一种显示面板的老化测试系统及方法与流程

本发明涉及显示技术领域，尤其是涉及一种显示面板的老化测试系统及方法。

背景技术：

有机电激发光二极管(oled)由于同时具备自发光，不需背光源、对比度高、厚度薄、视角广、反应速度快、可用于挠曲性面板、使用温度范围广、构造及制程较简单等优异之特性，被认为是下一代的平面显示器新兴应用技术。

oled器件结构是由阳极、阴极以及夹在阳极和阴极之间的有机功能层构成。其中的有机功能层包括hil(空穴注入层)、htl(空穴传输层)、eml(发光层)、etl(电子传输层)、eil(电子注入层)等层构成。

为了扩大有机发光器件的应用范围并将有机发光器件商业化，已经发展增加该有机发光器件的效率和降低驱动电压的技术。

oled已经在中小尺寸得到广泛应用，大尺寸oled电视已经开始商品化。和中小尺寸oled相比，大尺寸oled电视由于面积大，良率更难提升，生产时容易出现暗点、亮点等缺陷，在低灰阶下，暗点引起的mura(不均匀，有斑点)更明显。为解决上述缺陷，需要在oled制程中加入在线老化工艺，通过在线老化来减少暗点等缺陷，提高大尺寸oled面板良率。现有技术中，oled显示面板通过在线老化腔体后，再传入附近的ivl(电流-电压-亮度)点灯腔体检测老化效果并进行筛选后进入封装工序。由此造成所需的检测时长过长，并且需要分别设置老化腔体和点灯腔体两个腔体，设备成本高。

技术实现要素：

本发明主要解决的技术问题是提供一种显示面板的老化测试系统及方法，能够节约检测的时长，提高检测效率，并且可以节省检测设备，从而降低检测成本。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种显示面板的老化测试系统，老化测试系统包括真空腔体、点灯机构、至少一个光谱仪和至少一个相机，其中：

所述真空腔体设置有用于老化所述显示面板的老化设备，并且所述真空腔体设置所述点灯机构、光谱仪和相机；

所述点灯机构与所述显示面板电连接，用于点亮所述显示面板；

所述至少一个光谱仪位于所述显示面板发出的光的光路上，用于检测所述显示面板的色坐标和亮度；

所述至少一个相机位于所述显示面板发出的光的光路上，用于检测显示面板的子像素的暗点缺陷。

为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种显示面板的老化测试方法，所述老化测试方法包括：

点亮所述显示面板；

对所述显示面板的色坐标和亮度进行检测，同时对显示面板的子像素的暗点缺陷进行检测。

本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明提供了一种显示面板的老化测试系统及方法。该老化测试系统包括真空腔体、点灯机构、至少一个光谱仪和至少一个相机，其中，真空腔体设置有用于老化显示面板的老化设备，并且真空腔体设置点灯机构、光谱仪和相机，点灯机构与显示面板电连接，用于点亮显示面板，至少一个光谱仪位于显示面板发出的光的光路上，用于检测显示面板的色坐标和亮度，至少一个相机位于显示面板发出的光的光路上，用于检测显示面板的子像素的暗点缺陷。因此，本发明将点灯机构和光谱仪、相机都设置在真空腔体中，使得可直接在真空腔体中完成老化及检测老化的效果的工作，由此能够节约检测的时长，提高检测效率，并且简化了显示面板的量产线的设计，节省检测设备，从而降低检测成本。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种显示面板的老化测试系统的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的一种显示面板的老化测试方法的流程示意图。

具体实施方式

请参阅图1，图1是本发明实施例提供的一种显示面板的老化测试系统的结构示意图。如图1所示，本发明的老化测试系统10包括真空腔体11、点灯机构12、至少一个光谱仪13和至少一个相机14。

其中，真空腔体11设置有用于老化显示面板100的老化设备(图未示)，并且真空腔体11设置点灯机构12、光谱仪13和相机14。

具体而言，本发明为了加快老化，在真空腔体11的一侧设置气体管道16，用于通入至少氮气和空气的一种。为了加快气体的输入，可以设置两个及以上的气体管道16，如图1所示，设置两个气体管道16。其中，空气包括压缩空气和洁净空气的任一种。其中，压缩空气主要是水含量的较普通的空气，洁净空气是无油无颗粒(particle)的空气，其对水含量无要求。

老化测试系统10还包括支撑件17，用于支撑真空腔体11。

在其他实施例中，还可以预先将气体加热，然后再通入真空腔体11中，以进一步加快显示面板100的老化。

点灯机构12与显示面板100电连接，用于点亮显示面板100。具体而言，点灯机构12包括连接杆121和引脚122，连接杆121的一端设置在真空腔体11的内壁上，连接杆121的另一端与引脚122连接。更具体的，点灯机构122还包括连接板123，引脚122设置在连接板123上，连接杆121的另一端通过连接板123与引脚122连接。引脚122用于与显示面板100电连接。

本实施例中，引脚122为多个，并且平均分为预设组，设置在连接板123的预设位置，例如图1中平均分为3组，每组包括3个。在进行点灯测试，引脚122通过设置在显示面板100上的引脚连接垫与显示面板100连接，点亮显示面板100。其中，点亮显示面板100的方式包括多种，例如可以将显示面板100的像素分为多个区域，点灯机构12通过引脚122依次点亮该多个区域，也可以同时点亮该多个区域。

至少一个光谱仪13位于显示面板100发出的光的光路上，用于检测显示面板100的色坐标和亮度。也就是说光谱仪13直接检测显示面板100的色坐标和亮度，通过三个颜色的色坐标和亮度来得到显示面板100的色域，以作为检测显示面板100的老化效果的判断标准。本实施例中，以ntsc色域标准来说，若通过色坐标和亮度获得显示面板100的色域小于72％，则可认定为显示面板100不合格。

至少一个相机14位于显示面板100发出的光的光路上，用于检测显示面板100的子像素的暗点缺陷。具体而言，在点灯机构12将显示面板100点亮后，通过相机14对显示面板100进行拍照取证，然后根据所拍摄的照片查看显示面板100的子像素是否存在暗点的缺陷，并统计暗点缺陷的数量。通常是点亮单色画面时统计暗点缺陷的数量，例如通过点亮rgb三个颜色或者rgbw四个颜色，分别统计暗点缺陷数量。其中，首先预设暗点阈值，若拍摄的照片中显示的暗点数大于暗点阈值，则可认定为显示面板100不合格。

本实施例中，光谱仪13和相机14均设置了两个，其在显示面板100发出的光的光路上间隔分布，例如可以为从左到右分别设置光谱仪13、相机14、光谱仪13以及相机14。

本实施例中，光谱仪13和相机14可隔分布在真空腔体11的外侧。具体而言，真空腔体11收容显示面板100、点灯机构12和支撑台15，并在外侧面上集成了光谱仪13和相机14。

本实施例中，老化测试系统10还包括支撑台15，用于支撑显示面板100。为了加强支持作用，支撑台15的下方设置有三个支撑脚152。支撑台15上进一步设置有对位系统151，对位系统151用于对显示面板100的位置进行调整，使得显示面板100与引脚122、光谱仪13以及相机14相对应，以方便引脚122与显示面板100电连接以及光谱仪13和相机14对显示面板100进行检测。

承前所述，本发明通过在真空腔体11的外侧集成光谱仪13和相机14，在真空腔体11的腔内设置老化设备和点灯机构12，由此使得可直接在真空腔体11中完成点灯测试，和显示面板100的颜色的获取以及子像素的暗点缺陷的获取，即可以同时完成显示面板100的老化及检测老化的效果的工作，由此能够节约检测的时长，提高检测效率，并且简化了显示面板的量产线的设计，节省检测设备，从而降低检测成本。其中，本发明的显示面板100可以为oled显示或者lcd显示。

本发明实施例还提供了一种显示面板的老化测试方法，该老化测试方法适用于前文所述的老化测试系统。具体请参阅图2。

如图2所示，本发明实施例的老化测试方法包括以下步骤：

步骤s1：点亮显示面板。

步骤s2：对显示面板的色坐标和亮度进行检测，同时对显示面板的子像素的暗点缺陷进行检测。具体原理如前文所述，在此不再赘述。

本实施例中，以ntsc色域标准来说，若通过检测到的色坐标和亮度获得的色域小于72％，则可认定为显示面板不合格。

并进一步预设暗点阈值，若检测到子像素的暗点数大于暗点阈值，则可认定为显示面板不合格。

其中，为了加快老化速度，本实施例还进一步提供至少氮气和空气的一种。空气包括压缩空气和洁净空气的任一种，其中压缩空气和洁净空气如前文所述，在此不再赘述。

在其他实施例中，还可以预先将气体加热，然后利用该加热的气体对显示面板进行老化作业。

综上所述，本发明可以同时完成显示面板的老化及检测老化的效果的工作，由此能够节约检测的时长，提高检测效率，并且简化了显示面板的量产线的设计，节省检测设备，从而降低检测成本。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。