技术总结
本发明涉及使用半抗原和与其结合的抗体作为参照抗体的免疫测量方法，以及使用所述参照抗体的免疫测量装置。根据本发明，周围环境被反映在例如对结果值的修正中，其中被外部因素(例如样品和装置的温度、所述样品的输入体积和成分，以及所述装置的变异性)改变的测试区的数值被反映在参照区中并被改变，以便可用在免疫测定中。此外，由于不可能发生与所述样品中的物质的非特异性反应，因此可以使分析误差最小化。
技术研发人员：朴仙荣;金廷律;金圣宇;申锦珠;李志哲
受保护的技术使用者：SK电信有限公社
文档号码：201480065579
技术研发日：2014.10.31
技术公布日：2018.01.19