一种用于高温高压工况条件下的局部清扫反吹法兰的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种法兰，特别涉及一种用于高温高压工况条件下的局部清扫反吹法兰，适用于高温高压的局部清扫需求。
【背景技术】
[0002]对工况气体的成分，颗粒物浓度等进行测量时，有的测量仪表是直接安装于测量烟道的，但是由于工况气体高温，高压，含有水汽等，这样的测量环境对于测量仪表的稳定性会造成影响。例如使用动态电荷检测原理测量颗粒物浓度时，测量仪的探针要求和大地绝缘，但是由于水汽，细小的颗粒物等存在，会影响探针的绝缘性能。因此需要对探针的尾部绝缘体进行吹扫，以阻止水汽，细小颗粒物对其绝缘性能的影响。
[0003]传统的清扫方式多采用对绝缘体直接吹扫，或者采用没有缩口的反吹法兰，但是现场使用过程中依然会有颗粒物或者水汽直接进入绝缘体内，引起仪表测量不稳定，现存的主要问题如下所述。
[0004]如图1所示，提供的是现有的一种反吹法兰结构，这种反吹法兰1Pl具有一定的缩口，且缩口位置刚好环绕于绝缘体的周围，因此可以对绝缘体的表面进行直接的吹扫，但是，由于绝缘体和探针之间往往是采用密封圈连接的，长期的含水等复杂成分的高温高压工况气体和密封圈接触，会引起密封圈的老化，导致测量绝缘失败，从而影响到测量结果。其次，这种结构的反吹法兰，由于气体高速地流过绝缘体表面，将会引起气流沿反吹气体出口的法兰面回流，冷热气体交汇后往往容易结垢，从而影响绝缘性能。此外，这种结构的反吹法兰对安装精度要求很高，反吹气体出口和绝缘体往往只有1-2_的空间，安装时稍不留意，反吹法兰将和绝缘体直接接触，导致反吹失败，而且结垢加剧，影响绝缘性能。
[0005]如图2所示，提供的是现有的另一种反吹法兰结构。这种反吹法兰10P2无缩口，反吹法兰将绝缘体全部覆盖，气体直接吹入反吹法兰的腔室，但是腔室内气场混乱，在现场使用中仍然会有颗粒物或者水汽进入绝缘体，从而影响绝缘性能。
【实用新型内容】
[0006]本实用新型的主要目的在于提供一种反吹法兰，其中所述反吹法兰可用于高温高压工况条件下的局部清扫。
[0007]本实用新型的另一目的在于提供一种反吹法兰，其中所述反吹法兰可适用于高温高压的工况，用于对测量仪表的绝缘体部分进行吹扫，以阻止水汽，细小颗粒物对测量仪表的绝缘性能造成影响。
[0008]本实用新型的另一目的在于提供一种反吹法兰，其中所述反吹法兰在安装时没有严格的安装精度要求，因此便于安装，且其安装不会对吹扫效果造成干扰。
[0009]本实用新型的另一目的在于提供一种反吹法兰，其中所述反吹法兰可将测量仪表的绝缘体部分全部覆盖，从而避免用于连接绝缘体和探针的密封圈老化。
[0010]本实用新型的另一目的在于提供一种反吹法兰，其中所述反吹法兰可避免气体回流。
[0011]本实用新型的另一目的在于提供一种反吹法兰，其中所述反吹法兰可阻止被保护物体发生结垢现象。
[0012]本实用新型的另一目的在于提供一种反吹法兰，其中所述反吹法兰的缩口位置被改变，从而具有更好的吹扫效果。
[0013]本实用新型的另一目的在于提供一种反吹法兰，其中所述反吹法兰可在原有结构的基础上稍作改进，从而在一定程度上可降低其制造成本。
[0014]本实用新型的另一目的在于提供一种反吹法兰，其中所述反吹法兰的结构简单，便于大规模的生产与制造。
[0015]为了实现上述目的，本实用新型提供一种用于高温高压工况条件下的局部清扫反吹法兰，所述反吹法兰用于吹扫一被保护部件，其特征在于，所述反吹法兰包括一法兰本体，所述法兰本体具有一气体入口，一气体出口，一第一吹扫通道以及一第二吹扫通道，其中所述气体入口直接联通于所述第一吹扫通道，所述第二吹扫通道的两端分别联通于所述第一吹扫通道和所述气体出口，被保护部件被内置于所述第一吹扫通道，反吹气体由所述气体入口进入所述法兰本体，反吹气体得以先后通过所述第一吹扫通道和所述第二吹扫通道，并由所述气体出口而出，反吹气体通过流动的方式将所述第一吹扫通道内的杂质物去除，以阻止杂质物损坏所述被保护部件的性能。
[0016]根据本实用新型的一实施例，所述第二吹扫通道的内径尺寸小于所述第一吹扫通道的内径尺寸。
[0017]根据本实用新型的一实施例，所述法兰本体还具有一缓冲通道，其中所述缓冲通道形成于所述第二吹扫通道和所述气体出口之间，所述缓冲通道分别联通于所述第二吹扫通道和所述气体出口。
[0018]根据本实用新型的一实施例，所述缓冲通道的内径尺寸略大于所述第二吹扫通道的内径尺寸。
[0019]根据本实用新型的一实施例，所述第一吹扫通道，所述第二吹扫通道，所述缓冲通道形成于所述法兰本体的同一轴线上。
[0020]根据本实用新型的一实施例，所述法兰本体包括一第一法兰基体，一吹扫基体和一第二法兰基体，其中所述吹扫基体由所述第一法兰基体延伸至所述第二法兰基体，所述第一法兰基体和所述吹扫基体界定形成所述第一吹扫通道，所述第二法兰基体和所述吹扫基体界定形成所述第二吹扫通道。
[0021]根据本实用新型的一实施例，所述法兰本体还包括一缓冲基体，所述缓冲基体延伸于所述第二法兰基体，所述第二法兰基体和所述缓冲基体界定形成一缓冲通道。
[0022]根据本实用新型的一实施例，所述法兰本体包括一第一法兰基体，一吹扫基体和一第二法兰基体，其中所述第一法兰基体，所述吹扫基体和所述第二法兰基体共同界定形成所述第一吹扫通道。
[0023]根据本实用新型的一实施例，所述第二法兰基体的通道内缘具有一组螺纹，所述法兰本体还包括一缓冲基体，所述缓冲基体具有所述第二吹扫通道和一缓冲通道，所述缓冲基体螺纹连接于所述第二法兰基体。
[0024]根据本实用新型的一实施例，所述第二吹扫通道的内径尺寸小于所述第一吹扫通道的内径尺寸，所述缓冲通道的内径尺寸略大于所述第二吹扫通道的内径尺寸。
[0025]根据本实用新型的一实施例，所述第一法兰基体具有一组连接孔。
[0026]根据本实用新型的一实施例，所述第二法兰基体具有一组连接孔。
[0027]根据本实用新型的一实施例，所述法兰本体还包括一气体管，其中所述气体管突出地延伸于所述吹扫基体，所述气体管具有一气体通道，所述气体通道联通于所述第一吹扫通道，所述气体管得以连接于一进气设备。
【附图说明】
[0028]图1是反吹法兰现有的第一种结构形式示意图。
[0029]图2是反吹法兰现有的第二种结构形式示意图。
[0030]图3A是根据本发明的优选实施例的反吹法兰的正视图。
[0031]图3B是根据本发明的优选实施例的反吹法兰的剖视图。
[0032]图4是根据本发明的优选实施例的反吹法兰的应用示意图。
[0033]图5是根据本发明的优选实施例的反吹法兰的变形剖视图。
【具体实施方式】
[0034]以下描述用于揭露本发明以使本领域技术人员能够实现本发明。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。在以下描述中界定的本发明的基本原理可以应用于其他实施方案、变形方案、改进方案、等同方案以及没有背离本发明的精神和范围的其他技术方案。
[0035]如图3A至图4所示，提供了根据本发明的优选实施例的一种高温高压工况条件下的局部清扫反吹法兰，所示反吹法兰适用于一测量仪，所述测量仪包括一探针测量部3，所述探针测量部3具有一绝缘体4，所述探针测量部3需保持绝缘性能才能获得精确的测量数据，当所述测量仪用于测量高温高压的工况气体时，工况气体中的水汽或者颗粒物等杂质物进入所述绝缘体4时会影响到其绝缘性能，所述反吹法兰用于吹扫所述绝缘体4，以去除所述绝缘体4周围的杂质，以使所述绝缘体4处于洁净的气体环境。
[0036]所述反吹法兰包括一法兰本体10，所述法兰本体10具有一气体入口 101，一气体出口 102，一第一吹扫通道103以及一第二吹扫通道104，其中所述气体入口 101直接联通于所述第一吹扫通道103，所述第二吹扫通道104的两端分别联通于所述第一吹扫通道103和所述气体出口 102，所述第二吹扫通道104的内径小于所述第一吹扫通道103的内径尺寸，所述被保护部件即所述绝缘体4被内置于所述第一吹扫通道103，所述反吹法兰通过一反吹气体对所述绝缘体4进行吹扫，所述反吹气体由所述气体入口 101进入所述法兰本体10，所述反吹气体以一定速度先后通过所述第一吹扫通道103和所述第二吹扫通道104，并由所述气体出口 102而出，所述反吹气体通过流动的方式将所述第一吹扫通道103内的杂质物去除，以阻止杂质物破坏所述被保护部件。
[0037]所述法兰本体10还具有一缓冲通道105，所述缓冲通道105形成于所述第二吹扫通道104和所述气体出口 102之间，所述缓冲通道105分别联通于所述第二吹扫通道104和所述气体出口 102，其中所述缓冲通道105的内径尺寸略大于所述第二吹扫通道104的内径尺寸，当反吹气体由所述第二吹扫通道104进入所述缓冲通道105时，反吹气体的流速被降低，由此避免气体发生回流。
[0038]具体地，所述第一吹扫通道103的内径尺寸大于所述绝缘体4的外径尺寸，当所述绝缘体4被内置于所述第一吹扫通道103时，所述第一吹扫通道103得以预留有较大的间隙供所述反吹气体通过，所述绝缘体4不会碰触到所述第一吹扫通道103的通道内壁，因此所述法兰本体10在安装时不要求严格的安装精度，从而在使用过程中，便于安装。
[0039]优选地，所述第二吹扫通道104的内径尺寸略大于所述绝缘体4的外径尺寸，所述第二吹扫通道104和所述绝缘体4之间留有一定的间隙供反吹气体进入所述第二吹扫通道104。换言之，所述绝缘体4不会遮挡住所述第二吹扫通道104。可选择地，当所述第一吹扫通道103的长度大于所述绝缘体4的长度时，所述第二吹扫通道104的内径尺寸可小于或等于所述绝缘体4的外径尺寸。
[0040]值得一提的是，所述绝缘体4完全地被置于所述第一吹扫通道103内，换言之，所述第一吹扫通道103将所述绝缘体4完全覆盖住，所述第二吹扫通道104的内径尺寸小于所述第一吹扫通道103的内径尺寸，因此当反吹气体从所述第一吹扫通道103流入至所述第二吹扫通道104时，反吹气体流速被增大。所述第一吹扫通道103内的杂质物在反吹气体的吹动下被吹至所述第