显示装置及其驱动方法与流程

相关申请的交叉引用

于2016年4月25日提交至韩国知识产权局且题为“显示装置及其驱动方法”的第10-2016-0050341号韩国专利申请通过引用以其整体并入本文。

在本文中，本公开涉及显示装置及其驱动方法，并且更具体地，涉及包括有机发光二极管(oled)的显示装置及其驱动方法。

背景技术：

有机电致发光(el)显示装置(显示装置中的一种)通过使用有机el器件(例如，oled)显示图像，其中，有机el器件通过电子和空穴的复合来发光。由于有机el显示装置是自发光的并且无需额外的背光单元，所以有机el显示装置在电力消耗方面是有利的，并且具有优良的响应时间、视角、对比度等。

有机el器件包括阳极、阴极以及布置在阳极与阴极之间的有机发光层。从阴极注入的电子和从阳极注入的空穴在有机发光层中复合以产生激子，并且激子在释放能量时发光。有机发光层具有包括发射层(eml)、电子传输层(etl)和空穴传输层(htl)的多层结构，以通过加强电子/空穴平衡来提高发光效率。有机发光层可另外包括电子注入层(eil)和空穴注入层(hil)。

有机el器件除通过使用根据图像信号的像素电压驱动外，还通过使用电源电压elvdd和电源电压elvss驱动。因此，施加这些电压的电压线或电极设置在有机el显示面板中。

当有机el显示面板由于外部压力等而损坏时，可能在施加像素电压的电压线、扫描线和数据线之间引起短路，并且因此，可能在提供电源电压elvdd和电源电压elvss的电力供应电路与有机el显示面板之间出现过电流。从而过电流可能损坏有机el显示面板，并且例如，过电流可能致使有机el显示面板烧毁。

技术实现要素：

一个或多个实施方式提供显示装置，该显示装置包括显示面板以及错误检测电路，其中，显示面板具有用于接收扫描信号的多个扫描线、用于接收数据信号的多个数据线以及多个像素，多个像素分别连接至多个扫描线和多个数据线，错误检测电路用于接收通过多个扫描线传输的扫描信号，并且基于扫描信号输出错误检测信号。当错误检测信号处于激发电平时，电力不供应至多个像素。

错误检测电路可在多个像素的发光周期期间基于扫描信号输出错误检测信号。

显示装置可包括用于为多个扫描线提供扫描信号的扫描驱动电路，其中，扫描驱动电路电连接至多个扫描线中的每个的一端，并且错误检测电路电连接至多个扫描线中的每个的另一端。

扫描驱动电路可在多个像素的发光周期期间向多个扫描线提供包括测试图案的扫描信号。

扫描信号可以是在多个像素的发光周期期间具有预定频率的脉冲信号。

扫描信号可以是在多个像素的发光周期期间被顺序地激发的脉冲信号。

错误检测电路可将扫描信号中的每个与参考电压比较，并且可根据比较结果激发错误检测信号。

扫描驱动电路和错误检测电路可互相面对，使得显示面板在两者之间。

扫描信号可以是在多个像素的扫描周期期间被顺序地激发的脉冲信号。

显示装置可包括多个掩蔽线，多个掩蔽线与每个扫描线对应并且与每个扫描线平行地延伸，其中，错误检测电路接收通过多个掩蔽线传输的掩蔽信号，并且基于扫描信号和掩蔽信号中的至少一个输出错误检测信号。

掩蔽信号中的每个可在发光周期期间具有与扫描信号之中的对应扫描信号的电平互补的电平。

多个像素中的每个可包括：第一晶体管，连接在多个数据线之中的对应数据线与第一节点之间，并且具有连接至扫描信号之中的对应扫描信号的栅电极；第二晶体管，连接在第一节点与第二节点之间，并且具有连接至掩蔽信号之中的对应掩蔽信号的栅电极；以及发光电路，用于接收第一电源电压和第二电源电压，并且根据第一节点的电压电平发光。

发光电路可包括第一电容器、第二电容器、第三晶体管和有机发光二极管，其中，第一电容器连接在第一电源电压与第二节点之间，第二电容器连接在第二节点与第三节点之间，第三晶体管连接在第一电源电压与第四节点之间，并且具有连接至第三节点的栅电极，有机发光二极管连接在第四节点与第二电源电压之间。

发光电路可包括第四晶体管，第四晶体管连接在第三节点与第四节点之间，并且具有连接至补偿信号的栅电极。

错误检测电路将互相对应的扫描信号和掩蔽信号的总和与参考电压比较，并且根据比较结果激发错误检测信号。

错误检测电路可在多个像素的发光周期期间基于掩蔽信号输出错误检测信号。

用于显示装置的驱动方法，该显示装置包括连接至扫描线的多个像素，驱动方法包括：向扫描线提供扫描信号和/或向掩蔽线提供根据扫描信号的掩蔽信号；将扫描信号和掩蔽信号中的至少一个与参考电压比较；以及基于比较结果激发错误检测信号。

为多个扫描线提供的扫描信号可以是具有预定频率的脉冲信号。

为多个扫描线提供的扫描信号可被顺序地激发。

掩蔽线可连接至像素，并且将扫描信号和掩蔽信号中的至少一个与参考电压比较可包括：将互相对应的扫描信号和掩蔽信号的总和的电压与参考电压比较。

将扫描信号和掩蔽信号中的至少一个与参考电压比较可包括：将扫描信号划分为多个扫描信号组；将多个扫描信号组中的每个组的电压的总和与参考电压比较；以及根据比较结果激发错误检测信号。

驱动方法还可包括在错误检测信号被激发时停止电力供应。

附图说明

通过参照附图详细描述示例性实施方式，特征将对本领域技术人员变得显而易见，在附图中：

图1示出了根据实施方式的显示装置的框图；

图2示出了根据实施方式的、设置用于图1中所示的显示面板的像素配置；

图3通过示例示出了图1中所示的显示装置的操作的时序图；

图4通过示例示出了根据实施方式的图1中所示的错误检测电路的配置；

图5和图6示出了图4中所示的错误检测电路的操作的时序图；

图7示出了根据另一实施方式的图1中所示的错误检测电路的配置；

图8示出了图7中所示的错误检测电路的操作的时序图；

图9示出了根据另一实施方式的图1中所示的错误检测电路的配置；

图10示出了图9中所示的错误检测电路的操作的时序图；

图11示出了根据另一实施方式的图1的错误检测电路的配置；

图12示出了图11中所示的错误检测电路的操作的时序图；

图13示出了根据另一实施方式的图11中所示的错误检测电路的操作的时序图；以及

图14示出了图1中所示的显示装置的操作的流程图。

具体实施方式

现将参照附图在下文中更充分地描述示例性实施方式；然而，这些示例性实施方式可以以不同的形式实施，且不应被理解为限于本文中阐述的实施方式。更确切地，这些实施方式被提供，以使得本公开将是彻底且完全的，并且会将示例性实现方式充分地传达给本领域技术人员。

图1是示出了根据实施方式的显示装置的框图。参照图1，显示装置100包括显示面板110、信号控制电路120、数据驱动电路130、扫描驱动电路140、错误检测电路150、电源电压供应电路160和补偿控制信号电路170。

显示面板110包括多个扫描线sl1至sln、与多个扫描线sl1至sln交叉的多个数据线dl1至dlm以及多个像素px11至pxnm，其中，多个像素px11至pxnm在多个扫描线sl1至sln与多个数据线dl1至dlm互相交叉的区域中。多个扫描线sl1至sln在第一方向dr1上从扫描驱动电路140延伸，并且在第二方向dr2上顺序地平行布置。多个数据线dl1至dlm在第二方向dr2上从数据驱动电路130延伸，并且在第一方向dr1上顺序地平行布置。多个扫描线sl1至sln与多个数据线dl1至dlm互相绝缘。多个掩蔽线ml1至mln分别与多个扫描线sl1至sln对应。多个掩蔽线ml1至mln中的每个布置成与多个扫描线sl1至sln中的对应扫描线相邻。多个像素px11至pxnm中的每个从电源电压供应电路160接收第一电源电压elvdd和第二电源电压elvss。多个像素px11至pxnm中的每个从补偿控制信号电路170接收补偿信号gc。

信号控制电路120接收从外部输入的图像信息ims以及用于控制图像信息ims的显示的输入控制信号。输入控制信号可包括水平同步信号hsync、垂直同步信号vsync和主时钟信号mclk。信号控制电路120输出控制数据驱动电路130的第一控制信号cont1和图像数据信号data、用于控制扫描驱动电路140的第二控制信号cont2、用于控制电源电压供应电路160的第三控制信号cont3、用于控制补偿控制信号电路170的第四控制信号cont4和用于控制错误检测电路150的第五控制信号cont5。

数据驱动电路130响应于来自信号控制电路120的第一控制信号cont1和图像数据信号data输出数据信号d1至dm以驱动多个数据线dl1至dlm。

扫描驱动电路140响应于来自信号控制电路120的第二控制信号cont2输出用于驱动多个扫描线sl1至sln的扫描信号s1至sn和用于驱动多个掩蔽线ml1至mln的掩蔽信号m1至mn。

错误检测电路150基于通过多个扫描线sl1至sln传输的扫描信号s1至sn和通过多个掩蔽线ml1至mln传输的掩蔽信号m1至mn来检测显示面板110是否损坏，并且输出与检测结果对应的错误检测信号det。错误检测信号det可提供至信号控制电路120。错误检测电路150可基于扫描信号s1至sn和掩蔽信号m1至mn两者中任一者输出错误检测信号det。

电源电压供应电路160响应于来自信号控制电路120的第三控制信号cont3供应显示面板110的操作所需的第一电源电压elvdd和第二电源电压elvss。

补偿控制信号电路170响应于来自信号控制电路120的第四控制信号cont4输出补偿信号gc。

图2示出了根据实施方式的、设置用于图1中所示的显示面板的像素配置。参照图1和图2，像素pxij连接至第i扫描线sli和第j数据线dlj。像素pxij包括第一晶体管t1、第二晶体管t2和发光电路111。发光电路111包括第三晶体管t3、第四晶体管t4、第一电容器c1、第二电容器c2和有机发光二极管(oled)。

第一晶体管t1连接在第j数据线dlj与第一节点n1之间，并且具有连接至第i扫描信号si的栅电极。第二晶体管t2连接在第一节点n1与第二节点n2之间，并且具有连接至第i掩蔽信号mi的栅电极。

第一电容器c1连接在第一电源电压elvdd与第二节点n2之间。第二电容器c2连接在第二节点n2与第三节点n3之间。第三晶体管t3连接在第一电源电压elvdd与第四节点n4之间，并且具有连接至第三节点n3的栅电极。第四晶体管t4连接在第三节点n3与第四节点n4之间，并且包括连接至补偿信号gc的栅电极。oled具有连接至第四节点n4的阳极端子和连接至第二电源电压elvss的阴极端子。

图3是通过示例示出图1中所示的显示装置的操作的时序图。参照图1至图3，帧ft包括补偿周期p1、扫描周期p2和发光周期p3，其中，在帧ft期间，图像在显示面板110上显示。

当补偿信号gc在补偿周期p1期间转换成低电平时，第四晶体管t4导通，使得第三节点n3和第四节点n4连接。在这种情况中，通过调整第一电源电压elvdd和第二电源电压elvss的电压电平，可将第三节点n3和第四节点n4的电压重置为预定的电压。也就是说，第三晶体管t3的阈值电压可通过将第三晶体管t3的栅电极、源电极和漏电极的相应电压设定为预定的电压而被补偿。

扫描信号s1至sn在扫描周期p2期间顺序地转换成低电平。在扫描周期p2期间，掩蔽信号m1至mn保持在低电平。第二晶体管t2可在第i掩蔽信号mi处于低电平时保持导通状态。当第i扫描信号si转换成低电平时，第一晶体管t1导通，使得通过第i数据线dli传输的第i数据信号di被存储在第一电容器c1和第二电容器c2中。

当第二电源电压elvss在发光周期p3期间转换成低电平时，oled可由于存储在第一电容器c1和第二电容器c2中的电压而发光。

在发光周期p3内预定的测试周期pt期间，扫描信号s1至sn以预定周期转换成高电平以及转换成低电平。在发光周期p3期间，扫描驱动电路140输出掩蔽信号m1至mn，掩蔽信号m1至mn具有与扫描信号s1至sn的电平互补的电平。例如，当第i扫描信号si转换成低电平时，第i掩蔽信号mi转换成高电平。因此，即使当扫描信号si在发光周期p3期间转换成低电平时，也可防止通过数据线dlj接收到的数据信号dj传输至第二节点n2。

测试周期pt可等于发光周期p3或者比发光周期p3短。图1中示出的错误检测电路150在发光周期p3内的测试周期pt期间基于扫描信号s1至sn和掩蔽信号m1至mn来输出错误检测信号det。

图4通过示例示出根据实施方式的图1中所示的错误检测电路的配置。参照图1和图4，错误检测电路150包括检测电路151和检测信号输出电路152。

检测电路151接收扫描信号s1至sn和掩蔽信号m1至mn，并且输出检测信号sen1至senn。当第五控制信号cont5指示测试周期pt时，检测信号输出电路152响应于检测信号sen1至senn输出错误检测信号det。

更具体地，检测电路151包括分别连接至扫描信号s1至sn的二极管d11至d1n和分别连接至掩蔽信号m1至mn的二极管d21至d2n。二极管d11至d1n和二极管d21至d2n互相对应。二极管d11至d1n和二极管d21至d2n之中一对对应的二极管的输出被求和并且作为检测信号sen1至senn输出。例如，二极管d11和二极管d21的输出被求和并且作为检测信号sen1输出。二极管d1i和二极管d2i的输出被求和并且作为检测信号seni输出。二极管d1n和二极管d2n的输出被求和并且作为检测信号senn输出。当检测信号sen1至senn的全部电压均比参考电压vref1高时，检测信号输出电路152将错误检测信号det反激发(deactivate)为低电平。当检测信号sen1至senn的电压中的至少一个比参考电压vref1低时，检测信号输出电路152将错误检测信号det激发(activate)为高电平。

图5和图6是示出了图4中所示的错误检测电路的操作的时序图。

参照图1、图4和图5，当显示面板110的像素px11至pxnm和扫描线sl1至sln未损坏时，第i扫描信号si的波形和与第i扫描信号si对应的第i掩蔽信号mi的波形在测试周期pt期间具有互补的关系。因此，从检测电路151输出的第i检测信号seni被保持为比预定的参考电压vref1高。由于第i检测信号seni具有比预定的参考电压vref1高的电平，所以检测信号输出电路152输出具有低电平的错误检测信号det。

参照图1、图4和图6，当显示面板110的像素px11至pxnm或扫描线sl1至sln中的至少一个损坏时，第i扫描信号si的波形和与第i扫描信号si对应的第i掩蔽信号mi的波形在测试周期pt期间不具有互补的关系。在这种情况中，从检测电路151输出的第i检测信号seni被保持为比预定的参考电压vref1低。由于第i检测信号seni具有比预定的参考电压vref1低的电平，所以检测信号输出电路152输出具有高电平的错误检测信号det。

信号控制电路120响应于处于高电平的错误检测信号det输出第三控制信号cont3，使得电源电压供应电路160不产生第一电源电压elvdd和第二电源电压elvss。显示面板110的操作在电源电压供应电路160不产生第一电源电压elvdd和第二电源电压elvss时停止。因此，通过防止由显示面板110中的信号线的短路而引起的过电流，保护显示装置100免受诸如起火的风险。

图7示出了根据另一实施方式的、图1中所示的错误检测电路的配置。参照图1和图7，错误检测电路150_1包括检测电路151_1和检测信号输出电路152_1。

检测电路151_1接收掩蔽信号m1至mn，并且输出检测信号senm1至senmn/2。当第五控制信号cont5指示测试周期pt时，检测信号输出电路152_1响应于检测信号senm1至senmn/2输出错误检测信号det。

更具体地，检测电路151_1包括分别连接至掩蔽信号m1至mn的二极管d31至d3n。二极管d31至d3n中一对相邻的二极管的输出被求和并且作为检测信号senm1至senmn/2输出。例如，二极管d31和二极管d32的输出被求和并且作为检测信号senm1输出。二极管d3i-1和二极管d3i的输出被求和并且作为检测信号senmi/2输出。二极管d3n-1和二极管d3n的输出被求和并且作为检测信号senmn/2输出。当检测信号senm1至senmn/2的全部电压均比参考电压vref2高时，检测信号输出电路152_1将错误检测信号det反激发为低电平。当检测信号senm1至senmn/2的电压中的至少一个比参考电压vref2低时，检测信号输出电路152_1将错误检测信号det激发为高电平。

图8是示出了图7中所示的错误检测电路的操作的时序图。

参照图1、图7和图8，当显示面板110的像素px11至pxnm和掩蔽线ml1至mln未损坏时，第i-1掩蔽信号mi-1和第i掩蔽信号mi在测试周期pt期间具有相同的波形。因此，从检测电路151_1输出的第i/2检测信号senmi/2被保持为比预定的参考电压vref2高。当第i-1掩蔽线mli-1或连接至第i-1掩蔽线mli-1的像素pxi1至pxim中的至少一个损坏时，第i-1掩蔽信号mi-1被保持为处于低电平。在这种情况中，由于第i/2检测信号senmi/2具有比预定的参考电压vref2低的电平，所以检测信号输出电路152_1输出具有高电平的错误检测信号det。

图9示出了根据另一实施方式的图1中所示的错误检测电路的配置。参照图1和图9，错误检测电路150_2包括检测电路151_2和检测信号输出电路152_2。

检测电路151_2接收扫描信号s1至sn，并且输出检测信号sens1至sensn/2。当第五控制信号cont5指示测试周期pt时，检测信号输出电路152_2响应于检测信号sens1至sensn/2输出错误检测信号det。

更具体地，检测电路151_2包括分别连接至扫描信号s1至sn的二极管d41至d4n。二极管d41至d4n中一对相邻的二极管的输出被求和并且作为检测信号sens1至sensn/2输出。例如，二极管d41和二极管d42的输出被求和并且作为检测信号sens1输出。二极管d4i-1和二极管d4i的输出被求和并且作为检测信号sensi/2输出。二极管d4n-1和二极管d4n的输出被求和并且作为检测信号sensn/2输出。当检测信号sens1至sensn/2的每个电压都比参考电压vref3高时，检测信号输出电路152_2将错误检测信号det反激发为低电平。当检测信号sens1至sensn/2的电压中的至少一个比参考电压vref3低时，检测信号输出电路152_2将错误检测信号det激发为高电平。

图10是示出了图9中所示的错误检测电路的操作的时序图。

参照图1、图9和图10，当显示面板110的像素px11至pxnm和扫描线sl1至sln未损坏时，第i-1扫描信号si-1和第i扫描信号si在测试周期pt期间具有相同的波形。因此，从检测电路151_2输出的第i/2检测信号sensi/2被保持为比预定的参考电压vref3高。当第i-1扫描线sli-1或连接至第i-1扫描线sli-1的像素pxi1至pxim中的至少一个损坏时，第i-1扫描信号si-1被保持为处于低电平。在这种情况中，由于第i/2检测信号sensi/2具有比预定的参考电压vref3低的电平，所以检测信号输出电路152_2输出具有高电平的错误检测信号det。

当错误检测电路150_2检测显示面板110的损坏时，图2中示出的像素pxij可不包括第二晶体管t2，并且图1中的显示面板110可不包括掩蔽线ml1至mln。

图11示出了根据另一实施方式的图1中所示的错误检测电路的配置。参照图1和图11，错误检测电路150_3包括检测电路151_3和检测信号输出电路152_3。

检测电路151_3接收扫描信号s1至sn，并且输出检测信号senss1至senssn/4。当第五控制信号cont5指示测试周期pt时，检测信号输出电路152_3响应于检测信号senss1至senssn/4输出错误检测信号det。

更具体地，检测电路151_3包括分别连接至扫描信号s1至sn的二极管d51至d5n。二极管d51至d5n中相邻的四个二极管的输出被求和并且作为检测信号senss1至senssn/4输出。例如，二极管d51、d52、d53和d54的输出被求和并且作为检测信号senss1输出。二极管d5n-3、d5n-2、d5n-1和d5n的输出被求和并且作为检测信号senssn/4输出。当检测信号senss1至senssn/4的全部电压均比参考电压vref4高时，检测信号输出电路152_3将错误检测信号det反激发为低电平。当检测信号senss1至senssn/4的电压中的至少一个比参考电压vref4低时，检测信号输出电路152_3将错误检测信号det激发为高电平。

图12是示出了图11中所示的错误检测电路的操作的时序图。

参照图1、图11和图12，扫描驱动电路140向扫描线sl1至sln提供扫描信号s1至sn，其中，扫描信号s1至sn在测试周期pt期间顺序地转换为低电平。当显示面板110的像素px11至pxnm和扫描线sl1至sln未损坏时，检测信号senss1的电压被保持为比预定的参考电压vref4高，其中，检测信号senss1是扫描信号s1、s2、s3和s4的总和。因此，检测信号输出电路152_3输出具有低电平的错误检测信号det。

当连接至扫描线sl1至sl4的像素或扫描线sl1至sl4中的至少一个损坏时，检测信号senss1的电压由于漏泄电流而变为比预定的参考电压vref4低，其中，检测信号senss1是扫描信号s1、s2、s3和s4的总和。在这种情况中，检测信号输出电路152_3输出具有高电平的错误检测信号det。

图13是示出了根据另一实施方式的图11中所示的错误检测电路的操作的时序图。

参照图1、图11和图13，扫描驱动电路140向扫描线sl1至sln提供扫描信号s1至sn，其中，扫描信号s1至sn在扫描周期p2期间顺序地转换为低电平。错误检测电路150_3可响应于第五控制信号cont5在扫描周期p2期间检测显示面板110是否损坏。

当显示面板110的像素px11至pxnm和扫描线sl1至sln未损坏时，检测信号senss1的电压被保持为比预定的参考电压vref4高，其中，检测信号senss1是扫描信号s1、s2、s3和s4的总和。因此，检测信号输出电路152_3输出具有低电平的错误检测信号det。

当连接至扫描线sl1至sl4的像素或扫描线sl1至sl4中的至少一个损坏时，检测信号senss1的电压由于漏泄电流而变为比预定的参考电压vref4低，其中，检测信号senss1是扫描信号s1、s2、s3和s4的总和。在这种情况中，检测信号输出电路152_3输出具有高电平的错误检测信号det。

当使用错误检测电路150_3检测显示面板110的损坏时，图2中示出的像素pxij可不包括第二晶体管t2，并且图1中的显示面板110可不包括掩蔽线ml1至mln。

图14是示出了图1中所示的显示装置的操作的流程图。

参照图1、图3和图14，扫描驱动电路140在测试周期pt期间向扫描线sl1至sln提供包括测试图案的扫描信号s1至sn(s300)。在测试周期pt期间为扫描线sl1至sln提供的扫描信号s1至sn可以是具有预定频率的脉冲信号。在其他情况中，如图12中所示，在测试周期pt期间为扫描线sl1至sln提供的扫描信号s1至sn可以是被顺序地激发为低电平的脉冲信号。在其他情况中，如图13中所示，在扫描周期p2期间为扫描线sl1至sln提供的扫描信号s1至sn可以是被顺序地激发为低电平的脉冲信号。

扫描驱动电路140在测试周期pt期间为掩蔽线ml1至mln提供掩蔽信号m1至mn，其中，掩蔽信号m1至mn具有与扫描信号s1至sn的电压电平互补的电压电平(s310)。例如，当第i扫描信号si转换成低电平时，第i掩蔽信号mi转换成高电平。因此，即使当扫描信号si在发光周期p3期间转换成低电平时，也可防止通过数据线dlj接收到的数据信号dj传输至图2中所示的像素pxij中的第二节点n2。

错误检测电路150接收通过扫描线sl1至sln传输的扫描信号s1至sn和通过掩蔽线ml1至mln传输的掩蔽信号m1至mn。错误检测电路150将扫描信号s1至sn和掩蔽信号m1至mn与参考电压比较(s320)。

例如，如图4和图6所示，当扫描信号si至sn和掩蔽信号mi至mn中互相对应的第i扫描信号si和第i掩蔽信号mi的总和的电压比参考电压vref1低时，激发错误检测信号det(s330)。

可替代地，如图7和图8中所示，扫描驱动电路140在测试周期pt期间在不向扫描线供应扫描信号的情况下(无s300)向掩蔽线ml1至mln提供具有相同波形的掩蔽信号(s310)。当第i-1掩蔽信号mi-1和第i掩蔽信号mi的总和的电压比参考电压vref2低时，激发错误检测信号det(s330)。

还可替代地，如图9和图10中所示，扫描驱动电路140在测试周期pt期间在不供应掩蔽信号的情况下(无s310)向扫描线sl1至sln提供具有相同波形的扫描信号(s300)。当第i-1扫描信号si-1和第i扫描信号si的总和的电压比参考电压vref3低时，激发错误检测信号det(s330)。

又可替代地，如图11至图13中所示，扫描驱动电路140在测试周期pt期间或在扫描周期p2期间在不供应掩蔽信号的情况下(无s310)向扫描线sl1至sln提供被顺序地转换成低电平的扫描信号(s300)。当四个相邻的扫描信号的总和的电压比参考电压vref4低时，激发错误检测信号det(s330)。

信号控制电路120可响应于具有高电平的错误检测信号det输出第三控制信号cont3，使得电源电压供应电路160不产生第一电源电压elvdd和第二电源电压elvss。显示面板110的操作在电源电压供应电路160不产生第一电源电压elvdd和第二电源电压elvss时停止。因此，通过防止由显示面板110中的信号线的短路而引起的过电流，保护显示装置100免受诸如起火的风险。

通过总结与回顾，根据一个或多个实施方式，显示装置可检测显示面板是否损坏。根据一个或多个实施方式，用于显示装置的驱动方法可检测显示面板是否损坏。

在本文中已经公开了示例性实施方式，并且虽然采用了专用术语，但是这些专用术语仅以一般性和描述性的含义使用和解释，并非用于限制的目的。在一些情况中，如将对本申请提交时的本领域普通技术人员显而易见的，除非另外明确地指出，否则结合具体实施方式所描述的特征、特性和/或元件可单独使用，或者可以与结合其他实施方式所描述的特征、特性和/或元件组合使用。因此，本领域技术人员将理解的是，在不背离如所附权利要求中阐述的本发明的精神和范围的情况下，可以做出形式和细节上的各种改变。