主轴锥度检测装置的制作方法

文档序号:3028473阅读:574来源:国知局
专利名称:主轴锥度检测装置的制作方法
技术领域
本实用新型涉及机床主轴锥度检测技术领域,具体说是一种主轴锥度检测装置。
背景技术
目前,在现有的车床主运动中主轴锥度的检测主要用仪表测量,仪表测量时检测的是圆锥锥度的母线,每一点每一次测量的数据都不是唯一的,所以测量时尺寸变化很大,难以控制,而且增加了劳动强度。而主轴作为主轴组件中关键件,其精度直接影响机床的精度,以至影响被加工零件的几何精度。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种检测车床主轴前端花盘与主轴安装1∶30锥度,可以检测面与面的接触,从而提高主轴接触精度的一种主轴锥度检测装置。
本实用新型的技术问题采用下列技术方案解决一种主轴锥度检测装置,由一对环规和塞规配套组成,所述的塞规为一圆环状,其外径设一1∶30锥度的锥面;所述的环规也为一圆环状,其内圈为一1∶30锥度的锥孔,锥孔的外围开一调节孔。
与传统的仪表测量相比,本实用新型结构简单,操作方便,适用性强,检测精度高,提高了主轴的回转精度,从而达到提高整台机床精度的目的。


图1为塞规结构示意图图2为塞规右视图图3为环规结构示意图图4为环规右视图图5为环规与塞规装配图图6为环规与塞规装配侧视图图7为环规与主轴装配图具体实施方式
本实用新型设计一对环规和塞规配对使用,环规1用于检测主轴前端1∶30锥度,塞规2用于校准环规和检验花盘1∶30锥度,采用着色法检测,将环规与主轴1∶30锥度研合,看其接触面接触精度。
塞规2右端外径有1∶30的锥面3,用于校准环规,先用塞规2将配对环规1校准,将塞规1∶30的锥度上涂上铅粉,然后与环规上1∶30的内锥度配研,看其两者的接触斑点。保证接触面在90%以上,环规与塞规校准时保证大端面到塞规测量面间距0.04mm,至此校准环规工作已完成。考虑到操作方便,在塞规两端装有两个手柄7。
环规1内圈为一1∶30锥度的锥孔4,锥孔4的外围开一调节孔5。用于检验主轴1∶30的锥度,为了操作方便也在其两端装有两个手柄6。检测时在主轴8的锥面上涂上铅粉,涂色层厚不得超过0.004mm,用环规1与主轴1∶30锥度研磨,保证接触面在90%以上,根据研磨所出现的黑色高点来调整锥面的锥度,用磨床磨削整个锥面直到加工到规定的尺寸,通过这种方法可以很方便的达到加工锥度所需的精度要求。
权利要求1.一种主轴锥度检测装置,其特征在于它由一对环规和塞规配套组成,所述的塞规(2)为一圆环状,其外径设一1∶30的锥面(3);所述的环规(1)也为一圆环状,其内圈为一1∶30锥度的锥孔(4),锥孔(4)的外围开一调节孔(5)。
2.根据权利要求1所述的一种主轴锥度检测装置,其特征在于所述的环规1其锥度大端尺寸为¢406.6±0.005。
专利摘要本实用新型公开了一种主轴锥度检测装置,由一对环规和塞规配套组成,所述的塞规为一圆环状,其外径设一1∶30锥度的锥面;所述的环规也为一圆环状,其内圈为一1∶30锥度的锥孔,锥孔的外围开一调节孔。本实用新型结构简单,操作方便,适用性强,检测精度高,提高了主轴的回转精度,从而达到提高整台机床精度的目的。
文档编号B23Q17/00GK2860730SQ200520105828
公开日2007年1月24日 申请日期2005年12月2日 优先权日2005年12月2日
发明者李维谦 申请人:天水星火机床有限责任公司
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