用于tft-lcd显示面板的电性测试装置及其电性测试方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及测试设备技术领域，特别涉及用于TFT-LCD显示面板的电性测试装置，及使用该电性测试装置进行电性测试的方法。
【背景技术】
[0002]TFT_LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，薄膜晶体管液晶显示屏)现如今已成为新一代的主流显示器，其具有亮度好、对比度高、层次感强、颜色鲜艳、轻薄的特点，已经在手机、平板电脑、笔记本电脑、电视等显示产品获得大量应用。
[0003]在TFT-LCD的生产过程中，常在产线外使用TEG(Test Element Group，即面板电性测试群组)对产品AA区(即显示区)进行电性测试以进行失效分析。
[0004]但传统TEG采用人工按压方式扎针，而扎针测试的导电体上方一般均有多层绝缘膜层，因此，需将上方膜层扎破或用其他方法剥离上方膜层。人工手动按压扎针，力度不易掌控，较难精准扎针至所需膜层。
【发明内容】
[0005]本发明提供一种用于TFT-LCD显示面板的电性测试装置及其电性测试的方法，以解决现有技术中人工手动按压扎针，力度不易掌控，较难精准扎针至所需膜层等技术问题。
[0006]为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是:提供一种用于TFT-1XD显示面板的电性测试装置，其包括探针和步进组件，步进组件与该探针连接，用于驱动该探针以预设步进量进行步进伸缩，使得该探针穿过该TFT-LCD显示面板的绝缘膜，以对设于该绝缘膜下的导电体进行测试。
[0007]其中，该步进组件包括螺杆和马达，螺杆与该探针连接，该螺杆具有螺牙多圈螺牙；马达与该螺杆相装配，用于以螺牙圈数为单位步进量驱动该螺杆旋转以使该探针步进地伸缩。
[0008]其中，该电性测试装置还包括控制单元，该控制单元与该马达电连接，该控制单元包括检测模块、计算模块以及控制模块，检测模块用于检测该探针的针头与该导电体之间的距离;计算模块与该检测模块电连接，用于根据该距离计算该螺杆需旋转的螺牙圈数;控制模块与该计算模块电连接，用于控制马达按该需旋转的螺牙圈数驱动该螺杆旋转。
[0009]其中，该电性测试装置还包括测试单元，该测式单元通过导线与该探针电连接，以接收该探针的回传信号。
[0010]其中，该探针与该螺杆连接方式为套接、螺旋连接或焊接。
[0011]其中，该电性测试装置还包括显示单元，该显示单元与该控制单元电连接，以显示该距离和该需旋转的螺牙圈数。
[0012]为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是:提供一种TFT-LCD显示面板的电性测试方法，该方法包括步骤:预设步进组件的步进量;该步进组件驱动探针以该步进量步进伸缩于该TFT-LCD显示面板中的绝缘膜;该探针抵接该设于该绝缘膜下的导电体并进行电性测试。
[0013]其中，该步进组件驱动该探针以该步进量步进伸缩于该TFT-LCD显示面板中的绝缘膜的步骤包括:马达以螺牙圈数为单位步进量驱动螺杆旋转，以使该探针步进旋转地穿过该绝缘层。
[0014]其中，该马达以螺牙圈数为单位步进量驱动螺杆旋转，以使该探针步进旋转地穿过该绝缘层的步骤包括:检测该探针的针头与该导电体之间的距离;根据该距离计算该螺杆的螺杆需旋转的螺牙圈数;控制该马达按该需旋转的螺牙圈数驱动该螺杆旋转以带动该探针步进旋转地穿过该绝缘层。
[0015]其中，该控制马达按该需旋转的螺牙圈数驱动该螺杆旋转的步骤之后包括:时时检测并显示该探针的针头与该导电体之间的距离；如果在该探针停止步进时的距离大于零，则根据该距离重新计算该螺杆继续旋转的续转螺牙圈数;控制该马达按该续转螺牙圈数驱动该螺杆继续旋转。
[0016]本发明的有益效果是:区别于现有技术的情况，本发明提供了一种用于TFT-LCD显示面板的电性测试装置及其电性测试的方法，其包括探针和步进组件，步进组件与该探针连接，用于驱动该探针以预设步进量进行步进伸缩，使得该探针穿过该显示面板上的绝缘膜对设于该绝缘膜下的导电体进行测试。本发明可任意设置步进量，使调节灵活方便，提高电性测试装置的穿膜的移动精度，避免过力压损导电体或接触不到导电体进行电性测试，提高测试的质量。
【附图说明】
[0017]为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，其中:
[0018]图1是本发明一实施例的用于TFT-LCD显示面板的电性测试装置的结构示意图；
[0019]图2是本发明另一实施例的用于TFT-LCD显示面板的电性测试装置的控制单元示意图；
[0020]图3是本发明一实施例的TFT-1XD显示面板的电性测试的方法；
[0021]图4是本发明另一实施例的TFT-1XD显示面板的电性测试的方法。
【具体实施方式】
[0022]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0023]请参阅图1图1是本发明一实施例的用于TFT-LCD显示面板的电性测试装置的结构示意图。本发明的TFT-LCD显示面板2的电性测试装置I包括探针10和步进组件20，步进组件20与探针10连接，用于驱动探针10以预设步进量进行步进伸缩，使得探针10穿过TFT-LCD显示面板2的绝缘膜208，以对设于绝缘膜208下的导电体进行测试。
[0024]本发明的步进量可以指步进组件20的旋转圈数，也可以指步进组件20每前进一步其由起点到终点的距离。步进量的设置可以是手动输入，也可以是通过软件计算;另外步进量可以是步进组件20垂直下降或上升的位量，也可以是旋转下降或上升的位移。优选地，本发明的步进量为螺杆21(下面介绍)螺牙旋转的圈地数，也就是说相邻的螺牙间螺距d的个数，换句话而言，螺杆21中的螺牙每旋转一圈则前进了一步，该步所发生的位移为一个螺距d。当然，也可以是以两圈以上的螺牙(即两个以上的螺距d)为步进量。具体而言，本发明可以对步进组件20的步进量进行设置，即为，当螺距d为10微米(即螺牙旋转圈数为I)时，步进量可为每前进一步的位移为一个螺距d(10微米)(即螺牙每前进一步旋转圈数为I)，也可以为5个螺距d(50微米)(即螺牙每前进一步旋转圈数为5)，还可以为10个螺距d(100微米)(即螺牙每前进一步旋转圈数为10)，或者为35个螺距d(350微米)(即螺牙旋转圈数为35)、100个螺距d(1000微米)(即螺牙每前进一步旋转圈数为100)，当然，其也可以选择其它国标的螺距，其可根据实际需要进行选择。值得说明的是，导电体可以由金属制成，也要以由其它导电材料制成。
[0025]如图1所示，本发明的步进组件20包括螺杆21和马达22，螺杆21与探针10连接，螺杆21具有螺牙多圈螺牙；马达22与螺杆21相装配，用于以螺牙圈数为单位步进量驱动螺杆21旋转以使探针10步进地伸缩。本发明的探针10与螺杆21连接方式为套接、螺旋连接或焊接。
[0026]如图1所示，本发明的TFT-LCD显示面板2包括导电体、导电通道202以及依次层叠于玻璃基板203上的缓冲层204、通道层205、栅极绝缘层206、介质层207以及绝缘膜208，导电体可以为源极209、栅极210或漏极211。源极209和漏极211间隔设