显示驱动装置的制作方法

本公开涉及显示装置，更具体地，涉及通过实时反映源驱动器的特性来支持像素特性的精确校正的技术。

背景技术：

通常，显示装置包括显示面板、源驱动器、时序控制器等。

源驱动器将从时序控制器提供的数字图像数据转换成源驱动信号，并将源驱动信号提供给显示面板。源驱动器包括一个芯片，并且可根据显示面板的尺寸和分辨率包括多个芯片。

同时，大面积显示面板可具有像素之间的特性偏差。为了校正特性偏差，源驱动器将像素电压转换成数字数据并将数字数据提供给时序控制器。然而，由于数字数据不仅包括像素特性，而且还包括源驱动器的特性，因此必须除去这些特性。

此外，由于源驱动器的诸如增益和偏移的特性可根据电源电压、温度等而变化，因此需要用于校正源驱动器的特性的过程。

为此，在相关技术中，分配用于校正源驱动器的特性的时间以多次获取用于特定输入值的所有通道的数据，校正源驱动器的特性，然后通过检测像素电压校正像素特性。

然而，上述相关技术的缺点在于校正时间增加，因为相同的校正操作重复至少两次。

此外，在相关技术中，由于用于校正源驱动器的特性的时间和用于校正像素特性的时间的周围环境(温度、电源电压等)可能彼此不同，因此对源驱动器的特性和像素特性的校正精度降低，从而可能发生诸如块模糊的图像问题。

技术实现要素：

各种实施方式涉及能够通过实时反映源驱动器的变化特性来准确地校正像素的特性并缩短校正时间的显示驱动装置。

在实施方式中，显示驱动装置可包括：感测电路，配置成同时感测用于校正显示面板的像素的特性的像素信号和用于校正源驱动器的特性的至少一个参考信号；以及模数转换器，配置成将由感测电路感测到的像素信号和至少一个参考信号转换成像素数据和参考数据，并传输像素数据和参考数据。

在实施方式中，显示驱动装置可包括：第一感测通道单元，配置成感测用于校正显示面板的像素的特性的像素信号；第二感测通道单元，配置成感测用于校正源驱动器的特性的至少一个参考信号；选择单元，配置成根据规定顺序将由第一感测通道单元和第二感测通道单元感测到的像素信号和至少一个参考信号顺序地输出；以及模数转换器，配置成将由选择单元输出的像素信号和至少一个参考信号转换成像素数据和参考数据，并传输像素数据和参考数据。

在实施方式中，显示驱动装置可包括：感测通道单元，其包括用于感测像素信号的感测通道，其中像素信号用于校正显示面板的像素的特性，感测通道中的一些选择性地感测至少一个像素信号和用于校正源驱动器的特性的至少一个参考信号；选择单元，配置成根据规定顺序将由感测通道单元感测到的像素信号和至少一个参考信号顺序地输出；以及模数转换器，配置成将由选择单元输出的像素信号和至少一个参考信号转换成像素数据和参考数据，并传输像素数据和参考数据。

根据本发明的实施方式，同时感测用于校正像素的特性的像素信号和用于校正源驱动器的特性的参考信号，并且同时校正像素的特性和源驱动器的特性，使得能够缩短校正时间并提高校正精度。

此外，能够提高校正精度，使得能够解决诸如块模糊的图像问题。

此外，根据本发明，同时获得用于校正像素的特性的像素信号和用于校正源驱动器的特性的参考信号，使得能够实时反映由于诸如温度和电源电压的周围环境的变化而导致的源驱动器的特性的变化。

附图说明

图1是根据本发明的实施方式的显示驱动装置的框图。

图2是根据本发明的实施方式的图1的感测电路的框图。

图3是根据本发明的另一实施方式的图1的感测电路的框图。

图4是根据本发明的另一实施方式的显示驱动装置的框图。

图5是根据本发明的又一实施方式的显示驱动装置的框图。

具体实施方式

下文中，将参照附图详细描述本发明的实施方式。说明书和权利要求中使用的术语并不局限于常规的词典定义，而是应解释为与本发明的技术构思相一致的含义和概念。

本说明书中描述的实施方式和附图中示出的配置是本发明的优选实施方式，并不代表本发明的整个技术构思。因而，可在提交本申请时提供能够替换实施方式和配置的各种等同物和修改。

图1是根据本发明的实施方式的显示驱动装置的框图。

参照图1，根据本发明的实施方式的显示驱动装置100包括源驱动器sd-ic，该源驱动器sd-ic向显示面板200提供源驱动信号。每个源驱动器sd-ic均包括一个芯片，并且源驱动器sd-ic的数量可根据显示面板200的尺寸和分辨率来决定。在本发明中，为了便于描述，仅示出了一个源驱动器。

作为显示面板200，可使用液晶面板、oled(有机发光二极管)面板等。

显示面板200包括矩阵形式的像素阵列，并且该像素阵列可包括r(红色)像素、g(绿色)像素和b(蓝色)像素且可另外地包括用于亮度改进的w(白色)像素。每个像素均包括发光元件和像素电路，该像素电路向发光元件供应与从显示驱动装置100提供的源驱动信号相对应的电流。像素电路包括驱动晶体管，该驱动晶体管向发光元件提供与源驱动信号相对应的电流。这种驱动晶体管的诸如阈值电压和根据像素位置的迁移率的特性或发光元件的诸如阈值电压的特性可能是不均匀的，或者可能发生亮度不均匀的现象，这取决于驱动晶体管和发光元件随着驱动时间的推移的劣化偏差。

为了校正如上所述的像素的特性，显示驱动装置100感测指示显示面板200的像素的特性的像素信号p<1:n>，将像素信号p<1:n>转换成像素数据d_p，并将像素数据d_p提供给控制器300。在示例中，显示驱动装置100可配置成利用像素信号p<1:n>感测像素电压或像素电流。

与像素信号p<1:n>相对应的像素数据d_p可用于计算驱动晶体管的特性(诸如，阈值电压和迁移率)或发光元件的诸如阈值电压的劣化特性。由于流经发光元件的像素电流根据驱动晶体管的阈值电压和迁移率以及发光元件的阈值电压而变化，因此像素电流可用于计算像素的特性值，并且该像素的特性值可用于补偿数字图像数据。

此外，像素数据d_p可不仅包括像素的特性，而且还包括源驱动器的诸如偏移和增益的特性。因此，本发明公开了在校正像素的特性时支持同时校正源驱动器的特性的显示驱动装置100。

为此，当感测到用于校正像素的特性的像素信号p<1:n>时，本发明的显示驱动装置100同时感测用于校正源驱动器的特性的参考信号ref<1:m>，将像素信号p<1:n>和参考信号ref<1:m>转换成数字数据dout，并向控制器300提供与像素信号p<1:n>相对应的像素数据d_p和与参考信号ref<1:m>相对应的参考数据d_ref。

上述显示驱动装置100包括感测电路30和模数转换器(adc)40，其中，感测电路30感测像素信号p<1:n>和参考信号ref<1:m>，以及模数转换器(adc)40将像素信号p<1:n>和参考信号ref<1:m>转换成像素数据d_p和参考数据d_ref。

感测电路30同时感测用于校正像素特性的像素信号p<1:n>和用于校正源驱动器的特性的参考信号ref<1:m>。这种感测电路30可配置成通过使用单独的感测通道感测参考信号ref<1:m>或通过使用用于感测像素信号p<1:n>的感测通道中的一些来感测参考信号ref<1:m>。参考信号ref<1:m>可限定为相对于诸如温度和电源电压的周围环境的变化具有恒定电平的电压，并且可从外部提供。

在示例中，感测电路30可包括采样和保持电路，并且可包括用于对像素信号p<1:n>采样的采样和保持电路以及用于对参考信号ref<1:m>中的至少一个采样的单独采样和保持电路。可替代地，在感测电路30中，用于对像素信号p<1:n>采样的采样和保持电路中的一些可配置成对至少一个像素信号和参考信号ref<1:m>中的至少一个选择性地采样。

此外，感测电路30可配置成感测一个参考信号ref<1>或两个或更多个参考信号ref<1:m>。控制器300可通过使用与一个参考信号ref<1>相对应的参考数据d_ref来计算源驱动器的偏移值以及通过使用两个或更多个参考信号ref<1:m>来计算源驱动器的偏移值和增益值。

感测电路30根据规定顺序将感测到的像素信号p<1:n>和参考信号ref<1:m>顺序地输出至模数转换器(adc)40。

模数转换器(adc)40将从感测电路30顺序输出的感测到的像素信号p<1:n>和参考信号ref<1:m>分别转换成像素数据d_p和参考数据d_ref，并将像素数据d_p和参考数据d_ref同时提供给控制器300。

控制器300通过使用像素数据d_p来计算像素的特性值，通过使用参考数据d_ref来计算源驱动器的特性值，并通过使用源驱动器的特性值来校正像素的特性值。此外，控制器300通过使用像素的校正的特性值生成补偿数据，并通过使用补偿数据来补偿数字图像数据。

如上所述，本发明的显示驱动装置配置成同时地同时感测能够识别像素的特性的像素信号p<1:n>和能够识别源驱动器的特性的参考信号ref<1:m>，并同时向控制器300提供与像素信号p<1:n>相对应的像素数据d_p和与参考信号ref<1:m>相对应的参考数据d_ref。

根据如上配置的本发明，同时感测用于校正像素的特性的像素信号p<1:n>和用于校正源驱动器的特性的参考信号ref<1:m>，并且同时校正像素的特性和源驱动器的特性，使得能够缩短校正时间并提高校正精度。此外，能够解决诸如块模糊的图像问题。

如上所述，根据本发明，同时获得用于校正像素的特性的像素信号p<1:n>和用于校正源驱动器的特性的参考信号ref<1:m>，使得能够实时反映由于诸如温度和电源电压的周围环境的变化而导致的源驱动器的特性的变化。

图2是根据本发明的实施方式的图1的感测电路30的框图。

参照图2，感测电路30包括第一感测通道单元10、第二感测通道单元20和选择单元50。

第一感测通道单元10感测用于校正显示面板200的像素的特性的像素信号p<1:n>，以及第二感测通道单元20感测从外部提供的参考信号ref<1:m>中的至少一个以校正源驱动器的特性。这样的第一感测通道单元10通过以一对一的方式与显示面板200的感测线相对应的感测通道感测像素信号p<1:n>，以及第二感测通道单元20通过单独提供的感测通道感测参考信号ref<1:m>。

在示例中，第一感测通道单元10和第二感测通道单元20可包括采样和保持电路，并且采样和保持电路的数量可与像素信号p<1:n>的数量和参考信号ref<1:m>的数量相对应。第二感测通道单元20可配置成在第一感测通道单元10感测像素信号p<1:n>的时间与第一感测通道单元10同步地同时感测参考信号ref<1:m>中的至少一个。

选择单元50可配置成根据规定顺序将由第一感测通道单元10和第二感测通道单元20感测到的像素信号p<1:n>和参考信号ref<1:m>顺序地提供给模数转换器(adc)40。

模数转换器(adc)40将由选择单元50顺序输出的像素信号p<1:n>和参考信号ref<1:m>分别转换成像素数据d_p和参考数据d_ref。该像素数据d_p和参考数据d_ref可提供给控制器300。

控制器300通过使用像素数据d_p来计算像素的特性值，通过使用参考数据d_ref来计算源驱动器的特性值，并通过使用源驱动器的特性值来校正像素的特性值。

如上所述，根据本发明，在校正像素的特性时，同时执行对源驱动器的特性的校正，使得能够缩短校正时间。此外，由于获得像素信号p<1:n>和参考信号ref<1:m>的时间彼此一致，因此能够实时反映由于诸如温度和电源电压的周围环境的变化而导致的源驱动器的特性的变化。

在图1和图2的描述中，本实施方式已描述了将与像素信号p<1:n>和参考信号ref<1:m>相对应的像素数据d_p和参考数据d_ref传输至控制器300；然而，像素数据d_p和参考数据d_ref可根据由控制器300请求的数据格式进行计算并可提供给控制器300。在本实施方式的示例中，可将通过根据指示像素的特性的像素数据d_p校正指示源驱动器的特性的参考数据d_ref而获得的计算数据d_cal提供至控制器300(图4中所示)。

图3是根据本发明的另一实施方式的图1的感测电路30的框图。

参照图3，感测电路30包括开关单元60、感测通道单元70和选择单元50。

感测通道单元70可包括以一对一的方式与像素信号p<1:n>相对应的采样和保持电路72，并且在采样和保持电路72之中，一些可配置成对像素信号p<1:n-m>采样以及剩余的一些可配置成对参考信号ref<1:m>采样。即，在图3的实施方式中，在对像素信号p<1:n>采样的采样和保持电路72之中，一些可配置成对像素信号p<1:n-m>采样，以及其它的可配置成选择性地对参考信号ref<1:m>和其它像素信号p<1:n-m+1>采样。

开关单元60将像素信号p<n-m+1:n>和参考信号ref<1:m>选择性地传送至感测通道单元70。开关单元60包括选择器62和选择器64，并响应于规定的控制信号将像素信号p<n-m+1:n>或参考信号ref<1:m>传送至感测通道单元70。

选择单元50可配置成根据规定顺序将由感测通道单元70感测到的像素信号p<1:n-m>和参考信号ref<1:m>顺序地提供给模数转换器(adc)40。

模数转换器(adc)40将由选择单元50顺序输出的像素信号p<1:n-m>和参考信号ref<1:m>分别转换成像素数据d_p和参考数据d_ref。这样的像素数据d_p和参考数据d_ref可提供给控制器300，并且可用于计算像素的特性值和源驱动器的特性值。

如上所述，根据本发明，在校正像素的特性时，同时执行对源驱动器的特性的校正，使得能够缩短校正时间。此外，由于获得像素信号p<1:n>和参考信号ref<1:m>的时间彼此一致，因此能够实时反映由于诸如温度和电源电压的周围环境的变化而导致的源驱动器的特性的变化。

在图1和图3的描述中，本实施方式已描述了将与像素信号p<1:n>和参考信号ref<1:m>相对应的像素数据d_p和参考数据d_ref传输至控制器300；然而，像素数据d_p和参考数据d_ref可根据由控制器300请求的数据格式进行计算并可提供给控制器300。在本实施方式的示例中，可将通过根据指示像素的特性的像素数据d_p校正指示源驱动器的特性的参考数据d_ref而获得的计算数据d_cal提供至控制器300(图4中所示)。

图4是根据本发明的另一实施方式的显示驱动装置的框图。

参照图4，根据本发明的实施方式的显示驱动装置100包括感测电路30、模数转换器(adc)40和校正计算单元80。

感测电路30同时感测用于校正显示面板200的像素的特性的像素信号p<1:n>和用于校正源驱动器的特性的参考信号ref<1:m>。如图2中所示，这样的感测电路30可配置成通过以一对一的方式与显示面板200的感测线相对应的感测通道来感测像素信号p<1:n>，以及通过单独提供的感测通道感测参考信号ref<1:m>。可替代地，如图3中所示，感测电路30可配置成通过使用以一对一的方式与显示面板200的感测线相对应的感测通道中的一些感测参考信号ref<1:m>。

模数转换器(adc)40将由感测电路30感测到的像素信号p<1:n>和参考信号ref<1:m>分别转换成像素数据d_p和参考数据d_ref。与像素信号p<1:n>相对应的像素数据d_p可用于计算像素电路中的驱动晶体管的特性(诸如，驱动晶体管的阈值电压和迁移率)和像素电路中的发光元件的诸如阈值电压的劣化特性。由于流经发光元件的像素电流根据驱动晶体管的阈值电压和迁移率以及发光元件的阈值电压而变化，因此如同上述的，像素电流可用于计算像素的特性值。与参考信号ref<1:m>相对应的参考数据d_ref可用于计算源驱动器的诸如偏移和增益的特性值。

校正计算单元80计算像素数据d_p和参考数据d_ref，以便与由控制器300请求的格式相对应，并将计算数据d_cal提供给控制器300。在示例中，校正计算单元80可配置成通过使用指示像素的特性的像素数据d_p和指示源驱动器的特性的参考数据d_ref来生成通过根据像素的特性校正源驱动器的特性而获得的计算数据d_cal，并向控制器300提供通过校正源驱动器的特性而获得的计算数据d_cal。

控制器300通过使用从校正计算单元80接收的计算数据d_cal来计算像素的特性值，生成与像素的特性值相对应的补偿数据，并通过使用补偿数据来补偿数字图像数据。控制器300通过使用通过校正源驱动器的特性而获得的计算数据d_cal来生成用于校正像素的特性的补偿数据，使得能够简化校正所需的逻辑并缩短校正时间。

图5是根据本发明的另一实施方式的显示驱动装置的框图。

参照图5，根据本发明的实施方式的显示驱动装置100包括感测电路30、模数转换器(adc)40、校正计算单元80和传送单元90。

感测电路30同时感测用于校正显示面板200的像素的特性的像素信号p<1:n>和用于校正源驱动器的特性的参考信号ref<1:m>。如图2中所示，这样的感测电路30可配置成通过以一对一的方式与显示面板200的感测线相对应的感测通道来感测像素信号p<1:n>，以及通过单独提供的感测通道感测参考信号ref<1:m>。可替代地，如图3中所示，感测电路30可配置成通过使用以一对一的方式与显示面板200的感测线相对应的感测通道中的一些感测参考信号ref<1:m>。

模数转换器(adc)40将由感测电路30感测到的像素信号p<1:n>和参考信号ref<1:m>分别转换成像素数据d_p和参考数据d_ref。与像素信号p<1:n>相对应的像素数据d_p可用于计算像素电路中的驱动晶体管的特性(诸如，驱动晶体管的阈值电压和迁移率)和像素电路中的发光元件的诸如阈值电压的劣化特性。由于流经发光元件的像素电流根据驱动晶体管的阈值电压和迁移率以及发光元件的阈值电压而变化，因此如同上述的，像素电流可用于计算像素的特性值。与参考信号ref<1:m>相对应的参考数据d_ref可用于计算源驱动器的诸如偏移和增益的特性值。

校正计算单元80计算像素数据d_p和参考数据d_ref，以便与由控制器300请求的格式相对应。在示例中，校正计算单元80可通过使用指示像素的特性的像素数据d_p和指示源驱动器的特性的参考数据d_ref来生成通过根据像素的特性校正源驱动器的特性而获得的计算数据d_cal。

传送单元90将计算数据d_cal传送给控制器300或将像素数据d_p和参考数据d_ref传送给控制器300。这样的传送单元90可设置成响应于控制器300的请求传送计算数据d_cal或者像素数据d_p和参考数据d_ref。

当从传送单元90接收到计算数据d_cal时，控制器300通过使用计算数据d_cal来计算像素的特性值，生成与像素的特性值相对应的补偿数据，并通过使用补偿数据来补偿数字图像数据。可替代地，当从传送单元90接收到像素数据d_p和参考数据d_ref时，控制器300通过使用像素数据d_p和参考数据d_ref来计算像素特性值和源驱动器特性值，通过使用像素的特性值和源驱动器的特性值来生成补偿数据，并通过使用补偿数据来补偿数字图像数据。

如上所述，根据本发明的显示驱动装置，同时感测用于校正像素的特性的像素信号p<1:n>和用于校正源驱动器的特性的参考信号ref<1:m>，将像素信号p<1:n>和参考信号ref<1:m>转换成像素数据d_p和参考数据d_ref，并且将通过像素数据d_p和参考数据d_ref的计算通过根据像素的特性校正源驱动器的特性而获得的计算数据d_cal提供给控制器300，使得能够简化控制器300的校正数据生成所需的逻辑(计算)，缩短校正时间，提高校正精度。

如上所述，根据本发明，同时获得用于校正像素的特性的像素信号p<1:n>和用于校正源驱动器的特性的参考信号ref<1:m>，使得能够实时反映由于诸如温度和电源电压的周围环境的变化而导致的源驱动器的特性的变化。

虽然上文已描述了各种实施方式，但是本领域技术人员将理解，所描述的实施方式仅是示例性的。因此，不应基于所描述的实施方式来限制本文描述的公开内容。