一种高效sim卡测试电路的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及自动测试技术领域，特别涉及一种高效S頂卡测试电路。
【背景技术】
[0002]S頂卡，是移动通信领域唯一的客户身份标识。它在芯片卡上存储了数字移动电话客户的信息，加密密钥等内容，可供移动通信网络对客户身份进行鉴别，并对客户通话时的语音信息进行加密。
[0003]在对S頂卡的测试过程中，需要由电源对S頂卡进行供电，一般的，一个电源仅能够给一个检测支路(检测支路连接S頂卡以对S頂卡通电检测)供电，假如电源为多个检测支路供电以同时测试多颗S頂芯片，那么这一批被测的S頂芯片中如果有一个是不良芯片，此时不良芯片电流过大，会拉低了其他检测支路的工作电流，从而其他待检测S頂芯片被误测成不良品，降低了测试良率。故而，目前的SIM卡测试电路一般仅都采用一个电源为一个检测支路供电。
[0004]然而，目前SIM卡检测设备中能够为检测支路供电的电源是有限的，一般是通过DSP电路来为各个检测支路供电，而S頂卡检测设备中的DSP电路通常为八个，这也就意味着SIM卡检测设备最多一次性能够检测八个SIM卡，其效率较为低下，从而导致单位时间内产出低、芯片测试成本增加。
[0005]另一方面，目前DSP电路的供电端一般能够提供的电流比较大，可达到2A，而S頂卡的工作电流(即检测支路的工作电流)通常为10mA，因此，目前采用一个DSP电路来为一个检测支路供电实际上也造成了一种检测资源的浪费。
【发明内容】
[0006]本实用新型的目的在于避免上述现有技术中的不足之处而提供一种能够有效利用SIM卡测试设备中的电源资源，提高测试效率的SIM卡测试电路。
[0007]本实用新型的目的通过以下技术方案实现:
[0008]提供了一种高效S頂卡测试电路，包括DSP电路和至少两路测试支路，每路测试支路的取电端经可控开关从DSP电路取电，所述可控开关在其对应的检测支路检测到S頂卡存在故障时断开。
[0009]其中，每路DSP电路连接八路测试电路。
[0010]其中，所述可控开关是光耦继电器。
[0011]其中，还包括控制电路，所述控制电路与所述可控开关连接。
[0012]其中，所述控制电路基于MAX4820型继电器驱动器实现。
[0013]其中，所述检测支路设置有滤波电路，所述滤波电路包括并联于检测支路的GND端的电容和并联于检测支路的VCC端的电容。
[0014]本实用新型的有益效果:本实用新型提供了一种高效S頂卡测试电路，该测试电路采用的DSP电路通过可控开关为检测支路供电，可控开关在其对应的检测支路检测到SIM卡存在故障时断开，因此避免了当一个芯片是不良芯片时拉低其他芯片的电流的问题，实现一个电源同时为多个检测支路供电，即同时测试多个SIM卡，有效的利用了 SIM卡测试设备中的电源资源，提高测试效率。
【附图说明】
[0015]利用附图对本实用新型作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本实用新型的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。
[0016]图1为本实用新型一种尚效SIM卡测试电路的结构不意图。
[0017]图2为本实用新型一种高效S頂卡测试电路的结构示意图。
[0018]在图1和图2中包括有:
[0019]I一一DSP电路、2—一可控开关、3—一测试电路、4一一滤波电路。
【具体实施方式】
[0020]结合以下实施例对本实用新型作进一步描述。
[0021]本实用新型一种高效S頂卡测试电路3的【具体实施方式】，如图1所示，包括DSP电路I (DPS:Devices Power Supply设备电源)和八路测试电路3，每路测试支路的取电端经可控开关2从DSP电路I取电，所述可控开关2在其对应的检测支路检测到S頂卡存在故障时断开。其中，可控开关2是光耦继电器。可控开关2由控制电路控制其通/断。如图2所示，所述控制电路基于MAX4820型继电器驱动器实现，用于提供八路控制信号，以控制八个可控开关2的通/断。
[0022]上述该测试电路3采用的DSP电路I通过可控开关2为检测支路供电，可控开关2在其对应的检测支路检测到SIM卡存在故障时断开，因此避免了当一个芯片是不良芯片时拉低其他芯片的电流的问题，实现一个电源同时为多个检测支路供电，即同时测试多个SIM卡，有效的利用了 SIM卡测试设备中的电源资源，提高测试效率。
[0023]另外，本实施例采用光耦继电器是由于光耦继电器的开关时间比机械继电器的开关时间快，在实际的测试中因为需要频繁的进行继电器的切换，使用光耦继电器可以节省测试时间；光耦继电器的体积小，容易进行PCB的布局。具体的，根据实际的情况，可以选用合适的可控开关2，例如机械式继电器。
[0024]特别的，本实施例的检测支路设置有滤波电路4，所述滤波电路4包括并联于检测支路的GND端的电容和并联于检测支路的VCC端的电容。使测试机提供给被测芯片的电源更加稳定，提高了测试的稳定性和准确性。
[0025]最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对本实用新型保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。
【主权项】
1.一种高效S頂卡测试电路，其特征在于:包括DSP电路和至少两路测试支路，每路测试支路的取电端经可控开关从DSP电路取电，所述可控开关在其对应的检测支路检测到SIM卡存在故障时断开。2.如权利要求1所述的一种高效SIM卡测试电路，其特征在于:所述DSP电路连接八路测试电路。3.如权利要求1所述的一种高效SIM卡测试电路，其特征在于:所述可控开关是光耦继电器。4.如权利要求1所述的一种高效S頂卡测试电路，其特征在于:还包括控制电路，所述控制电路与所述可控开关连接。5.如权利要求4所述的一种高效SIM卡测试电路，其特征在于:所述控制电路基于MAX4820型继电器驱动器实现。6.如权利要求1所述的一种高效S頂卡测试电路，其特征在于:所述检测支路设置有滤波电路，所述滤波电路包括并联于检测支路的GND端的电容和并联于检测支路的VCC端的电容。
【专利摘要】本实用新型提供了一种高效SIM卡测试电路，该测试电路采用的DSP电路通过可控开关为检测支路供电，可控开关在其对应的检测支路检测到SIM卡存在故障时断开，因此避免了当一个芯片是不良芯片时拉低其他芯片的电流的问题，实现一个电源同时为多个检测支路供电，即同时测试多个SIM卡，有效的利用了SIM卡测试设备中的电源资源，提高测试效率。
【IPC分类】H04M1/24
【公开号】CN204887137
【申请号】CN201520371283
【发明人】陈永洪
【申请人】广东利扬芯片测试股份有限公司
【公开日】2015年12月16日
【申请日】2015年6月2日