本实用新型涉及电子器件检测装置领域，具体涉及到一种晶振检测仪。
背景技术：
在电子技术领域的产品生产过程中，经常要用到一种原材料-- 晶体振荡器，简称晶振，产品生产完成后，如果晶振不起振将会影响设计功能的实现，但是，在生产过程中逐个测量晶振频率所花费的人力物力较大，因此人们设计有晶振检测仪。现有的晶振检测仪是由振动盘、晶体轨道以及晶体轨道上的检测机构组合而成的，晶体通过振动落下以被检测装置检测，其缺点是晶体直接由晶体轨道上方落入到检测装置位置处，其下落中途未设置有缓冲装置，常常造成因冲力较大而未完成检测的情况，而且一次性落料过多极易导致检测仪出现卡料或其它不可预估的问题；同时，检测后的产品需由人工对合格品或不合格品进行分选，费时费力。
技术实现要素：
本实用新型的目的是提供一种晶振检测仪，使晶振下落的冲力得到有效缓解，克服因冲力过大不能完成检测的问题。
为达上述目的，本实用新型所采用的技术方案是：提供一种晶振检测仪，包括晶体轨道以及设置在晶体轨道上的检测装置和导向装置；晶体轨道上还设有第一挡料座、第二挡料座以及用于单个晶振依次通行的晶振通槽，晶振通槽的下端与分选轨道连通，导向装置包括电机以及由电机带动旋转运动的导向轮；
第一挡料座上平行设置有对应晶体轨道一侧的第二挡料针和第四挡料针，第二挡料座上平行设有对应晶体轨道一侧的第一挡料针和第三挡料针，检测装置位于晶体轨道上对应第四挡料针的位置处；分选轨道通过主通槽与晶振通槽连通，主通槽的末端分叉为正品通槽和次品通槽，正品通槽和次品通槽的连接位置处设置有拨片。
优选的，主通槽、正品通槽和次品通槽三者交叉连通，呈“人”字形结构。
优选的，拨片使主通槽与正品通槽贯通或者主通槽与次品通槽贯通。
优选的，拨片的两侧均设置有弧形凹陷。
优选的，晶体轨道下方设有贯穿其左右两侧的挡料连板，挡料连板上固定设置有第一挡料座和第二挡料座。
优选的，第一挡料针、第二挡料座和第三挡料针的外部分别设置有供其滑行通过的过针槽。
优选的，第四挡料针位于晶体轨道上表面下方，贯穿晶体轨道左侧壁后伸入至晶振通槽内。
综上所述，本实用新型具有以下优点：
1、由于本实用新型在晶体轨道上设置有挡料装置，挡料装置上设置有多个挡料针，在晶振下落途中可以对其进行多次挡料操作，使晶振下落的冲力得到有效缓解，避免因冲力过大不能完成检测的问题发生，避免检测不完全和卡料等情况产生。
2、本实用新型通过晶振通槽与分选轨道连通，分选轨道上设置有铁轨交汇似的主通槽、正品通槽以及次品通槽，其可实现对合格品或不合格品的自动分选，无需人工操作，省时省力，大大提高检测效率。
附图说明
图1为本实用新型晶振检测仪的示意图；
其中，1、晶体轨道；2、晶振通槽；3、检测装置；4、电机；5、导向轮；6、第二挡料针；7、第一挡料针；8、第一挡料座；9、挡料连板；10、第二挡料座；11、第三挡料针；12、过针槽；13、第四挡料针；14、主通槽；15、分选轨道；16、次品通槽；17、拨片；18、正品通槽。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。
本实用新型的一个实施例中，如图1所示，提供了一种晶振检测仪，包括晶体轨道1以及设置在晶体轨道1上的检测装置3和导向装置；晶体轨道1上还设有第一挡料座8、第二挡料座10以及用于单个晶振依次通行的晶振通槽2，晶振通槽2的下端与分选轨道15连通，导向装置包括电机4以及由电机4带动旋转运动的导向轮5；
第一挡料座8上平行设置有对应晶体轨道1一侧的第二挡料针6和第四挡料针13，第二挡料座10上平行设有对应晶体轨道1一侧的第一挡料针7和第三挡料针11，检测装置3位于晶体轨道1上对应第四挡料针13的位置处；分选轨道15通过主通槽14与晶振通槽2连通，主通槽14的末端分叉为正品通槽18和次品通槽16，正品通槽18和次品通槽16的连接位置处设置有拨片17。
本实用新型的优化实施例，主通槽14、正品通槽18和次品通槽1三者交叉连通，呈“人”字形结构，拨片使主通槽14与正品通槽18贯通或者主通槽14与次品通槽16贯通，拨片17的两侧均设置有弧形凹陷；晶体轨道1下方设有贯穿其左右两侧的挡料连板9，挡料连板9上固定设置有第一挡料座8和第二挡料座10；第一挡料针7、第二挡料座6和第三挡料针11的外部分别设置有供其滑行通过的过针槽12；第四挡料针13位于晶体轨道1上表面下方，贯穿晶体轨道1左侧壁后伸入至晶振通槽2内。
第一挡料座8与第二挡料座10互斥运动，当第一挡料座10靠近晶体轨道1 时，第二挡料座10则远离，当第一挡料座8远离晶体轨道1 时，第二挡料座10则靠近。当第一挡料座8靠近晶体轨道1 开始检测晶振时，第二挡料针6挡住待检测晶振的后一个晶振，第四挡料针13 挡住待检测晶振；当第一挡料座8远离晶体轨道1 时，第四挡料针13向左移动，其上的已检测晶振由晶振通槽2进入主通槽14；第二挡料针6左移，其上的晶振开始下落，此时第二挡料座10靠近晶体轨道1移动，第三挡料针11也随着向左移动，挡住刚才下落的晶振，对晶振下落起到缓冲作用，同时第一挡料针7也对其上方的晶振下落起到缓冲作用，缓解下冲力。
当检测装置3检出合格品时，其通过控制系统控制拨片17向右侧摆动，使主通槽14与正品通槽18 贯通，相应合格的晶振会由晶振通槽2进入主通槽14，然后再进入正品通槽18 ；而当检测装置3检出非合格品时，其通过控制系统控制拨片17向左侧摆动，使主通槽14与次品通槽16贯通，相应非合格的晶振则会由晶振通槽2进入主通槽14，然后再进入次品通槽16。
主通槽14、正品通槽18和次品通槽16均为仅供单个晶振依次通行，使得晶振在分选后也依次进入储料装置，避免了晶振在落料过程中乱冲乱撞，起到保护晶振的作用；拨片17的两侧均设置有弧形凹陷，使晶振能够更为顺滑地进入正品通槽18或次品通槽16；同时在晶体轨道1 上还设置有导向装置，其可将晶振导向到晶振通槽2内最佳深度位置，防止卡料。
虽然结合附图对本实用新型的具体实施方式进行了详细地描述，但不应理解为对本专利的保护范围的限定。在权利要求书所描述的范围内，本领域技术人员不经创造性劳动即可作出的各种修改和变形仍属本专利的保护范围。