专利名称：电路板测试点异同查找系统及其方法
技术领域：
本发明涉及一种测试点异同査找技术，详言之，涉及一种应用于 不同设计版本的印刷电路板的电路板测试点异同查找系统及其方法。
背景技术：
印刷电路板(Printed Circuit Board; PCB)在大批量出货前，均需 要进行例如短路或断路等指标测试，以确保该印刷电路板的出货品质， 为确认该电路板的品质，通常于该印刷电路板上布设有多个测试点， 同时还需提供具有对应各该测试点的接触点的测试夹具，以进行上述 指标测试作业。实际作业过程中，测试夹具是依据布线人员所提供的 该印刷电路板的测试点报表进行开模而制成的。
在电路板研发过程中，通常会产生不同时期的设计版本，对于一 个印刷电路板不同时期的设计版本，其机械结构、硬件架构基本相同， 所变动的通常只是走线路径、测试点等。因此，电路板版本升级之后， 测试点会发生相应变化，测试夹具上的接触点也需作相应修改，方能 满足对新版电路板进行测试的需求，此时，最直接的做法是针对该新 版电路板的测试点，重新开模制作新的测试夹具，这样，电路板的版 本就会不断更新，但这种做法耗时且耗成本。
为克服测试夹具重新开模所带来的弊端，目前，业界通常的做法 是通过在数据处理装置上所执行的用以产生电路板测试点信息的电路 板测试点比对应用程式，分别找出新版印刷电路板的测试点与旧版印 刷电路板的测试点，再与后续利用人力进行测试点差异之处比对，以 做为测试夹具修改的依据。
但此种依据人为比对査找新旧版印刷电路板的测试点差异的方 式，既耗精力又花费时间，且极易产生错误与疏漏，进而给后续生产 造成损失。
综上所述，如何提出一种可解决现有技术的种种缺陷的电路板测 试点异同査找系统及其方法，实为目前亟欲解决的技术问题。
发明内容
鉴于上述现有技术的缺点，本发明提供一种电路板测试点异同查 找系统及其方法，以实现对不同设计版本的印刷电路板的测试点异同 比对与査找功能，从而在后续将旧的测试夹具修改为新的夹具时，能 节省时间、精力与夹具开模费用并降低人为失误的情况发生。
本发明的电路板测试点异同查找系统，其应用于通过数据处理装 置执行用以产生电路板测试点信息的电路板测试点比对应用程式中， 用以查找目标电路板相对于原电路板上的测试点的异同，本发明的电 路板测试点异同查找系统包括提取模块，其用以提取该电路板测试 点比对应用程式针对该目标电路板以及该原电路板所产生的测试点信 息；以及比对模块，其用以接收该提取模块所提取的测试点信息，对 该目标电路板以及原电路板相应的测试点信息进行比对，并依据该比 对结果，生成该目标电路板相对于该原电路板的测试点新增列表以及 测试点删除列表。
在本发明的 一 种实施例中，该测试点信息为该测试点所在网络
(net)信息数据、层面信息数据、座标信息数据、尺寸信息数据以及 类型信息数据。
在本发明的一种实施例中，本发明的电路板测试点异同査找系统 还包括处理模块，其用以依据该比对模块所生成的该测试点新增列 表以及该测试点删除列表，査找该测试点新增列表以及该测试点删除 列表的各测试点信息，当该二列表中查找到有测试点信息仅为座标信 息数据不相同的测试点存在时，生成一测试点移位列表，以将该测试 点信息自该二列表中转移至该测试点移位列表中；以及标示模块，其 用以依据该处理模块所生成的测试点移位列表，计算该列表中的测试 点信息仅为座标信息数据不相同的二个测试点的距离，并当判断所计 算得到的距离小于一个预设的安全距离时，在该测试点移位列表中标 示出该两个测试点。
在本发明的一种实施例中，该测试点移位列表中的测试点的标示 是以高亮(highlight)方式或者着色(color)方式进行标示。
通过前述本发明的电路板测试点异同査找系统，执行本发明的电 路板测试点异同査找方法，其包括以下步骤首先，提取该电路板测试点比对应用程式针对该目标电路板以及该原电路板所产生的测试点 信息；接收针对该目标电路板以及该原电路板所提取的测试点信息， 并比对该目标电路板以及原电路板相应的测试点信息；以及依据该比 对结果，生成该目标电路板相对于该原电路板的测试点新增列表与测 试点删除列表。
此外，本发明的电路板测试点异同査找方法还包括依据所生成 的该测试点新增列表以及该测试点删除列表，查找该测试点新增列表 以及该测试点删除列表的各测试点信息，当从该二列表中查找到有测 试点信息仅为座标信息数据不相同的测试点存在时，生成一个测试点 移位列表，以将该测试点信息自该二列表中转移至该测试点移位列表 中-，依据该测试点移位列表的测试点信息，计算该列表中的测试点信 息仅为座标信息数据不相同的二测试点的距离；以及判断所计算得到 的距离是否小于一个预设的安全距离，若是，则于该测试点移位列表 中标示出该两个测试点，若否，则结束流程步骤。
相比于现有技术，本发明的电路板测试点异同查找系统及其方法 通过提取模块、比对模块、处理模块以及标示模块等的相互作用，以 将目标电路板的测试点与原电路板的所有测试点进行比对，进而得到 目标电路板相对于原电路板所增加、删减或移位的测试点异同列表， 同时标示出测试点移位列表中落入安全距离范围内的移动测试点信 息，供以后依据该测试点异同列表以及重点标示的测试点；将旧的测 试夹具修改为新的夹具，以节省夹具开模费用。同时，亦可避免现有 技术中，通过人为方式查找新旧版电路板的测试点异同，造成费时费 精力的弊端、以及容易产生错误与疏漏，进而给后续生产带来损失的 情况发生。
图1是本发明的电路板测试点异同査找系统的基本架构示意图； 图2A与图2B是本发明的电路板测试点异同查找系统的数据库中 的各列表生成示意图3是本发明的电路板测试点异同查找方法的流程示意图。
符号说明
I 电路板测试点异同査找系统
II 提取模块 13 比对模块 15 处理模块
17 标示模块
19 数据库
191 测试点新增列表
193 测试点删除列表
195 测试点移位列表
A、 A，、 B、 C，、 E，、 F、 H、 H， 测试点
S100 S160 步骤
具体实施例方式
以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域中的技 术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其他优点与功 效。本发明也可通过其他不同的具体实例加以施行或应用，本说明书 中的各项细节亦可基于不同观点与应用，在不背离本发明的精神下进 行各种修饰与变更。
请参阅图1,其表示本发明的电路板测试点异同査找系统1的基本 架构示意图。如图所示，本发明的电路板测试点异同査找系统1应用 于通过数据处理装置执行用以产生电路板测试点信息的电路板测试点 比对应用程式中，用以査找目标电路板相对于原电路板上的测试点的 异同。其中，该目标电路板与该原电路板为不同时期的设计版本，且 该目标电路板的设计版本为该原电路板的更新版本。
如图1所示，本发明的电路板测试点异同査找系统1包括提取模 块ll、比对模块13、处理模块15、标示模块17以及数据库19。以下 将配合图2A以及图2B对本发明的上述各构件进行详细说明。
该提取模块11用以提取该电路板测试点比对应用程式针对该目标 电路板以及该原电路板所产生的测试点信息。其中，该测试点信息为 该测试点所在网络(net)信息数据、层面信息数据、座标信息数据、尺寸信息数据以及类型信息数据。
该比对模块13用以接收该提取模块11所提取的测试点信息，对
该目标电路板以及原电路板相应的测试点信息进行比对，并依据该比
对结果，生成该目标电路板相对于该原电路板的测试点新增列表191 以及测试点删除列表193。
详言之，即依据该提取模块ll所提取的测试点信息，首先，逐一 将该目标电路板的测试点与该原电路板的所有测试点进行比对，当该 目标电路板中具有不同于该原电路板的测试点存在(即该目标电路板 测试点相对原电路板为新增加的测试点)时，生成如图2A所示的该目 标电路板相对于该原电路板的测试点新增列表191 (如测试点A'、 C'、 E'、 H'等)；然后，逐一将该原电路板的测试点与该目标电路板的所有 测试点进行比对，当该原电路板中具有不同于该目标电路板的测试点 存在(即该原电路板测试点对于目标电路板为该目标电路板不需要的 测试点，是后续测试夹具修改时需予以删除的)时，生成如图2A所示 的该目标电路板相对于该原电路板的测试点删除列表193 (如测试点 A、 B、 F、 H等)。
如前述，该测试点新增列表191中的测试点A'(或H')所具有的 测试点信息与该测试点删除列表193中的测试点A (或H)所具有的 测试点信息(在本实施例中，之间所表示的符号基本相同，仅以单引 号加以区别)，二测试点信息相区别的地方仅在于座标信息数据不同， 而其他例如所在网络(net)信息数据、层面信息数据、尺寸信息数据 以及类型信息数据等均相同。当然，比对次序并非如以上所述为限， 也可先将原电路板与目标电路板进行比对，在生成测试点删除列表193 后，再将目标电路板与原电路板进行比对，以生成测试点新增列表191。
该处理模块15用以依据该比对模块13所生成的该测试点新增列 表191以及该测试点删除列表193，查找该测试点新增列表191以及该 测试点删除列表193的各测试点信息，从该二列表191、 193中査找到 测试点信息仅为座标信息数据不相同的测试点(如图2A所示的该测试 点新增列表191与该测试点删除列表193中的测试点A'与A、以及H' 与H)存在时，生成一个如图2B所示的测试点移位列表195，并将该 测试点信息从该二列表191、 193中转移至该测试点移位列表195中。
此时，该测试点新增列表191中所包含的测试点变为点C'、 E'等(如
图2B的测试点新增列表191所示)，点A'及H'己被转移至该测试点移 位列表195中；该测试点删除列表193中所包含的测试点变为点B、 F 等(如图2B的测试点删除列表193所示)，点A及H己被转移至该测 试点移位列表195中。其中，该测试点移位列表195中的测试点从原 先该测试点删除列表中的测试点(如图2A所示的测试点A)转移至原 先该测试点新增列表中的对应测试点(如图2A所示的测试点A')的 形式予以显示，即""表现形式(如图2B所示的测试点移位列表195 中的测试点)。
该标示模块17依据该处理模块15所生成的测试点移位列表195， 计算该列表195中的测试点信息中仅为座标信息数据不相同的二测试 点(如测试点A'与A、以及H，与H)的距离，并当判断所计算得到的 距离小于一个预设的安全距离时，在该测试点移位列表195中标示出 该二测试点，在本实施例中，以测试点A'与A的距离小于一个预设的 安全距离为例进行说明。其中，该测试点移位列表195中的测试点的 标示以高亮方式或者着色方式进行标示，如图2B所示，是以着色方式 标示出该测试点A，与A ()，用以提示在后续测试夹具修改作业中， 是否将新测试点A'的座标位置移回旧测试点A座标位置，从而满足修 改夹具两测试点间需具备最小安全距离的必要条件。此处需予以说明 的是，该安全距离为测试夹具修改过程中新旧点所允许变动的最小范 围，即若新增测试点在落入距离原测试点该安全距离范围以内时，无 法实现对该测试夹具中该新增测试点所对应的点的移动修改作业。
在本发明的电路板测试点异同查找系统中，还包括数据库19，该 数据库19用以储存该测试点新增列表191、测试点删除列表193以及 测试点移位列表195，通过该数据库19所提供的各列表191、 193、 195 (如图2B所示)，进行后续电路板测试夹具的调整修改作业。
通过上述电路板测试点异同查找系统，执行本发明的电路板测试 点异同査找方法如图3所示。以下将配合图1详细说明本发明的电路 板测试点异同查找方法的具体操作步骤。
如图3所示，本发明的电路板测试点异同査找方法，首先执行步 骤S100，令该提取模块11提取该电路板测试点比对应用程式针对该目
标电路板以及该原电路板所产生的测试点信息。其中，该测试点信息
为该测试点所在网络(net)信息数据、层面信息数据、座标信息数据、 尺寸信息数据以及类型信息数据。接着进行步骤SllO。
在步骤S110中，令该比对模块13接收针对该目标电路板以及该 原电路板所提取的测试点信息，并比对该目标电路板以及原电路板相 应的测试点信息。详言之，是将目标电路板与原电路板进行比对，此 外，还需进行原电路板与目标电路板的比对作业，当然，比对次序并 不受以上所述的限制，也可先将原电路板与目标电路板进行比对，然 后再将目标电路板与原电路板进行比对。接着进行步骤S120。
在步骤S120中，令该比对模块13依据该比对结果，生成该目标 电路板相对于该原电路板的测试点新增列表以及测试点删除列表。接 着进行步骤S130。
在步骤S130中，令该处理模块15依据所生成的测试点新增列表 以及测试点删除列表，査找该测试点新增列表以及测试点删除列表的 各测试点信息，当从该二列表中查找到有测试点信息仅为座标信息数 据不相同的测试点存在时，生成一个测试点移位列表，并将该测试点 信息从该二列表中转移至该测试点移位列表中。接着进行步骤S140。
在步骤S140中，依据该测试点移位列表的测试点信息，计算该列 表中的测试点信息仅为座标信息数据不相同的二测试点的距离。接着 进行步骤S150。
在步骤S150中，判断所计算得到的距离是否小于一个预设的安全 距离，若是，则进至步骤S160，若否，则结束此次电路板测试点异同 査找操作流程。其中，该安全距离为测试夹具修改过程中新旧点所允 许变动的最小范围，即若新增测试点落入距离原测试点该安全距离范 围以内时，则无法实现对该测试夹具中该新增测试点所对应的点的移
在步骤S160中，在该测试点移位列表中标示出该二测试点。其中， 该测试点移位列表中的测试点的标示以高亮方式或者着色方式进行标示。
因此，通过上述电路板测试点异同查找方法，即可得到如图2B所 示的测试点新增列表191、测试点删除列表193、以及测试点移位列表195，用以后续电路板测试夹具的调整修改作业，进而无需如现有技术 通过夹具重新开模，即可实现对该目标电路板(即由原电路板进行版 本更新后的电路板)进行测试作业。
如上所述，本发明的电路板测试点异同査找系统及其方法通过提 取模块、比对模块、处理模块以及标示模块等的相互作用，将目标电 路板的测试点与原电路板的所有测试点进行比对，进而得到目标电路 板相对于原电路板所增加、删减或移位的测试点异同列表，同时标示 出测试点移位列表中落入安全距离范围内的移动测试点信息，以供后 续依据该测试点异同列表以及重点标示的测试点，将旧的测试夹具修 改为新的夹具，从而节省夹具开模费用。同时，也可避免现有技术中， 通过人为方式查找新旧版电路板的测试点异同，造成费时费精力的弊 端、以及容易产生错误与疏漏，进而给后续生产带来损失的情况发生。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制 本发明。任何本领域技术人员均可在不违背本发明的精神及范畴下， 对上述实施例进行修饰与改变。
权利要求
1.一种电路板测试点异同查找系统，其特征在于，其应用于通过数据处理装置执行用以产生电路板测试点信息的电路板测试点比对应用程式中，以查找目标电路板相对于原电路板上的测试点的异同，该电路板测试点异同查找系统包括提取模块，其用以提取该电路板测试点比对应用程式针对该目标电路板以及该原电路板所产生的测试点信息；比对模块，其用以接收该提取模块所提取的测试点信息，对该目标电路板以及原电路板相应的测试点信息进行比对，并依据该比对结果，生成该目标电路板相对于该原电路板的测试点新增列表以及测试点删除列表。
2. 根据权利要求1所述的电路板测试点异同查找系统，其特征在 于，该测试点信息为该测试点所在网络(net)信息数据、层面信息数 据、座标信息数据、尺寸信息数据以及类型信息数据。
3. 根据权利要求2所述的电路板测试点异同查找系统，其特征在 于，还包括处理模块，其用以依据该比对模块所生成的该测试点新增 列表以及该测试点删除列表，査找该测试点新增列表以及该测试点删 除列表的各测试点信息，当该二列表中查找到有测试点信息仅为座标 信息数据不相同的测试点存在时，生成一测试点移位列表，并将该测 试点信息从该二列表中转移至该测试点移位列表中。
4. 根据权利要求3所述的电路板测试点异同查找系统，其特征在 于，还包括标示模块，其依据该处理模块所生成的测试点移位列表， 计算该列表中的测试点信息仅为座标信息数据不相同的二测试点的距 离，并当判断所计算得到的距离小于一个预设的安全距离时，在该测 试点移位列表中标示出该二测试点。
5. 根据权利要求4所述的电路板测试点异同査找系统，其特征在于，该测试点移位列表中的测试点的标示是用高亮(highlight)方式或着色(color)方式进行标示。
6. 根据权利要求1所述的电路板测试点异同査找系统，其特征在于，还包括数据库，其用以储存该测试点新增列表、测试点删除列表 以及测试点移位列表。
7. —种电路板测试点异同査找方法，其特征在于，其应用于通过 数据处理装置执行用以产生电路板测试点信息的电路板测试点比对应 用程式中，以查找目标电路板相对于原电路板上的测试点的异同，该 电路板测试点异同査找方法包括以下步骤-提取该电路板测试点比对应用程式针对该目标电路板以及该原电 路板所产生的测试点信息；接收针对该目标电路板以及该原电路板所提取的测试点信息，并 比对该目标电路板以及原电路板相应的测试点信息；依据该比对结果，生成该目标电路板相对于该原电路板的测试点 新增列表以及测试点删除列表。
8. 根据权利要求7所述的电路板测试点异同查找方法，其特征在 于，该测试点信息为该测试点所在网络(net)信息数据、层面信息数 据、座标信息数据、尺寸信息数据以及类型信息数据。
9. 根据权利要求8所述的电路板测试点异同査找方法，其特征在 于，还包括以下步骤依据所生成的该测试点新增列表以及该测试点删除列表，查找该 测试点新增列表以及该测试点删除列表的各测试点信息，当从该二列 表中查找到有测试点信息仅为座标信息数据不相同的测试点存在时， 生成一个测试点移位列表，以将该测试点信息从该二列表中转移至该 测试点移位列表中；依据该测试点移位列表的测试点信息，计算该列表中的测试点信 息仅为座标信息数据不相同的二测试点的距离；判断所计算得到的距离是否小于一个预设的安全距离，若是，则 从该测试点移位列表中标示出该二测试点，若否，则结束流程步骤。
10.根据权利要求9所述的电路板测试点异同查找方法，其特征在 于，该测试点移位列表中的测试点的标示以高亮(highlight)方式或着色(color)方式进行标示。
全文摘要
一种电路板测试点异同查找系统及其方法，其应用于通过数据处理装置执行用以产生电路板测试点信息的电路板测试点比对应用程式中，以查找目标电路板相对于原电路板上的测试点的异同，其主要包括提取该电路板测试点比对应用程式针对该目标电路板以及该原电路板所产生的测试点信息；接收针对该目标电路板以及该原电路板所提取的测试点信息，并比对该目标电路板以及原电路板相应的测试点信息；以及依据该比对结果，生成该目标电路板相对于该原电路板的测试点新增列表以及测试点删除列表。因此，在后续电路板测试夹具制造方法中，即可依据该目标电路板相对于该原电路板的测试点新增列表以及测试点删除列表进行后续调整修改作业。
文档编号G01R31/00GK101191808SQ200610163348
公开日2008年6月4日 申请日期2006年12月1日 优先权日2006年12月1日
发明者朱玉兰, 范文纲 申请人:英业达股份有限公司