一种显示面板检测方法、装置及系统与流程

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板检测方法、装置及系统。

背景技术：

目前，液晶显示面板广泛地应用于手机、平板电脑、计算机显示器等电子设备中。在液晶显示面板的制程中，点灯测试制程是液晶显示面板中较为重要的一项流程，点灯测试确保显示面板的品质，比如用于检测显示面板是否具有坏点等不良现象。而传统的液晶显示面板的点灯测试是将显示面板由母基板切割成单个显示面板后，对单个显示面板进行点灯测试将不良品检查出来。因此这种单板检测方式非常耗费设备与人力。这种单板检测方式不能实时检测出产品的不良现象，容易造成产品批量不良现象。

技术实现要素：

本发明的实施例提供了一种显示面板检测方法、装置及系统，旨在解决现有的显示面板检测耗时费力的问题。

本发明提供一种显示面板检测方法，该方法包括：

输入电源电压到母基板中的多个显示面板；

向多个所述显示面板传输预设驱动信号以驱动所述显示面板显示预设测试画面；

采集所述显示面板显示所述预设测试画面时的画面图像；

根据预设缺陷检测规则检测所述画面图像，以完成对所述母基板中的多个显示面板的画面检测。

本发明还提供了一种显示面板检测装置，该装置包括：

输入单元，用于输入电源电压到母基板中的多个显示面板；

驱动单元，用于向多个所述显示面板传输预设驱动信号以驱动所述显示面板显示预设测试画面；

采集单元，用于采集所述显示面板显示所述预设测试画面时的画面图像；

检测单元，用于根据预设缺陷检测规则检测所述画面图像，以完成对所述母基板中的多个显示面板的画面检测。

本发明还提供了一种显示面板检测系统，该系统包括：点灯设备、摄像设备和控制设备，所述控制设备包括：

存储器，存储有可执行程序代码；

处理器，调用所述存储器中存储的所述可执行程序代码，执行以下步骤：

输入电源电压到母基板中的多个显示面板；

向多个所述显示面板传输预设驱动信号以驱动所述显示面板显示预设测试画面；

采集所述显示面板显示所述预设测试画面时的画面图像；

根据预设缺陷检测规则检测所述画面图像，以完成对所述母基板中的多个显示面板的画面检测。

本发明实施例通过输入电源电压到母基板中的多个显示面板；向多个所述显示面板传输预设驱动信号以驱动所述显示面板显示预设测试画面；采集所述显示面板显示所述预设测试画面时的画面图像；根据预设缺陷检测规则检测所述画面图像，以完成对所述母基板中的多个显示面板的画面检测。该显示面板检测方法可以快速完成对显示面板的画面检测，同时还可避免产线的显示面板出现批量性异常。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的一种显示面板检测系统的示意性框图；

图2是本发明实施例提供的点灯设备和摄像设备的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的一种显示面板检测方法的示意流程图；

图4是本发明实施例提供的一种显示面板检测方法的另一示意流程图；

图5是本发明实施例提供的母基板的平面结构示意图；

图6是本发明实施例提供的母基板在画面检测时被拍摄的画面图像示意图；

图7是本发明实施例提供的一种显示面板检测装置的示意性框图；

图8是本发明实施例提供的一种显示面板检测装置的另一示意性框图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，图1是本发明实施例提供的一种显示面板检测系统的示意性框图。该显示面板检测系统10包括：点灯设备11、控制设备12和摄像设备13，其中点灯设备11和摄像设备13均与主控设备12连接，主控设备12用于控制点灯设备11完成对显示面板的画面检测，摄像设备13用于拍摄处于画面检测中显示面板的图像。

需要说明的是，完成对显示面板的画面检测，该画面检测具体为对显示面板的点灯测试，用于检测该该显示面板是否有缺陷。

其中，控制设备12包括：存储器121和处理器122，存储器121和处理器122耦合连接。该存储器121存储有可执行程序代码；处理器122调用存储器121中存储的所述可执行程序代码，执行：

输入电源电压到母基板中的多个显示面板；

向多个所述显示面板传输预设驱动信号以驱动所述显示面板显示预设测试画面；

采集所述显示面板显示所述预设测试画面时的画面图像；

根据预设缺陷检测规则检测所述画面图像，以完成对所述母基板中的多个显示面板的画面检测。

具体地，如图2所示，点灯设备11用于同时对母基板20中的多个显示面板201进行画面检测，通过设置在点灯设备11上的摄像设备13获取处于画面检测中的大张母基板的图像，通过该图像判断各个显示面板的显示质量，检测出有缺陷的显示面板。

摄像设备13包括多个摄像头，多个摄像头位于点灯设备11上的母基板20的上方。摄像头例如为ccd(chargecoupleddevice，电荷耦合元件)摄像头，然不限于此，亦可为其他摄像头。

该显示面板检测系统是对大张的母基板进行画面检测，不同于现有画面检测系统，将母基板裂片后对单个显示面板进行画面检测。该显示面板检测系统可以快速批量地完成对显示面板的画面检测，同时还可避免产线的显示面板出现批量性异常。

请参阅图3，图3是本发明实施例提供的一种显示面板检测方法的示意流程图。该显示面板检测方法运行于上述显示面板检测系统中的控制设备中，该控制设备通过该显示面板检测方法控制点灯设备和摄像设备，以同时完成对母基板中的多个显示面板的画面检测，该画面测试可例如为显示面板的点灯测试。如图3所示，该显示面板检测方法，包括步骤s101～s104。

s101、输入电源电压到母基板中的多个显示面板；

在本发明的实施例中，具体地，通过点灯设备输入电源电压到母基板中的多个显示面板，其中所述点灯设备用于对所述母基板中的多个显示面板同时进行画面检测。

具体地，所述点灯设备用于安装大张母基板，以对所述母基板中的多个显示面板同时进行画面检测。该母基板包括多个显示面板，将该母基板裂片后进行相关制程处理，可以制作出多个显示面板成品。该显示面板包括但不限于液晶显示面板。

具体地，通过点灯设备开启母基板中的多个显示面板，点灯设备上设有多个测试顶针。当大张母基板安装在点灯设备上时，该测试顶针与显示面板上的测试接触点连接。点灯设备通过该测试顶针给所述显示面板提供驱动电压，以开启所述显示面板，即输入电源电压到母基板中的多个显示面板。

s102、向多个所述显示面板传输预设驱动信号以驱动所述显示面板显示预设测试画面。

在本发明的实施例中，所述预设驱动信号为驱动所述显示面板显示预设测试画面的信号。比如，驱动所述显示面板显示亮画面的信号。

其中，该预设测试画面包括但不限于：预设亮画面、预设暗画面、预设红画面、预设蓝画面和预设绿画面。不同的预设测试画面用于检测不同类型的缺陷。

具体地，向多个所述显示面板传输预设驱动信号以驱动所述显示面板显示预设测试画面为：所述控制设备控制该点灯设备向所述母基板中的多个所述显示面板传输预设驱动信号以驱动所述显示面板显示预设测试画面。

s103、采集所述显示面板显示所述预设测试画面时的画面图像。

在本发明的实施例中，所述控制设备控制所述摄像设备拍摄母基板中的多个所述显示面板显示所述预设测试画面时的画面图像，并将所述画面图像传送给控制设备的处理器进行相关处理分析。

具体地，采集所述显示面板显示所述预设测试画面时的画面图像，包括：通过设置所述点灯设备上方的多个摄像头从多个角度采集所述显示面板显示所述预设测试画面时的多个画面图像。多角度可以确保能够全面检测出显示面板的缺陷。

s104、根据预设缺陷检测规则检测所述画面图像，以完成对所述母基板中的多个显示面板的画面检测。

在本发明的实施例中，所述预设缺陷检测规则包括：点缺陷检测规则、线缺陷检测规则和斑点缺陷(mura缺陷)检测规则。点缺陷检测规则为检测显示面板中的存在点缺陷的规则方法，能检测出显示面板中点缺陷。线缺陷检测规则和斑点缺陷检测规则亦类似，用于检测显示面板中线缺陷和斑点缺陷(mura缺陷)。

对于通过设置所述点灯设备上方的多个摄像头从多个角度采集所述显示面板显示所述预设测试画面时的多个画面图像，则根据预设缺陷检测规则检测所述多个画面图像，以完成对所述母基板中的多个显示面板的画面检测。

上述本发明的实施例通过点灯设备开启母基板中的多个显示面板，其中所述点灯设备用于对所述母基板中的多个显示面板同时进行画面检测；向多个所述显示面板传输预设驱动信号以驱动所述显示面板显示预设测试画面；采集所述显示面板显示所述预设测试画面时的画面图像；根据预设缺陷检测规则检测所述画面图像，以完成对所述母基板中的多个显示面板的画面检测。该显示面板的检测方法可以同时完成多个显示面板的画面检测，提高了显示面板的画面检测效率。

此外，相对于现有的将母基板裂片成单个显示面板后在进行画面检测，由于画面检测是显示面板制程中的比较靠后的制程，单板画面检测不能及时发现显示面板制程中的批量异常。而该显示面板检测方法，可以实时在线检测，因此可以有效避免显示面板制程中的批量异常现象。

请参阅图4，图4是本发明实施例提供的一种显示面板检测方法的另一示意流程图。该显示面板检测方法运行于上述显示面板检测系统中的控制设备中，该控制设备通过该显示面板检测方法控制点灯设备和摄像设备，以同时完成对母基板中的多个显示面板的画面检测。如图4所示，该显示面板检测方法，包括步骤s201～s207。

s201、输入电源电压到母基板中的多个显示面板。

在本发明的实施例中，具体为：通过点灯设备输入电源电压到母基板中的多个显示面板，即通过点灯设备同时开启母基板中的多个显示面板，其中所述点灯设备用于对所述母基板中的多个显示面板同时进行画面检测。

其中，所述点灯设备用于安装大张母基板，以对所述母基板中的多个显示面板同时进行画面检测。该母基板包括多个显示面板，将该母基板裂片后进行相关制程处理，可以制作出多个显示面板成品。该显示面板包括但不限于液晶显示面板。

s202、向多个所述显示面板传输预设驱动信号以驱动所述显示面板显示预设测试画面。

在本发明的实施例中，所述预设驱动信号为驱动所述显示面板显示预设测试画面的信号。比如，驱动所述显示面板显示亮画面的信号。其中，该预设测试画面包括但不限于：预设亮画面、预设暗画面、预设红画面、预设绿画面和预设蓝画面。不同的预设测试画面用于检测不同类型的缺陷。

s203、采集所述显示面板显示所述预设测试画面时的画面图像，其中所述画面图像包括多个子画面图像，所述子画面图像为所述显示面板显示所述预设测试画面时被拍摄的图像。

在本发明的实施例中，采集所述显示面板显示所述预设测试画面时的画面图像为：所述控制设备控制所述摄像设备拍摄母基板中的多个所述显示面板显示所述预设测试画面时的画面图像。

其中，所述画面图像包括多个子画面图像，所述子画面图像为所述显示面板显示所述预设测试画面时被拍摄的图像。如同5和6所示，比如母基板20包括多个显示面板，分别为显示面板201、显示面板202、显示面板203、显示面板204、显示面板205、显示面板206、显示面板207、显示面板208和显示面板209。对应的，画面图像40包括：子画面图像401、子画面图像402、子画面图像403、子画面图像404、子画面图像405、子画面图像406、子画面图像407、子画面图像408和子画面图像409。

s204、检测所述画面图像是否有所述子画面图像存在画面缺陷。

在本发明的实施例中，检测所述画面图像中的多个子画面图像中是否有子画面图像存在画面缺陷。该画面缺陷包括但不限于：点缺陷、线缺陷和斑点缺陷。

s205、若所述画面图像有所述子画面图像存在画面缺陷，获取所述子画面图像在所述画面图像的位置信息。

在本发明的实施例中，若所述画面图像有子画面图像存在画面缺陷，比如，画面图像40中有一个子画面图像405存在点缺陷，具体地如图6所示，在亮画面中出现一暗点400。也可以为其他缺陷类型，如线缺陷和斑点缺陷。

其中，该位置信息是指子画面图像在所述画面图像中具体位置，比如母基板包括3×3排列方式的显示面板，可以从母基板的左下角建立坐标系。最简单的该位置信息为母基板的显示面板的标号，比如，显示面板201或显示面板205等，该位置信息用于提示用户具体在母基板中哪个显示面板出现了缺陷问题。

此外，若所述画面图像有子画面图像存在画面缺陷，在获取子画面图像在所述画面图像的位置信息的同时，还可以获取子画面图像的画面缺陷类型，其中所述画面缺陷类型包括点缺陷、线缺陷或斑点缺陷。

s206、根据所述位置信息标记出存在画面缺陷的所述子画面图像对应的显示面板并生成异常标记号。

在本发明的实施例中，该位置信息可以是显示面板在母基板中的标号，因此可以利用该标号标记出存在画面缺陷的子画面图像对应的显示面板，并生成异常标号。比如，子画面图像405存在点缺陷异常，则获取子画面图像405对应的显示面板205，将标号205生成异常标号。

s207、根据所述异常标记号输出提示信息，以提示检测人员所述母基板中存在异常显示面板。

在本发明的实施例中，该提示信息用于提示检测人员所述母基板中存在异常显示面板，比如母基板20中的显示面板205存在缺陷异常。

具体地，还可根据所述异常标记号和画面缺陷类型输出提示信息，即该提示信息不仅可以提示母基板中具体哪一块显示面板存在异常，还可以提示异常类型，比如异常为点缺陷，方便检测人员进行异常排查。

请参阅图7，图7是本发明实施例提供的一种显示面板检测装置的示意性框图。如图7所示，该显示面板检测装置500包括：输入单元501、驱动单元502、采集单元503和检测单元504。

输入单元501，用于输入电源电压到母基板中的多个显示面板。

具体地，通过点灯设备输入电源电压以开启母基板中的多个显示面板。点灯设备上设有多个测试顶针，当大张母基板安装在点灯设备上时，该测试顶针与显示面板上的测试接触点连接。点灯设备通过该测试顶针给所述显示面板提供驱动电压，以开启所述显示面板，即输入电源电压到母基板中的多个显示面板。

驱动单元502，用于向多个所述显示面板传输预设驱动信号以驱动所述显示面板显示预设测试画面。

具体地，所述预设驱动信号为驱动所述显示面板显示预设测试画面的信号。比如，驱动所述显示面板显示亮画面的信号。其中，该预设测试画面包括但不限于：预设亮画面、预设暗画面、预设红画面、预设蓝画面和预设红画面。不同的预设测试画面用于检测不同类型的缺陷。

采集单元503，用于采集所述显示面板显示所述预设测试画面时的画面图像。

具体地，用于拍摄母基板中的多个所述显示面板显示所述预设测试画面时的画面图像，并将所述画面图像传送给控制设备的处理器进行相关处理分析。

此外，采集所述显示面板显示所述预设测试画面时的画面图像，包括：通过设置所述点灯设备上方的多个摄像头从多个角度采集所述显示面板显示所述预设测试画面时的多个画面图像。多角度可以确保能够全面检测出显示面板的缺陷。

检测单元504，用于根据预设缺陷检测规则检测所述画面图像，以完成对所述母基板中的多个显示面板的画面检测。

具体地，所述预设缺陷检测规则包括：点缺陷检测规则、线缺陷检测规则和斑点缺陷检测规则。点缺陷检测规则为检测显示面板中的存在点缺陷的规则方法，能检测出显示面板中点缺陷。线缺陷检测规则和斑点缺陷检测规则亦类似，用于检测显示面板中线缺陷和斑点缺陷。

请参阅图7，图7是本发明实施例提供的一种显示面板检测装置的示意性框图。如图7所示，该显示面板检测装置600包括：输入单元601、驱动单元602、采集单元603和检测单元604。其中，检测单元604具体包括：检测子单元6041、获取子单元6042、生成子单元6043和输出子单元6044。

输入单元601，用于输入电源电压到母基板中的多个显示面板。

具体地，通过点灯设备输入电源电压到母基板中的多个显示面板，点灯设备上设有多个测试顶针。当大张母基板安装在点灯设备上时，该测试顶针与显示面板上的测试接触点连接。点灯设备通过该测试顶针给所述显示面板提供驱动电压，以开启所述显示面板，即输入电源电压到母基板中的多个显示面板。

驱动单元602，用于向多个所述显示面板传输预设驱动信号以驱动所述显示面板显示预设测试画面。

具体地，所述预设驱动信号为驱动所述显示面板显示预设测试画面的信号。比如，驱动所述显示面板显示亮画面的信号。其中，该预设测试画面包括但不限于：预设亮画面、预设暗画面、预设红画面、预设蓝画面和预设红画面。不同的预设测试画面用于检测不同类型的缺陷。

采集单元603，用于采集所述显示面板显示所述预设测试画面时的画面图像，其中所述画面图像包括多个子画面图像，所述子画面图像为所述显示面板显示所述预设测试画面时被拍摄的图像。

检测单元604，用于根据预设缺陷检测规则检测所述画面图像，以完成对所述母基板中的多个显示面板的画面检测。

具体地，检测单元604包括：检测子单元6041、第一获取子单元6042、第二获取子单元6043、生成子单元6044和输出子单元6045。

检测子单元6041，用于检测所述画面图像是否有子画面图像存在画面缺陷。

具体地，检测所述画面图像中的多个子画面图像中是否有子画面图像存在画面缺陷。该画面缺陷包括但不限于：点缺陷、线缺陷和斑点缺陷。

第一获取子单元6042，用于若所述画面图像有所述子画面图像存在画面缺陷，获取子画面图像在所述画面图像的位置信息。

具体地，该位置信息是指子画面图像在所述画面图像中具体位置，比如母基板包括3×3排列方式的显示面板，可以从母基板的左下角建立坐标系。最简单的该位置信息为母基板的显示面板的标号。

第二获取子单元6043，用于若所述画面图像有所述子画面图像存在画面缺陷，获取子画面图像的画面缺陷类型，其中所述画面缺陷类型包括点缺陷、线缺陷或斑点缺陷。

生成子单元6044，用于根据所述位置信息标记出存在画面缺陷的所述子画面图像对应的显示面板并生成异常标记号。

具体地，该位置信息可以是显示面板在母基板中的标号，因此可以利用该标号标记出存在画面缺陷的子画面图像对应的显示面板，并生成异常标号。比如，其中一个子画面图像存在点缺陷异常，则获取子画面图像对应的显示面板，将该显示面板的标号生成异常标号。

输出子单元6045，用于根据所述异常标记号输出提示信息，以提示检测人员所述母基板中存在异常显示面板。

具体地，还可根据所述异常标记号和画面缺陷类型输出提示信息，即该提示信息不仅可以提示母基板中具体哪一块显示面板存在异常，还可以提示异常类型，比如异常为点缺陷，方便检测人员进行异常排查。

在本发明的实施例中，显示面板可例如为lcd显示面板、oled显示面板、qled显示面板、曲面显示面板或其他显示面板。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，上述描述的单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

本发明实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。

本发明实施例装置中的单元可以根据实际需要进行合并、划分和删减。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。