一种用于可转位数控周边磨床b轴精度测量的系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统。
【背景技术】
[0002]在现有技术中，在利用数控可转位刀片周边磨床在磨削硬质合金数控刀片时，其加工精度是重要的指标；在加工过程中，B轴是周边磨床最主要的轴之一，他的精度直接影响到加工工件(刀片)的精度；而周边磨床内B轴的位置比较特殊，其体积比较小，因此一般的激光干涉仪等设备都无法安装和测量；从而导致B轴的精度无法检测，加工工件无法保证质量；现有的技术中一般只能通过大量试磨的方法来检验精度，这样会带来一旦出现精度问题，更换和安装都比较困难。
【发明内容】
[0003]本发明提出了一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，通过测量块和高精度圆光栅配合，在整机试磨前检验其精度问题，并进行适当的补偿。
[0004]本发明采用的技术方案是:
一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，包括数控系统和主机B轴，其特征在于:所述主机B轴的一侧安装有测量块，所述测量块上依次连接有高精度圆光栅、数显变送器和上位机，所述上位机与数控系统连接，所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出补偿数据给数控系统的输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块，其测量补偿步骤如下:
(I)所述上位机通过目标设定模块设定测量块的测量点的位置和个数，通过采集数据启动模块设定测量次数及测量方向，通过自动数据采集设定模块设定数据采集方式；
(2 )启动主机B轴，同时启动高精度圆光栅测量测量块各个测量点来检测主机B轴的精度，通过数显变送器将测量数据送入上位机；
(3)上位机通过输出系统补偿模块进行处理后输出补偿数据给数控系统，并通过测量报告生成模块生成测量及数据补偿报告在上位机中显示；
(4)数控系统根据补偿数据调整主机B轴。本发明通过测量块和高精度圆光栅配合，在整机试磨前检验其精度问题，并进行适当的补偿。
[0005]进一步，所述高精度圆光栅为18000线的圆光栅，其测量步距可以达到0.005°。
[0006]进一步，所述上位机通过USB 口连接数显变送器。
[0007]进一步，所述目标设定模块包括输入第一定位点、最终定位点、间距值、目标值和点数点后位数预输入模块。
[0008]进一步，所述采集数据启动模块包括定位方式、测量次数和选择测量方向预输入丰旲块。
[0009]进一步，所述自动数据采集设定模块由采集方式设定模块组成；所述采集方式设定模块包括定时采集模块和位置采集模块。
[0010]本发明的有益效果:本发明通过测量块和高精度圆光栅配合，在整机试磨前检验其精度问题，并将其数据回送到数控系统，进行适当的补偿；同时也可以自动生成系统补偿表。
【附图说明】
[0011 ] 图1是本发明的整体流程示意图。
[0012]图2是本发明的高精度圆光栅的安装示意图。
【具体实施方式】
[0013]下面结合具体实施例来对本发明进行进一步说明，但并不将本发明局限于这些【具体实施方式】。本领域技术人员应该认识到，本发明涵盖了权利要求书范围内所可能包括的所有备选方案、改进方案和等效方案。
[0014]参照图1、图2，一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，包括数控系统和主机B轴1，所述主机B轴I的一侧安装有测量块，所述测量块上依次连接有高精度圆光栅2、数显变送器和上位机，所述上位机与数控系统连接，所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出补偿数据给数控系统的输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块，其测量补偿步骤如下:
(1)所述上位机通过目标设定模块设定测量块的测量点的位置和个数，通过采集数据启动模块设定测量次数及测量方向，通过自动数据采集设定模块设定数据采集方式；
(2)启动主机B轴1，同时启动高精度圆光栅2测量测量块各个测量点来检测主机B轴的精度，通过数显变送器将测量数据送入上位机；
(3)上位机通过输出系统补偿模块进行处理后输出补偿数据给数控系统，并通过测量报告生成模块生成测量及数据补偿报告在上位机中显示；
(4)数控系统根据补偿数据调整主机B轴。本发明通过测量块和高精度圆光栅配合，在整机试磨前检验其精度问题，并进行适当的补偿。
[0015]本实施例所述高精度圆光栅为18000线的圆光栅，其测量步距可以达到0.005°。
[0016]本实施例所述上位机通过USB 口连接数显变送器。
[0017]本实施例所述目标设定模块包括输入第一定位点、最终定位点、间距值、目标值和点数点后位数预输入模块。目标设定模块可以设置第一定位点，最终定位点，间距值，目标值，点数点后位数。
[0018]本实施例所述采集数据启动模块包括定位方式、测量次数和选择测量方向预输入模块。采集数据启动模块可以设置定位方式、测量次数和选择测量方向等，测量次数是总的测量边数，方向可选择单向或者双向，选择单向意思是从正向0°，10°，20°......360°重复O。，10。，20。......360。。选择双向的意思是 0°，10。，20。......360。，360。，350。，
340。......0。如此往复。
[0019]本实施例所述自动数据采集设定模块由采集方式设定模块组成；所述采集方式设定模块包括定时采集模块和位置采集模块。自动数据采集设定模块可以设置自动采集功能，采集方式分两种，一是定时，二是位置。定时方式以时间间隔来判断是否已经到位，位置方式是时间间隔一定时间后在公差范围内才认为已经到位记录数据否则认为数据超过范围不进行记录。
[0020]本发明使用时目标设定模块内的第一定位点默认为O度，最终定位点为360度，间距值为10度，目标数为37，小数点后位数为3。采集数据启动模块定位方式为线性定位方式，测量次数为3次，选择方向为双向，误差带，微米为I。自动数据采集设定模块自动采集为有效，采集方式为定时，读数据时间为3秒，越程周期为4秒，越程行动为时间到。上位机软件及机床B轴I同时启动，当机床B轴I按正方向走过一圈(从O度开始超过360度)后，上位机将数显变送器输送的测量数据通过输出系统补偿模块进行处理后输出补偿数据给数控系统，并通过测量报告生成模块生成测量及数据补偿报告在上位机中显示；数控系统根据补偿数据调整主机B轴1，这样B轴的参数补偿完成了。
【主权项】
1.一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，包括数控系统和主机B轴，其特征在于:所述主机B轴的一侧安装有测量块，所述测量块上依次连接有高精度圆光栅、数显变送器和上位机，所述上位机与数控系统连接，所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出补偿数据给数控系统的输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块，其测量补偿步骤如下: (I)所述上位机通过目标设定模块设定测量块的测量点的位置和个数，通过采集数据启动模块设定测量次数及测量方向，通过自动数据采集设定模块设定数据采集方式； (2 )启动主机B轴，同时启动高精度圆光栅测量测量块各个测量点来检测主机B轴的精度，通过数显变送器将测量数据送入上位机； (3)上位机通过输出系统补偿模块进行处理后输出补偿数据给数控系统，并通过测量报告生成模块生成测量及数据补偿报告在上位机中显示； (4)数控系统根据补偿数据调整主机B轴。2.如权利要求1所述的一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于:所述高精度圆光栅为18000线的圆光栅，其测量步距可以达到0.005°。3.如权利要求1所述的一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于:所述上位机通过USB 口连接数显变送器。4.如权利要求1所述的一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于:所述目标设定模块包括输入第一定位点、最终定位点、间距值、目标值和点数点后位数预输入模块。5.如权利要求1所述的一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于:所述采集数据启动模块包括定位方式、测量次数和选择测量方向预输入模块。6.如权利要求1~5之一所述的一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于:所述自动数据采集设定模块由采集方式设定模块组成；所述采集方式设定模块包括定时采集模块和位置采集模块。
【专利摘要】本发明提供了一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，包括数控系统和主机B轴，所述主机B轴的一侧安装有测量块，所述测量块上依次连接有高精度圆光栅、数显变送器和上位机，所述上位机与数控系统连接，所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出补偿数据给数控系统的输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块，其测量补偿步骤如下：所述上位机参数设定，启动主机B轴，同时启动高精度圆光栅测量来检测主机B轴的精度，通过数显变送器将测量数据送入上位机；上位机输出补偿数据给数控系统，并生成和显示测量及数据补偿报告；数控系统根据补偿数据调整主机B轴。
【IPC分类】G01B11/00, B24B49/12
【公开号】CN105108650
【申请号】CN201510442466
【发明人】裴忠, 吴建强, 邹伟杰, 金宇立, 王谟
【申请人】天通吉成机器技术有限公司
【公开日】2015年12月2日
【申请日】2015年7月24日