单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置的制造方法

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单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及液晶模组的调测,具体地指一种单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置。
【背景技术】
[0002]随着液晶技术的发展,传统CRT显示技术逐渐被液晶显示技术所替代。由于液晶显示屏具有体积小、尺寸小、重量轻、功耗低的优点,因而成就了智能手机、平板电脑、液晶电视等设备的长足发展,但随之而来的就是液晶生产厂商的产量压力。
[0003]闪烁度是评估液晶模组好坏的一个重要参数,由于器件之间的差异等问题,造成同一型号不同个体之间存在一定的差异,从而导致每个个体需要设定不同的闪烁度调节参数。目前,传统调节方法是通过人眼观测闪烁度,再使用手动调节参数,这样带来的两个问题是:第一,不同模组个体之间,闪烁度很难保证一致或者最佳值;第二,效率太低,速度太慢,并且随着工人作业时间的增加,可能存在一定的误调、漏调等问题。因此,这种传统的且过度依赖人工的作业方式,越来越无法满足巨大的市场需求,所以提高工作效率的需求成为液晶模组生产厂商的首要任务。

【发明内容】

[0004]本实用新型目的在于克服上述现有技术的不足而提供一种单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置,该装置能够自动快速调节液晶模组闪烁度,提高工作效率。
[0005]实现本实用新型目的采用的技术方案是一种单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置,该装置包括:
[0006]第一液晶模组放置卡位,用于放置第一液晶模组;
[0007]第二液晶模组放置卡位,用于放置第二液晶模组;以及
[0008]转动探头,其装有电测设备和闪烁度测量仪,所述转动探头转至所述第一液晶模组放置卡位上方后对第一液晶模组进行上料电测或者闪烁度自动调测与烧录,所述转动探头转至所述第二液晶模组放置卡位上方后对第二液晶模组进行闪烁度自动调测与烧录或者上料电测。
[0009]进一步地,上述单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置还包括底座和安装在所述底座上的转轴,所述第一液晶模组放置卡位和第二液晶模组放置卡位也安装在所述底座上,且位于所述转轴的两侧,所述转动探头通过连接杆安装在所述转轴上。
[0010]在上述技术方案中,所述转轴上设有将所述探头限定在第一液晶模组放置卡位上或者第二液晶模组放置卡位上的限位器。
[0011]进一步地,上述单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置还包括液晶模组信号发生器,所述液晶模组信号发生器与第一液晶模组和第二液晶模组连接。
[0012]更进一步地,上述单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置还包括电脑,所述电脑分别与所述闪烁度测量仪和液晶模组信号发生器连接。
[0013]本实用新型结构简单,使用方便,通过专用的闪烁度测量仪替代人眼进行闪烁度测量,该闪烁度测量仪具备16次闪烁度/秒的测量速度,精度、速度远远高于人眼,且能够量化测量结果,从而避免人眼观测带来的误差,提高速度。
[0014]此外,本实用新型在充分考虑人在整个测量过程中的作业时间基础上,同时考虑到上料目测过程与闪烁度测量过程的顺序执行特性,本实用新型将调测过程的上料电测与闪烁度测量烧录分开进行,即对当前液晶模组闪烁度测量烧录的同时,进行下一液晶模组的上料电测,当前液晶模组闪烁度测量烧录完毕后,进行下一液晶模组的闪烁度测量烧录,并同时又对下一液晶模组的上料电测,如此重复循环操作,能够避免使用自动调测设备后带来的人力利用不充分的问题,提高了作业效率。
【附图说明】
[0015]图1为本实用新型单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置的结构示意图。
[0016]图2为本实用新型单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置中各单元的连接框图。
【具体实施方式】
[0017]下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的详细说明。
[0018]如图1所示,本实用新型单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置包括底座I和转动探头4,底座I上装有转轴5,转轴5的两侧分别设有第一液晶模组放置卡位2和第二液晶模组放置卡位3,第一液晶模组放置卡位2用于放置第一液晶模组21,第二液晶模组放置卡位3用于放置第二液晶模组31。
[0019]转动探头4设于连接杆6的一端,连接杆6的另一端与转轴5连接,转轴5转动时,通过连接杆6带动转动探头4,从而实现将转动探头4移动至第一液晶模组21的上方处或者第二液晶模组31的上方处。转动探头4上装有电测设备和闪烁度测量仪,本实用新型所用闪烁度测量仪具备16次闪烁度/秒的测量速度,其精度、速度远远高于人眼,且能够量化测量结果,避免人眼观测带来的误差,提高速度。
[0020]为了防止转动探头4在转动时偏移第一液晶模组21的上方处或者第二液晶模组31的上方,本实用新型在转轴5上设有将转动探头4限定在第一液晶模组21上方或者第二液晶模组31上方的限位器7。限位器7的作用在于:当转动探头4被带动向第一液晶模组21或者第二液晶模组31的方向运动时,限位器7能够防止转动探头4超出第一液晶模组21或者第二液晶模组31的位置。
[0021]本实用新型还包括液晶模组信号发生器、电脑和电气控制箱,如图2所示,液晶模组信号发生器与第一液晶模组和第二液晶模组连接,用于驱动液晶模组,提供图像以及电源信号输出,提供模组参数的写入与读出通道;电脑分别与所述闪烁度测量仪和液晶模组信号发生器连接,提供闪烁度测量仪以及信号发生器的操作与控制,并提供人机交互界面,提供测量结果以及测量过程的监视。电气控制箱用于本实用新型装置所需的照明、传感器、背光等电气部分的设备供电、控制等供电。
[0022]使用本实用新型单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置对液晶模组进行闪烁度自动调测的过程如下:
[0023]S100、同时在第一液晶模组放置卡位2和第二液晶模组放置卡位3分别放置第一液晶模组21和第二液晶模组31两块液晶模组。
[0024]S200、对第一液晶模组21和第二液晶模组31两块液晶模组进行上料电测。
[0025]S300、当两块液晶模组上料电测完毕后,将转动探头4移动至第一液晶模组21处进行闪烁度自动调测与烧录。
[0026]S400、第一液晶模组21处进行的闪烁度自动调测与烧录完毕后,将转动探头4转至第二液晶模组31处(图中41所示位置处)对进行闪烁度自动调测与烧录。同时,对第一液晶模组放置卡位2下料,然后进行对下一液晶模组的上料电测。
[0027]S500、当第二液晶模组31闪烁度自动调测与烧录完毕,且第一液晶模组放置卡位2上下一液晶模组的上料电测完毕后,将转动探头4移动至第一液晶模组放置卡位2处(图中42所示位置处)进行闪烁度自动调测与烧录。同时,对第二液晶模组放置卡位3进行下料及上料电测。
[0028]S600、循环上述步骤S400至S500,直至调测结束。
[0029]在上述过程中,为了避免误操作,本实用新型通过电脑软件进行了如下控制:
[0030](I)、闪烁度自动调测与烧录流程未进行完毕,则通过控制限位器7锁定,从而使得转动探头7不允许被移动,本实施例所用限位器可以为电动锁定装置,只有当自动调测与烧录过程结束后,限位器7才会解锁,此时才能将转动探头7至另一模组放置卡位处。
[0031](2)、当经过自动闪烁度调测后,闪烁度测量结果不满足设定闪烁度范围时,电脑控制相关设备进行声光报警,并在操作电脑上提示操作员进行“再次测量”或者“调测失败”选择,以决定是否继续。
[0032](3)、在闪烁度测量时,对应位置处的液晶模组,电脑监控电气控制箱,不允许进行开关电、切图等操作,必须等闪烁度调测烧录完毕后才能进行相关操作。
【主权项】
1.一种单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置,其特征在于,包括: 第一液晶模组放置卡位,用于放置第一液晶模组; 第二液晶模组放置卡位,用于放置第二液晶模组;以及 转动探头,其装有电测设备和闪烁度测量仪,所述转动探头转至所述第一液晶模组放置卡位上方后对第一液晶模组进行上料电测或者闪烁度自动调测与烧录,所述转动探头转至所述第二液晶模组放置卡位上方后对第二液晶模组进行闪烁度自动调测与烧录或者上料电测。2.根据权利要求1所述单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置,其特征在于:还包括底座和安装在所述底座上的转轴,所述第一液晶模组放置卡位和第二液晶模组放置卡位也安装在所述底座上,且位于所述转轴的两侧,所述转动探头通过连接杆安装在所述转轴上。3.根据权利要求2所述单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置,其特征在于:所述转轴上设有将所述探头限定在第一液晶模组放置卡位上或者第二液晶模组放置卡位上的限位器。4.根据权利要求1?3任一项所述单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置,其特征在于:还包括液晶模组信号发生器,所述液晶模组信号发生器与第一液晶模组和第二液晶模组连接。5.根据权利要求4所述单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置,其特征在于:还包括电脑,所述电脑分别与所述闪烁度测量仪和液晶模组信号发生器连接。
【专利摘要】本实用新型涉及一种单人双工位液晶模组闪烁度自动调测装置,该装置包括:第一液晶模组放置卡位,用于放置第一液晶模组;第二液晶模组放置卡位,用于放置第二液晶模组;以及转动探头,其装有电测设备和闪烁度测量仪,所述转动探头转至所述第一液晶模组放置卡位上方后对第一液晶模组进行上料电测或者闪烁度自动调测与烧录,所述转动探头转至所述第二液晶模组放置卡位上方后对第二液晶模组进行闪烁度自动调测与烧录或者上料电测。本实用新型结构简单,使用方便,通过专用的闪烁度测量仪替代人眼进行闪烁度测量能够量化测量结果,从而避免人眼观测带来的误差,提高速度。此外,能够避免使用自动调测设备后带来的人力利用不充分的问题,提高了作业效率。
【IPC分类】G02F1/13
【公开号】CN204631399
【申请号】CN201520368181
【发明人】彭骞, 刘艳飞, 刘荣华, 陈凯, 沈亚非
【申请人】武汉精测电子技术股份有限公司
【公开日】2015年9月9日
【申请日】2015年5月29日
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