置和用于实施根据本发明的方法的控制单元。相应地，根据本发明的挤出设备带来与 详细参照根据本发明的方法所阐述的优点相同的优点。根据本发明的挤出设备尤其用于制 造薄膜形式的挤出产品，尤其为吹制薄膜或浇铸薄膜形式的挤出产品。
【附图说明】
[0043] 参照附图更为详细地阐述本发明。在此所使用的术语"左边"、"右边"、"上边"和 "下边"涉及到具有正常可读的附图标记的、附图的取向。附图示意性地示出：
[0044] 图1根据本发明的挤出设备的一种实施形式的示意图；
[0045] 图2根据本发明的方法的步骤的示意图。
【具体实施方式】
[0046] 图1示出了根据本发明的挤出设备10的一种实施形式，在其中可以使用根据本发 明的方法。该挤出设备10示例性地具有挤出螺杆30,该挤出螺杆通过存放容器20被供给 材料或由不同材料构成的配方。多个传感器装置70可以在挤出设备10的不同部位处确定 针对不同工艺参数的测量数据。
[0047] 这样，例如存放容器20配备有用于重量测定和用于料位确定的传感器装置70。此 外，传感器装置70在挤出螺杆30的转动轴的左端部上能够识别出，挤出螺杆30可以具有 何种转速和/或转矩。在挤出螺杆30的右端部上存在传感器装置70,其例如可以识别在该 位置处的熔体压力和/或熔体温度。同样，在右侧支承有和位于挤出设备10的喷嘴后面的 是传感器装置70,其例如可以确定例如为薄膜带62形式的挤出产品60的吸收特性。尤其 可以通过整个右边布置的传感器装置70确定卷绕辊50的卷重量，在该卷绕辊上卷绕挤出 产品60。所有的传感器装置70将所确定的测量数据转发给控制单元80,在该控制单元中 实施根据本发明的方法。此外在图1中在用于挤出产品60的喷嘴与卷绕辊50之间布置有 工具设备1〇〇,其例如可以是挤出产品60的冷却、校准或导向装置。在本发明的范围内，吹 制头也可考虑作为工具设备100。
[0048] 图2示出了根据本发明的方法的一种实施方式的一部分。这样，例如通过根据图 1的实施形式的传感器装置70针对多个工艺参数确定测量数据。挤出方法的各个工艺参 数的测量数据在此作为第一工艺参数Vl设置有值12. 4和作为第二工艺参数V2设置有值 120. 1。通过这些点显示，当然可以将较大数目的工艺参数输送给控制单元80。控制单元 80将数据库90中的所确定的测量数据与存储在那里的存储数据相比较，所述存储数据针 对各个配方Rl和R2是特定的。如在此从该比较可以看到的那样，由于工艺参数Vl和V2 而必定涉及配方Rl。
[0049] 如果在此情况下所期望的特定配方与Rl等同，则可以继续该方法。然而，如果期 望其他的特定配方作为R1，则在此情况下给出报警，使得可以进行对设定的配方和所使用 的材料的检查。
[0050] 上述对各实施形式的阐述只在实例的范围内描述了本发明。当然，实施形式的各 个特征只要技术上有意义可以彼此自由组合，而不离开本发明的范围。
[0051] 附图标记列表
[0052] 10挤出设备
[0053] 20存放容器
[0054] 30挤出螺杆
[0055] 40调温装置
[0056] 50卷绕辊
[0057] 60挤出产品
[0058] 62薄膜带
[0059] 70传感器装置
[0060] 80控制单元
[0061] 90数据库
[0062] 100工具设备
[0063] Vl第一工艺参数
[0064] V2第二工艺参数
[0065] Rl第一配方
[0066] R2第二配方
【主权项】
1. 一种用于在挤出设备（10)中间接地确定在挤出方法中的特定配方的方法，具有如 下步骤： -确定挤出设备（10)的挤出方法的至少一个工艺参数的测量数据， -将所确定的测量数据与相同工艺参数的关于特定配方所存储的存储数据比较， -确定测量数据与相同工艺参数的存储数据的偏差，以及 -将偏差与预定的偏差阈值比较。2. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，使用存放容器（20)的填充特征作为用于 确定测量数据的至少一个工艺参数，尤其是通过单位时间内提取的重量和提取的体积之间 的关系确定容积密度作为测量数据。3. 根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，使用在挤出设备（10)的挤出 螺杆（30)的转矩和转速之间的比例作为用于确定测量数据的至少一个工艺参数。4. 根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，使用在挤出设备（10)的挤出 螺杆（30)的轴向延伸上形成的温度分布作为用于确定测量数据的至少一个工艺参数。5. 根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，使用至少一个电调温装置 (40)的电流消耗作为用于确定测量数据的至少一个工艺参数。6. 根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，使用在挤出设备（10)的挤出 螺杆（30)的尖端处的熔体温度作为用于确定测量数据的至少一个工艺参数。7. 根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，使用在挤出设备（10)的挤出 螺杆（30)的尖端处的熔体压力和/或在挤出设备（10)的限定的熔体通道几何形状上的熔 体压力损耗作为用于确定测量数据的至少一个工艺参数。8. 根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，使用在挤出设备（10)的限定 的熔体通道几何形状上的熔体压力损耗作为用于确定测量数据的至少一个工艺参数。9. 根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，使用在卷绕辊（50)上卷绕的 薄膜带（62)的卷重量作为用于确定测量数据的至少一个工艺参数。10. 根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，使用挤出产品（60)的吸收 特征作为用于确定测量数据的至少一个工艺参数，尤其是在如下类型中的至少一种方面： -0-辐射 -红外辐射 -UV辐射 -激光辐射 -超声。11. 根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，尤其是基于挤出设备（10) 中的压力损耗和/或基于挤出设备（10)的电流消耗和/或基于熔体温度，使用黏性比较作 为用于确定测量数据的至少一个工艺参数。12. 根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，基于对测量数据的确定而绘 制特征曲线，尤其是关于生产过程和/或关于一个批次的过程来绘制。13. 根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，测量数据由多个至少两个不 同工艺参数来确定，其中所述偏差被相关联，尤其是以加权方式相关联。14. 根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，设有至少两个偏差阈值，其 中超过所述偏差阈值与不同的报警级别相关联，尤其是产生停止信号。15. 根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，根据所确定的测量数据在相 同工艺参数的所存储的存储数据中找寻合适的特定配方。16. 根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，在测量数据与存储数据的允 许的偏差处在预定的偏差阈值之下时，将所述测量数据添加给存储数据，并且尤其用于必 要时所需的改变或精细化所述偏差阈值，为此例如利用这些数据形成平均值。17. -种用于制造挤出产品（60)的挤出设备（10)，具有至少一个传感器装置（70)和 用于实施具有权利要求1至16中任一项的特征的方法的控制单元（80)。18. 根据权利要求17所述的挤出设备（10)，其特征在于，所述挤出设备（10)被构建为 用于制造薄膜形式、尤其吹制薄膜或浇注薄膜形式的挤出产品（60)。
【专利摘要】本发明涉及一种用于在挤出设备(10)中间接地确定在挤出方法中的特定配方的方法，具有如下步骤：-确定挤出设备(10)的挤出方法的至少一个工艺参数的测量数据，-将所确定的测量数据与相同工艺参数的关于特定配方所存储的存储数据比较，-确定测量数据与相同工艺参数的存储数据的偏差，以及-将偏差与预定的偏差阈值比较。
【IPC分类】B29C47/06, B29C47/92, B29C47/56
【公开号】CN104955631
【申请号】CN201480006154
【发明人】托斯滕·施米茨
【申请人】温德默勒&霍乐沙两合公司
【公开日】2015年9月30日
【申请日】2014年1月29日
【公告号】DE102013100866A1, EP2951000A1, WO2014118243A1