显示设备的制作方法

此申请要求2015年6月16日提交到韩国知识产权局的韩国专利申请10-2015-0085456的优先权和权益，其内容通过引用被整体合并于此。

技术领域

本公开的实施例涉及显示设备。

背景技术：

随着信息技术的发展，作为用户和信息之间的通信介质的显示设备已经变得越来越流行。因此，诸如液晶显示设备或有机发光显示设备之类的显示设备被广泛使用。

一般情况下，显示设备的面板形成在母基底上，通过对母基底进行刻线，面板被分成若干个面板。然而，在切割母基底的过程中，面板的周围可能破裂。因此，期望用于检测显示设备的面板的裂纹的方法。此外，柔性面板被安装在显示设备中，因此期望用于检测柔性面板的裂纹的方法。

技术实现要素：

本公开的实施例提供一种能够检测面板的裂纹的显示设备。

根据本公开的一个或多个实施例的显示设备包括：位于多条扫描线和多条数据线的交叉区域的多个像素；在多条数据线的第一侧耦接至多条数据线的端部并被配置为将多个数据信号供应到多条数据线的数据驱动器；在多条数据线的第二侧耦接至多条数据线的端部并被配置为将多个检查信号供应到多个像素的检查单元；电耦接至检查单元并将面板的第一侧耦接至面板的第二侧的至少一条检测线；以及耦接在检测线和复位电源之间并被配置为响应于第一控制信号而导通的复位晶体管。

根据一个或多个示例性实施例，复位电源的电压可以比从数据驱动器供应的数据信号的电压低。

根据一个或多个示例性实施例，复位电源的电压可以比白色数据信号的电压低。

根据一个或多个示例性实施例，显示设备可以进一步包括被配置为将多个扫描信 号供应到多条扫描线的扫描驱动器。

根据一个或多个示例性实施例，多个像素可以包括：被配置为显示第一颜色的第一像素；被配置为显示第二颜色的第二像素；以及被配置为显示第三颜色的第三像素。

根据一个或多个示例性实施例，第一颜色可以是红色，第二颜色可以是蓝色，并且第三颜色可以是绿色。

根据一个或多个示例性实施例，检查单元可以包括：耦接在检测线的第一侧的端部与耦接至第三像素的特定数据线之间的第一控制晶体管，并且第一控制晶体管可以被配置为响应于第二控制信号而导通；以及耦接在检测线的第二侧的端部与被配置为将检查信号供应到第三像素的第三检查线之间的第二控制晶体管，并且第二控制晶体管可以被配置为响应于第二控制信号而导通。

根据一个或多个示例性实施例，数据驱动器可以被配置为在检查的第一时段期间当第一控制信号被供应时供应白色数据信号，并且在检查的第二时段期间，对应于黑色数据信号的电压可以被供应到第三检查线，并且扫描驱动器可以将多个扫描信号顺序供应到多条扫描线。

根据一个或多个示例性实施例，显示设备可以进一步包括耦接在数据驱动器与多条数据线之间的多路分配器单元，并且多路分配器单元可以包括：耦接至数据线中与第一像素耦接的相应数据线的第一开关元件；耦接至数据线中与第二像素耦接的相应数据线的第二开关元件；以及耦接至数据线中与第三像素耦接的相应数据线的第三开关元件，并且其中第三开关元件可以在第一时段期间导通。

根据一个或多个示例性实施例，检查单元可以包括：耦接在数据线中耦接至第一像素的相应数据线与第一检查线之间并响应于第二控制信号而导通的第一晶体管；耦接在数据线中耦接至第二像素的相应数据线与第二检查线之间并响应于第二控制信号而导通的第二晶体管；以及耦接在数据线中耦接至第三像素的除了特定数据线之外的相应数据线与第三检查线之间并响应于第二控制信号而导通的第三晶体管。

附图说明

在下文中将参考附图更充分地描述示例实施例；然而，本发明可以以不同的形式体现，且不应当被认为限于本文所提出的实施例。相反，提供这些实施例是为了使得本公开全面且完整，并且向本领域技术人员充分地传达示例实施例的范围。

图1是根据本公开的一个或多个示例性实施例的显示设备的示意图。

图2是图1所示的显示设备的显示区域和检查单元的一个或多个示例性实施 例的示意图。

图3是示出了根据本公开的一个或多个实施例的用于检查裂纹的方法的图。

图4A至图4C是示出了根据用于检查裂纹的方法的像素的显示亮度的示意图。

图5是图1所示的显示设备的显示区域和检查单元的一个或多个示例性实施例的示意图。

图6是图1所示的显示设备的显示区域和检查单元的一个或多个示例性实施例的示意图。

图7是示出了根据本公开的一个或多个示例性实施例的显示设备的示意图。

图8是图7所示的显示设备的多路分配器单元的一个或多个示例性实施例的示意图。

图9是示出了根据本公开的一个或多个示例性实施例的用于检查裂纹的方法的图。

具体实施方式

在下文中，参考附图更详细地描述示例实施例，其中在整个附图中，相同的附图标记指代相同的元件。然而，本发明可以以各种不同的形式体现，且不应当被认为仅限于本文示出的实施例。相反，提供这些实施例作为示例是为了使得本公开全面且完整，并且向本领域技术人员充分地传达本发明的方面和特征。因此，对于本领域普通技术人员来说对于完整理解本发明的方面和特征不是必须的过程、元件和技术可能不会描述。除非另有说明，否则在整个附图和书面描述中，相同的附图标记表示相同的元件，因而其描述可能不会重复。在图中，为了清楚，元件、层和区域的相对尺寸可能被夸大了。

将理解的是，虽然词语“第一”、“第二”、“第三”等可在本文中用来描述各种元件、组件、区域、层和/或部分，但是这些元件、组件、区域、层和/或部分不应该受这些词语的限制。这些词语仅用来区分一个元件、组件、区域、层或部分与另一个元件、组件、区域、层或部分。因此，下面描述的第一元件、组件、区域、层或部分可以被称为第二元件、组件、区域、层或部分，而不脱离本发明的精神和范围。

将理解的是，当元件或层被称为在另一元件或层“上”、“连接到”或“耦接到”另一元件或层时，它可以直接在另一元件或层上，直接连接到或直接耦接到另一元件或层，或者可以存在一个或多个中间元件或中间层。另外，还将理解的是，当元件或层被称为在两个元件或两个层“之间”时，它可以是这两个元件 或两个层之间的唯一元件或唯一层，或者也可以存在一个或多个中间元件或中间层。

本文使用的术语仅用于描述特定实施例的目的，并不旨在限制本发明。如本文所用，单数形式的“一”旨在也包括复数形式，除非上下文另有明确说明。将进一步理解的是，当在说明书中使用时，词语“包括”和“包含”指明存在所陈述的特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但不排除存在或添加一个或多个其它特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。如本文所用，词语“和/或”包括相关联的所列项目中的任意项目或一个或多个项目的所有组合。当放在一列元件之前时，诸如“至少一个”的表述修饰的是整列元件，而不是修饰该列中的单独元件。

如本文所用，词语“基本上”、“大约”和类似词语被用作近似的词语，而不是作为程度的词语，并且旨在说明本领域普通技术人员公认的测量值或计算值的固有偏差。此外，当描述本发明的实施例时，使用“可以”指的是“本发明的一个或多个实施例”。如本文所用，词语“使用”和“被用来”可以被认为分别与词语“利用”和“被利用来”同义。另外，词语“示例性”意指示例或例示。

如本文所用，短语“供应信号”是指用于导通接收该信号的晶体管的电压被供应。另外，停止供应信号是指用于截止接收该信号的晶体管的电压被供应。

根据在本文中描述的本发明实施例的电子或电气设备和/或任何其它相关设备或组件可以利用任何合适的硬件、固件(例如专用集成电路)、软件、或者软件、固件和硬件的组合来实现。例如，这些设备的各种组件可以形成在一个集成电路(IC)芯片上或分离的IC芯片上。此外，这些设备的各种组件可以在柔性印刷电路膜、带载封装(TCP)、印刷电路板(PCB)上实现，或者形成在一个基底上。此外，这些设备的各种组件可以是在一个或多个计算设备中用于执行计算机程序指令并与其它系统组件交互以完成本文描述的各种功能的一个或多个处理器上运行的进程或线程。计算机程序指令被存储于在计算设备中可用标准存储器设备实现的存储器中，诸如例如随机存取存储器(RAM)。计算机程序指令也可以被存储在其它的非临时性计算机可读介质中，诸如例如CD-ROM或闪存驱动器等。此外，本领域技术人员应认识到各种计算设备的功能可以被组合或集成到单个计算设备，或特定计算设备的功能可以跨一个或多个其它计算设备分布，而不脱离本发明的示例性实施例的精神和范围。

除非另有定义，本文使用的所有词语(包括技术和科学术语)具有本发明所属领域的普通技术人员所通常理解的相同含义。将进一步理解，例如那些在常用 字典中定义的词语应该被解释为具有与它们在相关领域和/或本说明书的背景中的含义一致的含义，并且将不以理想化或过于正式的意义来解释，除非在本文中明确地如此定义。

图1是根据本公开的一个或多个示例性实施例的显示设备的示意图。

参考图1，根据本公开的一个或多个示例性实施例的显示设备100包括面板102、扫描驱动器110、数据驱动器120、检查单元130、像素部分(也就是显示区域)140和焊盘部分160。

显示区域140包括位于被多条数据线D1至Dm和多条扫描线S1至Sn分割的区域处的多个像素。多个像素包括发射彼此不同颜色的光的第一像素、第二像素和第三像素。多条数据线D1至Dm以第一方向形成，且多条扫描线S1至Sn以第二方向形成。

扫描驱动器110经由焊盘部分160从外部设备接收扫描驱动电源电压VDD和VSS以及扫描控制信号SCS。扫描驱动器110接收扫描驱动电源电压VDD和VSS以及扫描控制信号SCS，并将多个扫描信号供应到多条扫描线S1至Sn。例如，扫描驱动器110可以顺序地将多个扫描信号供应到多条扫描线S1至Sn。在一些实施例中，如图1所示，扫描驱动器110可以耦接到一个焊盘P，但是本公开不限于此。例如，在一些实施例中，扫描驱动器110可以耦接到与扫描驱动电源电压VDD和VSS以及扫描控制信号SCS对应的多个焊盘P。

数据驱动器120在数据线D1至Dm的一侧(例如第一侧)耦接至多条数据线D1至Dm的端部。数据驱动器120经由焊盘部分160从外部设备接收数据Data和数据控制信号DCS。数据驱动器120接收数据Data和数据控制信号DCS，生成与多个扫描信号同步的多个数据信号，并且将生成的数据信号供应到多条数据线D1至Dm。数据驱动器120可形成在面板102中，或者可以被制成集成电路并嵌入面板102中。

检查单元130在数据线D1至Dm的对侧(例如第二侧)耦接至多条数据线D1至Dm的端部。在面板102的检查期间，检查单元130经由焊盘部分160从外部设备接收检查信号。检查单元130接收检查信号，并进行各种类型的检查，包括多个像素的点亮检查。另外，检查单元130可以使用检测线180a和180b检测面板102的裂纹。

焊盘部分160可包括将从外部设备供应的电源电压和/或信号传送到面板102的多个焊盘P。

面板102的非显示区域包括被供应来自焊盘部分160的电源电压和/或信号的 第一导线组150、第二导线组170与检测线180a和180b。

第一导线组150包括第一导线150a、第二导线150b、第三导线150c和第四导线150d。第一导线150a从外部设备接收第一电源电压ELVDD，并且将所接收的第一电源电压ELVDD传送到显示区域140。第二导线150b从外部设备接收第二电源电压ELVSS，并且将所接收的第二电源电压ELVSS传送到显示区域140。

被供应到显示区域140的第一电源电压ELVDD和第二电源电压ELVSS被供应到像素中的每一个。像素中的每一个对应于数据信号而控制从第一电源电压ELVDD供应到第二电源电压ELVSS的电流的量，并且发射光(例如具有预定亮度的光)。这样，第一电源电压ELVDD被设置为比第二电源电压ELVSS的电压值高的电压值。

第三导线150c从外部设备接收数据Data和数据控制信号DCS，并将所接收的数据Data和数据控制信号DCS传送到数据驱动器120。这样，第三导线150c可以包括多条导线。第四导线150d从外部设备接收扫描驱动电源电压VDD和VSS及扫描控制信号SCS，并将所接收的扫描驱动电源电压和扫描控制信号传送到扫描驱动器110。扫描驱动电源电压VDD可被设置为高电压，且扫描驱动电源电压VSS可被设置为低电压。

尽管在图1中第四导线150d被示出为一条导线，但本发明不限于此，且第四导线150d可以包括多条导线。例如，第四导线150d可以包括与第一扫描驱动电源电压VDD、第二扫描驱动电源电压VSS、扫描控制信号SCS的起始脉冲和时钟信号对应的四条或更多条导线。

第二导线组170接收控制信号和检查信号，并且为了检查面板102而将控制信号和检查信号供应到检查单元130。这样，第二导线组170可以包括多条导线。例如，第二导线组170可包括与控制信号、红色检查信号、绿色检查信号和蓝色检查信号对应的四条或更多条导线。

检测线180a和180b被用于检测面板102的裂纹，并被配置为一条或更多条导线。为了便于描述，图1示出了两条检测线180a和180b。检测线180a和180b形成在面板102的外围区域中，并且将面板102的一侧(例如第一侧)耦接至另一侧(例如第二侧)。检测线180a和180b的第一侧的端部和第二侧的端部电耦接至检查单元130。

因为检测线180a和180b将面板102的第一侧耦接至面板102的第二侧，所以检测线180a和180b具有预定的电容和电阻。另外，检测线180a和180b的电阻对应于面板102的裂纹而增大。

换句话说，当在面板102中产生(或形成)裂纹时，裂纹产生(或形成)在形成检测线180a和180b的例如源极/漏极金属的金属中。如果裂纹产生(或形成)在检测线180a和180b中，则检测线180a和180b的电阻增大，因此检测线180a和180b的RC延迟增加。

在根据本公开的一个或多个示例性实施例的显示设备中，如下面进一步描述的，面板102的裂纹可以通过使用检测线180a和180b的电阻的增大来检测。

另外，为了控制多个像素的发光时间，面板102可以进一步包括供应发光控制信号的发光控制驱动器。

图2是图1所示的显示区域140和检查单元130的一个或多个示例性实施例的示意图。

参考图2，显示区域140包括显示第一颜色的第一像素R、显示第二颜色的第二像素B、以及显示第三颜色的第三像素G。例如，第一像素R可以显示红色，第二像素B可以显示蓝色，并且第三像素G可以显示绿色。换句话说，第一颜色可以是红色，第二颜色可以是蓝色，并且第三颜色可以是绿色。

第一像素R、第二像素B和第三像素G分别以列(或以垂直线为单位)布置在显示区域140中。因此，也以列布置的多条数据线D1至Dm中的每一条耦接至第一像素R、第二像素B和第三像素G中的一种像素。在一些实施例中，如图2所示，显示区域140可包括用于显示红色的像素、用于显示绿色的像素和用于显示蓝色的像素。然而，在一些实施例中，显示区域140可以进一步包括用于显示除了红色、绿色和蓝色之外的颜色的像素。

检查单元130包括第一检查线170a、第二检查线170b和第三检查线170c。第一检查线170a、第二检查线170b和第三检查线170c包括在第二导线组170中，并在检查期间分别接收是DC型信号的红色检查信号DC_R、蓝色检查信号DC_B和绿色检查信号DC_G。

第一晶体管M1形成在第一数据线D1、D4、……、Dm-2中的相应数据线和第一检查线170a之间。当接收到第二控制信号CS2时，第一晶体管M1被导通，由此将第一检查线170a电耦接至第一数据线D1、D4、……、Dm-2。第一数据线D1、D4、……、Dm-2是耦接至第一像素R的数据线。

第二晶体管M2形成在第二数据线D3、D6、……、Dm中的相应数据线和第二检查线170b之间。当接收到第二控制信号CS2时，第二晶体管M2被导通，由此将第二检查线170b电耦接至第二数据线D3、D6、……、Dm。第二数据线D3、D6、……、Dm是耦接至第二像素B的数据线。

第三晶体管M3形成在第三数据线D5、……中的相应数据线和第三检查线170c之间。当接收到第二控制信号CS2时，第三晶体管M3被导通，由此将第三检查线170c电耦接至第三数据线D5、……。第三数据线D5、……是耦接至第三像素G的数据线。然而，第三数据线D5、……不包括分别被电耦接至检测线180a和180b的特定数据线D2和Dm-1。

第一控制晶体管MC1a和MC1b被分别耦接在检测线180a和180b的第一侧的端部与特定数据线D2和Dm-1之间。例如，第一控制晶体管中的一个MC1a可以耦接在第一检测线180a和第二数据线D2之间，并且当第一控制晶体管中的一个MC1a接收到(或响应于)第二控制信号CS2时被导通。第一控制晶体管中的另一个MC1b可耦接在第二检测线180b和第m-1数据线Dm-1之间，并响应于第二控制信号CS2被导通。

被分别耦接至检测线180a和180b的特定数据线D2和Dm-1可以被用来检测裂纹，并且可以耦接至具有高可视性的第三像素G。在一些实施例中，如图2所示，特定数据线可以是第二数据线D2和第m-1数据线Dm-1，但本公开不限于此。例如，在一些实施例中，特定数据线可以被选择为耦接至第三像素G的数据线D2、D5、……、Dm-1中的任意一条。另外，在一些实施例中，特定数据线可耦接至第三像素G，但特定数据线可被选择为耦接至第一像素R或第二像素B的数据线D1、D3、D4、D6、……、Dm-2、Dm中的任意一条。

第二控制晶体管MC2a和MC2b耦接在检测线180a和180b的第二侧(例如和第一侧相对的第二侧)的端部与第三检查线170c之间。例如，第二控制晶体管中的一个MC2a可以耦接在第一检测线180a和第三检查线170c之间，并且当它接收到第二控制信号CS2时被导通。第二控制晶体管中的另一个MC2b可耦接在第二检测线180b和第三检查线170c之间，并且当它接收到第二控制信号CS2时被导通。

第一复位晶体管MR1和第二复位晶体管MR2分别耦接在检测线180a和180b与复位电源VR之间。例如，第一复位晶体管MR1可以耦接在第一检测线180a和复位电源VR之间，并且当它接收到第一控制信号CS1时被导通。另外，第二复位晶体管MR2可以耦接在第二检测线180b和复位电源VR之间，并且当它接收到第一控制信号CS1时被导通。

这里，复位电源VR的电压被设置为比数据信号的电压低的电压，例如，比白色数据信号低的电压。例如，复位电源VR的电压可以被设置为第二电源电压ELVSS或第二扫描驱动电源电压VSS。

另外，第一控制信号CS1不与第二控制信号CS2重叠。因此，第一复位晶体管MR1和第二复位晶体管MR2的导通时段与控制晶体管MC1a、MC1b、MC2a和MC2b的导通时段不重叠。

下面描述点亮检查过程。首先，第二控制信号CS2被供应，由此晶体管M1、M2和M3以及控制晶体管MC1a、MC1b、MC2a和MC2b被导通。如果晶体管M1、M2和M3以及控制晶体管MC1a、MC1b、MC2a和MC2b被导通，则检查线170a、170b和170c被分别耦接至多条数据线D1至Dm。

例如，第一检查线170a耦接至第一数据线D1、D4、……、Dm-2，因此，红色检查信号DC_R被供应到第一数据线D1、D4、……、Dm-2。第二检查线170b耦接至第二数据线D3、D6、……、Dm，因此，蓝色检查信号DC_B被供应到第二数据线D3、D6、……、Dm。第三检查线170c耦接至第三数据线D5、……及特定数据线D2和Dm-1。因此，绿色检查信号DC_G被供应到第三数据线D5、……及特定数据线D2和Dm-1。

接下来，响应于来自扫描驱动器110的扫描信号，检查信号DC_R、DC_B和DC_G被供应到像素R、G和B。因此，像素R、G和B发射与检查信号DC_R、DC_B和DC_G对应的光。点亮检查是通用的，并且可以通过本领域已知的各种方法来进行。

图3是示出了根据本公开的一个或多个示例性实施例的用于检查裂纹的方法的图。

参考图3，在裂纹检查时段期间，面板102的裂纹可以被检测到。在裂纹检查时段的第一时段T1期间，白色数据信号DS(W)从数据驱动器120被供应到多条数据线D1至Dm。如果白色数据信号DS(W)从数据驱动器120被供应到多条数据线D1至Dm，则多条数据线D1至Dm的电压被初始化为白色数据信号DS(W)的电压。在一些实施例中，当像素R、G和B的晶体管是PMOS晶体管时，白色数据信号DS(W)被设置为从数据驱动器120供应的数据信号的电压中的最低电压。另外，在第一时段T1期间，数据驱动器120可以仅向耦接至第三像素G的数据线，也就是第三数据线D5、……及特定数据线D2和Dm-1，供应白色数据信号。

另外，在第一时段T1期间，第一控制信号CS1被供应，由此复位晶体管MR1和MR2被导通。当复位晶体管MR1和MR2被导通时，复位电源VR的电压被供应到检测线180a和180b。也就是说，在第一时段T1期间，检测线180a和180b的电压被初始化为复位电源VR的电压。

在裂纹检查时段的第二时段T2期间，第二控制信号CS2被供应。因此，控制 晶体管MC1a、MC1b、MC2a和MC2b、第一晶体管M1、第二晶体管M2和第三晶体管M3被导通。

当第一晶体管M1被导通时，第一检查线170a耦接到第一数据线D1、D4、……、Dm-2，因此检查信号DC_R被供应到第一数据线D1、D4、……、Dm-2。当第二晶体管M2被导通时，第二检查线170b耦接至第二数据线D3、D6、……、Dm，因此检查信号DC_B被供应到第二数据线D3、D6、……、Dm。当第三晶体管M3被导通时，第三检查线170c耦接至第三数据线D5、……，因此检查信号DC_G被供应到第三数据线D5、……。这里，在第二时段T2期间，与黑色数据信号对应的电压作为检查信号DC_R、DC_B和DC_G被供应。

当第一控制晶体管中的一个MC1a和第二控制晶体管中的一个MC2a被导通时，来自第三检查线170c的检查信号DC_G经由第一检测线180a被供应到第二数据线D2。因此，第一检测线180a的电压从复位电源VR的电压增大到检查信号DC_G的电压，也就是黑色数据信号的电压。

当第一控制晶体管中的另一个MC1b和第二控制晶体管中的另一个MC2b被导通时，来自第三检查线170c的检查信号DC_G经由第二检测线180b被供应到第m-1数据线Dm-1。因此，第二检测线180b的电压从复位电源VR的电压增大到检查信号DC_G的电压，也就是黑色数据信号的电压。

同时，在第二时段T2期间，扫描驱动器110将扫描信号顺序供应到多条扫描线S1至Sn。因此，来自多条数据线D1至Dm的黑色数据信号以水平线为单位供应到像素R、G和B(例如以行供应)，因此，像素R、G和B显示黑色的灰度级。另外，在第二时段T2期间，黑色数据信号的电压可以仅被供应到第三检查线170c。

如果面板102中尚未形成裂纹，则在第二时段T2期间，像素R、G和B显示黑色的灰度级，如图4A所示。

然而，如果面板102中已形成裂纹，则耦接至特定数据线D2和/或Dm-1的像素G发射预定灰度级的光，如图4B和/或图4C所示。更具体地说，如果面板102中产生裂纹，则检测线180a和/或180b的电阻增大。如果检测线180a和/或180b的电阻增大，则检测线的电压从复位电源VR的电压增大到黑色数据信号的电压的时间量也增加。

也就是说，当(或如果)面板102中形成裂纹时，检测线180a或180b的电压不会在第二时段T2期间增大到黑色数据信号的电压，因此，耦接至特定数据线D2或Dm-1的像素G不显示黑色的灰度级。因而，根据本公开的一个或多个实施例的显示设备中，在裂纹检查时段期间，面板102的裂纹可以通过利用耦接至特 定数据线D2和Dm-1的像素G的发光状态来检测。

另外，在根据本公开的一个或多个示例性实施例的显示设备中，检测线180a和180b的电压通过复位晶体管MR1和MR2下降到复位电源VR的电压，因而可以保证或提高操作的可靠性。例如，如果复位电源VR的电压在第一时段T1期间没有被供应到检测线180a和180b，则即使面板102中形成裂纹，检测线180a和180b的电压也可以增大到黑色数据信号的电压。

图5是图1所示的显示区域和检查单元的一个或多个示例性实施例的示意图。在图5中，相同的符号或附图标记表示和图2中的元件相同的元件，其附加描述可被省略。

参考图5，在本公开的一些实施例中，检查单元130的第三晶体管M3'可以被配置为双栅晶体管。

更具体地说，被用来检测面板102的裂纹的特定数据线D2和Dm-1中的每一条耦接至两个晶体管MC1a和MC2a，或者MC1b和MC2b。这样，当耦接至第三像素G的、不包括特定数据线D2和Dm-1的第三数据线D5、……中的每一条耦接至第三晶体管M3'中的一个时，点亮检查的可靠性可能降低。换句话说，在点亮检查时，耦接至特定数据线D2和Dm-1的第三像素G可以发射具有与耦接至第三数据线D5、……的像素G发射的光的亮度不同亮度的光。因而，在本公开的一些实施例中，通过将第三晶体管M3'配置为双栅晶体管，耦接至特定数据线D2和Dm-1的第三像素G可以相对于耦接至第三数据线D5、……的像素G具有均匀亮度特性。

图6是图1所示的显示区域和检查单元的一个或多个示例性实施例的示意图。在图6中，相同的符号或附图标记表示和图2中的元件相同的元件，其附加描述可被省略。

参考图6，在本公开的一些示例性实施例中，检查单元130的第一晶体管M1'、第二晶体管M2'和第三晶体管M3'被配置为双栅晶体管。

更具体地说，被用于检测面板102的裂纹的特定数据线D2和Dm-1中的每一条耦接至两个晶体管MC1a和MC2a，或者MC1b和MC2b，除了特定数据线D2和Dm-1之外的数据线耦接至第一晶体管M1、第二晶体管M2或第三晶体管M3。因此，在点亮检查期间，在耦接至特定数据线D2和Dm-1的像素G与耦接至除了特定数据线D2和Dm-1之外的数据线的像素R、G和B之间可能产生亮度偏差。因此，在本公开的一些实施例中，通过将第一晶体管M1'、第二晶体管M2'和第三晶体管M3'配置为双栅晶体管，像素R、G和B可具有均匀亮度特性。

图7是根据本公开的一个或多个示例性实施例的显示设备的示意图。在图7中，相同的符号或附图标记表示和图1中的元件相同的元件，其附加描述可被省略。

参考图7，在一些实施例中，显示设备可以进一步包括耦接在多条数据线D1至Dm和数据驱动器120之间的多路分配器单元190。

多路分配器单元190将由数据驱动器120供应到多条输出线O1至Oi中的各条输出线的多个数据信号供应到多条数据线。例如，多路分配器单元190可单独地将被供应到第一输出线O1的三个数据信号供应到第一数据线D1、第二数据线D2和第三数据线D3。

第一导线组150可进一步包括第五导线150e。第五导线150e可以将来自外部设备的多路复用器控制信号MCS供应到多路分配器单元190。在一些实施例中，第五导线150e可被配置为多条导线。

图8是示出了图7中所示的多路分配器单元的一个或多个实施例的图。如图8所示，在一些实施例中，多路分配器单元190可以包括三个开关元件SW1至SW3，但是本公开不限于此。例如，多路分配器单元190的开关元件可以被配置为两个或更多个开关元件。

参考图8，在一些实施例中，多路分配器单元190可包括第一开关元件SW1、第二开关元件SW2和第三开关元件SW3。

第一开关元件SW1耦接在第一数据线D1、D4、……、Dm-2中的相应数据线和数据驱动器120之间。第一开关元件SW1在它们接收到(或响应于)第一多路复用器控制信号MCS1时被导通。

第二开关元件SW2耦接在第二数据线D3、D6、……、Dm中的相应数据线和数据驱动器120之间。第二开关元件SW2在它们接收到第二多路复用器控制信号MCS2时被导通。

第三开关元件SW3耦接在第四数据线D2、D5、……、Dm-1中的每一条和数据驱动器120之间。第三开关元件SW3在它们接收到第三多路复用器控制信号MCS3时被导通。第四数据线D2、D5、……、Dm-1是指耦接至第三像素G的数据线(也就是第三数据线D5、……及特定数据线D2和Dm-1)。

在一个水平时段期间，第一至第三开关元件SW1至SW3依次或无顺序地导通，并将供应到多条输出线O1至Oi中的每条输出线的三个数据信号供应到三条数据线(例如第一数据线、第二数据线和第四数据线)。

图9是示出了根据本公开的一个或多个示例性实施例的用于检查裂纹的方法 的图。

参考图9，在裂纹检查时段的第一时段T1'期间，第三多路复用器控制信号MCS3由第三开关元件SW3接收，由此导通第三开关元件SW3。这样，在第一时段T1'期间，来自数据驱动器120的白色数据信号DS(W)被供应到第三像素G。另外，在第一时段T1'期间，第一多路复用器控制信号MCS1和第二多路复用器控制信号MCS2可被顺序地供应，从而不与第三多路复用器控制信号MCS3重叠。因此，来自数据驱动器120的白色数据信号被供应到第一像素R、第二像素B和第三像素G。

另外，在第一时段T1'期间，第一控制信号CS1被供应，由此复位晶体管MR1和MR2被导通。当复位晶体管MR1和MR2被导通时，复位电源VR的电压被供应到检测线180a和180b。也就是说，在第一时段T1'期间，检测线180a和180b的电压被初始化为复位电源VR的电压。

在裂纹检查时段的第二时段T2'期间，第二控制信号CS2被供应。当第二控制信号CS2被供应时，控制晶体管MC1a、MC1b、MC2a和MC2b、第一晶体管M1、第二晶体管M2、第三晶体管M3被导通。

当第一晶体管M1被导通时，第一检查线170a耦接至第一数据线D1、D4、……、Dm-2，因此检查信号DC_R被供应到第一数据线D1、D4、……、Dm-2。当第二晶体管M2被导通时，第二检查线170b耦接至第二数据线D3、D6、……、Dm，因此检查信号DC_B被供应到第二数据线D3、D6、……、Dm。当第三晶体管M3被导通时，第三检查线170c耦接至第三数据线D5、……，因此检查信号DC_G被供应到第三数据线D5、……。这里，在第二时段T2'期间，与黑色数据信号对应的电压作为检查信号DC_R、DC_B和DC_G被供应。另外，在第二时段T2'期间，黑色数据信号的电压可以仅被供应到第三检查线170c。

当第一控制晶体管中的一个MC1a和第二控制晶体管中的一个MC2a被导通时，来自第三检查线170c的检查信号DC_G经由第一检测线180a被供应到第二数据线D2。因此，第一检测线180a的电压从复位电源VR的电压增大到检查信号DC_G的电压，也就是黑色数据信号的电压。

当第一控制晶体管中的另一个MC1b和第二控制晶体管中的另一个MC2b被导通时，来自第三检查线170c的检查信号DC_G经由第二检测线180b被供应到第m-1数据线Dm-1。因此，第二检测线180b的电压从复位电源VR的电压增大到检查信号DC_G的电压，也就是黑色数据信号的电压。

同时，在第二时段T2'期间，扫描驱动器110将扫描信号顺序供应到多条扫描 线S1至Sn。因此，来自多条数据线D1至Dm的黑色数据信号以水平线为单位供应到像素R、G和B(例如以行被供应到像素R、G和B)，因此，像素R、G和B显示黑色的灰度级。

当(如果)面板102中尚未形成裂纹，则在第二时段T2'期间，像素R、G和B显示黑色的灰度级，如图4A所示。

然而，当(如果)面板102中已形成裂纹，则耦接至特定数据线D2和/或Dm-1的像素G发射一灰度级(例如预定灰度级)的光，如图4B和/或图4C所示。更具体地说，如果面板102中形成裂纹，则检测线180a和/或180b的电阻增大。如果检测线180a和/或180b的电阻增大，则检测线的电压从复位电源VR的电压增大到黑色数据信号的电压的时间段也增加。

也就是说，当面板102中产生裂纹时，检测线180a或180b的电压不会在第二时段T2'期间增大到黑色数据信号的电压，因此，耦接至特定数据线D2或Dm-1的像素G不显示黑色的灰度级。因而，根据本公开的一个或多个示例实施例，在裂纹检查时段期间，面板102的裂纹可以通过利用耦接至特定数据线D2和Dm-1的像素G的发光状态来检测。

在一些实施例中，如上所述，晶体管可以被配置为PMOS晶体管，但是本公开不限于此。例如，在一些实施例中，晶体管可被配置为NMOS晶体管。

根据依照本公开的一个或多个实施例的显示设备和检查显示设备的方法，面板的裂纹可以通过使用从面板的一侧到面板的另一侧形成的检测线来检测。特别是，在本公开的一些实施例中，复位电压通过使用耦接至检测线的复位晶体管被供应到检测线，由此可以保证裂纹检测的可靠性。

在本文中已经公开了示例实施例，并且尽管使用了特定的术语，但它们仅以一般和描述性的意思被使用和解释，而不是为了限制的目的。在某些情况下，对本领域普通技术人员来说显而易见的是，结合特定实施例描述的特征、特性和/或元件可以单独使用，也可以和结合其它实施例描述的特征、特性和/或元件组合使用，除非另有明确说明。因此，本领域技术人员将理解，可以在不脱离所附权利要求及其等同方案中提出的本发明的精神和范围的情况下，进行形式和细节上的各种改变。