液晶滴注控制系统、方法及装置制造方法
【专利摘要】本发明涉及显示【技术领域】，公开了一种液晶滴注控制系统、方法及装置，以提高液晶面板的液晶填充量的精度，改善液晶显示装置的显示质量，并提高产品的生产效率。该液晶滴注控制系统，包括：液晶滴注机；相位分析装置，用于采集并计算入射光透过液晶液滴形成的寻常光与非常光的当前相位差，以及记录液晶液滴与入射光的接触时间；与相位分析装置和液晶滴注机信号连接的控制装置，用于根据液晶液滴与所述入射光的接触时间、以及当前相位差与液晶液滴的体积的对应关系得到液晶液滴的体积；根据液晶液滴的体积确定液晶液滴的质量；当液晶液滴的质量超出液晶液滴的允许质量范围时，输出滴注停止信号，控制液晶滴注机停止滴注。
【专利说明】液晶滴注控制系统、方法及装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示【技术领域】，特别是涉及一种液晶滴注控制系统、方法及装置。
【背景技术】
[0002]液晶面板是TFT-LCD (Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,薄膜晶体管-液晶显示装置)的核心部件，通常包括:对盒而置的彩膜基板和阵列基板，以及填充于对盒腔内的液晶，其中液晶的填充通常采用ODF (One Drop Filling，液晶滴注法)来实现，由此可知，液晶的填充量直接影响液晶面板的盒厚，液晶面板的盒厚是TFT-LCD的光学性能和显示质量的主要影响因素之一。
[0003]现有的液晶面板制作过程中，通常需要用于监测液晶液滴数量的液晶滴注系统和监测液晶液滴质量的液晶质量监测系统对液晶面板填充一定质量的液晶。如图1所示，液晶质量监测系统包括离线状态的液晶滴注机1、称量装置3、以及分别与液晶滴注机1、称量装置3连接的控制装置(图中未示出)，具体的工作过程如下:液晶滴注机I在离线状态时，向称量装置3的液晶盛放器具31滴下样本数量的液晶液滴11，称量装置3称量该样本的液晶液滴11的总质量，控制装置根据样本数量的液晶液滴11的总质量确定每滴液晶的质量。
[0004]如图2所示,现有的液晶滴注系统包括:液晶滴注机1、光亮感应装置，以及分别与液晶滴注机1、光亮感应装置连接的控制装置(图中未示出)；其中，光亮感应装置包括分别位于液晶滴注机I滴下的液晶液滴11的两侧的发光装置21和接收装置22，发光装置21可以为发光二极管。液晶滴注系统具体工作过程如下:光亮感应装置的发光装置21发出光线，接收装置22进行光线收集，当液晶液滴11滴下瞬间，发光装置21发出的光线被遮挡，导致接收装置22收到的光线亮度发生变化，此时控制装置进行数字记录，每滴下一滴液晶，记录的数字相应的增加，因此，控制装置记录的数字即对应滴下的液晶总数，由于液晶质量监测系统已经得到液晶液滴的质量，当液晶滴数等于设定的液晶滴数时，控制液晶滴注机停止滴注，此时，液晶面板8内液晶填充量等于设定填充量。
[0005]现有技术存在的缺陷在于,液晶质量监测系统监测的液晶液滴的质量为液晶滴注机离线状态时的液晶液滴质量，并且为样本数量液晶液滴的平均值，因此，使得液晶滴注系统根据该液晶液滴质量向液晶面板的填充的液晶填充量精度较低，从而使得液晶显示装置的显示质量较差；并且，液晶滴注系统每完成数片液晶面板的滴注后，液晶滴注系统需要停止工作，在离线状态重新监测液晶滴注机的液晶液滴的质量，使得生产效率较低。
【发明内容】
[0006]本发明提供了一种液晶滴注控制系统、方法及装置，用以提高液晶面板的液晶填充量的精度，改善液晶显示装置的显示质量，并提高产品的生产效率。
[0007]本发明提供的液晶滴注控制系统，包括:
[0008]液晶滴注机；
[0009]相位分析装置，用于采集入射光透过所述液晶液滴形成的寻常光与非常光并计算寻常光与非常光的当前相位差，以及记录液晶液滴与所述入射光的接触时间；
[0010]控制装置，与所述相位分析装置和液晶滴注机信号连接，用于根据液晶液滴与所述入射光的接触时间、以及所述寻常光与非常光的当前相位差与液晶液滴的体积的对应关系得到液晶液滴的体积；根据液晶液滴的体积确定液晶液滴的质量；当液晶液滴的质量超出液晶液滴的允许质量范围时，输出滴注停止信号，控制液晶滴注机停止滴注。
[0011]在本发明技术方案中，相位分析装置采集并计算寻常光与非常光的当前相位差，同时记录液晶液滴与所述入射光的接触时间；控制装置根据液晶液滴与所述入射光的接触时间、以及所述寻常光与非常光的当前相位差与液晶液滴的体积的对应关系得到液晶液滴的体积并确定液晶液滴的质量；当液晶液滴的质量超出液晶液滴的允许质量范围时，输出滴注停止信号，控制液晶滴注机停止滴注，因此，本发明提供的液晶滴注控制系统能够在线同时监测每滴液晶质量和液晶滴数，从而提高了液晶滴注控制系统填充液晶面板时液晶填充量的精度，有效地防止因液晶填充量异常导致的液晶显示装置的显示不良，从而改善了液晶显示装置的显示质量；并且，相较于现有技术，本实施例提供的液晶滴注系统不需要在完成数片液晶面板的填充之后停机离线，重新监测液晶液滴的质量，从而进一步提高了产品的生产效率。
[0012]优选的，所述入射光为线偏振光。
[0013]优选的，该液晶滴注控制系统还包括:
[0014]发光装置；
[0015]起偏器，设置于所述发光装置的出光侧，用于将所述发光装置发出的光线转化为透过液晶液滴的线偏振光。
[0016]优选的，该液晶滴注控制系统中，所述控制装置进一步用于记录液晶滴注机滴下的液晶液滴的数量以及液晶滴注机的当前滴注位置。
[0017]采用上述技术方案，能够进一步有效地提高液晶面板的液晶填充量的精度，改善液晶显示装置的显示质量。
[0018]基于相同的发明构思，本发明还提供了一种液晶滴注控制方法，包括:
[0019]根据液晶液滴与所述入射光的接触时间、以及所述寻常光与非常光的当前相位差与液晶液滴的体积的对应关系得到液晶液滴的体积；
[0020]根据液晶液滴的体积确定液晶液滴的质量；
[0021]当液晶液滴的质量超出液晶液滴的允许质量范围时,输出滴注停止信号,控制液晶滴注机停止滴注。
[0022]该液晶滴注控制方法可以在线同时监测每滴液晶质量和液晶滴数，从而提高了液晶滴注控制系统填充液晶面板时液晶填充量的精度，有效地防止因液晶填充量异常导致的液晶显示装置的显示不良，从而改善了液晶显示装置的显示质量；并且相较于现有技术能够提闻广品的生广效率。
[0023]基于相同的发明构思，本发明还提供了一种液晶滴注控制装置，包括:
[0024]第一控制设备，用于根据液晶液滴与所述入射光的接触时间、以及所述寻常光与非常光的当前相位差与液晶液滴的体积的对应关系得到液晶液滴的体积；
[0025]第二控制设备，用于根据液晶液滴的体积确定液晶液滴的质量；
[0026]输出设备,用于当液晶液滴的质量超出液晶液滴的允许质量范围时,输出滴注停止信号，控制液晶滴注机停止滴注。
[0027]所提供的液晶滴注控制装置可以在线同时监测每滴液晶质量和液晶滴数，从而提高了液晶滴注控制系统填充液晶面板时液晶填充量的精度，有效地防止因液晶填充量异常导致的液晶显示装置的显示不良，从而改善了液晶显示装置的显示质量；并且相较于现有技术能够提闻广品的生广效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0028]图1为现有的液晶质量监测系统的结构不意图；
[0029]图2为现有的液晶滴注系统的结构不意图；
[0030]图3为本发明第一实施例液晶滴注控制系统的结构示意图；
[0031]图4为为本发明液晶滴注控制系统计算液晶液滴体积一实施例的模拟计算原理图；
[0032]图5为本发明第二实施例液晶滴注控制系统的结构示意图；
[0033]图6为本发明一实施例液晶滴注控制方法的流程示意图；
[0034]图7为本发明一实施例液晶滴注控制装置结构示意图。
[0035]附图标记:
[0036]1-液晶滴注机 11-液晶液滴21-发光装置(现有技术)
[0037]22-接收装置 3-称量装置31-液晶盛放器具
[0038]4-相位分析装置 41-检偏器5-控制装置
[0039]6-发光装置7-起偏器8-液晶面板
[0040]90-第一控制设备91-第二控制设备 93-输出设备
【具体实施方式】
[0041]为了提高液晶面板的液晶填充量的精度，改善液晶显示装置的显示质量，并提高产品的生产效率，本发明实施例提供了一种液晶滴注控制系统、方法及装置。在该液晶滴注控制系统中，相位分析装置采集并计算寻常光与非常光的当前相位差，同时记录液晶液滴与所述入射光的接触时间；控制装置用于根据液晶液滴与所述入射光的接触时间、以及寻常光与非常光的当前相位差得到液晶液滴的质量，当液晶液滴的质量超出液晶液滴的允许质量范围时，输出滴注停止信号，控制液晶滴注机停止滴注，因此，本发明能够在线同时监测每滴液晶质量和液晶滴数，从而提高了液晶滴注控制系统填充液晶面板时液晶填充量的精度，改善了液晶显示装置的显示质量；并且提高了产品的生产效率。下面以具体实施例并结合附图详细说明本发明。
[0042]如图3所示，本发明第一实施例所提供的液晶滴注控制系统，包括:
[0043]液晶滴注机I ;
[0044]相位分析装置4，用于采集入射光透过液晶液滴形成的寻常光与非常光并计算寻常光与非常光的当前相位差，以及记录液晶液滴与入射光的接触时间；
[0045]控制装置5，与相位分析装置4和液晶滴注机I信号连接，用于根据液晶液滴与入射光的接触时间、以及寻常光与非常光的当前相位差与液晶液滴的体积的对应关系得到液晶液滴的体积；根据液晶液滴的体积确定液晶液滴的质量；当液晶液滴的质量超出液晶液滴的允许质量范围时，输出滴注停止信号，控制液晶滴注机I停止滴注。
[0046]控制装置5的具体形式不限，可以为个人计算机，或者集成于液晶滴注机I内的可编程控制器。入射光为线偏振光，当然也可以为其他透过液晶液滴后产生相位差的光线。液晶液滴的允许质量范围具体根据液晶面板的显示质量要求参数确定，在此不作具体限定。
[0047]以入射光为线性偏振光为例说明本发明实施例的具体工作过程:液晶分子具有光学各向异性(寻常光ο光与非常光e光的传播速度发生变化)，使得入射光透过液晶液滴后形成的寻常光与非常光而产生光程差，相位分析装置4采集各个时刻接收到的寻常光与非常光并计算寻常光与非常光的当前相位差，同时记录液晶液滴与入射光的接触时间，并将该当前相位差和液晶液滴与入射光的接触时间发送至控制装置5 ;控制装置5根据液晶液滴与入射光的接触时间、以及寻常光与非常光的当前相位差与液晶液滴的体积的对应关系得到液晶液滴的体积；根据液晶液滴的体积与液晶材质的密度确定液晶液滴的质量；当液晶液滴的质量超出液晶液滴的允许质量范围时，输出滴注停止信号，控制液晶滴注机I停止滴注。
[0048]由上述分析可知，本实施例提供的液晶滴注控制系统适用于各种不同材质的液晶，能够在线同时监测每滴液晶质量和液晶滴数，从而提高了液晶滴注控制系统填充液晶面板时液晶填充量的精度，有效地防止因液晶填充量异常导致的液晶显示装置的显示不良，从而改善了液晶显示装置的显示质量；并且，相较于现有技术，本实施例提供的液晶滴注系统不需要在完成数片液晶面板的填充之后停机离线以定期重新监测液晶液滴的质量，有效地节约了液晶材料，并提闻了广品的生广效率。
[0049]液晶液滴与入射光的接触时间、以及寻常光与非常光的当前相位差与液晶液滴的体积的对应关系不限，例如图4所示液晶液滴的体积模拟计算原理图，从图4中可以看出，当线性偏振光通过各向异性的液晶液滴后，发生双折射分解为寻常光(Ο-ray)和非常光(E-ray)，寻常光的偏振方向垂直其前进方向和液晶光轴构成的平面平行，非常光的偏振方向平行于前进方向和液晶光轴构成的平面平行，寻常光ο光与非常光e光的传播速度发生变化，使得线性偏振光透过液晶液滴形成的寻常光与非常光产生光程差，即相位差。
[0050]具体的，液晶液滴与入射光沿X方向的接触距离X_，即液晶液滴沿X方向经过入
射光的总位移，满足关系式
【权利要求】
1.一种液晶滴注控制系统，其特征在于，包括: 液晶滴注机； 相位分析装置，用于采集入射光透过所述液晶液滴形成的寻常光与非常光并计算寻常光与非常光的当前相位差，以及记录液晶液滴与所述入射光的接触时间； 控制装置，与所述相位分析装置和液晶滴注机信号连接，用于根据液晶液滴与所述入射光的接触时间、以及所述寻常光与非常光的当前相位差与液晶液滴的体积的对应关系得到液晶液滴的体积；根据液晶液滴的体积确定液晶液滴的质量；当液晶液滴的质量超出液晶液滴的允许质量范围时，输出滴注停止信号，控制液晶滴注机停止滴注。
2.如权利要求1所述的液晶滴注控制系统，其特征在于，所述入射光为线偏振光。
3.如权利要求2所述的液晶滴注控制系统，其特征在于，还包括: 发光装置； 起偏器，设置于所述发光装置的出光侧，用于将所述发光装置发出的光线转化为透过液晶液滴的线偏振光。
4.如权利要求1所述的液晶滴注控制系统，其特征在于，所述控制装置进一步用于记录液晶滴注机滴下的液晶液滴的数量以及液晶滴注机的当前滴注位置。
5.一种液晶滴注控制方法，其特征在于，包括: 根据液晶液滴与所述入射光的接触时间、以及所述寻常光与非常光的当前相位差与液晶液滴的体积的对应关系得到液晶液滴的体积； 根据液晶液滴的体积确定液晶液滴的质量； 当液晶液滴的质量超出液晶液滴的允许质量范围时，输出滴注停止信号，控制液晶滴注机停止滴注。
6.如权利要求5所述的液晶滴注控制方法，其特征在于，所述液晶液滴与所述入射光的接触时间、以及所述寻常光与非常光的当前相位差与液晶液滴的体积的对应关系具体为:
7.如权利要求5所述的液晶滴注控制方法，其特征在于，还包括记录液晶滴注机滴下的液晶液滴的数量以及液晶滴注机的当前滴注位置。
8.一种液晶滴注控制装置，其特征在于，包括: 第一控制设备，用于根据液晶液滴与所述入射光的接触时间、以及所述寻常光与非常光的当如相位差与液晶液滴的体积的对应关系得到液晶液滴的体积； 第二控制设备，用于根据液晶液滴的体积确定液晶液滴的质量； 输出设备，用于当液晶液滴的质量超出液晶液滴的允许质量范围时，输出滴注停止信号，控制液晶滴注机停止滴注。
9.如权利要求8所述的液晶滴注控制装置，其特征在于，所述第一控制设备，进一步用于记录液晶滴注机 滴下的液晶液滴的数量以及液晶滴注机的当前滴注位置。
【文档编号】G02F1/1341GK103885254SQ201410090588
【公开日】2014年6月25日 申请日期:2014年3月12日 优先权日:2014年3月12日
【发明者】刘晓那, 宋勇志 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方显示技术有限公司