专利名称：石英晶体全自动检测机的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种新型的石英晶体全自动检测机。
技术背景目前，在市面上所常见的一些晶片的检测机，大多数企业采用传统的晶片检测机，检测、定位工艺完全凭人工操作手动完成，产量低、产品可靠性差，不仅无法适应目前晶片生产企业日益激烈的竞争机制，而且难于满足国防等尖端技术产品对芯片可靠性的苛刻要求
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种新型的全自动晶片检测机，通过主机控制，控制闸板和分离板，实现全自动晶体的检测，通过可视及可触式液晶显示屏显示工作、任务及完成·量，并可实现报警提示，达到高产、高质、高可靠性的目的。为了解决上述问题，本实用新型采用以下技术方案，它由液晶显示屏(I)、电脑主机⑵、闸板(3)、分离板(4)、圆盘高度调节圈(5)、料槽(6)、料盒(7)、导线(8)、导线(9)组成。显示器(I)通过导线(9)与电脑主机(2)相连，在显示器(I)上直观显示机器运作状态，主机(2)通过导线(8)与机器相连，程序化控制机器整体运作，机器上方的闸板(3)与分离板(4)固定相连，使晶片被放倒顺利通过而碎片被过滤，圆盘高度调节圈(5)在分离板(4)下方，用来调节圆盘高度，料槽(6)上端与分离板(4)相连，下端与料盒(7)倾斜相连，料盒(7)则位于机器最下方，通过万有引力及机器震动，使被过滤完成的晶体由分离板通过料槽(6)机械传送到料盒(7)内，完成整个晶片筛选过程。本实用新型构思新颖，设计简单，通过可视窗口能够很好的直观的显示其工作状态，通过主机程序的设定，可实现全自动化工作，高精度、高效稳定、高性价比、易操控、人机友好，大大提高了工作效率，节省了人工成本。
图I是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
如图I所示，本具体实施方式
它由液晶显示屏(I)、电脑主机⑵、闸板(3)、分离板(4)、圆盘高度调节圈(5)、料槽(6)、料盒(7)、导线(8)、导线(9)组成。显示器⑴通过导线(9)与电脑主机(2)相连，在显示器(I)上直观显示机器运作状态，主机(2)通过导线与机器相连，程序化控制机器整体运作，机器上方的闸板(3)与分离板⑷固定相连，使晶片被放倒顺利通过而碎片被过滤，圆盘高度调节圈(5)在分离板(4)下方，用来调节圆盘高度，料槽(6)上端与分离板(4)相连，下端与料盒(7)倾斜相连，料盒(7)则位于机器最下方，通过万有引力及机器震动，使被过滤完成的晶体由分离板(4)通过料槽(6)机械传送到料盒(7)内，完成整个晶片筛选过程。本具体实施方式
中，通过通过可视窗口能够很好的直观的显示其工作状态，通过主机程序的设定，可实现全自动化工作 ，高精度、高效稳定、高性价比、易操控、人机友好，大大提高了工作效率，节省了人工成本。
权利要求1.石英晶体全自动检测机，其特征在于它由液晶显示屏(I)、电脑主机(2)、闸板(3)、分离板(4)、圆盘高度调节圈(5)、料槽(6)、料盒(7)、导线(8)、导线(9)组成，显示器(I)通过导线(9)与电脑主机(2)相连，在显示器(I)上直观显示机器运作状态，主机(2)通过导线(8)与机器相连，程序化控制机器整体运作，机器上方的闸板(3)与分离板(4)固定相连，使晶片被放倒顺利通过而碎片被过滤，圆盘高度调节圈(5)在分离板(4)下方，用来调节圆盘高度，料槽(6)上端与分离板(4)相连,下端与料盒(7)倾斜相连,料盒(7)则位于机器最下方，通过万有引力及 机器震动，使被过滤完成的晶体由分离板(4)通过料槽(6)机械传送到料盒(7)内，完成整个晶片筛选过程。
专利摘要石英晶体全自动检测机，其特征在于它由液晶显示屏(1)、电脑主机(2)、闸板(3)、分离板(4)、圆盘高度调节圈(5)、料槽(6)、料盒(7)、导线(8)、导线(9)组成。显示器(1)通过导线(9)与电脑主机(2)相连，在显示器(1)上直观显示机器运作状态，主机(2)通过导线(8)与机器相连，程序化控制机器整体运作，机器上方的闸板(3)与分离板(4)固定相连，使晶片被放倒顺利通过而碎片被过滤，圆盘高度调节圈(5)在分离板(4)下方，用来调节圆盘高度，料槽(6)上端与分离板(4)相连，下端与料盒(7)倾斜相连，料盒(7)则位于机器最下方，通过万有引力及机器震动，使被过滤完成的晶体由分离板(4)通过料槽(6)机械传送到料盒(7)内，完成整个晶片筛选过程。
文档编号B07C5/00GK202752245SQ20122027721
公开日2013年2月27日 申请日期2012年6月8日 优先权日2012年6月8日
发明者刘红亮 申请人:临沂中讯通科技电子有限公司