一种层析扫描系统及层析扫描方法
【专利摘要】本发明公开了一种层析扫描系统，其包括有调制盘(11)，调制盘(11)为带有狭缝(14)的正方形玻璃基板(13)；狭缝与正方形玻璃基板(13)竖直边的角度为(12)；视场光阑(33)内径为5mm，由在狭缝方向与竖直方向平行时可计算出狭缝的最小长度。圆柱转筒(21)的薄壁表面上分布有均匀方孔(22)，个数为n个。本发明还提供了利用层析扫描系统的方法。在运动时，圆柱转筒(21)同时绕转筒的中心轴匀速旋转及沿着竖直方向匀速运动，同时转动的线速度与竖直方向速度相等。右旋一周可完成180度的扫描，同理左旋可实现另外180度的扫描，由此根据重构图像原理可实现重构图像，本发明可以实现180度层析扫描简化优化扇形扫描以重构图像。
【专利说明】一种层析扫描系统及层析扫描方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及光学领域，特别涉及到一种应用于光学层析扫描的调制盘。
【背景技术】
[0002]目前常用的扫描方式圆锥扫描，它是红外系统中较多使用的一种调制方式，其实现方法是，由一个光楔或偏轴次镜绕光学系统的光轴旋转，在调制盘或多兀器件上得到一个扫描圆。圆锥扫描方式没有盲区，可实现较精密的跟踪。系统的总视场可以达到探测器所对应的视场的两倍。其缺点是线性区很小，脉冲宽度和间隔变化不规律，信号的频谱比较分散。因此有必要提出一个新的设计方案来进行新的扫描式层析。
【发明内容】
[0003]本发明要解决的技术问题是提供一种应用于光学层析扫描的圆柱形调制盘的系统，其结构简单且成本低线性好，可优化层析扫描；本发明还提供了一种利用上述系统的方法。
[0004]通过以下技术方案可实现上述目的:
[0005]—种层析扫描系统，包括:
[0006]一个圆柱转筒，圆柱转筒(21)的侧壁均匀分布有个数为η个的方孔(22)，方孔
(22)的竖直边缘与圆柱转筒(21)的轴线平行，相邻两方孔(22)在圆柱转筒(21)的轴线及周长方向之间的距离相等；
[0007]多个调制盘，每个调制盘(11)为中心带有狭缝(14)的正方形玻璃基板，所述的调制盘(11)安装在方孔(22)中，从圆柱顶部开始沿圆柱转筒的周长的一方向顺延，每个狭缝
与正方形玻璃基板(13)竖直边缘的角度依次为
【权利要求】
1.一种层析扫描系统，其特征在于:包括 一个圆柱转筒，圆柱转筒(21)的侧壁均匀分布有个数为η个的方孔(22)，方孔(22)的竖直边缘与圆柱转筒(21)的轴线平行，相邻两方孔(22)在圆柱转筒(21)的轴线及周长方向之间的距离相等； 多个调制盘，每个调制盘(11)为中心带有狭缝(14)的正方形玻璃基板，所述的调制盘(11)安装在方孔(22)中，沿圆柱转筒的周长的一方向顺延，每个狭缝与正方形玻璃基板(13)竖直边缘的角度依次为
2.根据权利要求1所述的一种层析扫描系统，其特征在于:层析扫描系统还包括聚焦透镜(32)、准直透镜(35)、聚光透镜(36)和探测器(37)，各中心与视场光阑(33)固定在同一轴线上。
3.根据权利要求1所述的一种层析扫描系统，其特征在于:视场光阑(33)的内径为5mm,狭缝的宽度为70 μ m,长为10mm。
4.根据权利要求1所述的利用一种层析扫描系统的方法，其特征在于: A.设置一个圆柱转筒(21)，在圆柱转筒(21)侧壁设置有个数为η个的方孔(22)，方孔(22)的竖直边缘与圆柱转筒(21)的轴线平行，相邻两方孔(22)在圆柱转筒(21)的轴线方向距离以及在沿圆柱转筒(21)周长的方向距离相等； B.在每个方孔(22)中设置一调制盘，每个调制盘(11)为中心带有狭缝(14)的正方形玻璃基板，从圆柱顶端开始沿着圆柱转筒的周长的一方向，每个狭缝与正方形玻璃基板(13)竖直边缘的角度依次设置为
5.根据权利要求4所述的层析扫描系统的方法,其特征在于:旋转的线速度与竖直方向运动的速度相等。
6.根据权利要求4所述的层析扫描系统的方法，其特征在于:层析扫描系统还设置聚焦透镜(32)、准直透镜(35)、聚光透镜(36)和探测器(37)，令各中心与视场光阑(33)固定在同一轴线上。
7.根据权利要求4所述的层析扫描系统的方法，其特征在于:狭缝的最小长度
8.根据权利要求7所述的层析扫描系统的方法，其特征在于:视场光阑(33)的内径为5mm,狭缝(14)的宽度为70 μ` m,长为10mm。
【文档编号】G02B26/10GK103728724SQ201310699455
【公开日】2014年4月16日 申请日期:2013年12月19日 优先权日:2013年12月19日
【发明者】李保生, 黄俊玲, 徐丽梅, 马飞 申请人:合肥工业大学