一种液晶显示器检测方法
【专利摘要】本发明公开了一种液晶显示器检测方法，所述液晶显示器包括玻璃边框、框胶、显示区域，方法步骤如下：a.初步检测调试，对液晶显示器尺寸进行检测，以及视觉系统参数设置，所述视觉系统由相机和镜头组成；b.通过视觉系统进行图像采集；c.通过步骤b中图像采集数据，对玻璃边框、框胶、显示区域进行内污检测，其中包括检测区域定位、灰度分析、玻璃边框分析；d.通过步骤b中图像采集数据，对显示区域进行功能检测，其中包括亮度检测、Blob分析、电测仪检测。与现有技术相比较，本发明实现以客户提供的样片为标准，进行严格的精准的高效的液晶显示器检测方法，从而给客户提供合格的液晶显示器。
【专利说明】一种液晶显示器检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种检测方法，尤其涉及一种液晶显示器检测方法。
【背景技术】
[0002]液晶显示器显示内容来自于用户。一般情况下，用户给出样片然后由技术人员按照样片设计CAD图纸，根据图纸印制菲林。使用该菲林制作产品的样品，该样品经客户确认后再投入量产；否则修改CAD图纸重新印制菲林并制造样品……如此循环直至客户确认。少数情况是由客户直接提供CAD图纸。无论那种情况，在量产前样品必须通过客户确认且量产的产品和样品一致，其要求误差很小，给液晶显示器的检测带来很大困难，因此需要一套精准检测方法。
【发明内容】
[0003]本发明的目的就在于提供一种解决上述问题，满足客户要求的精准检测的液晶显示器检测方法。
[0004]为了实现上述目的，本发明采用的技术方案是:一种液晶显示器检测方法，所述液晶显示器包括玻璃边框、框胶、显示区域，方法步骤如下:
[0005]a.初步检测调试，对液晶显示器尺寸进行检测，以及视觉系统参数设置，所述视觉系统由相机和镜头组成；
[0006]b.通过视觉系统进行图像采集；
[0007]c.通过步骤b中图像采集数据，对玻璃边框、框胶、显示区域进行内污检测，其中包括检测区域定位、灰度分析、玻璃边框分析；
[0008]d.通过步骤b中图像采集数据，对显示区域进行功能检测，其中包括亮度检测、Blob分析、电测仪检测。
[0009]作为优选，步骤a中，视觉系统参数设置为相机参数设置，颜色模式为彩色、分辨率为3288x2470、CCD尺寸2\3、帧率3.lfps、数字接口 1394a ;镜头参数设置，焦距16m分辨率2001p物距范围0.1—视场角30x22.畸变率-0.20%。
[0010]作为优选，步骤c中，液晶显示器为不通电状态，所以液晶显示器上加设一个光学系统，所述光学系统由亮度可调的三基色背光源和两片偏振片组成，所述偏振片一片位于液晶显示器上表面，另一片位于镜头的镜片附近。
[0011]作为优选，步骤d中，进行亮度检测，若液晶显示器检测现场较暗，需增设光源，且采用从液晶显示器正上方垂直打光的方式，将光源放在偏振片的下方。
[0012] 作为优选，步骤d中，进行Blob分析，在菲林的印制精度比较高，且液晶显示器显示图像时不会出现变形的情况下，将显示的图像部分看成有N个暗区域组成，暗区域称之为块，每个暗区域由Μ个像素组成，首先对确认的样片进行采图分析，获取其亮度值和块的个数以及每个区域的像素值，再将这些数据存档；在后续的检测中，对被检测的液晶显示器进行采图，其亮度值应该和样片亮度值进行比较，块数量以及每个块的像素数量进行比较，从而判断液晶显示器图像是否存在异常。
[0013]与现有技术相比，本发明的优点在于:本方法是以客户提供的样片为标准，进行严格的精准的高效的液晶显示器检测方法，从而给客户提供合格的液晶显示器。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1为本发明内污检测的流程图；
[0015]图2为本发明功能检测的流程图。
【具体实施方式】
[0016]下面将结合附图对本发明作进一步说明。
[0017]实施例:参见图1、图2，一种液晶显示器检测方法，所述液晶显示器包括玻璃边框、框胶、显示区域，，方法步骤如下:
[0018]a.初步检测调试，对液晶显示器尺寸进行检测，以及视觉系统参数设置，所述视觉系统由相机和镜头组成；
[0019]视觉系统参数设置为相机参数设置，颜色模式为彩色、分辨率为3288x2470、(XD尺寸2\3、帧率3.lfps、数字接口 1394a;镜头参数设置，焦距16m分辨率2001p物距范围
0.1 一视场角30x22.畸变率-0.20%。
[0020]b.通过视觉系统进行图像采集；
[0021]c.通过步骤b中图像采集数据，对玻璃边框、框胶、显示区域进行内污检测，其中包括检测区域定位、灰度分析、玻璃边框分析，所以液晶显示器上加设一个光学系统，所述光学系统由亮度可调的三基色背光源和两片偏振片组成，所述偏振片一片位于液晶显示器上表面，另一片位于镜头的镜片附近；
[0022]此时液晶屏为不通电状态，为了能够清晰看见显示的图像，必须在液晶屏下部加一个背光源，不同材料的液晶屏，显示的颜色不一样，在不同的背光下，液晶屏显示的颜色也不一样，对应的缺陷可见状态也不一致，为了找到最适合的背光，调节到使缺陷显示在最理想，最易观察的状态，故采用亮度可调的三基色背光源；
[0023]偏振片有一固定光轴，只允许偏振方向与其光轴相同的光通过，在自然光通过下面一片偏振片后，变为与该偏振片光轴方向一致的线偏振光，由于液晶的排列分布特性，此时得到的线偏振光通过液晶盒时，其偏振方向随着液晶分子扭转90°，以黑白屏为例:当上下两片偏振片的光轴相互垂直时，光线通过，显示为黑底白字，反之，显示为白底黑；
[0024]步骤c中，通过灰度分析检测液晶显示器的是否发生污点、内刮、定向不良、粉聚、灌液未满、漏液的情况，通过玻璃边框分析，检测是否发生框不良、彩虹、静电不良、前段外刮、中段外刮、网印、中段破损、切割不良、封口不良、磨边不良的情况。
[0025]d.通过步骤b中图像采集数据，对显示区域进行功能检测，其中包括亮度检测、Blob分析、电测仪检测；
[0026]由于液晶显示器分为上下两层ΙΤ0玻璃，所以从斜侧打光会在显示的图像下方出现阴影，将原本未连接在一起的区域连接起来；另外，很难保证每个系统的光源和液晶片的夹角与距离是一致的，所以阴影的面积和方向很难确定，增加检测难度，所以采用从液晶片正上方垂直打光的方式。为了避免偏振片反射对成像造成影响，将光源放在偏振片的下方。[0027]本发明不仅可应用于对液晶显示器IXD检测也可进行LCM检测，若进行LCM检测，由于LCM有背光源，所以不考虑增加光源。
[0028]步骤d中，进行Blob分析，在菲林的印制精度比较高，且液晶显示器显示图像时不会出现变形的情况下，将显示的图像部分看成有N个暗区域组成，暗区域称之为块，每个暗区域由Μ个像素组成，我们使用n (m)表示第η个暗区域的第m个像素。首先对确认的样片进行采图分析，获取其亮度值和块的个数以及每个区域的像素值，再将这些数据存档；在后续的检测中，对被检测的液晶显示器进行采图，其亮度值应该和样片亮度值进行比较，块数量以及每个块的像素数量进行比较，从而判断液晶显示器图像是否存在异常。假设k(i)颜色异常会导致k块像素数量与样片值不一致；或在背景区域有一个坏点，会导致块数量不一致；从而判断液晶片图像是否存在异常。
[0029]步骤d中，通过电测仪检测是否存在大电流、断路、短路的情况；最后进行PI不均、明暗化、反白等売度差异检测。
[0030]技术指标为:
[0031]菲林印制精度:30um ;检测精度:0.1mm ;相机帧率:无明确限制。
[0032]以上对本发明所提供的一种液晶显示器检测方法进行了详尽介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在【具体实施方式】及应用范围上均会有改变之处，对本发明的变更和改进将是可能的，而不会超出附加权利要求所规定的构思和范围，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
【权利要求】
1.一种液晶显示器检测方法，所述液晶显示器包括玻璃边框、框胶、显示区域，其特征在于，方法步骤如下:a.初步检测调试，对液晶显示器尺寸进行检测，以及视觉系统参数设置，所述视觉系统由相机和镜头组成；b.通过视觉系统进行图像采集；c.通过步骤b中图像采集数据，对玻璃边框、框胶、显示区域进行内污检测，其中包括检测区域定位、灰度分析、玻璃边框分析；d.通过步骤b中图像采集数据，对显示区域进行功能检测，其中包括亮度检测、Blob分析、电测仪检测。
2.根据权利要求1所述的一种液晶显示器检测方法，其特征在于:步骤a中，视觉系统参数设置为相机参数设置，颜色模式为彩色、分辨率为3288x2470、C⑶尺寸2\3、帧率
3.lfps、数字接口 1394a ;镜头参数设置，焦距16m分辨率2001p物距范围0.1—视场角30x22.畸变率-0.20%。3.根据权利要求1所述的一种液晶显示器检测方法，其特征在于:步骤c中，液晶显示器为不通电状态，所以液晶显示器上加设一个光学系统，所述光学系统由亮度可调的三基色背光源和两片偏振片组成，所述偏振片一片位于液晶显示器上表面，另一片位于镜头的镜片附近。
4.根据权利要求1所述的一种液晶显示器检测方法，其特征在于:步骤d中，进行亮度检测，若液晶显示器检测现场较暗，需增设光源，且采用从液晶显示器正上方垂直打光的方式，将光源放在偏振片的下方。
5.根据权利要求1所述的一种液晶显示器检测方法，其特征在于:步骤d中，进行Blob分析，在菲林的印制精度比较高，且液晶显示器显示图像时不会出现变形的情况下，将显示的图像部分看成有N个暗区域组成，暗区域称之为块，每个暗区域由Μ个像素组成，首先对确认的样片进行采图分析，获取其亮度值和块的个数以及每个区域的像素值，再将这些数据存档；在后续的检测中，对被检测的液晶显示器进行采图，其亮度值应该和样片亮度值进行比较，块数量以及每个块的像素数量进行比较，从而判断液晶显示器图像是否存在异常。
【文档编号】G02F1/13GK103713406SQ201310698718
【公开日】2014年4月9日 申请日期:2013年12月18日 优先权日:2013年12月18日
【发明者】谢煜, 张静, 刘娟秀, 刘霖, 杨先明, 叶玉堂, 刘永 申请人:电子科技大学