用于制造透明导电膜的方法与流程

文档序号:20955593发布日期:2020-06-02 20:23阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种制造透明导电膜的方法,所述方法包括:

准备基底;以及

在所述基底上形成包含由下式1表示的化合物的薄膜,

其中薄膜的形成通过在250℃或更低的温度下的rf溅射工艺来进行,

[式1]

baplaqsnmon

在式1中,

p、q、m和n为原子含量比,

p、m和n各自独立地大于0且为6或更小,以及

q为0至1。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述基底为玻璃基底、硅基底或塑料基底。

3.根据权利要求1所述的方法,其中所述rf溅射工艺在100℃至250℃的温度下进行。

4.根据权利要求1所述的方法,其中所述rf溅射工艺在的沉积速率下进行。

5.根据权利要求1所述的方法,其中所述rf溅射工艺使用由式1表示的化合物靶。

6.根据权利要求1所述的方法,其中所述薄膜的厚度为200nm至1,000nm。

7.根据权利要求1所述的方法,其中所述薄膜的薄层电阻为10ω/平方至14ω/平方。

8.根据权利要求1所述的方法,其中所述薄膜在350nm至1,000nm的厚度下的光学透射率为92%或更大。


技术总结
根据本申请的一个示例性实施方案的制造透明导电膜的方法包括准备基底;以及在所述基底上形成包含由式1表示的化合物的薄膜,其中薄膜的形成通过在250℃或更低的温度下的RF溅射工艺来进行。

技术研发人员:申东明;文钟敏
受保护的技术使用者:株式会社LG化学
技术研发日:2018.11.13
技术公布日:2020.06.02
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