专利名称：一种新型ict测试治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电子产品技术领域，具体地说是一种新型ICT测试治具。
背景技术：
ICT测试=InCircUitest的缩写，意思为在线测试，在线测试仪测量时使用专门的 针床与已焊接好的线路板上的元器件接触，并用数百毫伏电压和10毫安以内电流进行分 立隔离测试，从而精确地测出所装电阻、电感、电容、二极管、三极管、可控硅、场效应管、集 成块等通用和特殊元器件的漏装、错装、参数值偏差、焊点连焊、线路板开短路等故障，并将 故障是哪个元件或开短路位于哪个点准确告诉用户；随着电路板的发杂程度越来越大，在 大规模生产时用ICT测试来快速排除错误就非常的必要了，但是一种新的产品在量产之前 可能要经过若干次升级、修改，而每次升级修改PCB板的布局布线都有可能改变，同时用于 ICT测试的测试点的位置也有可能改变，这样就会遇到当PCB板中的测试点的位置有所改 变时，ICT治具中的探针就要做相应的位置调整，当有些测试点的位置与原来的位置有部分 重叠时，原来的测试治具在这个位置上就没有足够的空间重新做出一个探针来测新的测试 点，当这种情况存在的比例很大时，我们就要重新制作ICT测试治具，重新做ICT测试治具 会有以下缺点当PCB板尺寸大，测试点多的时候，ICT治具的价格就会非常昂贵，重新做就 会造成很大的成本浪费，制作ICT治具工序要求非常精细，这也就导致做ICT治具时需要一 定的时间周期，这样往往会延长产品生产上市的周期。
发明内容本实用新型是针对上述现有技术的不足，提供一种新型ICT测试治具。本实用新型的一种新型ICT测试治具是按以下方式实现的，ICT治具上设置有探 针，PCB板上设置有网格线，测试点设置在网格线的交点上，网格线的间距根据治具中两探 针的间距而设定，探针孔位设置在网格线的交点上。PCB板根据测试点的数量设置相应ICT治具中探针的数量。本实用新型和现有技术相比，具有以下突出的有益效果(1)在升级改版时其测试点也必须加在网格交点上，每个红色的圆圈就是一个单 独的探针孔位，这样就不会出现原来的PCB测试点和改版后的测试点有重叠的风险。(2) PCB板改动后，不需要的探针就可以拔掉，需要的地方可以加上探针，而且不会 存在空间不够做不了探针的风险，继而不需要重新做治具，节省了成本和时间，可以应用到 一切需要大规模生产的电子产品中，对增强产品的市场竞争力有很好的作用。
图1为一种新型ICT测试治具的改进测试结构示意图；图2为一种新型ICT测试治具的传统测试结构示意图。附图标记说明1、PCB板，2、网格线，3、测试点，4、探针孔位。
具体实施方式
参照说明书附图对本实用新型的一种新型ICT测试治具作以下详细地说明。如图1所示，本实用新型的一种新型ICT测试治具，ICT治具上设置有探针，PCB板 1上设置有网格线2，测试点3设置在网格线2的交点上，网格线2的间距根据治具中两探 针的间距而设定，探针孔位4设置在网格线2的交点上，PCB板1根据测试点3的数量设置 相应ICT治具中探针的数量。传统的ICT测试如图2所示，其特点是PCB板1上的测试点3摆放无规律性，当产 品升级后需要重新制作PCB板1。利用一定规律的网格线2，每个红色的圆圈就是一个单独的探针孔位4，这样就不 会出现原来的PCB板1上的测试点3和改版后的测试点3有重叠的风险，在升级改版时其 测试点3也必须加在网格线2的交点上。除说明书所述的技术特征外，均为本专业技术人员的已知技术。
权利要求一种新型ICT测试治具，其特征在于ICT治具上设置有探针，PCB板上设置有网格线，测试点设置在网格线的交点上，网格线的间距根据治具中两探针的间距而设定，探针孔位设置在网格线的交点上。
2.根据权利要求1所述的一种新型ICT测试治具，其特征在于PCB板根据测试点的数 量设置相应ICT治具中探针的数量。
专利摘要本实用新型提供一种新型ICT测试治具，属于电子产品领域，ICT治具上设置有探针，PCB板上设置有网格线，测试点设置在网格线的交点上，网格线的间距根据治具中两探针的间距而设定，探针孔位设置在网格线的交点上。该实用新型和现有技术相比，在升级改版时其测试点也必须加在网格交点上，每个红色的圆圈就是一个单独的探针孔位，这样就不会出现原来的PCB测试点和改版后的测试点有重叠的风险，板子改动后，不需要的探针就可以拔掉，需要的地方可以加上，而且不会存在空间不够做不了探针的风险，继而不需要重新做治具，节省了成本和时间，可以应用到一切需要大规模生产的电子产品中，对增强产品的市场竞争力有很好的作用。
文档编号G01R1/02GK201732131SQ201020289410
公开日2011年2月2日 申请日期2010年8月12日 优先权日2010年8月12日
发明者刘方, 吴景霞, 张柱, 王林 申请人:浪潮电子信息产业股份有限公司