电光学装置、修正值决定方法和电子仪器的制作方法

专利名称：电光学装置、修正值决定方法和电子仪器的制作方法
技术领域：
本发明涉及修正发光元件等电光学元件的光量(功率)的技术。
背景技术：
在排列多个电光学元件的电光学装置中，各电光学元件的特性或驱动 它的有源元件的特性的误差(与设计值的不同或各元件之间的偏移)引起
的光量的不均匀成为问题。在专利文献1或专利文献2中描述通过修正对 各发光元件供给的电能，消除各光量的不均匀的技术。例如，非修正时的 各发光元件的光量如图20那样在范围A 0内偏移时，对光量少的发光元件 (例如光量PO一a的发光元件El)供给的电能比光量多的发光元件(例如 光量P0—b的发光元件)E2的电能增加，把电光学装置的使用开始的时刻 TA的全部发光元件的光量调整为给定值Pave。特开2002-144634号公报特开2005-081696号公报

发明内容
可是，电光学元件(特别是有机发光二极管元件等发光元件)由于电 能的供给，随时间恶化。越供给高的电能的电光学元件，越促进恶化，所 以如图20所示那样修正光量时，非修正时的光量少的发光元件E1 (即在 电能增加的方向修正的发光元件)比非修正时的光量多的发光元件E2更 迅速恶化。因此，在专利文献1和专利文献2的结构中，存在各发光元件 的特性的误差随时间扩大的问题。例如，象图20那样，全部发光元件的 光量在时刻TA均匀化，发光元件El和发光元件E2的光量的不同在从时 刻TA经过给定时间的时刻TB扩大到A 1，有时比不修正电能时的范围A O还大。考虑以上的事情，本发明的目的在于，解决跨长时间抑制各电光
学元件的光量的不均匀的课题。
为了解决以上的课题，本发明是一种方法，对按照灰度值和修正值， 控制光量的多个电光学元件，分别决定所述修正值，包括测定在分别指 定了相同的灰度值时的所述各电光学元件的光量的光量测定过程(例如，图 7的步骤S10);在光量测定过程中测定第一光量(例如图5的光量P0[V]) 的电光学元件中指定给定的灰度值时的修正后的光量(例如图5的光量
PC[v])超过在光量测定过程中测定超过第一光量的第二光量(例如图5 的光量P0[u])的电光学元件中指定给定的灰度值时的修正后的光量(例 如图5的光量PC[u])地对多个电光学元件，决定修正值的修正值决定过 程(例如，图7的步骤S20)。
在以上的方法中，测定为第一光量的电光学元件的修正后的光量超过 测定为超过第一光量的第二光量的电光学元件的修正后的光量地决定各 电光学元件的修正值。因此，与把各电光学元件的光量修正为相同值的以 往的结构相比，能跨长时间抑制各电光学元件的光量的不均匀。
本发明的电光学元件是根据电流的供给或电压的外加等电的作用(电 能的赋予)，光量变化的元件。可是，本发明特别适合于按照赋予的电能， 特性的恶化的形态(恶化的速度)不同的元件(在典型上，有机发光二极 管元件等发光元件)的光量的修正。
在本发明的修正值决定过程中，对多个电光学元件分别指定给定的灰 度值时的修正后的光量分布的范围(例如图4或图5的范围AC)比光量 测定过程中对多个电光学元件分别指定给定的灰度值时测定的光量分布 的范围(例如图4或图5的范围AO)还窄地对各电光学元件，决定修正 值。根据该形态，能抑制修正后的光量分布的范围，所以能可靠地降低各 电光学元件的光量的分布。
修正值决定方法包含根据光量测定过程中测定的各电光学元件的光 量设定基准光量的过程(例如，图9的步骤21)，在修正值决定过程中， 在光量测定过程中测定的光量超过基准光量的电光学元件的修正后的光 量低于该基准光量，在光量测定过程中测定的光量低于基准光量的电光学 元件的修正后的光量超过该基准光量地对各电光学元件，决定修正值。基 准光量例如是光量测定过程中测定的各电光学元件的光量的平均值
(Pave)。根据以上的形态，修正后的各电光学元件的光量在超过基准光 量的范围和低于基准光量的范围的双方中分布，所以与全部发光元件的光 量只在低于基准光量的范围中分布的结构相比，跨修正的前后，多个电光 学元件的全体的光量大幅度变化的可能性降低。例如，能解决修正后的电 光学元件的全体的光量与修正前相比显著下降的问题。
在本发明的其他形态的修正值决定过程中，对光量测定过程中测定的 光量位于给定范围(例如从图17的光量P0A到光量P0B的范围)内的各 电光学元件指定给定的灰度值时的修正后的光量成为相同值(在图17的 例示中，光量Pave)地对多个电光学元件，分别决定修正值。根据以上的 形态，关于位于给定范围内的各电光学元件，修正后的光量均匀化，所以 与全部电光学元件修正为个别的光量的形态相比，能抑制各电光学元件的 光量的不均匀。
本发明也确定为用以上的方法决定修正值的装置(修正值决定装置)。 修正值决定装置具有测定在分别指定相同的灰度值时的所述各电光学元 件的光量的光量测定部件(例如图6的传感器57)、对光量测定部件测定 第一光量的电光学元件指定给定的灰度值时的修正后的光量超过光量测 定部件测定超过所述第一光量的第二光量的电光学元件中指定所述给定 的灰度值时的修正后的光量地对多个电光学元件，决定修正值的修正值决 定部件(例如图6的控制部51)。根据以上的结构，能取得与本发明的修 正值决定方法相同的作用和效果。
此外，本发明也确定为根据由以上的方法决定的修正值，修正各电光 学元件的光量的电光学装置。本发明的电光学装置具有多个电光学元件、 把多个电光学元件分别控制在与修正值和灰度值对应的光量的驱动部件、 对各电光学元件存储修正值的存储部件，选定存储部件中存储的各修正 值，从而指定给定的灰度值时变为第一光量的电光学元件的修正后的光量 超过指定给定的灰度值时变为超过第一光量的第二光量的电光学元件的 修正后的光量。根据本发明的方法，能跨长期间抑制各电光学元件的光量 的不均匀，所以能使电光学装置长寿命化。
须指出的是，在通过驱动电流的供给，控制电光学元件的结构中，可 以按照修正值，调整驱动电流的电流值和脉冲宽度的任意一个(例如图1
或图12)，也可以按照修正值，调整驱动电流的电流值和脉冲宽度双方(例
如图15)。
本发明的电光学装置也在各种电子仪器中利用。本发明的电子仪器的 典型例是在感光体磁鼓等像担持体的曝光中利用以上各形态的电光学装
置的电子照相方式的图像形成装置。图像形成装置包含由曝光形成潜像 的像担持体；把像担持体曝光的本发明的电光学装置；通过对像担持体的 潜像附加显影剂(例如粉末)，形成显像的显影器。在扫描仪等图像读取 装置中，能在原稿的照明中利用本发明的电光学装置。该图像读取装置具 有以上各形态的电光学装置、把从电光学装置出射并且由读取对象(原稿) 反射的光变换为电信号的光敏装置(例如CCD (Charge Coupled Device) 元件等光敏元件)。把电光学元件排列为矩阵状的电光学装置也作为个人 电脑和移动电话等各种电子仪器的显示装置使用。


下面简要说明附图。
图1是表示实施例1的电光学装置的结构的框图。
图2是表示驱动信号的波形和电光学元件的动作的关系的定时图。
图3是表示单位电路的结构的框图。
图4是表示修正后的光量的时间经过变化的曲线图。
图5是表示修正前后的电光学元件的光量关系的曲线图。
图6是表示修正值决定装置的结构的框图。
图7是表示决定修正值的步骤的程序流程图。
图8是表示初始光量测量处理的步骤的程序流程图。
图9是表示修正值决定处理的步骤的程序流程图。
图IO是表示修正后光量测定处理的步骤的程序流程图。
图11是用于说明实施例的效果的数表。
图12是用于说明实施例的效果的曲线图。
图13是表示实施例2的电光学装置的结构的曲线图。
图14是表示驱动信号的波形和电光学元件的动作的关系的定时图。
图15是表示变形例的电光学装置的结构的框图。
图16是表示修正的前后的电光学元件的光量关系的曲线图。
图17是表示修正的前后的电光学元件的光量关系的曲线图。
图18是表示修正的前后的电光学元件的光量关系的曲线图。
图19是表示图像形成装置的具体形态的剖视图。
图20是表示以往的结构的修正后光量的时间经过的变化的曲线图。
符号的说明。
D—电光学装置；20—头模块；22—发光部；E—电光学元件；24—接 口电路；26—驱动电路；U—单位电路；261 —电流生成电路；263—脉冲 控制电路；28—存储部；30—控制器；31—控制部；33—存储部；35—电 流值设定部；50—修正值决定装置；51—控制部；53—接口电路；55—存
储部；57—传感器。
具体实施例方式
<A:实施例1>
图1是表示本发明实施例1的电光学装置的结构的框图。电光学装置
D作为把感光体磁鼓曝光的曝光装置(行头)在电子照相方式的图像形成 装置中采用。如图l所示，电光学装置D包含把与所需的图像对应的光线 向感光体磁鼓放射的头模块20、控制头模块20的动作的控制器30。头模 块20和控制器30例如通过柔性电路板(省略图示)电连接。
头模块20包含发光部22、接口电路24、驱动电路26和存储部28。 在发光部22，沿着主扫描方向，n个(n是自然数)电光学元件E排列为 直线状。本实施例的电光学元件E是在相互相对的阳极和阴极之间存在有 机EL (Electroluminescence)材料的发光层的有机发光二极管元件。接口 电路24把控制器30和驱动电路26之间收发的数据中继。
驱动电路26是驱动各电光学元件E的部件，分别包含与不同的电光 学元件E对应的n个单位电路U。须指出的是，驱动电路26可以由一个 或多个IC芯片构成，由与各电光学元件E —起形成在衬底的表面上的多 个有源元件(例如半导体层由低温多晶硅形成的薄膜晶体管)构成。
第i级(i是满足l^i^n的整数)的单位电路U生成驱动信号Xi，向 第i级的电光学元件E输出。如图2所示，驱动信号Xi是跨成为电光学
元件E的控制单位的期间(以下称为"单位期间")Tu中与灰度值G对应
的脉冲宽度WG，成为电流值I[i],在残余的期间中，电流值变为0的电 流信号。由从控制器30通过接口电路24供给的数字数据对各单位电路U 指定电流值I[i]和灰度值G(脉冲宽度WG)。
图3是表示各单位电路U (这里，第i级的单位电路U)的结构的框图。 如图3所示，单位电路U包含电流生成电路261和脉冲控制电路263。电 流生成电路261是从控制器30取得、保持指定电流值I[i]的数据，并且 生成该电流值Ki]的电流C的DAC (Digital to Analog Converter)。脉 冲控制电路263跨单位期间Tu中与灰度值G对应的脉冲宽度WG，对电光 学元件E输出电流C，在此外的期间中停止电流C的输出。
如图2所示，第i级的电光学元件E以与电流值I[i]成比例的强度(发 光强度)，跨脉冲宽度WG发光，如果驱动信号Xi的电流值下降到0，就熄 灭。因此，电光学元件E控制为与电流值I[i]和灰度值G对应的光量(功 率)PC[i]。本说明书的电光学元件E的光量是发光的期间内的强度(发 光强度)的积分值。
图1的存储部28是对构成发光部22的n个电光学元件E，存储修正 值A[l]~ A[n]的部件。EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)等非易失性存储器适合作为存储部28采用。修正值 A[i]是指定修正第i级的电光学元件E的光量的程度的数值，在制造电光 学装置D的步骤中写入存储部28中。后面描述修正值A[l]~ A[n]的技术 的意义和决定它的方法。
如图1所示，控制器30包含控制部31、存储部33和电流值设定部 35。控制部31在电光学装置D的电源接通之后，从头模块20的存储部 28读出修正值A[l] A[n]，存储到存储部33 (例如RAM (Random Access Memory)。电流值设定部35是根据修正值A[i]设定各单位电路U的电流 值I[i]的部件。本实施例的电流值设定部35如图2所示，对全部单位电 路U，根据修正值A[l]~ A[n]，修正公共的初始值10，计算电流值I[l]~ I[n]。 如果进一步详细描述，则电流值设定部35把初始值10和修正值A[i]的相 乘值作为电流值I[i]计算(I[i]=A[i]XI0)。电流值设定部35计算的电 流值I[i]通过接口电路24对第i级的单位电路U (电流生成电路261)指定。
下面说明决定修正值A[1卜A[n]的方法的概要。在图4的部分(a)， 图示在非修正时对各电光学元件E指定灰度值GO时的各光量P0。非修正 时是不执行与修正值A[l] A[n]对应的光量的修正的时候(即各单位电路 U的电流C设定为初始值10的时候)。在各电光学元件E的特性或构成各 单位电路U的有源元件的特性中存在误差，所以如图4的部分(a)所示， 非修正时的各电光学元件E的光量P0与所需值不一致，在从最小值P0_a 到最大值P0j3的范围A0内分散地分布。图4的部分(a)的光量Pave是 n个电光学元件E的光量P0(P0[l] P0[n])的平均值(以下称作基准光量)。
图5是表示非修正时的电光学元件E的光量PO (横轴)和修正后的 电光学元件E的光量PC (纵轴)的关系的曲线图。图5的光量P0和光量 PC与图4同样，是对各电光学元件E指定相同的灰度值GO时的光量。须 指出的是，在图5中，基准光量为"1"，把各电光学元件E的光量(PO， PC)标准化。此外，在图4的部分(b)中图示修正后的各电光学元件E 的光量PC的时间经过的变化。
修正值A[l] A[n]如图4的部分(b)和图5所示，选定为修正后的光 量PC分布的范围A C(宽度b)比非修正时的光量PO分布的范围A 0 (宽度 a)还窄(b<a)。即由与修正值A[l] A[n]对应的修正后的电流值I[l] I[n] 驱动各电光学元件E时的光量PC的偏移比非修正时的光量PO的偏移更 抑制。
本实施例的修正值A[l] A[n]如图5所示，选定为非修正时的光量PO 越多的电光学元件E，修正后的光量PC越少。例如如图5所示，如果假 定第u级(u是满足l^u^n的整数)的电光学元件E的非修正时的光量 PO[u]超过第v级(v是满足v共u， lSv^n的整数)的电光学元件E的非 修正时的光量PO[v]时，第u级的电光学元件E的修正后的光量PC[u]低 于第v级的电光学元件E的修正后的光量PC[v]。
如果详细描述，则非修正时的光量PO超过基准光量Pave的电光学元 件E的修正后的光量PC低于基准光量Pave，非修正时的光量PO低于基 准光量Pave的电光学元件E的修正后的光量PC超过基准光量Pave。此 外，关于非修正时的光量PO是基准光量Pave的电光学元件E，修正后的
光量PC也变为基准光量Pave。如上所述，通过选定修正值A[1] A[n]， 如图4的部分(b)的纵轴所示，开始使用电光学装置D的时刻TA的修 正后的光量PC分布在从修正光量PO一a的光量PC^a (最大值)到修正光 量PO一b的光量PC—b (最小值)的范围AC内。
从图5可以理解，位于第i级的电光学元件E的非修正时的光量PO[i] 和修正后的光量PC[i]满足以下的表达式(1)。
PC[i]= (-b/a) XPO[i]+{ (a+b) /a)XPave…(1)
此外，电光学元件E的光量与驱动信号Xi的电流值成比例(参照图2)， 所以非修正时的光量PO[i]以及初始值10和修正后的光量PC[i]以及电流值 I[i]满足以下的表达式(2)。
I[i]/IO=PC[i]/PO[i] (2)
本实施例的电流值I[i]是初始值IO和修正值A[i]的相乘值。因此，从 表达式(2)的关系用以下的表达式(3)计算修正值A[i]。 A[i]=PC[i]/PO[i]…(3)
满足以上的条件地选定修正值A[l] A[n]，所以如图4的部分(b)所 示，从开始使用电光学装置D的时刻TA到时刻TC，随时间经过，各电 光学元件E的修正后的光量PC[i]的偏移缩小，从经过时刻TC的时刻开始 扩大。因此，与从时刻TA开始，光量的偏移随时间经过而继续扩大的图 20的结构相比，能抑制时刻TB的各电光学元件E的光量PC[l] PC[n]的 偏移(Al)。换言之，光量PC[l] PC[n]的偏移超过允许范围之前的时间 长期化，所以能充分确保电光学装置D的寿命。
下面，参照图6，说明决定修正值A[l] A[n]的装置(以下，称作"修 正值决定装置")的结构。修正值决定装置50是根据测定处于控制器30 的安装前的阶段的头模块20的电光学元件E的光量PO[l] PO[n]的结果， 决定修正值A[l] A[n]的装置，包含控制部51、接口电路53、存储部55、 传感器57。
控制部51 (例如CPU (Central Processing Unit)通过执行程序，执行 各种处理。控制部51通过接口电路53与头模块20电连接。存储部55 (例 如RAM(Random Access Memory)存储控制部51生成的各种数据。传感器 57是把与受光量对应的信号对控制部51输出的光敏元件(例如 CCD(Charge Coupled Device)。传感器57配置在头模块20的上方，并且能 沿着各电光学元件E的排列移动。
图7是表示控制部51执行的处理的概要的程序流程图。如图7所示， 控制部51按顺序执行初始光量测定处理(步骤SIO)、修正值决定处理(步 骤S20)和修正后光量测定处理(步骤S30)。初始光量测定处理是测定各 电光学元件E的非修正时的光量PO[l] PO[n]的处理(图8)。修正值决定 处理是从由初始光量测定处理测定的光量P0[1] P0[n]决定修正值A[l]-A[n]的处理(图9)。修正后光量测定处理是判定由修正值决定处理决定的 修正值A[l] A[n]是否合适的处理(图IO)。各处理的内容如下所述。
(a) 初始光量测定处理(S10/图8)
如图8所示，如果开始初始光量测定处理，控制部51就把传感器57 移动到给定的位置(例如第一级的电光学元件E的上方)(步骤Sll)，对 各单位电路U的电流生成电路261指定初始值IO (步骤S12)。接着，控 制部51把用于识别一个电光学元件E的变量k初始化为"l"(步骤S13)。
接着，控制部51对驱动电路26输出灰度值G0，驱动第k级的电光 学元件E (步骤S14)。传感器57输出在步骤S14中从电光学元件E接受 的光量所对应的信号。控制部51根据该信号，测定第k级的电光学元件E 的光量PO[k]，存储到存储部55 (步骤S15)。控制部51判定变量k是否 与电光学元件E的总数n为相同值(即对全部的电光学元件E，是否执行 了步骤S14和S15的处理)(步骤S16)。在变量k低于总数n时，控制部 51更新变量k，选择其它电光学元件E (步骤S17)，把传感器57移动到 与新选择的电光学元件E对应的位置(步骤S18)，重复步骤S14和S15 的处理。因此，在步骤S16的判定结果变为肯定的阶段(k=n)，如图6所 示，把光量P0[l] P0[n]存储到存储部55。
(b) 修正值决定处理(S20/图9)
如图9所示，如果开始修正值决定处理，控制部51就把初始光量测 定处理中测定的光量PO[l] PO[n]的平均值作为基准光量Pave计算(步骤 S21)。此外，控制部51把变量k初始化为1 (步骤S22)。
接着，控制部51对初始光量测定处理中测定光量P0[k]和步骤S21中 计算的基准光量Pave，执行表达式(1)的计算，计算修正后的光量PC[k]
(步骤S23)。如图6所示，把光量PC[k]存储到存储部55。控制部51把 表达式(1)的数值a (光量PO的变动幅度)确定为光量PO[l] PO[n]的最 大值和最小值的差分值。此外，按照作业者的操作，预先决定数值b是比 数值a小的数值。
接着，控制部51对光量PO[k]和步骤S23中计算的光量PC[k]，执行 表达式(3)的计算，决定修正值A[k]，存储到存储部55 (步骤S24)。控 制部51如果依次选择未处理的电光学元件E，重复步骤S23和S24的处 理(步骤S25、 S26)，对n个电光学元件E，计算修正值A[l] A[n]，就结 束修正值决定处理(步骤S25: Yes)。
(c)修正后光量测定处理(S30/图10)
如果开始修正后光量测定处理，控制部51就使传感器57移动到第一 级的电光学元件E的上方(步骤S31)。然后，控制部51把根据修正值决 定处理中决定的修正值A[l] A[n]修正初始值10的电流值1[1] 1[n]对驱动 电路26的各单位电路U指定(步骤S32)。因此，第i级的单位电路U的 电流生成电路261开始生成电流值I[i]的电流C。控制部51把变量k初始 化为"1"(步骤S33)。
接着，控制部51与初始光量测定处理的步骤S14 S18同样，对n个 电光学元件E，依次执行n个电光学元件E的驱动(步骤S34)光量PC[k] 的测定(步骤S35)(步骤S34 S38)。如果光量PC[1卜PC[n]的测定结束， 控制部51就判定是否恰当地决定修正值A[l] A[n]，并且输出其结果(步 骤S39)，结束修正后光量测定处理。在步骤S39中，按照光量PC[l] PC[n] 是否收敛在给定的范围内(例如宽度b的范围A C)，判定修正值A[l] A[n] 的是否适合。而且，在修正值A[l] A[n]不适合时，再执行图7的处理。
如果经过图7的各处理，决定修正值A[l] A[n]，控制部51就把存储 部55中存储的修正值A[l] A[n]对头模块20输出。在存储部28中依次存 储从修正值决定装置50供给的修正值A[l] A[n]。如果以上的作业结束， 就在头模块20中安装控制器30,电光学装置D完成。
接着，图11是表示计算各电光学元件E的修正后的光量PC[i]和各电 光学元件E实际发光的时间的累积值(以下称作"经过时间")t的关系的 结果的数表，图12是描画图U的各数值的曲线图。可是，在图11和图12中，基准光量Pave为l，代表地图示非修正时的初始光量PO[i]为最大 值"1.05"的电光学元件E—max、非修正时的初始光量P0[i]为最小值"0.95" 的电光学元件8_1^11的各特性。此外，图11的数表TBO表示非修正时的 光量为基准光量Pave (因此，修正后的光量也是基准光量Pave)的电光 学元件E一std的特性。经过时间t把电光学元件E_std的光量从初始值(时 间经过t为"0"时的光量)只下降10%的时刻标准化为"1"。
图11的数表TBI如图20所示，是各电光学元件E的修正后的光量 PC[l] PC[n]与基准光量Pave相等地决定修正值A[l] A[n]的结构(以下称 作对比例)的特性。图11的数表TB2如图4所示，是各电光学元件E的 非修正时的光量PO[i]越多，修正后的光量PC[i]越小地决定修正值 A[l] A[n]的本实施例的特性。如图11的数表TB2所示，本实施例的电光 学元件E—max的光量PC[i]修正为"0.99"，电光学元件E—min的光量PC[i] 修正为"1.01"。
图11的数表TBI和TB2中记录的偏移S是电光学元件E_max的修 正后的光量PC[i]和电光学元件E_min的光量PC[i]的差分值除以电光学元 件E—std的光量的数值。如图11的数表TB1或图12的曲线图GR1所示， 对比例的结构的偏移S在时间经过t为"0"的时刻变为0，但是随时间经 过而扩大，在时间经过"1"，扩大到"0.336"。而如图11的数表TB2或 图12的曲线图GR2所示，本实施例的结构的偏移S在时间经过t为"0" 的时刻为"-0.02"，但是随时间经过而縮小，在特定的时刻(时间经过t 为"0.6"附近的时刻)变为扩大，在时间经过t为"1"的时刻，抑制在 "0.0180"。根据本实施例，能可靠地把偏移S抑制在给定的范围内的期 间长期化。
须指出的是，如图11的数表TB2或图12的曲线图GR2所示，在本 实施例的结构中，时间经过t为"0"的时刻的偏移6不为0。该偏移5过 大时，从图像形成装置输出的图像的灰度的不均匀有可能变为显著，所以
在本实施例中，把偏移s抑制在使用者无法感觉灰度的不均匀的范围内地
决定修正值A[l] A[n]。例如，选定修正值A[l] A[n]，从而时间经过t为 "0"的时刻的偏移S抑制在"O. 05(电光学元件E_std的光量PC[i]的5%") 以下，更适合选定为偏移S变为"0.03 (3%)"以下。 <B:实施例2〉
下面，说明本发明实施例2。在实施例1中，列举通过按照修正值A[i] 设定驱动信号Xi的电流值I[i]，修正电光学元件E的光量PC[i]的结构。 而在本实施例中，通过按照修正值A[i]，设定驱动信号Xi的脉冲宽度， 修正电光学元件E的光量PC[i]。须指出的是，对本实施例中作用或功能 与实施例l公共的要素，赋予与以上相同的符号，适宜省略详细的说明。
图13是表示本实施例的电光学装置D的结构的框图。本实施例的电 光学装置D代替图1的电流值设定部35，具有脉冲宽度设定部37。存储 部33在第i级的电光学元件E的灰度值G提供给脉冲宽度设定部37的定 时，对脉冲宽度设定部37输出修正值A[i]。脉冲宽度设定部37是按照修 正值A[i]变更与灰度值G对应的脉冲宽度WG的脉冲宽度W[i]对第i级单 位电路U指定的部件。本实施例的脉冲宽度设定部37把灰度值G (脉冲宽 度WG)和修正值A[i]的相乘值作为脉冲宽度W[i]计算。在各单位电路U 的电流生成电路261预先设定初始值I0。因此，如图14所示，驱动信号 Xi的电流值在单位期间Tu中，以修正与灰度值G对应的脉冲宽度WG的脉 冲宽度W[i]维持初始值IO，并且在此外的期间中变为O。
以与实施例1同样的步骤决定修正值A[l] A[n]。各电光学元件E的 修正后的光量PC[i]与驱动信号Xi的脉冲宽度W[i]成比例，所以在本实施 例中，如图5所示，非修正时的光量PO[i]越多的电光学元件E，修正后 的光量PC[i]越降低。即非修正时的光量PO[i]超过基准光量Pave的电 光学元件E的修正后的光量PC[i]低于基准光量Pave，非修正时的光量PO[i] 低于基准光量Pave的电光学元件E的修正后的光量PC[i]超过基准光量 Pave。因此，本实施例中也与实施例1同样，跨长期间能抑制各电光学元 件E的光量的不均匀。
可是，在如实施例l那样，通过驱动信号Xi的电流值I[i]的调整，修 正光量PC[i]时，和如本实施例那样，通过驱动信号Xi的脉冲宽度W[i] 的调整，修正光量PC[i]时，电光学元件E的寿命(电光学元件E的光量 下降到对初始值的给定比例(例如80%)之前的时间长度)不同。如果就 该点加以描述，则如下所述。
首先，如图2那样使驱动信号Xi的电流值I从10增加到I[i]，修正电
光学元件E的光量P[i]时，修正后的电光学元件E的寿命LT1由以下的表 达式(4)表现。
LT1=LT0X (薩[i]) m…(4)
可是，表达式(4)的LTO是驱动信号Xi的电流值维持在IO时的电 光学元件E的寿命(即非修正时的寿命)。此外，表达式(4)的"m"是 按照电光学元件E的材料或构造决定的实数，例如是"2"或"3"。如表 达式(4)那样，寿命LT1与修正后的电流值I[i]的m次方成反比。换言 之，电光学元件E的特性(光量)以与电流值I[i]的m次方成比例的速度 随时间经过而下降。
而如图14那样使驱动信号Xi的脉冲宽度从WG增加到W[i]，修正电 光学元件E的光量时，修正后的电光学元件E的寿命LT1由以下的表达式 (5)表现。
LT1=LT0X (WG/W[i]) (5)
寿命LT1与修正后的脉冲宽度W[i]成反比。换言之，电光学元件E 的特性(光量)以与脉冲宽度W[i]成比例的速度下降。如上所述，根据修 正驱动信号Xi的脉冲宽度W[i]的本实施例，与修正电流值I[i]的实施例 1相比，具有能抑制电光学元件E的随时间经过的恶化(即电光学元件E 变为长寿命)的优点。
须指出的是，如本实施例那样，按照灰度值G和修正值A[i]，设定驱 动信号Xi的脉冲宽度W[i〕的结构中，有必要在与灰度值G的供给同步的 定时，从存储部33向脉冲宽度设定部37依次输出修正值A[i]，所以对控 制器30要求高的动作频率。而在实施例1中，在电光学装置D的电源接 通之后，对各单位电路U设定与修正值A[i]对应的电流值[i]就可以了， 然后没必要传送修正值A[i]。因此，根据实施例l，具有控制器30要求
的动作频率降低的优点。 <C:变形例〉
对以上的各形态能加以各种变形。如果列举具体的变形的形态，则如 下所述。须指出的是，可以适宜组合以下的各形态。 (1)变形例
如图15所示，也采用修正驱动信号Xi的电流值I[i]和脉冲宽度W[i]
双方的结构(即组合实施例1和实施例2的结构)。在途15的结构的存储 部28中，按各电光学装置D存储修正值Aa[i]和Ab[i]的组。控制器30 包含根据修正值Aa[i]设定电流值I[i](例如I[i]二IOXAa[i])的电流值 设定部35、根据修正值Ab[i]设定脉冲宽度W[i](例如W[i卜WGXAb[i]) 的脉冲宽度设定部37。单位电路U生成跨脉冲宽度W[i]成为电流值I[i] 的驱动信号Xi。修正值Aa[i]和Ab[i]选定为供给驱动信号Xi时的电光学 元件E的光量PC[i]满足图5的关系。根据图15的结构，能取得与实施例 1和实施例2同样的作用和效果。
(2) 变形例
非修正时的光量P0[i]和修正后的光量PC[i]的关系并不局限于图5 的例子。例如，也可以P0[i]和PC[i]满足图16或图17的关系地决定修 正值A[l] A[n]。在图16的结构中，关于非修正时的光量PO[i]低于给定 值POA的电光学元件E，修正后的光量PC[i]变为固定值PC—max，关于非 修正时的光量P0[i]超过给定值P0B(〉P0A)的电光学元件E，修正后的光量 PC[i]变为固定值PC—min地决定修正值A[l] A[n]。此外，在图17的结构 中，除了图16的条件，关于非修正时的光量PO[i]在给定值POA以上并且 在给定值P0B以下的电光学元件E，修正后的光量PC[i]变为基准光量Pave 地决定修正值A[l] A[n]。
此外，在以上的各形态中，列举超过基准光量Pave的光量PO[i]修正 为低于基准光量Pave的光量PC[i]，低于基准光量Pave的光量P0[i]修 正为超过基准光量Pave的光量PC[i]的情形，但是，修正后的光量PC[i] 并不一定分布在基准光量Pave的上下。例如，如图18所示，关于非修正 时的光量PO[i]变为最小值P0—a的电光学元件E，在修正的前后，不使光 量变化(PC[i]=P0_a)，其他电光学元件E的修正后的光量PC[i]低于最小 值P0_a地决定修正值A[l] A[n]。
(3) 变形例3
在以上的各形态中，列举按照灰度值G控制驱动信号Xi的脉冲宽度 WG的结构(基于脉冲宽度的灰度控制)，但是代替该结构，或者与采用该 结构一起，按照灰度值G控制驱动信号Xi的电流值的结构。此外，把修 正值A[i]反映为光量PC[i]的计算并不局限于乘法。例如在实施例1中，
通过修正值A[i]和初始值IO的加法，计算电流值I[i]，在实施例2中，
通过修正值A[i]和脉冲宽度WG的加法，计算脉冲宽度W[i]。图9的步骤 S23 *S24中执行的计算按照实际的修正时的修正值A[i]的计算内容决定。
(4) 变形例4
在以上的各形态中，列举存储修正值A[l] A[n]的存储部28安装在 头模块20中的结构，但是也采用存储部28安装在控制器30中的结构。 须指出的是，修正值A[l] A[n]是与各电光学元件E的特性对应的数值， 所以批量生产在控制器30中搭载存储部28的电光学装置D时，有必要在 各电光学装置D中管理头模块20和控制器30的对应。在图1的结构中， 存储部28与发光部22 —起配置在头模块20中，所以即使在各电光学装 置D中各电光学元件E的特性不同时，关于全部电光学装置D，也能采用 公共的控制器30。即根据图1的结构，头模块20和控制器30的对应的管 理变为不要，所以存在电光学装置D的制造步骤简化的优点。
(5) 变形例5
有机发光二极管元件不过是电光学元件E的例示。关于本发明中应用 的电光学元件，不问自身发光的自发光型和使外来光的透过率变化的非发 光型(例如，液晶元件)的区别、由电流供给驱动的电流驱动型和由电压 的外加驱动的电压驱动型的区别。例如能在本发明中使用无机EL元件、 场致发射(FE)元件、表面导电型发射(SE: Surface-conduction Electron-emitter)元件、弹道电子发射(BS: Ballistic electron Surface emitting)元件、LED (Light Emitting Diode)元件、液晶元件、电泳元件、 场致发光元件等电光学元件。
<D:应用例>
下面说明利用以上各形态的电光学装置D的图像形成装置的结构。 图19是表示采用以上的各形态的电光学装置D的图像形成装置的结 构的剖视图。图像形成装置是串联型的彩色图像形成装置，具有以上的形 态的4个电光学装置D (DK、 DC、 DM、 DY)、与各电光学装置D对应 的4个感光体70 (70K、 70C、 70M、 70Y)。 一个电光学装置D与和它对 应的感光体70的像形成面(外周面)相对地配置。须指出的是，各符号 的下标"K"、 "C"、 "M"、 "Y"意味着在黑(K)、青(C)、洋红(M)、
黄(Y)的各显像的形成中使用。
如图19所示，在驱动辊711和从动辊712上缠绕无端的中间复制带 72。 4个感光体磁鼓70相互隔开给定的间隔，配置在中间复制带72的周 围。各感光体磁鼓70与中间复制带72的驱动同步旋转。
在各感光体磁鼓70的周围，除了电光学装置D，配置电晕带电器731 (731K、 731C、 731M、 731Y)和显影器732 (732K、 732C、 732M、 732Y)。 电晕带电器731使与它对应的感光体磁鼓70的像形成面一样地带电。各 电光学装置D把带电的像形成面曝光，形成静电潜像。各显影器732使显 影剂(粉末)附着在静电潜像上，在感光体磁鼓70上就形成显像(可视 像)。
把形成感光体磁鼓70上形成的各色(黑、青、洋红、黄)的显像依 次复制(一次复制)到中间复制带72的表面，形成彩色的显像。在中间 复制带72的内侧配置4个一次复制电晕管(复制器)74 (74K、 74C、 74M、 74Y)。各一次复制电晕管74从与它对应的感光体磁鼓70静电地吸引显像， 把显像复制到通过感光体磁鼓70和一次复制电晕管74的间隙的中间复制 带72。
薄板(记录材料)75通过捡拾辊761从供纸盒762 —张一张供给，输 送到中间复制带72和二次复制辊77之间的夹持点。在中间复制带72的 表面上形成的彩色的显像由二次复制辊77复制(二次复制)到薄板75的 单面，通过定影辊对78，在薄板75上定影。排纸辊79排出经过以上的步 骤并且显像定影的薄板75。
以上列举的图像形成装置把有机发光二极管元件作为光源(曝光部 件)使用，所以与利用激光扫描光学系统的结构相比，装置小型化。须指 出的是，在以上列举的以外的结构的图像形成装置也能应用电光学装置D。 能在旋转显像式的图像形成装置、不使用中间复制带地从感光体磁鼓对薄 板直接复制显像的图像形成装置、或者形成黑白图像的图像形成装置中利 用电光学装置D。
须指出的是，电光学装置D的用途并不局限于像担持体的曝光。电光 学装置D作为对原稿等读取对象照射光的照明装置，在图像读取装置中采 用。作为这种图像读取装置，有扫描仪、复印机或传真机的读取部分、条
形码阅读器、或者读出QR代码等二维图像代码的二维图像代码阅读器。
此外，电光学元件E排列为矩阵状的电光学装置作为各种电子仪器的 显示装置利用。作为应用本发明的电子仪器，有可搬运型的个人电脑、移 动电话、便携式信息终端(PDA: Personal Digital Assistants )、数字相机、 电视、摄像机、汽车导航装置、寻呼机、电子记事本、电子纸、计算器、 字处理器、工作站、电视电话、POS终端、打印机、扫描仪、复印机、视 频播放器、具有触摸屏的仪器。
权利要求
1.一种修正值决定方法，对按照灰度值和修正值来控制光量的多个电光学元件，分别决定所述修正值，包括光量测定过程，测定在分别指定了相同的灰度值时的所述各电光学元件的光量；和修正值决定过程，按照对在所述光量测定过程中测定为第一光量的电光学元件指定给定的灰度值时的修正后的光量超过对在所述光量测定过程中测定为超过所述第一光量的第二光量的电光学元件指定所述给定的灰度值时的修正后的光量的方式，对所述多个电光学元件，分别决定修正值。
2. 根据权利要求1所述的修正值决定方法，其中在所述修正值决定过程中，按照对所述多个电光学元件分别指定所述 给定的灰度值时的修正后的光量分布的范围比在所述光量测定过程中对 所述多个电光学元件分别指定所述给定的灰度值时所测定的光量分布的 范围还窄的方式，对所述各电光学元件，决定修正值。
3. 根据权利要求1或2所述的修正值决定方法，其中 包含根据所述光量测定过程中测定的所述各电光学元件的光量来设定基准光量的过程；在所述修正值决定过程中，按照在所述光量测定过程中测定的光量超 过所述基准光量的电光学元件的修正后的光量低于该基准光量，在所述光 量测定过程中测定的光量低于所述基准光量的电光学元件的修正后的光 量超过该基准光量的方式，对所述各电光学元件，决定修正值。
4. 根据权利要求1 3中的任意一项所述的修正值决定方法，其中 在所述修正值决定过程中，按照对所述光量测定过程中测定的光量位于给定范围内的各电光学元件指定给定的灰度值时的修正后的光量成为 相同值的方式，对所述多个电光学元件，分别决定修正值。
5. —种电光学装置，包括 多个电光学元件； 驱动部件，将所述多个电光学元件分别控制为与灰度值、修正值对应 的光量；和存储部件，对所述各电光学元件，存储修正值；选定所述存储部件中存储的所述各修正值，使得指定给定的灰度值时 成为第一光量的电光学元件的修正后的光量超过指定所述给定的灰度值 时成为超过所述第一光量的第二光量的电光学元件的修正后的光量。
6. 根据权利要求5所述的电光学装置，其中所述驱动部件通过按照修正值设定电流值或脉冲宽度的驱动电流的 供给，来控制电光学元件。
7. 根据权利要求5所述的电光学装置，其中所述驱动部件通过按照修正值设定电流值和脉冲宽度两者的驱动电 流的供给，来控制电光学元件。
8. —种电子仪器，具有权利要求5~7中的任意一项所述的电光学装置。
全文摘要
对按照灰度值G和修正值A控制光量的多个电光学元件(E)，决定修正值A。在光量测定过程中，测定在分别指定相同的灰度值G0时的各电光学元件(E)的光量P0。在修正值决定过程中，光量测定过程中测定光量P0[v]的电光学元件E的修正后的光量PC[v]超过在光量测定过程中测定超过光量P0[v]的光量P0[u]的电光学元件E的修正后的光量PC[u]地对多个电光学元件(E)，决定修正值A。跨长期间抑制各电光学元件的光量的不均匀。
文档编号G03G15/00GK101097428SQ200710112249
公开日2008年1月2日 申请日期2007年6月25日 优先权日2006年6月26日
发明者宫泽孝雄 申请人:精工爱普生株式会社