系统的蒸发器除霜的设备可以通过以下步骤进行操作:i)在标准电压下，从红外线发射二极管Dl产生红外线，并将红外线投射至蒸发器；ii)在红外线发射二极管D2处投射检测红外线并接收反射红外线，以测量施加至红外线发射二极管D2的电压；
iii)基于施加至红外线发射二极管D2的因红外线干扰和光电效应而下降的电压，在控制处理器处估算蒸发器上的霜厚度;并且iv)当霜厚度高于阈值时，使除霜系统操作。
[0025]本发明的其它有益效果在于使除霜器的操作时间最小化，这是因为在对蒸发器除霜时，除霜器的操作会根据来自控制处理器的实时信号而停止。当然，由于操作时间最小化，可以有效地节约除霜成本。
【附图说明】
[0026]图1是表示本发明的霜检测传感器、控制处理器和除霜器的结构的框图。控制处理器60包括信号设定部61和信号显示部62，在信号设定部中可输入和设定有除霜模式、除霜时间、除霜方法、除霜灵敏度、霜形成灵敏度和/或强制除霜周期，并且在信号显示部中可显示设定除霜模式、设定除霜时间、设定除霜方法和/或对蒸发器除霜的报警信号。
[0027]图2示出了本发明的除霜器系统的示意图。
[0028]图3a示出了表示在蒸发器上未形成霜的情况下红外线发射部51处的红外线投射以及红外线接收部52处的检测红外线投射的详细图。
[0029]图3b示出了表示在蒸发器上形成霜的情况下红外线发射部51处的红外线投射及红外线接收部52处的检测红外线投射的详细图。红外线干扰可发生在来自红外线接收部的检测红外线与来自霜的反射红外线之间。
[0030]图3c示出了在蒸发器上未形成霜的情况下的霜检测传感器的另一个实施例的另一图。在蒸发器上未形成霜的情况下，红外线从红外线发射部51投射，但投射的红外线不从蒸发器反射。因此，在红外线接收部52处不会检测到反射的红外线。
[0031]图3d示出了在蒸发器上形成霜的情况下霜检测传感器的另一个实施例的另一幅图。在蒸发器上形成霜的情况下，从红外线发射部51投射红外线，并且投射的红外线从蒸发器上的霜反射。因此，可以通过红外线接收部52中的晶体管TR处的电压生成来检测反射的红外线。
[0032]图4a示出了构成霜检测传感器中的红外线发射部51和红外线接收部52的电路。红外线发射部中的红外线发射二极管Dl施加有标准电压(5V)，并且红外线接收部中的红外线发射二极管D2施加有信号电压(5V反向电压)。
[0033]图4b示出了表示在霜检测传感器的红外线接收部处测量的信号电压和霜厚度之间的关系的曲线图。随着霜厚度的增加，红外线接收部处的信号电压因反向电压的产生而降低。霜的阈值厚度由T1表示，并且在该厚度处测量的信号电压SV1表示。
[0034]图4c示出了另一个霜检测传感器中的电路的另一个实施例。在标准电压下，从红外线发射部51中的红外线发射二极管Dl投射红外线至蒸发器20。根据反射红外线的强度，可以通过在红外线接收部52中的晶体管TR处生成的电压来测量霜的形成。
[0035]图5示出了霜检测传感器的示意图。霜检测传感器包括位于待与蒸发器的销连接的传感器的前部的右连接段和左连接段。
[0036]图6示出了表示在本发明的控制处理器中的除霜器的设定操作条件的流程图。根据该设定操作条件，基于来自控制处理器的信号来操作除霜器。
[0037]附图标记说明
[0038]10.冷却装置20.蒸发器30.霜
[0039]40.红外线反射50.霜检测传感器51.红外线发射部Dl
[0040]52.红外线接收部D2 60.控制处理器 70.除霜器
[0041]100.蒸发器中的蒸发管110.蒸发销
【具体实施方式】
[0042]本发明涉及一种使用红外线发射二极管传感器对制冷系统的蒸发器除霜的设备，该设备包括:1)霜检测传感器50，其用于接收来自控制处理器60的输出部的霜感测信号，并将霜检测信号传送至控制处理器60的输入部，其中，通过向霜投射红外线并投射和接收来自霜的反射红外线来生成霜检测信号；ii)控制处理器60，其用于在信号转换部中将霜检测信号转换成数字信号，以估算霜检测信号是否高于由信号设定部61设定的阈值，并将操作信号传送至除霜器70，且将显示信号传送至信号显示部62;以及iii)除霜器70，其基于来自控制处理器60的信号进行操作。
[0043]可以参照附图更详细地解释本发明。
[0044]图1是表示本发明的霜检测传感器、控制处理器和除霜器的构造的框图。
[0045]控制处理器60是本发明的构造的关键元件。霜检测传感器50与控制处理器60连接，以便传递电信号。另外，除霜器70也与控制处理器连接，以便进行操作以对蒸发器除霜。
[0046]霜检测传感器50包括红外线发射部和红外线接收部，并与控制处理器60连接，以便传递电信号。在标准电压下，优选地5V标准电压下，红外线发射部51中的红外线发射二极管Dl生成并投射红外线，并将其投射至蒸发器20。红外线接收部52中的红外线发射二极管D2也生成并投射检测红外线，以测量施加至红外线发射二极管D2的信号电压，由于红外线干扰和光电效应，该信号电压相比于标准电压降低。接着，霜检测传感器中的测量信号被传送至控制处理器60。
[0047]另外，来自霜检测传感器的模拟电压信号在控制处理器60的信号转换部中被滤波并转换成数字信号。然后，如果数字信号高于霜的阈值，那么来自控制处理器的操作信号被传送至除霜器70。
[0048]另外，控制处理器60包括信号设定部61和信号显示部62，在信号设定部中可以输入和设定有除霜模式、除霜时间、除霜方法、除霜灵敏度、霜形成灵敏度和/或强制除霜时段，并且在信号显示部中可以显示设定除霜模式、设定除霜时间、设定除霜方法和/或对蒸发器除霜的报警信号。
[0049]最后，通过除霜器70的操作来对形成在制冷系统的蒸发器上的霜进行除霜，其中，除霜器根据来自控制处理器60的信号进行操作。当然，只要加热设备可以对蒸发器除霜，任意类型的除霜器均是可用的。
[0050]图2示出了本发明的除霜器系统的示意图。
[0051 ]如图2所示，在将来自红外线发射部51的红外线投射至蒸发器20，形成在蒸发器上的霜反射红外线40，并在红外线接收部52处检测和测量红外线干扰之后，霜检测传感器可以测量红外线干扰信号。
[0052]所述红外线的波长的范围为800?950nm。
[0053]图3a示出了表示在蒸发器上未形成霜的情况下红外线发射部51处的红外线投射以及红外线接收部52处的检测红外线投射的详细图。
[0054]如果在蒸发器上未形成霜，则从红外线发射部51投射的红外线在蒸发器的蒸发管100或蒸发销110处被吸收。因此，不从蒸发器反射红外线。另外，从红外线接收部52投射的检测红外线在不受任何干扰的情况下被投射。因此，红外线接收部52的红外线发射二极管D2的电压应当与红外线发射部51的红外线发射二极管Dl的电压相同。红外线发射二极管Dl的电压优选为5V。
[0055]图3b示出了表示在蒸发器上形成霜的情况下红外线发射部51处的红外线投射及红外线接收部52处的检测红外线投射的详细图。红外线干扰可发生在来自红外线接收部的检测红外线与来自霜的反射红外线之间。
[0056]如果在蒸发器上形成霜，则从红外线发射部51投射的红外线在蒸发器上的霜上被反射。因此，从蒸发器反射红外线。另外，从红外线接收部52投射的检测红外线与从霜反射的红外线存在干扰。因此，由于该红外线干扰，红外线接收部52的红外线发射二极管D2的电压应当相比于红外线发射部51的红外线发射二极管Dl的电压下降。
[0057]图3c示出了