+1_out以外，还向控制电路5a输出通过显示区域2内的各配线L输入的n个寄存器3的输出G1_out、G2_out、G3_out、……、Gn-2_out、Gn-1_out、Gn_out的逻辑和OR_out，因此，能够在更早的时机且在更具体的位置检测TFT基板11a上的显示区域2内的破损。

而且，通过在CF玻璃基板12上的显示区域2的外周部形成在分别连接控制电路5a与扫描电路6与逻辑和电路8的各配线中，用于传输逻辑和电路8的输出OR_out的配线的一部分，能够检测在从CF玻璃基板12的外周至显示区域2的范围内破损的情况。

通过本实施方式，可以提供一种在不导致装置大型化的情况下，能够容易且尽快地检测显示面板的破损的显示装置100a。

(实施方式三)

图11是示出实施方式三的显示装置的简要构成的图。另外，对于与上述实施方式中说明的内容相同的构成要素，采用相同的符号，并省略重复的说明。

如图11所示，本实施方式的显示装置100b被构成为包括：显示区域2，其形成在基板1b上；移位寄存器4a及移位寄存器4b，其沿显示区域2的相对的2个边设置；以及控制电路5b，其向构成移位寄存器4a的多个寄存器3a及构成移位寄存器4b的多个寄存器3b提供时钟脉冲VCLK，并向移位寄存器4a的最前段的寄存器3a提供启动脉冲VST1，取入移位寄存器4a的最终段的寄存器3a的输出Gn+1_out，向移位寄存器4b的最前段的寄存器3b提供启动脉冲VST2，并取入移位寄存器4b的最终段的寄存器3b的输出Gn+2_out，

在本实施方式中，显示区域2形成在由移位寄存器4a、移位寄存器4b、控制电路5b、以及分别连接移位寄存器4a和移位寄存器4b和控制电路5b的各配线围成的区域内。传输移位寄存器4a的最终段的寄存器3a的输出Gn+1_out的配线200b、以及传输移位寄存器4b的最终段的寄存器3b的输出Gn+2_out的配线200c，以把显示区域2和基板1b的外周端隔开的方式设置。移位寄存器4a和移位寄存器4b具有与实施方式一的移位寄存器4同等的构成，在显示区域2上，交替地形成有一端与寄存器3a之间的连接部连接的n/2条(n为偶数)的配线L1，以及另一端与寄存器3b之间的连接部连接的n/2条配线L2。

控制电路5b基于移位寄存器4a的最终段的寄存器3a的输出Gn+1_out、移位寄存器4b的最终段的寄存器3b的输出Gn+2_out，进行基板1b的破损判定，当检测出基板1b时，向上一级系统控制装置输出警报。

接下来，参照图11至图13，对实施方式三的显示装置100b的具体处理流程进行说明。图12是示出实施方式三的显示装置中的时钟脉冲、启动脉冲、以及构成移位寄存器的各个寄存器的输出的时序图的一例的图。图13是示出实施方式三的显示装置的具体处理流程的一例的图。

启动脉冲VST1、VST2从控制电路5b输出后(步骤S1b)，与时钟脉冲VCLK同步，从构成移位寄存器4a的各寄存器3a中按寄存器3a的段数(这里为n+1段)移位，同时，依次输出各寄存器3a的输出脉冲Gm1_out(m1为1至n+1的奇数)。同时，与时钟脉冲VCLK同步，从构成移位寄存器4b的各寄存器3b中按寄存器3b的段数(这里为n+1段)移位，同时，依次输出各寄存器3b的输出脉冲Gm2_out(m2为2至n+2的偶数)。

控制电路5a在与对应于配线L1、L2的配线数(这里为n条)的时钟脉冲VCLK发生期间相当的等待期间T(＝VCLK1期间×配线数n)经过之后的破损判定期间t1(＝VCLK1期间)，判定输出脉冲Gn+1_out是否已从移位寄存器4a的最终段的寄存器3a输出，同时，在等待时间T上叠加破损判定期间t1后的期间经过之后的破损判定期间t2(＝VCLK1期间)，判定输出脉冲Gn+2_out是否已从移位寄存器4b的最终段的寄存器3b输出(步骤S2b)。如果输出脉冲Gn+1_out以及输出脉冲Gn+2_out两者均已输出(步骤S2b：是)，则控制电路5b正常判定为未检测到基板1b的破损(步骤S3b)，返回步骤S1b的处理，重复进行步骤S1b至步骤S2b的处理。

当输出脉冲Gn+1_out及输出脉冲Gn+2_out中至少一方未被输出时(步骤S2b；否)，控制电路5b判定为检测出了基板1b的破损(步骤S4b)，向上一级系统控制装置输出警报(步骤S5b)，结束本流程的处理。

如上所述，在本实施方式中，在显示区域2的周围设置移位寄存器4a、移位寄存器4b、控制电路5b、以及分别连接移位寄存器4a和移位寄存器4b和控制电路5b的各配线。因此，通过执行上述处理程序，能够检测移位寄存器4a、移位寄存器4b、或控制电路5b的破损，或者，能够检测包括传输移位寄存器4a的最终段的寄存器3a的输出Gn+1_out的配线200b、传输移位寄存器4b的最终段的寄存器3b的输出Gn+2_out的配线200c在内，连接移位寄存器4a、4b与控制电路5b的各配线的断线，并能够检测在从显示装置100b的基板1b的外周至显示区域2的范围内破损的情况。

图14是示出实施方式三的显示装置的具体构成例的一例的图。在图14所示的例子中，显示装置100b以液晶显示装置为例进行说明，其中，构成了包括TFT基板11b、以及在与TFT基板11b之间通过液晶层与TFT基板11b相对设置的CF玻璃基板12的基板1b。

图14所示的显示装置100b包括图11所示的移位寄存器4a而构成扫描电路6a，包括移位寄存器4b而构成扫描电路6b，在TFT基板11b上，形成扫描电路6a、6b及信号输出电路7，同时，设置有控制电路5b。

控制电路5b与实施方式一、二同样，除了具有在检测出基板1b的破损时输出警报的功能以外，还具有基于外部输入的图像数据，控制扫描电路6a、6b及信号输出电路7的功能。

在图14所示的例子中，示出了如下例子：连接控制电路5b和扫描电路6a、6b的各配线，即、包括传输图11所示的时钟脉冲VCLK的配线、传输启动脉冲VST1、VST2的配线、传输移位寄存器4a的最终段的寄存器3a的输出Gn+1_out的配线200b、以及传输移位寄存器4b的最终段的寄存器3b的输出Gn+2_out的配线200c在内的各条配线形成在TFT基板11b上，传输移位寄存器4a的最终段的寄存器3a的输出Gn+1_out的配线200b及传输移位寄存器4b的最终段的寄存器3b的输出Gn+2_out的配线200c在TFT基板11b上以绝缘状态交叉。

图15是示出实施方式三的显示装置的具体构成例的变形例的图。在图15所示的例子中，示出了传输移位寄存器4a的最终段的寄存器3a的输出Gn+1_out的配线200b与传输移位寄存器4b的最终段的寄存器3b的输出Gn+2_out的配线200c在TFT基板11b上不交叉的例子。

根据图14及图15的构成，能够检测在从TFT基板11b的外周至显示区域2的范围内破损的情况。

图16是示出与实施方式三的显示装置的具体构成例的图15不同的变形例的图。在图16所示的例子中，示出了在分别连接控制电路5b与扫描电路6a、6b的各配线中，将传输图11所示的移位寄存器4a的最终段的寄存器3a的输出Gn+1_out的配线200b的一部分形成在CF玻璃基板12上的显示区域2的外周部的例子。而且，同样地，可以将传输图11所示的移位寄存器4b的最终段的寄存器3b的输出Gn+2_out的配线200c的一部分形成在CF玻璃基板12上的显示区域2的外周部，也可以在传输移位寄存器4a的最终段的寄存器3a的输出Gn+1_out的配线200b以及传输移位寄存器4b的最终段的寄存器3b的输出Gn+2_out的配线200c两者中，将这些各配线的一部分形成在CF玻璃基板12上的显示区域2的外周部。通过这种方式，也能够与实施方式一、二同样地，检测出在从CF玻璃基板12的外周至显示区域2的范围内的破损情况。

如上所述，根据实施方式三的显示装置100b，其被构成为具有：二个移位寄存器4a、4b；以及控制电路5b，向构成移位寄存器4a、4b的各寄存器3a、3b供给时钟脉冲VCLK，并向移位寄存器4a的最前段的寄存器3a供给启动脉冲VST1，取入移位寄存器4a的最前段的寄存器3a的输出，向移位寄存器4b的最前段的寄存器3b供给启动脉冲VST2，并取入移位寄存器4b的最前段的寄存器3b的输出，在由移位寄存器4a、4b、控制电路5b、以及分别连接移位寄存器4a、4b与控制电路5b的各配线围成的区域内形成有显示区域2。由此，通过监视移位寄存器4a、4b的最终段的寄存器3a、3b的输出，能够检测在从基板1b的外周至显示区域2的范围内的破损情况。

而且，构成了包括TFT基板11b、以及通过与TFT基板11b之间的液晶层与TFT基板11b相对设置的CF玻璃基板12的基板1b，在TFT基板11b上，设置控制电路5b，并形成了包括移位寄存器4a而构成的扫描电路6a以及包括移位寄存器4b而构成的扫描电路6b，在上述构成中，通过在TFT基板11b上形成连接控制电路5b与扫描电路6a、6b的各配线，能够检测在从TFT基板11b的外周至显示区域2的范围内破损的情况。

而且，通过将分别连接控制电路5b与扫描电路6a、6b的各配线中，传输移位寄存器4a的最终段的寄存器3a的输出Gn+1_out的配线200b的一部分、以及传输移位寄存器4b的最终段的寄存器3b的输出Gn+2_out的配线200c的一方或两者的一部分形成在CF玻璃基板12上的显示区域2的外周部，也能够检测在从CF玻璃基板12的外周至显示区域2的范围内破损的情况。

通过本实施方式，可以提供一种在不会导致装置大型化的情况下，能够容易且尽快地检测显示面板的破损的显示装置100b。

(实施方式四)

图17是示出实施方式四的显示装置的简要构成的图。另外，对于与上述实施方式中说明的内容相同的构成要素，采用相同的符号，并省略重复的说明。

图17所示的本实施方式的显示装置100c，与上述实施方式二的构成不同，被构成为：移位寄存器4c的寄存器3的数目与显示区域的各配线L的数目相等(这里为n)，逻辑和电路8a向控制电路5c输出通过各配线L输入的n个寄存器3的输出G1_out、G2_out、G3_out、……、Gn-2_out、Gn-1_out、Gn_out的逻辑和OR_out。在本实施方式中，显示区域2形成在由移位寄存器4c、控制电路5c、逻辑和电路8a、以及分别连接移位寄存器4c、控制电路5c、逻辑和电路8a的各配线围成的区域内。传输逻辑和电路8a的输出OR_out的配线200d以把显示区域2及基板1c的外周端隔开的方式设置。

控制电路5c基于逻辑和电路8a的输出OR_out，进行基板1c的破损判定，当检测到基板1c的破损时，向上一级系统控制装置输出警报。

接下来，参照图18至图19，对实施方式四的显示装置100c的具体处理流程进行说明。图18是示出实施方式四的显示装置中的时钟脉冲、启动脉冲、构成移位寄存器的各个寄存器的输出、以及逻辑和电路的输出的时序图的一例的图。图19是示出实施方式四的显示装置的具体处理流程的一例的图。

启动脉冲VST从控制电路5c输出后(步骤S1c)，与时钟脉冲VCLK同步，从构成移位寄存器4c的各寄存器3中按寄存器3的段数(这里为n段)的份移位，同时，依次输出各寄存器3的输出脉冲Gm_out(m为1至n)。

控制电路5c在构成移位寄存器4c的各寄存器3的每一破损判定期间t’(＝VCLK1期间)，判定在逻辑和电路8a的输出OR_out中是否含有各寄存器3的输出脉冲Gm_out(步骤S2-1c)。如果输出了输出脉冲Gm_out(步骤S2-1c；是)，则控制电路5c继续判定当前的期间是否是最终段的寄存器3的输出判定期间(步骤S2-2c)。如果当前期间不是最终段的寄存器3的输出判定期间(步骤S2-2c；否)，则控制电路5c返回步骤S2-1c的处理，重复进行步骤S2-1c至步骤S2-2c的处理。由此，在全破损判定期间t’*n中，能够进行构成移位寄存器4c的所有寄存器3的输出脉冲Gm_out的输出判定。

如果当前期间是最终段的寄存器3的输出判定期间(步骤S2-2c；是)，则控制电路5c正常判定为未检测出基板1c的破损(步骤S3c)，返回步骤S1c的处理，重复进行步骤S1c至步骤S2-2c的处理。

在步骤S2-1c，当逻辑和电路8a的输出OR_out中不包含各寄存器3的输出脉冲Gm_out时(步骤S2-1c；否)，控制电路5c判定为检测出了基板1c的破损(步骤S4c)，并向上一级系统控制装置输出警报(步骤S5c)，结束本流程的处理。

如上所述，在本实施方式中，在显示区域2的周围设置移位寄存器4c、控制电路5c、逻辑和电路8a、以及分别连接移位寄存器4c和控制电路5c和逻辑和电路8a的各配线。因此，通过执行上述处理程序，能够检测移位寄存器4c、控制电路5c、或逻辑和电路8a的破损，或者，能够检测包括传输逻辑和电路8a的输出OR_out的配线200d在内的、连接移位寄存器4c与控制电路5c与逻辑和电路8a的各配线的断线，并能够检测在从显示装置100c的基板1c的外周至显示区域2的范围内破损的情况。并且，由于形成向控制电路5c输出通过显示区域2内的各配线L输入的n个寄存器3的输出G1_out、G2_out、G3_out、……、Gn-2_out、Gn-1_out、Gn_out的逻辑和OR_out的构成，因此，能够在更早的时机且更具体的位置检测显示区域2内的破损。

图20是示出实施方式四的显示装置的具体构成例的一例的图。在图20所示的例子中，显示装置100c以液晶显示装置为例进行说明，其中，构成了包括TFT基板11c、以及在与TFT基板11c之间通过液晶层与TFT基板11c相对设置的CF玻璃基板12的基板1c。

在图20所示的显示装置100c中，逻辑和电路8a与扫描电路6c及信号输出电路7同样，形成在TFT基板11c上。

控制电路5c与实施方式一至三同样，除了具有在检测出基板1c的破损时输出警报的功能以外，还具有基于外部输入的图像数据，控制扫描电路6c及信号输出电路7的功能。

在图20所示的例子中，以在TFT基板11c上形成连接控制电路5c与扫描电路6c与逻辑和电路8a的各条配线为例进行说明，上述各条配线即、包括传输图17所示的时钟脉冲VCLK的配线、传输启动脉冲VST的配线、以及传输逻辑和电路8a的输出OR_out的配线200d在内的各条配线。由此，能够在包括TFT基板11c上的显示区域2的范围内进行破损检测，同时，能够在更早的时机且在更具体的位置检测TFT基板11c上的显示区域2内的破损。

图21是示出实施方式四的显示装置的具体构成例的变形例的图。在图21所示的例子中，示出了在连接控制电路5c与扫描电路6c与逻辑和电路8a的各条配线中，传输图17所示的逻辑和电路8a的输出OR_out的配线200d的一部分形成在CF玻璃基板12上的显示区域2的外周部的例子。由此，也能够检测在CF玻璃基板12的显示区域2内的破损。

如上所述，根据实施方式四的显示装置100c，其与上述实施方式二的构成不同，被构成为：移位寄存器4c的寄存器3的数目与显示区域的各配线L的数目相等(这里为n)，逻辑和电路8a向控制电路5c输出通过各配线L输入的n个寄存器3的输出G1_out、G2_out、G3_out、……、Gn-2_out、Gn-1_out、Gn_out的逻辑和OR_out，并在由移位寄存器4c、控制电路5c、逻辑和电路8a、以及分别连接移位寄存器4c与控制电路5c与逻辑和电路8a的各配线围成的区域内形成显示区域2。由此，通过监视逻辑和电路8a的输出OR_out的输出，能够检测在从显示装置100c的基板1c的外周至显示区域2的范围内破损的情况。而且，由于被构成为向控制电路5c输出通过显示区域2内的各配线L输入的n个寄存器3的输出G1_out、G2_out、G3_out、……、Gn-2_out、Gn-1_out、Gn_out的逻辑和OR_out，因此，能够在更早的时机且在更具体的位置检测显示区域2内的破损。

而且，构成了包括TFT基板11c、以及通过与TFT基板11c之间的液晶层与TFT基板11c相对设置的CF玻璃基板12的基板1c，在TFT基板11c上，设置控制电路5c，并形成了包括移位寄存器4c而构成的扫描电路6c以及逻辑和电路8a，在上述构成中，通过在TFT基板11c上形成连接控制电路5c与扫描电路6c和逻辑和电路8a的各配线，能够检测在从TFT基板11c的外周至显示区域2的范围内破损的情况。而且，由于被构成为向控制电路5c输出通过显示区域2内的各配线L输入的n个寄存器3的输出G1_out、G2_out、G3_out、……、Gn-2_out、Gn-1_out、Gn_out的逻辑和OR_out，因此，能够在更早的时机且在更具体的位置检测TFT基板11c上的显示区域2内的破损。

而且，通过将分别连接控制电路5c与扫描电路6c与逻辑和电路8a的各配线中，传输逻辑和电路8a的输出OR_out的配线200d的一部分形成在CF玻璃基板12上的显示区域2的外周部，也能够检测在从CF玻璃基板12的外周至显示区域2的范围内破损的情况。

通过本实施方式，可以提供一种在不导致装置大型化的情况下，能够容易且尽快地检测显示面板的破损的显示装置100c。

另外，在上述例子中，对以把显示区域2和基板1c的外周端隔开的方式设置传输逻辑和电路8a的输出OR_out的配线200d的例子进行了说明，但由于本实施方式的显示装置100c被构成为：向控制电路5c输出通过显示区域2内的各配线L输入的n个寄存器3的输出G1_out、G2_out、G3_out、……、Gn-2_out、Gn-1_out、Gn_out的逻辑和OR_out，因此，不用以把显示区域2和基板1c的外周端隔开的方式设置传输逻辑和电路8a的输出OR_out的配线200d，即能够检测显示区域2内的破损。作为这种构成，可以考虑在显示区域2设置逻辑和电路8a和控制电路5c，在这些电路之间的区域设置配线连接这些逻辑和电路8a和控制电路5c。这种情况下，可以使该配线在显示区域2不形成于外周就能够进行设置。作为这种例子，可以列举在这些逻辑和电路8a及控制电路5c彼此最近的区域之间，或在彼此接近的区域之间设置配线的构成。

图22是示出实施方式的显示装置的应用例的图。在图22所示的例子中，示出了应用实施方式的显示装置100、100a、100b、100c以替代汽车传统的后视镜的例子。

如图22所示，当作为汽车的后视镜9应用了实施方式的显示装置100、100a、100b、100c时，如图22所示，实施方式的显示装置100、100a、100b、100c的显示区域2可以考虑设为非矩形的异形形状。

而且，上述各实施方式的显示装置100、100a、100b、100c不仅仅可用作车载用显示器，例如，也可以用作智能手机等显示装置。而且，除了图22所示的异形形状以外，毫无疑义，也能够形成圆形、椭圆形等各种形状。

以上，对实施方式进行了说明，但本发明并不受上述内容的限定。而且，上述本发明的构成要素中包含本领域技术人员能够容易想到的内容、实质上相同的内容、所谓均等范围内的内容。而且，上述构成要素能够适当地进行组合。此外，只要在不脱离本发明宗旨的范围内，可以进行构成要素的各种省略、替换及变更。