阵列基板、显示面板及显示装置的制作方法

本申请涉及显示技术领域，具体涉及阵列基板、显示面板及显示装置。

背景技术：

通常，在制作显示面板时，需将阵列基板、驱动单元、柔性电路板、背光源、偏光片等材料进行组装。在组装之前，需要测试显示面板上的子像素是否可以显示正常的画面，以筛选出显示性能合格的阵列基板。这时，可以测试显示面板所显示的红色、绿色、蓝色等纯色的画面是否存在色偏或漏光点。一般地，可以在组装之前通过视觉测试(Visual Test，VT)对子像素阵列进行测试，也可以在上述组装过程完毕后通过电学测试(Electronic Test，ET)测试显示面板上的子像素是否显示正常。

在视觉测试阶段，为了简化测试电路的结构，一般将阵列基板上的全部奇数条数据线短接在一条测试信号线上，全部偶数条数据线短接在另一条测试信号线上，分别向两条测试信号线提供测试信号，以驱动各子像素。但目前的两条测试信号线的信号输入端位于阵列基板的一侧，且数据线沿着远离信号输入端的其中一个方向排列，随着显示面板尺寸的增大，两条测试信号线的长度也越来越长，相应的两条测试信号线的等效电阻也随之增大。这样，测试信号在测试信号线上的传输时会产生比较大的延时，距离信号输入端位置较远的数据线需要较长的充电时间，无法满足正常显示纯色画面时数据线的充电速度；同时远端的数据线接收到的测试信号的幅值也会下降，导致与远端的数据线连接的子像素的亮度较低，造成显示不均的问题，不能正常反映阵列基板的显示性能。

技术实现要素：

本申请的目的在于提出一种阵列基板、显示面板及显示装置，来解决以上背景技术部分提到的技术问题。

为了实现上述目的，第一方面，本申请提供了一种阵列基板，包括：驱动单元、沿第一方向排列的N条数据线、第一测试信号线组以及第二测试信号线组，N≥2；所述N条数据线中的第1条数据线与第N条数据线之间沿所述第一方向的距离为L；所述第一测试信号线组包括至少一条第一测试信号线，所述第二测试信号线组包括至少一条第二测试信号线；每条所述第一测试信号线包括沿所述第一方向延伸的第一段，以及与所述第一段相交于第一交点的第二段，所述第二段与所述驱动单元电连接；每条所述第二测试信号线包括沿所述第一方向延伸的第三段，以及与所述第三段相交于第二交点的第四段，所述第四段与所述驱动单元电连接；所述N条数据线中的第奇数条数据线与一条所述第一测试信号线电连接，所述N条数据线中的第偶数条数据线与一条所述第二测试信号线电连接；第1条数据线与各所述第一交点在所述第一方向上的各个距离中的最小值为l₁、第1条数据线与各所述第二交点在所述第一方向上各个距离中的最小值为l₂，且l₁和l₂满足：l₁≤L/2和/或l₂≤L/2；并且第N条数据线与各所述第一交点在所述第一方向上的各个距离中的最小值为l₃、第N条数据线与各所述第二交点在所述第一方向上各个距离中的最小值为l₄，且l₃和l₄满足：l₃≤L/2和/或l₄≤L/2。

在一些实施例中，至少一个所述第一交点与第N条数据线在所述第一方向上的距离l₅满足：l₅≥L；至少一个所述第二交点与第1条数据线在所述第一方向上的距离l₆满足：l₆≥L。

在一些实施例中，所述第一测试信号线组包括第一子第一测试信号线和第二子第一测试信号线，所述第一子第一测试信号线与第1～第条数据线中的第奇数条数据线电连接，所述第二子第一测试信号线与第～第N条数据线中的第奇数条数据线电连接；所述第二测试信号线组包括第一子第二测试信号线和第二子第二测试信号线，所述第一子第二测试信号线与第1～第条数据线中的第偶数条数据线电连接，所述第二子第二测试信号线与第～第N条数据线中的第偶数条数据线电连接；其中，表示对N/2向下取整，表示对N/2向上取整。

在一些实施例中，所述第一子第一测试信号线的第一交点及所述第一子第二测试信号线的第二交点与第N条数据线在所述第一方向上的距离均大于或等于L；所述第二子第一测试信号线的第一交点及所述第二子第二测试信号线的第二交点与第1条数据线在所述第一方向上的距离均大于或等于L。

在一些实施例中，所述第一测试信号线组包括一条所述第一测试信号线，所述第二测试信号线组包括一条所述第二测试信号线；所述第一交点与第N条数据线在所述第一方向上的距离大于或等于L；所述第二交点与第1条数据线在所述第一方向上的距离大于或等于L。

在一些实施例中，所述第一测试信号线组包括一条所述第一测试信号线，所述第二测试信号线组包括一条所述第二测试信号线；所述第一交点位于所述第一测试信号线的中点处；所述第二交点位于所述第二测试信号线的中点处。

在一些实施例中，所述阵列基板还包括：多个第一薄膜晶体管、多条第一时钟控制线和多条第一数据电压输入线，所述多条第一时钟控制线与所述驱动单元电连接；每个所述第一薄膜晶体管的栅极与一条所述第一时钟控制线电连接，每个所述第一薄膜晶体管的第一极电连接至至少一条第奇数条数据线，每个所述第一薄膜晶体管的第二极通过一条所述第一数据电压输入线电连接至一条所述第一测试信号线。

在一些实施例中，所述阵列基板还包括：多个第二薄膜晶体管、多条第二时钟控制线和多条第二数据电压输入线，所述多条第二时钟控制线与所述驱动单元电连接；每个所述第二薄膜晶体管的栅极与一条所述第二时钟控制线电连接，每个所述第二薄膜晶体管的第一极电连接至至少一条第偶数条数据线，每个所述第二薄膜晶体管的第二极通过一条所述第二数据电压输入线电连接至一条所述第二测试信号线。

第二方面，本申请提供了一种显示面板，包括彩膜基板及上述阵列基板；所述彩膜基板和所述阵列基板相对设置；所述彩膜基板和所述阵列基板之间设有液晶层。

第三方面，本申请提供了一种显示装置，包括上述显示面板。

本申请提供的阵列基板、显示面板及显示装置，在阵列基板上设置驱动单元、N条数据线、至少一条第一测试信号线以及至少一条第二测试信号线。其中，N条数据线中，第1条数据线与第N条数据线之间的距离为L。每条第一测试信号线与第奇数条数据线中的至少一条电连接，每条第二测试信号线与第偶数条数据线中的至少一条电连接。驱动单元通过上述各第一测试信号线和各第二测试信号线向N条数据线提供测试信号。并且，每条第一测试信号线还包括至少一个第一交点，每条第二测试信号线还包括至少一个第二交点。上述第一交点可以认为成第一测试信号线的信号输入端，上述第二交点可以认为成第二测试信号线的信号输入端。阵列基板上的第1条数据线与各第一交点的各个距离中的最小值l₁及第1条数据线与各第二交点的各个距离中的最小值l₂满足：l₁≤L/2和/或l₂≤L/2。同时，第N条数据线与各第一交点的各个距离中的最小值l₃及第N条数据线与各第二交点的各个距离中的最小值l₄满足：l₃≤L/2和/或l₄≤L/2。相对于现有技术，可以减小测试信号在第一测试信号线或第二测试信号线上产生的延迟，同时也可以减小N条数据线中距离信号输入端较远的数据线的充电时间，提高距离信号输入端较远的数据线接收到的测试信号的幅值；或者对于距离信号输入端较远的数据线，提高与其相邻的数据线所接收到的测试信号的幅值，从而均衡了显示面板各部分的显示亮度，避免了显示不均的现象。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1是本申请提供的阵列基板的一个实施例的结构示意图；

图2是本申请提供的阵列基板的另一个实施例的结构示意图；

图3是本申请提供的阵列基板的又一个实施例的结构示意图；

图4是本申请提供的阵列基板的又一个实施例的结构示意图；

图5是本申请提供的阵列基板的第一测试信号线与各数据线之间的各第一薄膜晶体管的连接关系的结构示意图；

图6是本申请提供的显示面板的一个实施例的结构示意图；

图7是本申请提供的显示装置的一个实施例的示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关实用新型，而非对该实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与有关实用新型相关的部分。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

如图1所示，其示出了本申请提供的阵列基板的一个实施例的结构示意图。在本实施例中，阵列基板100包括驱动单元10、N条数据线11、第一测试信号线组和第二测试信号线组，其中，N≥2。

上述N条数据线11沿第一方向D1排列、沿第二方向D2延伸，且第1条数据线与第N条数据线之间沿第一方向D1的距离为L。

第一测试信号线组包括至少一条第一测试信号线，如图1所示，第一测试信号线组包括三条第一测试信号线，分别为第一测试信号线121、第一测试信号线122及第一测试信号线123。每条第一测试信号线都包括第一段和第二段，上述第一段沿第一方向D1延伸，第二段与第一段相交于第一交点(如图1中的第一交点1210、第一交点1220及第一交点1230)，第二段与驱动单元10电连接。

在本实施例的一些可选的实现方式中，上述第二段可以为直线，其延伸方向可以为第二方向D2。可以理解的是，尽管图1中示出了沿第二方向D2延伸的第二段，但这仅仅是示意性的，本实施例对此不做限定，本领域技术人员可根据实际应用场景设置第二段的形状及延伸方向。

上述N条数据线中的第奇数条数据线与上述第一测试信号线组中的一条第一测试信号线电连接。在本实施例的一些可选的实现方式中，可以使第奇数条数据线与第一测试信号线的第一段电连接。以图1为例，第一测试信号线121的第一段与N条数据线中的第1条数据线和第3条数据线电连接；第一测试信号线122的第一段与第5条数据线和第7条数据线电连接；第一测试信号线123的第一段与第N-1条数据线电连接。可以理解的是，图1所示的阵列基板是以假设N为偶数为前提的。

各第一测试信号线的第一段与第二段形成的各第一交点可以位于相邻的两条数据线之间，也可以位于第1条数据线的远离第2条数据线的一侧，还可以位于第N条数据线的远离第N-1条数据线的一侧。例如，第一测试信号线121的第一交点1210位于第1条数据线的远离第2条数据线的一侧；第二测试信号线122的第一交点1220位于第4条数据线和第5条数据线之间；第三测试信号线123的第一交点1230位于第N条数据线的远离第N-1条数据线的一侧。

第二测试信号线组包括至少一条第二测试信号线，图1示意性地示出了第二测试信号线组包括两条第二测试信号线，分别为第二测试信号线131及第二测试信号线132。每条第二测试信号线都包括第三段和第四段，第三段沿第一方向D1延伸，第四段沿与第一方向D1相交的方向延伸，第四段与第三段相交与第二交点(如图1中的第二交点1310及第二交点1320)，第四段与驱动单元10电连接。

在本实施例的一些可选的实现方式中，上述第四段可以为直线，其延伸方向可以为第二方向D2。可以理解的是，尽管图1中示出了沿第二方向D2延伸的第四段，但这仅仅是示意性的，本实施例对此不做限定，本领域技术人员可根据实际应用场景设置第二段的形状及延伸方向。

与第一测试信号线类似之处在于，N条数据线中的第偶数条数据线可以与一条第二测试信号线的第三段电连接。如图1所示，第二测试信号线131的第三段与第2条、第4条及第6条数据线电连接；第二测试信号线132的第三段与第N-2条和第N条数据线电连接。第二测试信号线131的第三段与第四段形成的第二交点1310位于第1条数据线的远离第2条数据线的一侧；第二测试信号线132的第三段与第四段形成的第二交点1320位于第N条数据线的远离第N-1条数据线的一侧。

可以理解的是，本实施例中，为了简化各第一测试信号线的第二段或各第二测试信号线的第二段布线，同时为了避免第一测试信号线或各第二测试信号线的长度过长造成数据线的充电时间过长及距离第一交点或第二交点较远的数据线接收到的测试信号幅值过小的情况，在设置上述第一交点或第二交点的位置时，可以将各第一交点、各第二交点在阵列基板上的位置设置如下：

1、连接包括第1条数据线在内的m条数据线的第一交点设置在第1条数据线远离第2条数据线的一侧；

2、连接包括第2条数据线在内的m条数据线的第二交点设置在第1条数据线远离第2条数据线的一侧；

3、连接包括第N-1条数据线在内的m条数据线的第一交点设置在第N条数据线远离第N-1条数据线的一侧；

4、连接包括第N条数据线在内的m条数据线的第二交点设置在第N条数据线远离第N-1条数据线的一侧；

5、连接第2m+1～第N-2m-1在内的第一交点或第二交点设置在靠近与第一测试信号线或第二测试信号线的数据线的位置。

本领域技术人员可以根据实际应用场景进行设置上述m的值，本实施例对此不做限定。

以图1为例，第一测试信号线121的第一交点1210可以位于第1条数据线的远离第2条数据线的一侧；第一测试信号线122的第一交点1220靠近第5条数据线(既可以位于第4条数据线和第5条数据线之间，也可以位于第5条数据线和第6条数据线之间)；第一测试信号线123的第一交点1230位于第N条数据线的远离第N-1条数据线的一侧。可以理解的是，第一测试信号线122的第一交点1220还可以靠近第7条数据线(既可以位于第7条数据线和第8条数据线之间，也可以位于第6条数据线和第7条数据线之间)。

第二测试信号线131的第二交点1310可以位于第1条数据线的远离第2条数据线的一侧；第二测试信号线132的第二交点1320位于第N条数据线的远离第N-1条数据线的一侧。

驱动单元10向第一测试信号线组中的各第一测试信号线的第二段提供测试信号，向第二测试信号线组中的各第二测试信号线的第四段提供测试信号。上述测试信号可以是脉冲信号。

本实施例中，第1条数据线与上述各第一交点在第一方向D1上的各个距离中的最小值为l₁，第1条数据线与上述各第二交点在第一方向D1上的各个距离中的最小值为l₂，且l₁和l₂满足：l₁≤L/2和/或l₂≤L/2。以图1为例，第1条数据线与三个第一交点在第一方向D1上的三个距离中的最小值为第1条数据线与第一交点1210之间的距离，且第1条数据线与第一交点1210在第一方向D1上的距离小于L/2；第1条数据线与两个第二交点在第一方向D1上的两个距离中的最小值为第1条数据线与第二交点1310之间的距离，且第1条数据线与第二交点1310在第一方向D1上的距离小于L/2。

第N条数据线与上述各第一交点在第一方向D1上的各个距离中的最小值为l₃，第N条数据线与上述各第二交点在第一方向D1上的各个距离中的最小值为l₄，且l₃和l₄满足：l₃≤L/2和/或l₄≤L/2。仍然以图1为例，第N条数据线与三个第一交点在第一方向D1上的三个距离中的最小值为第N条数据线与第一交点1230之间的距离，且第N条数据线与第一交点1230在第一方向D1上的距离小于L/2；第N条数据线与两个第二交点在第一方向D1上的两个距离中的最小值为第N条数据线与第二交点1320之间的距离，且第N条数据线与第二交点1320在第一方向D1上的距离小于L/2。

这样，无论第一测试信号线组中包括多少条第一测试信号线，无论第二测试信号线组中包括多少条第二测试信号线，相邻的两条数据线的延迟都被合理控制，从而避免了显示面板出现显示不均的现象。

本申请的上述实施例提供的阵列基板，通过设置每条第一测试信号线与第奇数条数据线中的至少一条电连接，每条第二测试信号线与第偶数条数据线中的至少一条电连接。驱动单元通过上述各第一测试信号线和各第二测试信号线向N条数据线提供测试信号。并且，每条第一测试信号线还包括至少一个第一交点，每条第二测试信号线还包括至少一个第二交点。阵列基板上的第1条数据线与各第一交点的各个距离中的最小值l₁及第1条数据线与各第二交点的各个距离中的最小值l₂满足：l₁≤L/2和/或l₂≤L/2。同时，第N条数据线与各第一交点的各个距离中的最小值l₃及第N条数据线与各第二交点的各个距离中的最小值l₄满足：l₃≤L/2和/或l₄≤L/2。这样，可以减小测试信号在各第一测试信号线或各第二测试信号线上传输时产生的延时，减小了N条数据线中距离第一交点或第二交点较远的数据线充电所需的时间，提高了距离第一交点或第二交点较远的数据线接收到测试信号幅值，从而避免了显示不均的现象。

在本实施例的一些可选的实现方式中，上述阵列基板中存在至少一个第一交点，其与第N条数据线在第一方向D1的距离l₅满足：l₅≥L。且还存在至少一个第二交点，其与第1条数据线在第一方向D1的距离l₆满足：l₆≥L。

如图1所示，第一测试信号线121的第一交点1210与第N条数据线在第一方向D1的距离大于或等于L。第二测试信号线132的第二交点1320与第1条数据线在第一方向D1的距离大于或等于L。

继续参考图2，其示出了根据本申请的阵列基板的另一个实施例的结构示意图。本实施例的阵列基板200包括：驱动单元20、沿第一方向D1设置的N条数据线21、第一测试信号线组和第二测试信号线组。其中，第一测试信号线组包括第一子第一测试信号线231和第二子第一测试信号线232，第二测试信号线组包括第一子第二测试信号线241和第二子第二测试信号线242。

N条数据线中的每条数据线可以与一列子像素22电连接，用于向各列子像素22提供数据信号。上述子像素22可以包括至少三种颜色的子像素，例如可以包括红色子像素R、绿色子像素G以及蓝色子像素B，还可以包括白色子像素W等。可以理解的是，本实施例并不对子像素22的颜色做具体限定。

第一测试信号线组包括两条第一测试信号线，分别为第一子第一测试信号线231和第二子第一测试信号线232。其中，第一子第一测试信号线231与第1～第条数据线中的第奇数条数据线电连接，第二子第一测试信号线232与第～第N条数据线中的第奇数条数据线电连接。

第二测试信号线组包括第一子第二测试信号线241和第二子第二测试信号线242，并且，第一子第二测试信号线241与第1～第条数据线中的第偶数条数据线电连接，第二子第二测试信号线242与第～第N条数据线中的第偶数条数据线电连接。

其中，表示对N/2向下取整，表示对N/2向上取整。

通过上述设置，可以使得第一子第一测试信号线231、第二子第一测试信号线232、第一子第二测试信号线241和第二子第二测试信号线242所连接的数据线的数量相近且约等于N/4，因而各第一测试信号线以及各第二测试信号线的长度均较短且相互接近，则驱动单元20提供测试信号时，相对于现有技术，可以减小测试信号在各第一测试信号线或各第二测试信号线中传输时产生的延时，提高了各数据线接收到的测试信号的幅值，且各数据线接收到的测试信号的幅值相近，从而避免了显示不均的现象。

在本实施例的一些可选的实现方式中，第一子第一测试信号线231的第一交点2310以及第一子第二测试信号线241的第二交点2410与第N条数据线在第一方向D1上的距离均大于或等于L。同时，第二子第一测试信号线232第一交点2320以及第二子第二测试信号线242的第二交点2420与第1条数据线在第一方向D1上的距离均大于或等于L。

这样，第一子第一测试信号线231的第一交点2310以及第一子第二测试信号线241的第二交点2410均靠近第1条数据线且位于第1条数据线远离第2条数据线的一侧；第二子第一测试信号线232第一交点2320以及第二子第二测试信号线242的第二交点2420均靠近第N条数据线且位于第N条数据线远离第N-1条数据线的一侧。

在减小了测试信号在各第一测试信号线及各第二测试信号线中传输时产生的延迟的情况下，阵列基板中间位置处的数据线接收到的测试信号的幅值得到提高，则与中间位置处的数据线电连接的子像素接收到的测试信号的幅值得到提高，进而降低了阵列基板中间位置处的子像素的亮度与阵列基板边缘位置处的子像素的亮度之差，从而避免了显示不均的现象。

本申请的上述实施例提供的阵列基板，通过设置各第一测试信号线及各第二测试信号线连接的数据线的数量，相对于现有技术，减小了测试信号在各第一测试信号线及各第二测试信号线中传输时产生的延迟，阵列基板中间位置处的数据线接收到的测试信号的幅值得到提高，则与中间位置处的数据线电连接的子像素接收到的测试信号的幅值得到提高，进而降低了阵列基板中间位置处的子像素的亮度与阵列基板边缘位置处的子像素的亮度之差，从而避免了显示不均的现象。

继续参考图3，其示出了根据本申请的阵列基板的又一个实施例的结构示意图。本实施例的阵列基板300包括：驱动单元30、N条数据线31、第一测试信号线组和第二测试信号线组。本实施例中，假设N为偶数，每条数据线31与一列子像素32电连接。且第一测试信号线组包括一条第一测试信号线33，第二测试信号线组包括一条第二测试信号线34。

其中，第一测试信号线33的第一交点330与第N条数据线在第一方向D1上的距离大于或等于L，第二测试信号线34的第二交点340与第1条数据线在第一方向D1上的距离大于或等于L。也就是说，第一测试信号线33的第一段及第二测试信号线34的第一段均连接了N/2条数据线。

对于第一测试信号线33来说，第1条数据线接收到的测试信号的幅值大于第N-1条数据线接收到的测试信号的幅值，导致第1条数据线连接的子像素的亮度较亮，第N-1条数据线连接的子像素的亮度较暗。对于第二测试信号线34来说，第N条数据线接收到的测试信号的幅值大于第2条数据线接收到的测试信号的幅值，导致第N条数据线连接的子像素的亮度较亮，第2条数据线连接的子像素的亮度较暗。

但从阵列基板整体的显示效果来看，第2条数据线周围的第1条数据线和第3条数据线接收到的测试信号的幅值均较大。也就是说，虽然与第2条数据线电连接的子像素的亮度较暗，但与第1条数据线电连接的子像素的亮度以及与第3条数据线电连接的子像素的亮度均较亮，并且各列子像素排列较紧密，从而在整体上均衡了阵列基板的显示效果，因此也不会出现显示不均的现象。同样，虽然与第N-1条数据线电连接的子像素的亮度较暗，但与第N条数据线电连接的子像素的亮度以及与第N-2条数据线电连接的子像素的亮度均较亮，也不会出现显示不均的现象。

本申请的上述实施例提供的阵列基板，通过将第一测试信号线的第一交点与第二测试信号线的第二交点分别设置在阵列基板上数据线的两侧，从整体上改善了阵列基板的显示效果，避免了现有技术中的显示不均的现象。

继续参考图4，其示出了本申请提供的阵列基板的又一个实施例的结构示意图。如图4所示，本实施例的阵列基板400包括：驱动单元40、N条数据线41、第一测试信号线组和第二测试信号线组。本实施例中，假设N为偶数，每条数据线41与一列子像素42电连接。且第一测试信号线组包括一条第一测试信号线43，第二测试信号线组包括一条第二测试信号线44。

其中，第一测试信号线43的第一交点430位于第一测试信号线43的中点处，第二测试信号线44的第二交点440位于第二测试信号线44的中点处。与图2中所示的实施例类似，本实施例的第一交点430相当于将第一测试信号线43的第一段均分为二，第二交点440相当于将第二测试信号线44的第一段均分为二，分割后得到的两段与同一第二段连接。则测试信号在分割后得到的两段上传输时不会产生的延时得到降低，靠近阵列基板边缘的数据线接收到的测试信号的幅值也得到提高，这样降低了与靠近阵列基板边缘的数据线电连接的子像素的亮度相较于与靠近阵列基板中间的数据线电连接的子像素的亮度之差，不会产生显示不均的现象。

可以理解的是，第一测试信号线43的第一交点430还可以位于除第一测试信号线43的中点之外的其它位置，例如第一交点430位于第一测试信号线43的距离第1条数据线L/4处。对应的，第二交点440可以位于第二测试信号线44的距离第N条数据线L/4处，这样，也可以实现阵列基板整体显示效果的均衡，避免出现显示不均的现象。

本申请的上述实施例提供的阵列基板，通过合理设置第一交点及第二交点的位置，可以在整体上平衡阵列基板上各列子像素的显示亮度，避免出现显示不均的现象。

继续参考图5，其示出了本申请提供的阵列基板的第一测试信号线与各数据线之间的各第一薄膜晶体管的连接关系的结构示意图。本实施例的阵列基板500相较于图1～图4所示的阵列基板，还可以包括多个第一薄膜晶体管51、多条第一时钟控制线54以及多条第一数据电压输入线55。其中，多条第一时钟控制线54与驱动单元50电连接，第奇数条数据线52与多个第一薄膜晶体管51一一对应电连接。

每个第一薄膜晶体管51的栅极与一条第一时钟控制线54电连接，每个第一薄膜晶体管51的第一极与至少一条第奇数条数据线52电连接，每个第一薄膜晶体管51的第二极通过一条第一数据电压输入线55与一条第一测试信号线53电连接。

这样，驱动单元50可以通过控制各第一时钟控制线54来控制各数据线52的接通与关断，可以实现阵列基板500的各列子像素的分列显示。

在本实施例的一些可选的实现方式中，本实施例的阵列基板500还可以包括图5中未示出的多个第二薄膜晶体管、多条第二时钟控制线和多条第二数据电压输入线。其中，多条第二时钟控制线与驱动单元50电连接，第偶数条数据线与多个第二薄膜晶体管一一对应电连接。

每个第二薄膜晶体管的栅极与一条第二时钟控制线电连接，每个第二薄膜晶体管的第一极电连接至至少一条第偶数条数据线，每个第二薄膜晶体管的第二极通过一条第二数据电压输入线电连接至一条第二测试信号线。

本申请的上述实施例提供的阵列基板，通过在各数据线与各第一测试信号线或第二测试信号线之间设置多个薄膜晶体管以及时钟控制线来控制各数据线与各第一测试信号线或各第二测试信号线之间的接通或关断，更方便实现对阵列基板的视觉测试。

继续参考图6，其示出了本申请提供的显示面板的一个实施例的结构示意图。如图6所示，显示面板600包括阵列基板61和与阵列基板61对向设置的彩膜基板62。在阵列基板61和彩膜基板62之间设置有液晶层63，在上下电极的电压的作用下，液晶层63可以发生旋转，实现画面的显示。在外加电压撤销后，改变排列方向后的液晶分子依靠粘弹性恢复到原来的状态，实现显示面板600的黑屏或白屏状态。

显示面板600还可以包括像素区域和黑矩阵，其中像素区域包括多个子像素，其为光线穿过显示面板的区域，需要有较高的透光率，黑矩阵为光线被遮挡的区域。

显示面板600还可以包括扫描线。其中，扫描线用于向上述子像素提供扫描信号。在一行子像素被打开的时间内，各数据线分别向每一列子像素提供数据信号，子像素根据接收到的数据信号进行显示。

可以理解的是，显示面板600还可以包括一些公知的结构，诸如设置于阵列基板61和彩膜基板62之间的用于支撑液晶层的间隔柱、保护玻璃、背光源等。为了避免不必要地模糊本申请，这些公知的结构在图6中没有示出。

基于图6所示的显示面板，可以减小测试信号在各第一测试信号线或各第二测试信号线上传输时产生的延时，提高N条数据线接收到的测试信号的幅值，增加各列子像素的显示亮度；或者对于接收到测试信号幅值较小的数据线，提高与其相邻的数据线接收到的测试信号的幅值，从而在整体上均衡了显示面板各部分的显示亮度，避免了显示不均的现象。

如图7所示，本申请还提供了一种显示装置700，包括上述各实施例描述的触控显示面板。该显示装置700通过设置各第一测试信号线和各第二测试信号线的连接关系，避免了显示装置700的显示不均现象。可以理解的是，显示装置700可以是具有显示面板600的各种电子设备，包括但不限于智能手机、平板电脑、电子书阅读器、MP3播放器(Moving Picture Experts Group Audio Layer III，动态影像专家压缩标准音频层面3)、MP4(Moving Picture Experts Group Audio Layer IV，动态影像专家压缩标准音频层面4)播放器、膝上型便携计算机和台式计算机等等，本实施例对此不作特殊限定。

以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的实用新型范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离所述实用新型构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。