专利名称：面板测试治具及治具清洁方法
技术领域：
本发明涉及一种面板测试治具以及治具清洁方法。
背景技术：
显示装置中的面板单元在制作完成之后，必须利用面板测试机台产生测试信号， 将面板单元送入面板测试机台中，以确认面板单元是否可以正确运作。由于刚由生产线完成制作的面板单元还没有设置讯号排线或是电连接器，因此这时候面板测试机台必须透过具备探针的面板测试治具，来对面板单元输入测试讯号。面板测试治具是以探针接触面板单元边缘外露的信号接点(Contact Pad)来达成电性连接，而将测试信号传送至待测试的面板单元上。目前用来测试液晶显示装置中的面板单元的面板测试治具，在利用电测画面检验面板时为了提高测试的准确度，必须维持面板测试治具的背光模块的洁净度。因此，测试人员必须使用无尘布(或其它相关清洁物品)对面板测试治具的背光模块进行擦拭清洁。然而，就现有的面板测试治具而言，每片面板单元在检测完成后，都需要测试人员使用无尘布对面板测试治具的背光模块进行擦拭清洁，使得平均每个面板测试治具会造成 15%的人力浪费。而且，由于每个面板测试治具皆是人为擦拭，因此有很大的机会发生测试人员忘了清洁的疏忽。再者，面板测试治具的边框附近往往无法彻底清洁，因此也无法保证清洁效果能达到所需的标准。因此，如何解决上述问题，成为一项值得研究的问题。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的之一在于，提供一种面板测试治具及治具清洁方法，用以减少额外的人力浪费以及提高清洁功效。根据本发明的一个方面，提供一种面板测试治具用以测试面板单元，包括底座、背光模块、两导引构件、上盖、两拉杆、清洁杆以及下板。背光模块承载于底座上。两导引构件分别平行地设置于底座上，并且背光模块位于导引构件之间。上盖枢接至底座。每一拉杆具有第一端以及第二端。第一端枢接至上盖。第二端可滑动地连接至对应之导引构件。清洁杆连接于第二端之间，并接触背光模块的上表面。下板承载于底座上并位于清洁杆上方。 下板包含出光口。面板单元承载于下板上并正对出光口。当上盖相对底座闭合时，面板单元夹持于上盖与下板之间。在上盖相对底座开启或闭合期间，每一拉杆受上盖带动而同时相对上盖与底座转动，致使第二端相对对应的导引构件滑动，并带动清洁杆往复地擦拭背光模块的上表面。优选地，面板测试治具的每一导引构件包括两固定块以及导杆，固定块设置于底座上，并且导杆连接于固定块之间。优选地，面板测试治具还包括两滑动块，每一滑动块枢接至对应的第二端，并可滑动地套设至对应的导杆上。清洁杆连接于滑动块之间。优选地，面板测试治具的清洁杆还包括两杆体以及清洁片，两杆体分别连接于滑动块之间，清洁片设置于杆体之间，用以随杆体移动而擦拭背光模块的上表面。优选地，面板测试治具的杆体分别锁附至滑动块，清洁片夹挤以固定于杆体之间。优选地，面板测试治具的清洁片为硅胶片。优选地，当上盖相对底座闭合时，拉杆平行导杆。优选地，面板测试治具的背光模块还包括背光单元、偏光片以及光学玻璃。背光单元承载于底座上，偏光片设置于背光单元上，光学玻璃设置于偏光片上。光学玻璃包括上表面，用以受清洁杆擦拭。优选地，面板测试治具的上盖还包括检测窗，当上盖相对底座闭合时，检测窗正对面板单元与出光口。根据本发明的另一个方面，提供一种治具清洁方法用以在测试面板单元期间进行清洁。包括提供面板测试治具，面板测试治具包括底座、承载于底座上的背光模块、分别平行地设置于底座上的两导引构件、枢接至底座的上盖、两拉杆、清洁杆以及承载于底座上的下板，其中每一拉杆的第一端枢接至上盖，每一拉杆的第二端可滑动地连接至对应的导引构件，且清洁杆连接于第二端之间。放置面板单元于下板上。闭合上盖至底座，进而带动拉杆同时相对上盖与底座转动，致使第二端分别相对对应的导引构件滑动，并带动清洁杆对背光模块的上表面进行第一次擦拭。开启上盖离开底座，进而带动拉杆同时相对上盖与底座转动，致使第二端分别相对对应之导引构件滑动，并带动清洁杆对上表面进行第二次擦拭。取出放置于下板上的面板单元。采用本发明的面板测试治具及治具清洁方法，能够在操作面板测试治具时同时清洁面板测试治具的背光模块，并有效地达到减少额外的人力浪费以及提高清洁效果的功效。
为让本发明上述目的和其它特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的详细说明如下图1示出了依照本发明一实施例的面板测试治具的立体图；图2示出了图1中的面板测试治具的立体图，其中上盖相对底座完全开启，并且承载于底座上的下板已取下；图3示出了图2中的面板测试治具的立体图，其中上盖相对底座完全闭合；图4示出了图1中的面板测试治具的俯视图；图5示出了图2中的清洁杆的局部立体图；图6示出了图2中的背光模块的局部侧视图；图7示出了依照本发明一实施例的治具清洁方法的流程图。
具体实施例方式下面参照附图，对本发明的实施方式作进一步的详细描述。根据本发明的一个方面，提供一种面板测试治具。更具体地说，其主要可在显示装置的面板单元在进行电测流程期间，藉由面板测试治具的上盖相对底座开启与闭合的动作以带动连接上盖的拉杆，进而连动清洁杆以分别清洁面板测试治具中的背光模块的上表面两次。换言之，本发明的面板测试治具可在对面板单元测试前与测试后，各对面板测试治具中的背光模块清洁一次。藉此，在操作本发明的面板测试治具时，即可同时清洁面板测试治具的背光模块，并有效地达到减少额外的人力浪费以及提高清洁效果的功效。图1示出了依照本发明一实施例的面板测试治具1的立体图。图2示出了图1中的面板测试治具1的立体图，其中上盖16相对底座10完全开启，并且承载于底座10上的下板22已取下。图3示出了图2中的面板测试治具1的立体图，其中上盖16相对底座10 完全闭合。如图1至图3所示，在本实施例中，本发明的面板测试治具1主要可用来测试面板单元。本实施例的面板测试治具1包括底座10、背光模块12、两导引构件14、上盖16、两拉杆18、清洁杆20以及下板22。面板测试治具1的背光模块12可承载于底座10上。面板测试治具1的两导引构件14分别平行地设置于底座10上，藉以使得背光模块12位于导引构件14之间。面板测试治具1的上盖16枢接至底座10。面板测试治具1的每一拉杆18 皆具有第一端180以及第二端182。拉杆18的第一端180枢接至上盖16，并且拉杆18的第二端182可滑动地连接至对应的导引构件14。面板测试治具1的清洁杆20连接于两拉杆18的第二端182之间，并接触背光模块12的上表面12如。面板测试治具1的下板22承载于底座10上并位于清洁杆20上方。面板测试治具1的下板22包括出光口 220。面板测试治具1的下板22可承载面板单元(未绘示)，使得正面板单元对出光口 220，并可藉由背光模块12发光而通过下板22的出光口 220而到达面板单元。当面板测试治具1的上盖 16相对底座10闭合时，面板单元即夹持于上盖16与下板22之间，并可进行电测程序。在面板测试治具1的上盖16相对底座10开启或闭合期间，每一拉杆18会受上盖16带动而同时相对上盖16与底座10转动，致使每一拉杆18的第二端182相对各自对应的导引构件 14滑动，并带动清洁杆20往复地擦拭背光模块12的上表面12如。如图1所示，在本实施例中，面板测试治具1的每一导引构件14都包括两固定块 140以及导杆142。导引构件14的固定块140设置于底座10上，并且导引构件14的导杆 142连接于固定块140之间。另外，面板测试治具1还包括两滑动块M。每一滑动块对枢接至各自对应的拉杆18的第二端182，并可滑动地套设至各自对应的导杆142上。面板测试治具1的清洁杆20即连接于滑动块M之间。藉此，在面板测试治具1的上盖16相对底座10开启或闭合期间，每一拉杆18会受上盖16带动而同时相对上盖16与底座10转动， 致使枢接至各自对应的拉杆18的第二端182的滑动块M可相对各自对应的导引构件14 滑动，并带动清洁杆20往复地擦拭背光模块12的上表面12如。在另一实施例中，亦可将上述的导引构件14替换为等效的导引轨道或导引沟槽 (未绘示)，并使得上述的滑动块M受到导引轨道或导引沟槽的限位而仅能沿一方向相对底座10往复地滑动，同样可使本发明的面板测试治具1在上盖16相对底座10开启或闭合期间，达到同时清洁背光模块12的上表面12 的目的。此外，面板测试治具1的上盖16还包括检测窗160。当面板测试治具1的上盖16 相对底座10闭合时，上盖16的检测窗160会恰好正对面板单元与下板22的出光口 220。 藉此，由背光模块12发光即可先通过下板22的出光口 220，再通过面板单元而从上盖16的检测窗160射出，使得检测人员可进行面板单元的检测程序。如图2与图3所示，在本实施例中，拉杆18的第一端180可对称地枢接于上盖16的两侧并靠近中央处，但并不以此为限，可依照设计时所需或制造上的限制而弹性地修改。 当面板测试治具1的上盖16相对底座10完全开启(如图2所示)时，上盖16相对底座10 的开启角度并不设限，端视拉杆18的第一端180枢接于上盖16的位置与拉杆18本身的长度而定。为了使面板测试治具1的上盖16能够相对底座10完全闭合(如图3所示)，可设计使拉杆18的长度小于导引构件14的导杆142的长度。藉此，面板测试治具1的拉杆18 才不会因为设计长度过长而导致上盖16无法相对底座10完全闭合。在本实施例中，当面板测试治具1的上盖16相对底座10闭合时，可设计使拉杆18与导引构件14的导杆142 相互平行，藉以设计并制造出具有较薄厚度的面板测试治具1，使得面板测试治具1具有薄型化的外观。图4示出了图1中的面板测试治具1的俯视图。如图4所示，在本实施例中，面板测试治具1的底座10上可设置开槽100，藉以减轻面板测试治具1的整体重量。面板测试治具1的底座10还包括两支撑片102。支撑片 102可设置于面板测试治具1的底座10的底面并横越底座10的开槽100，进而达到防止面板测试治具1中所包括的组件由底座10的开槽100掉落。然而，底座10所包括的支撑片 102的数量并不以此实施例为限，可依照设计时所需而弹性地改变。在一实施例中，底座10的支撑片102可以由电木所制成，但并不以此为限，可依照设计时的需求而弹性替换其它材质。图5示出了图2中的清洁杆20的局部立体图。如图2与图5所示，在本实施例中，面板测试治具1的清洁杆20还包括两杆体200 以及清洁片202。清洁杆20的杆体200分别连接于滑动块M之间。清洁杆20的清洁片 202设置于杆体200之间，并可随杆体200移动而擦拭背光模块12的上表面12如。进一步来说，清洁杆20的杆体200可分别锁附至滑动块M，并且清洁片202夹挤以固定于杆体200 之间。并且，清洁片202突出于两杆体200下方以接触并擦拭背光模块12的上表面IMa。 在本实施例中，在清洁杆20的清洁片202夹挤以固定于杆体200之间之后，可再以螺丝锁附两杆体200，进而更加强清洁片202的固定效果，但并不以此为限。在另一实施例中，清洁杆20可仅包含单一杆体200以及清洁布(为绘示)，并将清洁布缠绕于杆体200外，同样可随着杆体200连动而达到清洁背光模块12的上表面12 的功能。在一实施例中，清洁杆20的杆体200可以由电木所制成，但并不以此为限，可依照设计时的需求而弹性替换其它材质。在一实施例中，清洁杆20的清洁片202可以是硅胶片，但并不以此为限，任何可用以清洁擦拭背光模块12的上表面12 的物品皆可等效地替换。图6示出了图2中的背光模块12的局部侧视图。如图6所示，在本实施例中，面板测试治具1的背光模块12还包括背光单元120、 偏光片122以及光学玻璃124。背光模块12的背光单元120可承载于底座10上。背光模块12的偏光片122设置于背光单元120上。背光模块12的光学玻璃IM设置于偏光片 122上，其中光学玻璃IM包含上表面IMa，用以受清洁杆20的清洁片202擦拭。然而在背光模块12的背光单元120与光学玻璃1 之间所包括的光学组件并不以本实施例为限， 可依照设计时的需求而弹性地增减或替换。图7示出了依照本发明一实施例的治具清洁方法的流程图。
如图7所示，并配合参照图2与图3，在本实施例中，本发明的治具清洁方法可用以于测试面板单元期间同时进行清洁。治具清洁方法包含下列步骤。步骤SlOO 提供面板测试治具1。如图1至3图所示，面板测试治具1包括底座10、承载于底座10上的背光模块12、 分别平行地设置于底座10上的两导引构件14、枢接至底座10的上盖16、两拉杆18、清洁杆 20以及承载于底座10上的下板22。每一拉杆18的第一端180枢接至上盖16。每一拉杆 18的第二端182可滑动地连接至对应之导引构件14，且清洁杆20连接于第二端182之间。步骤S102 放置面板单元于面板测试治具1的下板22上。步骤S104 闭合上盖16至底座10，进而带动面板测试治具1的拉杆18同时相对上盖16与底座10转动，致使第二端182分别相对对应的导引构件14滑动，并带动清洁杆 20对背光模块12的上表面12 进行第一次擦拭。步骤S106 开启上盖16离开底座10，进而带动面板测试治具1的拉杆18同时相对上盖16与底座10转动，致使第二端182分别相对对应的导引构件14滑动，并带动清洁杆20对背光模块12的上表面12 进行第二次擦拭。步骤S108 取出放置于面板测试治具1的下板22上的面板单元。由以上对于本发明的具体实施例的详述，可以明显地看出，本发明的面板测试治具以及治具清洁方法，主要可在显示装置的面板单元在进行电测流程期间，藉由面板测试治具的上盖相对底座开启与闭合的动作以带动连接上盖的拉杆，进而连动清洁杆以分别清洁面板测试治具中的背光模块的上表面两次。换言之，本发明的面板测试治具可在对面板单元测试前与测试后，各对面板测试治具中的背光模块清洁一次。藉此，在操作本发明的面板测试治具时，即可同时清洁面板测试治具的背光模块，并有效地达到减少额外的人力浪费以及提高清洁效果的功效。上文中，参照附图描述了本发明的具体实施方式
。但是，在本领域中的普通技术人员能够理解，不偏离本发明的精神和范围的情况下，还可以对本发明的具体实施方式
作各种变更和替换。这些变更和替换都落在本发明权利要求书限定的范围内。
权利要求
1.一种面板测试治具，用以测试一面板单元，其特征在于，所述面板测试治具包括 一底座；一背光模块，承载于所述底座上；两导引构件，分别平行地设置于所述底座上，所述背光模块位于所述导引构件之间； 一上盖，枢接至所述底座；两拉杆，每一所述拉杆具有一第一端以及一第二端，所述第一端枢接至所述上盖，所述第二端可滑动地连接至对应的所述导引构件；一清洁杆，连接于所述第二端之间，并接触所述背光模块的一上表面；以及一下板，承载于所述底座上并位于所述清洁杆上方，所述下板包括一出光口，所述面板单元承载于所述下板上并正对所述出光口，当所述上盖相对所述底座闭合时，所述面板单元夹持于所述上盖与所述下板之间；在所述上盖相对所述底座开启或闭合期间，所述每一拉杆受所述上盖带动而同时相对所述上盖与所述底座转动，致使所述第二端相对对应的所述导引构件滑动，并带动所述清洁杆往复地擦拭所述上表面。
2.如权利要求1所述的面板测试治具，其特征在于，每一所述导引构件包括两固定块以及一导杆，所述固定块设置于所述底座上，所述导杆连接于所述固定块之间。
3.如权利要求2所述的面板测试治具，其特征在于，还包括两滑动块，每一所述滑动块枢接至对应的所述第二端，并可滑动地套设至对应的所述导杆上，其中所述清洁杆连接于所述滑动块之间。
4.如权利要求3所述的面板测试治具，其特征在于，所述清洁杆还包括 两杆体，分别连接于所述滑动块之间；以及一清洁片，设置于所述杆体之间，用以随所述杆体移动而擦拭所述上表面。
5.如权利要求4所述的面板测试治具，其特征在于，所述杆体分别锁附至所述滑动块， 所述清洁片夹挤以固定于所述杆体之间。
6.如权利要求4所述的面板测试治具，其特征在于，所述清洁片为一硅胶片。
7.如权利要求2所述的面板测试治具，其特征在于，当所述上盖相对所述底座闭合时， 所述拉杆平行所述导杆。
8.如权利要求1所述的面板测试治具，其特征在于，所述背光模块还包括 一背光单元，承载于所述底座上；一偏光片，设置于所述背光单元上；以及一光学玻璃，设置于所述偏光片上，所述光学玻璃包含所述上表面，用以受所述清洁杆擦拭。
9.如权利要求1所述的面板测试治具，其特征在于，所述上盖还包括一检测窗，当所述上盖相对所述底座闭合时，所述检测窗正对所述面板单元与所述出光口。
10.一种治具清洁方法，用以在测试一面板单元期间进行清洁，其特征在于，所述治具清洁方法包括提供一面板测试治具，所述面板测试治具包括一底座、承载于所述底座上的一背光模块、分别平行地设置于所述底座上的两导引构件、枢接至所述底座的一上盖、两拉杆、一清洁杆以及承载于所述底座上的一下板，每一所述拉杆的一第一端枢接至所述上盖，每一所述拉杆的一第二端可滑动地连接至对应的所述导引构件，且所述清洁杆连接于所述第二端之间；放置一面板单元于所述下板上；闭合所述上盖至所述底座，进而带动所述拉杆同时相对所述上盖与所述底座转动，致使所述第二端分别相对对应的所述导引构件滑动，并带动所述清洁杆对所述背光模块的一上表面进行第一次擦拭；开启所述上盖离开所述底座，进而带动所述拉杆同时相对所述上盖与所述底座转动， 致使所述第二端分别相对对应的所述导引构件滑动，并带动所述清洁杆对所述上表面进行第二次擦拭；以及取出放置于所述下板上的所述面板单元。
全文摘要
本发明提供了一种面板测试治具，包括底座、承载于底座上的背光模块、两导引构件、枢接至底座的上盖、两拉杆及清洁杆。导引构件分别平行地设置于底座上，且背光模块位于导引构件之间。每一拉杆具有第一端以及第二端。第一端枢接至上盖。第二端可滑动地连接至对应的导引构件。清洁杆连接于第二端之间，并接触背光模块的上表面。在上盖相对底座开启或闭合期间，每一拉杆受上盖带动而同时相对上盖与底座转动，致使第二端相对对应的导引构件滑动，并带动清洁杆往复地擦拭上表面。采用本发明，可在操作面板测试治具的同时清洁面板测试治具的背光模块，并有效地达到减少额外的人力浪费以及提高清洁效果的功效。
文档编号G02F1/13GK102253511SQ201110223529
公开日2011年11月23日 申请日期2011年8月1日 优先权日2011年8月1日
发明者王宏振, 矫远君, 胡琼 申请人:友达光电(苏州)有限公司, 友达光电股份有限公司