专利名称：：探测在纺织材料中的杂质的制作方法探测在纺织材料中的杂质发明领域发明涉及一种用于探测在纺织材料中杂质的设备和方法，具体地说，该设备和方法用于探测在例如纱线的束状纺织材料中污染物是否存在，这种设备和方法如在相应的独立权利要求中前序描述的那样。发明背景US6，175，408描述了一种发射白光并测量从在红色、绿色和蓝色频带范围中移动纱线反射光强度的测量设备。对于三个可能强度信号对中每一个，都形成一个差信号。当差信号中至少一个超过给定阈值时，则认为探测到污染物。发明的关键在于使用在较宽频镨产生白光的频率变换器，不使用窄带的单一的LED颜色。EP0399945Bl同样示出了一种具有多色光源的设备，其中在接收到的两个颜色强度之间的差异用来探测污染物。在可替代实施例中，光以两个波长发射，并通过宽带探测器探测，如在下面参考文件中描述的那样。WO03/008950示出了以两个不同波长发射光并具有单一的光线接收器的装置。由于材料不同，反射对于波长的依赖性是不同的，总的反射光取决于污染物是否存在以及存在的种类。在此方式中，应该能在不同污染物之间区别。US5,915，279示出了对于探测目标(概括地说)探测参数的测量装备。使用了以至少两个不同波长发射光的多色光源以及对于不同颜色带的多个探测器。描述了用于多个参数统计分析的方法，这些参数例如为以不同波长探测的光强度以及包括强度的时间历史以确定偏差。然而，最后的算法是复杂的，并且太概括而不能立即应用。EP0652432Al公开了对于两个波长的传感器的使用，其中光学装置确保通过传感器接收的光来自纱线的相同位置。接收的光处于红外线或者近红外线光谱。根据对应于接收强度的探测器信号，形成对应于商数(即对数差)的信号，以消除纱线直径、结构等等的影响。
发明内容发明的目的是建立用于探测在最初提到类型纺织材料中的杂质的设备和方法，该设备和方法非常简单，便于实施，同时提高了探测质量。这些目的通过根据对应的独立权利要求的用于探测在纺织材料中杂质的设备和方法来实现。一种用于探测在纺织材料中杂质的设备，特别是例如纱线的束状材料，该设备包括用于发射可见光(VIS)的第一光源、用于在红外(IR)光谱辐射的第二光源、对从纺织材料反射的可见光敏感并用于产生对应的第一探测器信号的第一探测器以及对在从纺织材料反射的红外光i普中的辐射敏感并用于产生对应的第二探测器信号的第二探测器，第一、第二光源和探测器布置成照射和观察纺织材料相同区段，而信号处理区段用于确定两个探测器信号的加权差值，并当所述差值超过阈值时输出指示污染物存在的信号。"加权差值"是指在差值确定前至少一个探测器信号乘以基本上恒定的系数。第二光源在近可见光谱区发射光，即或者作为迄今存在的红外线(IR)光源，也可以作为紫外线(UV)光源。发明可应用于例如纱线或者粗纱或者碎片的细长、束状纺织材料，也可以应用到经过纟果测设备传送或者吹送的棉花团。通常，污染物和纺织材料在可见光和红外光谱反射光。然而，在两个光谱中反射光的比例在纱线和污染物之间变化。例如，以黑色纱线作为污染物，VIS探测器将在可见光谱有很少反射光，而红外探测器将仍然4巴反射光观察成大致与对于正常纱线中情况相同。在纱线直径、毛状、位置等等的变化相应地影响两个光谱。在可见光(VIS)和红外线(IR)光镨中纱线的反射被记录来自正常的流动纱线。通过长期平均过程，两个记录信号可合并，形成用于正常流动纱线的比值或者光语比值。在发明的优选实施例中，用于正常流动纱线的这个光谱比值的长期平均值被标称化成一致。以类似方式，在被测试纱线的纱线直径和毛状上的变化影响反射的可见光(VIS)和红外线(IR)光谱两者。与参照纱线即无杂质纱线材料相比，典型的污染物明显地改变在可见光(VIS)和红外线(IR)光谱中的反射特性。在发明的另一个优选实施例中，对于正常流动纱线，由于在两段辐射中光强、传感器效率和反射率的差异，两个被探测信号相对彼此加权，从而它们的加权差值变成零。加权系数可根据第一和第二4果测器信号的长期平均值修改。在发明的优选实施例中，加权差Dw例如通过把它除以IR纟采测器信号而相对于第二探测器信号被标称化。在发明的又一个优选实施例中，第一和第二探测器被布置成观察即测量来自相对于纱线的第一角度的辐射，而该设备包括用于观察来自相对于纱线的第二角度的另外VIS和IR探测器。当投射到垂直于流动纱线的平面上时，第一和第二角度呈现它们的最大值。第一和第二探测器构成第一探测器组，而另外的探测器构成第二探测器组。另外的探测器分别与第一和第二探测器一样对相同的波长敏感。在发明的又一个优选实施例中，第三探测器与光源相对布置，以探测纱线的位置变化。第三探测器在VIS或者IR或者这两个频率范围敏感。优选的是，位置探测器产生这样的探测器信号，该探测器信号用于对其中反射信号单独可不考虑某些干扰的情况进行分类。例如，当纱线位置变化发生时，光谱比值或者加权差值Dw也可变化。考虑第三探测器信号，位置变化可从污染物信号中区分开。优选的是，位置探测器产生这样的探测器信号，该探测器信号用于对其中反射信号单独可不考虑某些干扰的情况进行分类。在发明的另外优选实施例中，第一和第二光源相同，即一个光源或者组合光源发射用于测量的可见光和IR光。在束状纺织材料中用于探测杂质的方法包括的步骤为.对准纺织材料区,殳发射可见光；.对准纺织材料相同区段发射红外光谱中的辐射；.探测来自纺织材料反射的可见光并产生对应的第一探测器信号；.探测来自纺织材料反射的在红外光语的幅射并产生对应的第二探测器信号；*确定两个探测器信号的加权差值；.以及当所述差值超过阈值时输出指示污染物存在的信号。在发明的又一个优选变形中，提供两个对应于在VIS和IR光谱中反射光的探测器信号，使用以下参数中至少两个的组合-两个#果测器信号比值Sv/Si与预定参照比值Y的偏差；-可见光值Sv与预定参照值Yv的偏差；-IR光值Si与预定参照值Yi的偏差；-前面两个偏差的比值。相应的偏差优选为根据恒定参照值或者长期参照值来确定。特别是，这可根据以下方法完成确定两个光谱信号的比值。把瞬时信号值与最小阈值极限相比，其中该最小阈值极限是纱线平均值的较小百分比。如果信号超过此极限预定长度，则把此信号鉴定为污染物。据参照材料即纱线来计算在可见光镨中光谱信号中的偏差。此偏差允许识别例如毛发、种子皮等第一类污染物。根据参照材料计算在红外光谱中光语信号的偏差。此偏差允许识别例如聚丙烯()的二类污染物。计算两个偏差的比值，并用此比值对污染物进一步分类成毛发、种子皮、聚丙烯、黄麻、彩色纱线等等的具体物质之一。其他优选的实施例在从属权利要求中明显看出。方法权利要求的特征可与装置权利要求的特征结合，反之亦然。附困说明参照在附图中示出的优选的典型实施例，在下文中将更详细地说明发明的主题，其中图l示意性示出了第一测试布局；图2示意性示出了光源和探测器的布局；图3示意性示出了光源和探测器的另一种布局；图4示意性示出了利用位置传感器的测试布局；图5示出了用于观察棉花团流动的布局；图6示出了表现反射的可见光和IR光的信号的典型轨迹；图7示出了加权差异信号的典型轨迹；以及图8示出了根据发明优选实施例的分类方法。在附图中使用的参考符号及其含义以参考符号列表中摘要形式列出，在图中，相同的部件带有相同的参考符号。优选实施例的详细描述图l示意性示出了第一测试布局，其中纱线l以正面示出，第一光源2和第二光源3布置成照射纱线1的相同部分，而且第一探测器4和第二探测器5布置成接收从纱线1的所述部分反射的光。第一光源2和第二光源3由驱动电路6来供能。来自探测器4和第一探测器5的信号通过信号处理区段7借助于模拟或者数字信号处理元件来处理。第一探测器4和第二探测器5构成用来观察纱线1第一侧的第一探测器对10。图1非常简略之处在于它只示出了元件之间的函数关系，而不是纯粹的几何关系。图2示出了用于观察纱线1的光源和探测器的布局。光源和探测器沿着纱线l的长度分两排布置，其中用于观察光谱(IR、VIS)的每个部分的光源位于一排，而用于那部分光谱(IR、VIS)的两个对应的探测器位于另一排。例如，发射可见光谱的第一光源2位于右排，而可见光(VIS)探测器4和另外的VIS探测器4'位于左排。在红外线(IR)光谱发射的第二光源3和红外线探测器5以及另外的红外线探测器5'相反布置。在发明优选实施例中，增加VIS探测器4和另外的VIS探测器4'，以提供VIS探测器信号，用于进一步处理，而增加红外线探测器5信号和另外的红外线探测器5'，以给出红外线探测器信号，用于进一步处理。在另一个优选实施例中，VIS和红外线探测器4、4'、5、5'的各种信号可独立处理。为了实用的原因，由于VIS探测器通常也对IR光敏感，因此在这里使用的VIS探测器包括IR间歇滤波器。根据图2的布置将观察纱线1一侧的主要部分，例如纱线圆周的大约135。，这足以探测环绕在纱线l周围的污染物。图3示出了用于观察纱线l的光源和探测器的另一个优选布局。该布局以垂直于纱线l并且光源和探测器(顶部)大致呈平面布置的角度以及以在纱线l(底部)方向的视图示出。光源和探测器沿着纱线l长度以三排布置，第一排包括VIS探测器4和另外的IR探测器5'，第二排包括第一光源2和第二光源3，而第三排包括红外线探测器5和另外的VIS探测器4'。使两个探测器对4、5';5、4'基本上位于沿着纱线1的平面上，并从不同侧面观察纱线l，从而提供了研究中的测试材料的良好覆盖范围。来自第二对的信号借助于模拟或者数字处理元件独立地处理。在用于两对传感器的信号分析中，每对IR/VIS传感器的信号可如在下面示出那样被处理，而探测污染物是否存在的输出信号可以是"和/或"组合。可选择的是，两个可见光探测器4、4'的信号被求和，同时两个红外线探测器5、5'的信号也被求和，求和的信号如下面示出的那样被处理。图4示意性示出了第二测试布局，该布局还包括作为位置探测器的第三探测器24,同时该第三探测器的探测器信号例如也通过信号处理区段7处理。位置探测器相对于纱线l布置，与相应的光源相对，从而由光源发射的光把纱线l的阴影投射到探测器上。该位置探测器24对可见光和/或IR光每丈感。位置传感器信号将根据在探测设备中纱线的位置而改变。由于在纱线厚度或者毛状程度上变化，也可观察到类似变化(以及可用于确定厚度和/或毛状程度)。因此，从位置信号和在可见光以及红外吸收光谱中反射信号的组合来推断纱线的实际状况和位置。此不同状态的推断或者判定基于以下原理*没有纱线1存在，位置探测器24接收最大光强，在下文中以位置信号值100表示。当纱线l位于在其标准位置的探测器槽内时，纱线1阻断射到探测器24上的光，因此较少光被接收。位置传感器值位于100-k周围，其中kX)。在可见光和红外吸收光i普中的反射信号表明它们的标称或者参照值，分别表示为b和c。4交粗的纱线1导致由位置探测器24接收更少的光，而较细的纱线导致接收光更多，这分别对应于IOO-k'和100-k"的位置信号值，其中k'=2k而k'^k/2。反射信号对于粗纱线增加，而对于细纱线降低，以使其标称值加倍或者减少一半。根据实际环境的不同，可选择除了2的另一个因素来限定粗纱线或者细纱线。*当纱线1更靠近位置探测器24移动时，投射的阴影变得更细，例如以位置信号值100j表示，其中j〈k。反射信号减小，例如分别减小到数值b'和c'，其中b'〈b以及c'〈c。*当接着纱线离开位置探测器24朝光源移动时，更多的光被阻挡，而位置信号变成例如100-1，其中l〉k。反射信号例如分别增加到lt值b"和c",其中b"〉b以及c">c。*当纱线从它的期望位置移动到槽外旁边时，它阻碍较小强度的光。因此位置信号变成例如100-m，其中m〈k。由于可见光和红外线4果测器的非对称配置，它们其中一个的反射信号将增加，而另一个减小，例如对于可见光探测器在2b左右，而对于红外线探测器在c/2左右。此外，除了2外另一个因素也是合适的。最后，当纱线l离开探测区域时，位置信号变成100,对应于没有纱线情况。同样适用于当纱线1向旁边移动到槽内时的位置信号，此时参照值为100-n，其中iKk。然而，可见光和红外线反射信号的增减是以上情况的相反情况。也就是说，当可见光信号在b/2左右，而IR信号在2c左右。此外，除了2以外的另一个因素也是合适的。*成螺旋形围绕纱线的污染物不会改变位置信号。在可见光范围的反射系数应该在数值x左右，而在红外线范围的反射系数在数值y左右。工具探测器设备的精确几何形状和纱线以及污染物的特性，用实验方法来确定对于以上常数b、b、b"、c,c'、c"、i、j、k、1、m、n、x、y的实际值。以下表格给出了由上述传感器数值不同组合而区别的不同状态的概述。第二、第三和第四列给出对应于各自状态的位置、可见光和红外传感器的参考数值。<table>tableseeoriginaldocumentpage12</column></row><table>在发明的优选实施例中，电路或者计算机程序通过核对对于每个传感器的测量值是否在相应参照值附近的预定公差内来区别这些情况。此核对可依次或者同时或者通过判定树等等完成。在发明的优选实施例中，第一光源2发射可见光，而第二光源3发射红外光。在发明的另一个优选实施例中，第二光源3发射紫外光。这样，在两种情况下，通过第二光源3发射的光均在可见光谱附近。图5示出了发明的另一个实施例，其中利用了光源2、3和纟果测器4、4'、5、5'的相同布置，来探测在棉花团11中的污染物12。这种布置在纺纱床的准备阶段是正常的。探测格局观察穿过原料流动管道9流动的原料。此流动通过选择性地装有透镜8的窗口观察，其中该透镜允许可见光和红外线两者穿过。设置一排传感器装置4、4'、5、5'来覆盖整个视野，即原料流动管道9的整个横载面。信号处理与在移动丝中探测污染物相似，然而在这里用来从棉花团中区别污染物12。以下附图示出了特性和对探测可见光和红外线光的应用。图6示出了沿着被探测纱线长度Ly的表现反射可见光和红外线光的信号的典型轨迹。能够看出，大多数时间，或者对于大部分长度的探测纱线l,两个探测信号并行移动。此移动例如对应于厚度、密度、波动、纤维分布和毛状变化。在长度127和136，探测的可见光相对于探测的红外光显著地减弱。图7示出了两个信号加权差值的典型轨迹。该加权差值Dw也被称为纱线偏差，相对于第二探测器信号标称化，并且优选的是根据下式计算Dw=((k*Sv)-Si)/Si其中Sv是例如来自可见光探测器的第一探测器信号的值，Si是例如来自红外线探测器的第二探测器信号的值，而k是基本上恒定的加权系数。"基本上恒定"是指，k值基本上保持相同，而变化只相对于探测器信号緩慢进行，例如时间常数比在探测器信号中变化的时间常数多超过一百或者一千倍。加权系数k可根据第一和第二探测器信号的长期平均值LTA来》f改，例如k=LTA(Si)/LTA(Sv)。其中LTA是在例如几秒或者分钟或者数十分钟的时间窗口或者在几米流动纱线长度上计算的平均值。可替代的是，纱线偏差可通过比值Rs-Sv/Si计算，而由此纱线偏差Dw=(Rs-Ra)/Ra,其中Ra-1/k或者Sv/Si的长期平均值，也就是说，Ra=LTA(Sv/Si)。如在图7所示那样，加权差值或者纱线偏差保持在某个范围之内，而对于其中在两个信号出现之间的明显大的差值的位置(在长度127和136之间)，加权差值超过所述范围，这表明污染物存在。例如，用于探测污染物的阈值可设定成较小的百分比值(以上定义的k的百分比值通过把k乘以100而获得)。当以作为紫外线发射器的第二光源3(和第四光源23)照射纱线l时，其中波长例如从254nm到395nm，则例如聚丙烯的某些污染物将发荧光而把uv光转换为可见光。例如在其中加权差值单独不能在不同情况中区别情况中，位置传感器信号如下使用。位置信号*可以是探测器信号本身，该信号与由探测器接收到的光大约成正比，.或者它们也可以是互补信号，这些信号与在探测器表面上、在相应的VIS/IR位置探测器24上的纱线1阴影尺寸大约成正比。在发明的优选实施例中，使用单独的位置探测器24的信号，以根据振动纱线状态来辨识污染物。如果加权差值指示有污染物，这也可由其他干扰引起，例如由于纱线振动引起，则检查位置信号。如果它的变化超过阈值，则此情况分类为是纱线的振动而不是污染物。相反，污染物被指示，纱线l对应区段被切掉。为了探测在第三探测器信号中的变化，位置信号例如与例如长期平均值的基本上恒定参照值相比较。图8的流程图示出了根据发明又一个变型的分类方法。在初始步骤IOO标记为"开始，，，处理开始进行。假定在此前，被检查纱线种类的长期平均参照值已经在可见光(Yv)和在红外光语(Yi)两者中被确定。由此，计算参照比值Y-Yv/Yi。可替代的是，计算比值Y-LTA(Sv/Si)的平均值。在输入步骤101，标记为"i叩"，进行VIS和红外线探测器输出的同时采样。观察的信号为Sv和Si。对于第一比较步骤102,标记"V/I"，计算比值S二Sv/Si,并与参照比值Y进行比较。如果偏差Dr-(Y-S)/Y的绝对值超过预定的第一阈值，则表明可能的污染物存在，同时程序继续到借助于另外步骤对污染物分类，以第二计算步骤103开始。相反，指示没有污染物，则在步骤101处理另外一组采样。对于第二计算步骤103，标记"dV",计算Sv与Yv的偏差Dv。优选的是，Dv相对于Yv标称化，从而Dv=(Yv-Sv)/Yv。如果偏差Dv的绝对值超过预定的第二阈值，则确认例如毛发或者种子壳的某个可能类型的污染物存在，同时程序继续进行，借助于另外步骤来对此检验，以第三计算步骤104开始。对于第三计算步骤104,标记"dl"，计算Si与Yi的偏差Di。优选的是，Di相对于Yi标称化，从而Di-(Yi-Si)/Yi。如果偏差Di的绝对值超过预定的第三阈值，则确认例如聚丙烯的另一组污染物存在，同时程序继续进行，借助于第四计算步骤105来对此才全4全。对于第四计算步骤105,标记"dV/dl",计算比值Dv/Di。该数值与不同材料即纱线和污染物材料的预定光谱特性相比，从而污染物被分类。如果表明特定污染物存在的Dr值超过预定的清除第一阈限，则污染物将从纱线中切除。这在标记为"切除，，的步骤106中完成，并从步骤101开始处理另一组采样。被认定的污染物被分类并且从纱线中切掉。阈值取决于实际的参照纱线和污染物材料，也取决于使用的传感器种类和传感器的光i緣感度曲线。例如，以下图表给出对于不同材料在可见光红外线光谱中反射光强度的测定值。<table>tableseeoriginaldocumentpage15</column></row><table>在污染纱线中在每一光谱中观察的数值可用分析法估算成来自污染物和来自参照值的加权和，污染物的权重一般地在15%和50°/。之间。由此计算出以上描述的其他特征值或者比值。给出这些特征值和它们的随机分布后，可确定在不同种类污染物和单一污染物之间进行区别的阈值。尽管在发明的目前优选实施例中描述了发明，然而可清楚地理解的是，发明没有限定于此，相反，可以在权利要求书范围内进行各种体现和实践。部件名称列表1纱线2第一光源3第二电源4、4'第一探测器5、5'第二探测器6马区动电-各7信号处理区段8透镜9材料流动管道10第一探测器对11棉花团12污染物24第三探测器、位置探测器权利要求1.一种用于探测在纺织材料中杂质的设备，该纺织材料特别是例如纱线(1)的束状材料或者纺织材料(11)碎片流，该设备包括用于发射可见光的第一光源(2)、用于在红外光谱辐射的第二光源(3)、对从纺织材料反射的可见光敏感并用于产生对应的第一探测器信号的第一探测器(4)，以及对在从纺织材料反射的红外光谱中的辐射敏感并用于产生对应的第二探测器信号的第二探测器(5)，光源(2、3)和探测器(4、5)布置成照射和观察纺织材料相同区段，而信号处理区段(7)用于确定两个探测器信号的加权差值，并当所述差值超过阈值时输出指示污染物存在的信号。2.如权利要求1的设备,用于根据第二探测器信号对加权差值进行标称化。3.如权利要求2的设备，其中信号处理区段(7)用于把加权差值Dw确定为Dw=((k*Sv)-Si)/Si，其中Sv是第一探测器信号值，Si是第二探测器信号值，以及k为基本上恒定的加权系数。4.如权利要求1到3之一的设备，其中第二光源(3)为红外光源。5.如权利要求1到3之一的设备，其中第一和第二光源(2、3)相同，即形成组合光源。6.如前面权利要求之一的设备，其中纺织材料为纱线(1),而该设备还包括作为位置探测器的至少第三探测器(24)，该位置探测器相对于纱线(1)与对应的光源(2、3)相对布置，其中信号处理区段(7)用于使用来自第三探测器(24)的信号，以指示污染物是否存在。7.如权利要求6的设备，其中只有当在位置信号变化没有超过预定阈值时，处理区段(7)才用于指示污染物存在。8.如前面权利要求之一的设备，用于根据第一和第二探测器信号的长期平均值来修改加权系te。9.一种用于探测在纺织材料中的方法，该纺织材料特别是束状纺织材料，该方法包括的步骤为.对准纺织材料区段发射可见光；.对准纺织材料相同区段发射红外光镨中的辐射；*探测来自纺织材料反射的可见光并产生对应的第一探测器信号；*探测来自纺织材料反射的在红外光谱的幅射并产生对应的第二探测器信号；*确定两个探测器信号的加权差值；.以及当所述差值超过阈值时输出指示污染物存在的信号。10.如权利要求9的方法，包括的步骤为根据第二探测器信号使加权差值标称化，其中标称化通过如下实现，即把加权差值Dw确定为Dw=((k*Sv)-Si)/Si，其中Sv是第一探测器信号值，而Si是第二探测器信号值，以及k为基本上恒定的加权系数。11.如权利要求9到IO之一的方法，包括的步骤为利用来自第三探测器(24)的位置信号，以指示在纱线(1)中污染物是否存在，其中第三探测器(24)相对于纱线(1)与光源(2、3)相对布置。12.如权利要求9到1l之一的方法，包括的步骤为*确定可见光探测器(4)的采样值Sv和红外光探测器(5)的采样值Si,并利用以下参数中至少两个的组合，用于判定污染物是否存在以及是否应该去除o两个探测器信号比值Sv/Si与预定参照比值Y的偏差；o可见光值Sv与预定参照值Yv的偏差；oIR光值Si与预定参照值Yi的偏差；O前面两个偏差的比值。13.如权利要求12的方法，包括的步骤为.确定两个光镨信号的比值Sv/Si;把瞬间比值Sv/Si与预定最小阈值极限相比，以及如果信号超过此极限预定时间，则指示污染物存在；.计算在可见光谱中光语信号Sv与预定参照值Yv的偏差，以及如果此偏差超过预定极限，则指示第一类污染物存在；.计算在红外光镨中光谱信号Si与预定参照值Yi的偏差，以及如果此偏差超过预定极限，则指示第二类污染物存在；以及"十算这两个偏差的比值并根据此比值对污染物种类进行进一步分全文摘要一种用于探测在束状材料中杂质的设备，包括用于发射可见光的第一光源(2)、用于在红外光谱辐射的第二光源(3)、对从纺织材料(1、11)反射的可见光敏感并用于产生对应的第一探测器信号的第一探测器(4)以及对在从纺织材料(1、11)反射的红外光谱附近的辐射敏感并用于产生对应的第二探测器信号的第二探测器(5)。光源(2、3)和探测器(4、5)布置成照射和观察纱线(1)相同区段，而信号处理区段(7)用于确定比值和两个探测器信号的加权差值，并当所述差值超过阈值时输出指示污染物存在的信号。文档编号G01N21/89GK101228434SQ200580051140公开日2008年7月23日申请日期2005年10月13日优先权日2005年7月22日发明者S·N·拉马钱德兰,巴拉苏布拉玛尼姆·沙姆格·桑德拉姆,纳拉亚纳斯瓦米·卡维塔申请人:第一伊沃尔维克斯私人有限公司